CN212723194U - 一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，包括测试箱，所述测试箱内部设有夹持机构，所述夹持机构包括设置在测试箱内底部的滑槽，所述滑槽内部设有第一螺纹杆和第二螺纹杆，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆靠近的一端固定连接，所述第二螺纹杆远离第一螺纹杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有转板，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆侧壁均螺纹连接有夹持板，所述滑槽内壁固定连接有放置板，所述放置板上壁设有测试板，所述测试箱上壁转动连接有箱盖。本实用新型能够快捷方便的拆卸测试板，使维修过程更加便捷，还可以适用于不同型号的半导体芯片，同时能够对芯片的双面引脚同时测试，提高了测试效率的同时还扩大了装置的适用范围。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体芯片测试治具技术领域，尤其涉及一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具。
背景技术
近几年，伴随着人工智能、大数据及物联网等新一代信息技术的发展，全球半导体产业又迎来了一轮景气周期，我国半导体全产业链得到了快速发展，未来也将不断强化半导体产业地位，随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要，目前有许多用来辅助测试人员对双面引脚阵列半导体芯片进行测试的测试治具，但这些测试治具大都存在以下几点不足：
1、在测试治具使用的过程中，用于检测半导体芯片的测试板可能出现故障，需要检测人员对其进行维修，而现有的测试治具中，测试板基本都通过螺丝固定在测试治具内，需要使用螺丝刀对测试板进行拆卸，拆卸起来很麻烦，给维修过程带来了不便；
2、现有的测试治具中一般只有测试半导体芯片单面引脚的功能，需要在测试好一面的引脚之后，翻转半导体芯片，再对另一面的引脚进行测试，不能对双面的引脚同时测试，少数具有测试双面引脚功能的测试治具也只能对某一种型号的芯片进行测试，由于不同型号的芯片厚度不同，从而使得探针无法插入到不同型号的芯片引脚中，适用性较低。
所以，需要设计一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具来解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，包括测试箱，所述测试箱内部设有夹持机构，所述夹持机构包括设置在测试箱内底部的滑槽，所述滑槽内部设有第一螺纹杆和第二螺纹杆，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆靠近的一端固定连接，所述第二螺纹杆远离第一螺纹杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有转板，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆侧壁均螺纹连接有夹持板，所述滑槽内壁固定连接有放置板，所述放置板上壁设有测试板，所述测试箱上壁转动连接有箱盖，所述箱盖下端设有测试顶板，所述测试顶板与测试板相对的侧壁均设有多个测试探针，所述箱盖上设有调节机构。
优选地，所述调节机构包括设置在箱盖下壁的调节槽，所述调节槽内壁贯穿设有调节螺杆，所述调节螺杆通过轴承与箱盖的贯穿处转动连接，所述调节螺杆位于箱盖上方的一端固定连接有转杆，所述调节螺杆侧壁螺纹连接有调节板，所述调节板下壁固定连接有两个连接杆，两个所述连接杆远离调节板的一端均与测试顶板上壁固定连接。
优选地，两个所述夹持板以第一螺纹杆与第二螺纹杆的连接处为中心对称设置，两个所述夹持板相对的侧壁均设有橡胶垫，两个所述夹持板的侧壁均与滑槽的内壁贴合。
优选地，所述第一螺纹杆远离第二螺纹杆的一端通过轴承转动连接在滑槽内壁，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆的螺纹方向相反。
优选地，所述箱盖上壁固定连接有把手，所述把手表面设有防滑纹。
优选地，所述测试箱侧壁设有观察窗，所述观察窗内壁固定连接有玻璃板。
本实用新型具有以下有益效果：
1、本实用新型通过转动转板，进而带动第一螺纹杆与第二螺纹杆转动，进而带动两个夹持板移动，进而对测试板进行固定，在测试板出现故障需要维修时，只需反向转动转板，使夹持板远离测试板，就可实现对测试板的拆卸，使维修过程更加便捷；
2、本实用新型通过转动转杆，进而带动调节螺杆转动，进而带动调节板和连接杆运动，最终带动测试顶板运动，能够调节测试顶板与芯片之间的距离，可以适用于不同型号的半导体芯片，同时能够对芯片的双面引脚同时测试，提高了测试效率的同时还扩大了装置的适用范围。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具的结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具的正视图。
图中：1测试箱、2箱盖、3滑槽、4第一螺纹杆、5第二螺纹杆、6夹持板、7放置板、8测试板、9测试探针、10测试顶板、11转杆、12调节螺杆、13调节板、14连接杆、15观察窗、16转板、17调节槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，包括测试箱1，测试箱1侧壁设有观察窗15，观察窗15内壁固定连接有玻璃板，通过观察窗15可以观察到测试探针9与待测试半导体芯片的引脚的连接情况，测试箱1上壁转动连接有箱盖2，箱盖2上壁固定连接有把手，把手表面设有防滑纹，箱盖2下端设有测试顶板10，测试顶板10与测试板8相对的侧壁均设有多个测试探针9。
测试箱1内部设有夹持机构，夹持机构包括设置在测试箱1内底部的滑槽3，滑槽3内部设有第一螺纹杆4和第二螺纹杆5，第一螺纹杆4与第二螺纹杆5靠近的一端固定连接，第二螺纹杆5远离第一螺纹杆4的一端贯穿滑槽3的内壁并固定连接有转板16，第一螺纹杆4与第二螺纹杆5侧壁均螺纹连接有夹持板6，第一螺纹杆4远离第二螺纹杆5的一端通过轴承转动连接在滑槽3内壁，第一螺纹杆4与第二螺纹杆5的螺纹方向相反，目的是转动转板16时，使两个夹持板6向测试板8中心的方向移动，对测试板8进行固定，两个夹持板6以第一螺纹杆4与第二螺纹杆5的连接处为中心对称设置，两个夹持板6相对的侧壁均设有橡胶垫，目的是增大夹持板6与测试板8之间的摩擦力，使夹持板6更加稳固地固定住测试板8，两个夹持板6的侧壁均与滑槽3的内壁贴合，防止第一螺纹杆4与第二螺纹杆5转动时带动两个夹持板6转动，滑槽3内壁固定连接有放置板7，放置板7上壁设有测试板8。
箱盖2上设有调节机构，调节机构包括设置在箱盖2下壁的调节槽17，调节槽17内壁贯穿设有调节螺杆12，调节螺杆12通过轴承与箱盖2的贯穿处转动连接，调节螺杆12位于箱盖2上方的一端固定连接有转杆11，调节螺杆12侧壁螺纹连接有调节板13，调节板13与调节槽17的横截面均为矩形，调节板13的侧壁与调节槽17的内壁紧密贴合，防止调节螺杆12转动时带动调节板13转动，调节板13下壁固定连接有两个连接杆14，两个连接杆14远离调节板13的一端均与测试顶板10上壁固定连接。
在测试治具使用的过程中，测试板8可能出现故障，此时需要取出测试板8并对其进行维修，具体操作如下：转动转板16，使两个夹持板6相互远离，打开箱盖2，将需要维修的测试板8取出，维修完成后，再对测试板8进行安装，把测试板8放置在放置板7上，反向转动转板16，转板16带动第一螺纹杆4与第二螺纹杆5转动，进而带动两个夹持板6相互靠近，当两个夹持板6夹紧测试板8时，停止转动转板16，即可完成对测试板8的固定。
在对半导体芯片进行测试时，把待测试半导体芯片的一面的引脚对准测试板8上的测试探针9，并使引脚与测试探针9对接，然后盖上箱盖2，由于不同型号的半导体芯片具有不同的厚度以及不同的引脚长度，所以需要根据实际情况来调节测试探针9与待测试芯片引脚的距离，具体操作如下：转动转杆11，转杆11带动调节螺杆12转动，进而带动调节板13移动，进而带动两个连接杆14移动，最终带动测试顶板10移动，通过观察窗15来观察测试顶板10上的测试探针9与待测试半导体芯片的另一面的引脚的对接情况，当测试顶板10上的测试探针9与待测试半导体芯片的引脚完成对接时，停止转动转杆11即可，然后开始对待测试半导体芯片的测试工作。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，包括测试箱(1)，其特征在于，所述测试箱(1)内部设有夹持机构，所述夹持机构包括设置在测试箱(1)内底部的滑槽(3)，所述滑槽(3)内部设有第一螺纹杆(4)和第二螺纹杆(5)，所述第一螺纹杆(4)与第二螺纹杆(5)靠近的一端固定连接，所述第二螺纹杆(5)远离第一螺纹杆(4)的一端贯穿滑槽(3)的内壁并固定连接有转板(16)，所述第一螺纹杆(4)与第二螺纹杆(5)侧壁均螺纹连接有夹持板(6)，所述滑槽(3)内壁固定连接有放置板(7)，所述放置板(7)上壁设有测试板(8)，所述测试箱(1)上壁转动连接有箱盖(2)，所述箱盖(2)下端设有测试顶板(10)，所述测试顶板(10)与测试板(8)相对的侧壁均设有多个测试探针(9)，所述箱盖(2)上设有调节机构。
2.根据权利要求1所述的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于，所述调节机构包括设置在箱盖(2)下壁的调节槽(17)，所述调节槽(17)内壁贯穿设有调节螺杆(12)，所述调节螺杆(12)通过轴承与箱盖(2)的贯穿处转动连接，所述调节螺杆(12)位于箱盖(2)上方的一端固定连接有转杆(11)，所述调节螺杆(12)侧壁螺纹连接有调节板(13)，所述调节板(13)下壁固定连接有两个连接杆(14)，两个所述连接杆(14)远离调节板(13)的一端均与测试顶板(10)上壁固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于，两个所述夹持板(6)以第一螺纹杆(4)与第二螺纹杆(5)的连接处为中心对称设置，两个所述夹持板(6)相对的侧壁均设有橡胶垫，两个所述夹持板(6)的侧壁均与滑槽(3)的内壁贴合。
4.根据权利要求1所述的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于，所述第一螺纹杆(4)远离第二螺纹杆(5)的一端通过轴承转动连接在滑槽(3)内壁，所述第一螺纹杆(4)与第二螺纹杆(5)的螺纹方向相反。
5.根据权利要求1所述的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于，所述箱盖(2)上壁固定连接有把手，所述把手表面设有防滑纹。
6.根据权利要求1所述的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于，所述测试箱(1)侧壁设有观察窗(15)，所述观察窗(15)内壁固定连接有玻璃板。
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| CN113567827A (zh) * | 2021-09-26 | 2021-10-29 | 山东元捷电子科技有限公司 | 一种半导体器件的电性能测试工装 |
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