CN212872766U - 一种集成电路功能验证测试座 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000012795 verification Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 206010063385 Intellectualisation Diseases 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种集成电路功能验证测试座，包括基座，所述基座的一侧通过合页转动连接有密封门，且基座下表面的两侧均固定连接有支座，所述基座的前表面固定连接有操控设备，所述基座上表面的一侧通过合页转动连接有转动板，所述转动板的下表面固定连接有固定座，所述基座的内部固定连接有限位板，且基座内部靠近限位板的上侧嵌入连接有嵌入板，本实用新型涉及集成电路技术领域。该集成电路功能验证测试座通过电磁铁，可以将固定座的定位框进行吸附，从而可以将集成电路压制在放置槽的内部，从而防止在测试时发生移动，同时连接构件内部的导块可以与导电板接触，防止集成电路中的静电过多导致损伤的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路功能验证测试座。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，集成电路在生产时，需要进行各种测试，在测试时，需要设备将集成电路进行安装。
中国专利一种具有防错装置的集成电路元件测试插座组（公开号：CN2574253Y），该专利本体上形成有一凹槽及多数个防呆销插置孔洞，并使多数个与待测集成电路元件的缺角相对应的防呆销分别插置于多数个防呆销插置孔洞内，使待测集成电路元件以正确的方位置于测试插座本体的凹槽内。
现有的测试座结构单一，实用性和功能性较差，集成电路在测试时，需要防止电路内部的静电过多导致其损伤的问题，同时集成电路在测试时，需要将其固定，防止其发生移动。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种集成电路功能验证测试座，解决了现有的测试座结构单一，实用性和功能性较差，集成电路在测试时，需要防止电路内部的静电过多导致其损伤的问题，同时集成电路在测试时，需要将其固定，防止其发生移动的问题。
为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种集成电路功能验证测试座，包括基座，所述基座的一侧通过合页转动连接有密封门，且基座下表面的两侧均固定连接有支座，所述基座的前表面固定连接有操控设备，所述基座上表面的一侧通过合页转动连接有转动板，所述转动板的下表面固定连接有固定座，所述基座的内部固定连接有限位板，且基座内部靠近限位板的上侧嵌入连接有嵌入板，所述嵌入板的上表面固定连接有导电板，所述导电板的上表面开设有放置槽，所述嵌入板的内部嵌入连接有连接构件。
优选的，所述限位板包括支撑板，所述支撑板的下表面与基座之间固定连接有第二复位弹簧。
优选的，所述连接构件包括连接框，所述连接框的内部转动连接有多个导块，所述导块的侧面与连接框之间固定连接有第三复位弹簧。
优选的，所述导块的底端之间转动连接有连接杆，所述连接杆的一端固定连接有固定环。
优选的，所述固定座包括连接板，所述连接板的上表面与转动板之间固定连接有第四复位弹簧，且连接板的下表面固定连接有定位框。
优选的，所述连接板外侧的底端固定连接有吸附板，所述基座的上表面嵌入连接有电磁铁。
有益效果
本实用新型提供了一种集成电路功能验证测试座。与现有的技术相比具备以下有益效果：该集成电路功能验证测试座，通过电磁铁，可以将固定座的定位框进行吸附，从而可以将集成电路压制在放置槽的内部，从而防止在测试时发生移动，同时连接构件内部的导块可以与导电板接触，从而可以集成电路中的静电导出，防止集成电路中的静电过多导致损伤的问题。
附图说明
图1为本实用新型的主视图；
图2为本实用新型中基座的局部剖视图；
图3为本实用新型图2中A部分的局部放大图；
图4为本实用新型中转动板的局部剖视图。
图中：1、基座；2、密封门；3、支座；4、操控设备；5、转动板；6、固定座；7、限位板；8、嵌入板；9、导电板；10、放置槽；11、连接构件；71、支撑板；72、第二复位弹簧；111、连接框；112、导块；113、第三复位弹簧；114、连接杆；115、固定环；61、连接板；62、定位框；63、第四复位弹簧；64、吸附板；101、电磁铁。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种集成电路功能验证测试座，包括基座1，基座1的一侧通过合页转动连接有密封门2，且基座1下表面的两侧均固定连接有支座3，基座1的前表面固定连接有操控设备4，基座1上表面的一侧通过合页转动连接有转动板5，转动板5的下表面固定连接有固定座6，固定座6包括连接板61，连接板61的上表面与转动板5之间固定连接有第四复位弹簧63，且连接板61的下表面固定连接有定位框62，连接板61外侧的底端固定连接有吸附板64，基座1的上表面嵌入连接有电磁铁101，基座1的内部固定连接有限位板7，限位板7包括支撑板71，支撑板71的下表面与基座1之间固定连接有第二复位弹簧72，且基座1内部靠近限位板7的上侧嵌入连接有嵌入板8，嵌入板8的上表面固定连接有导电板9，导电板9的上表面开设有放置槽10，嵌入板8的内部嵌入连接有连接构件11，连接构件11包括连接框111，连接框111的内部转动连接有多个导块112，导块112的侧面与连接框111之间固定连接有第三复位弹簧113，导块112的底端之间转动连接有连接杆114，连接杆114的一端固定连接有固定环115，导块112的底端连接有与操控设备4连通的静电传输线，同时本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域技术人员公知的现有技术，另一方面，本装置中各个电气零件均与操控设备4电性连接，且各个电气零件之间的工作逻辑和工作顺序可通过编程和人工进行操控。
工作时，在安装时，将嵌入板8通过压缩第二复位弹簧72将支撑板71向下压，将嵌入板8、导电板9和放置槽10嵌入到基座1的内部后，嵌入板8、导电板9和放置槽10即可在第二复位弹簧72的带动下嵌入在基座1的内部，然后通过固定环115拉动连接杆114向外移动，在连接杆114移动时，即可通过拉伸第三复位弹簧113带动导块112进行转动，在将连接构件11整体嵌入到嵌入板8的内部后，松开固定环115，导块112即可在第三复位弹簧113的带动下紧贴到导电板9的下侧，随后将集成电路放置到放置槽10内部，然后合拢转动板5，启动电磁铁101，电磁铁101通电后通过吸附板64吸附固定座6，固定座6中的定位框62和连接板61通过拉伸第四复位弹簧63将集成电路压制在放置槽10的内部，然后将地线通过操控设备4的连接口与基座1内部的静电传输线连接即可。
综上所述，该集成电路功能验证测试座，通过电磁铁101，可以将固定座6的定位框62进行吸附，从而可以将集成电路压制在放置槽10的内部，从而防止在测试时发生移动，同时连接构件11内部的导块112可以与导电板9接触，从而可以集成电路中的静电导出，防止集成电路中的静电过多导致损伤的问题。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种集成电路功能验证测试座，包括基座（1），所述基座（1）的一侧通过合页转动连接有密封门（2），且基座（1）下表面的两侧均固定连接有支座（3），所述基座（1）的前表面固定连接有操控设备（4），其特征在于：所述基座（1）上表面的一侧通过合页转动连接有转动板（5），所述转动板（5）的下表面固定连接有固定座（6），所述基座（1）的内部固定连接有限位板（7），且基座（1）内部靠近限位板（7）的上侧嵌入连接有嵌入板（8），所述嵌入板（8）的上表面固定连接有导电板（9），所述导电板（9）的上表面开设有放置槽（10），所述嵌入板（8）的内部嵌入连接有连接构件（11）。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路功能验证测试座，其特征在于：所述限位板（7）包括支撑板（71），所述支撑板（71）的下表面与基座（1）之间固定连接有第二复位弹簧（72）。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路功能验证测试座，其特征在于：所述连接构件（11）包括连接框（111），所述连接框（111）的内部转动连接有多个导块（112），所述导块（112）的侧面与连接框（111）之间固定连接有第三复位弹簧（113）。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路功能验证测试座，其特征在于：所述导块（112）的底端之间转动连接有连接杆（114），所述连接杆（114）的一端固定连接有固定环（115）。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路功能验证测试座，其特征在于：所述固定座（6）包括连接板（61），所述连接板（61）的上表面与转动板（5）之间固定连接有第四复位弹簧（63），且连接板（61）的下表面固定连接有定位框（62）。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路功能验证测试座，其特征在于：所述连接板（61）外侧的底端固定连接有吸附板（64），所述基座（1）的上表面嵌入连接有电磁铁（101）。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021405315.1U CN212872766U (zh) | 2020-07-16 | 2020-07-16 | 一种集成电路功能验证测试座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021405315.1U CN212872766U (zh) | 2020-07-16 | 2020-07-16 | 一种集成电路功能验证测试座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN212872766U true CN212872766U (zh) | 2021-04-02 |
Family
ID=75216132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202021405315.1U Expired - Fee Related CN212872766U (zh) | 2020-07-16 | 2020-07-16 | 一种集成电路功能验证测试座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN212872766U (zh) |
-
2020
- 2020-07-16 CN CN202021405315.1U patent/CN212872766U/zh not_active Expired - Fee Related
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