CN212723128U - 一种电器老化试验箱 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电器老化试验箱，包括试验箱体、设置在试验箱体外部的加热装置、制冷装置和散热装置；本设备通过将活动托盘作为试验平台，滑动设在试验箱体的中部，便于待测电器组件的搭建；通过在试验箱体内设有循环风扇，循环风扇启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘上开设的开孔，使试验箱体内部的空气产生强制对流，使得试验箱体内部每一点温度相等；通过设置半导体制冷片对箱体内进行吸热降温，以及单片机进行控制散热效果，便于散热，使得装置内部热量及时排出，避免试验环境的超负荷的进行，保障电器元件损坏。

Description

一种电器老化试验箱

技术领域

本实用新型属于医疗器械设备制造技术领域，具体的说，尤其涉及一种电器老化试验箱。

背景技术

医疗器械设备中不乏出现各种各样的电器，其中电器在使用过程中会产生热量，从而形成各种对电气元件不利的环境，其电气元件长时间在不利的环境中运行极容易暴露出电器组件存在的隐患问题，严重影响到机器的运转。目前试验电器运行情况下的稳定性是通过将机器组装完毕后进行整机的老化，当机器出现错误后再维修，会造成时间、人力、物力上的资源浪费。另在进行物料更换下来后的复测、维修工作中，无法复现物料在整机运行状态及老化环境中的报错现象，同时，当长时间处于高温状态的时候，又会使电器元件损坏；如何有效避免上述问题，是目前医疗器械设备制备领域中需要解决的一个重要问题。

实用新型内容

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为，本实用新型提供一种电器老化试验箱，包括试验箱体，其中，还包括设置在试验箱体外部的加热装置、制冷装置和散热装置；

所述加热装置包括设置在试验箱体一侧壁的温度控制器，所述温度控制器与设置在试验箱体内部的加热器相联；所述试验箱体内部四角还设置有用于形成箱体内部气体对流的循环风扇；

所述制冷装置包括设置在所述箱体顶部的半导体制冷片，所述半导体制冷片的制冷面一侧设置有引风通道，且所述引风通道内固定安装有引风机；所述引风通道上还设置有与外界连通的气压平衡口，所述气压平衡口上安装有单向阀；

所述散热装置包括设置在箱体侧面上端的散热口，所述散热口上安装有防尘网板，且散热口的内侧固定安装有散热风扇；

所述试验箱体中部内侧壁还设置有便于实时探测箱体内部的温度传感器，且所述温度传感器与温度控制器信号连接；所述温度控制器还与半导体制冷片、引风机、散热风扇电性连接。

优选的，所述试验箱体内部设置有便于承载电器元件的承载平台，所述承载平台上设置有活动托盘，所述活动托盘将试验箱体分为上、下两个空腔，活动托盘上开设连通上、下两个空腔的开孔。

优选的，所述活动托盘上开设有用于放置待测电器组件的内凹通槽。

优选的，所述承载平台的两端与设置在箱体内壁的平台滑道滑动连接。

优选的，所述承载平台的外侧面设置有便于推拉承载平台的推动把手。

优选的，所述试验箱体外部设置有箱体密封门，且所述箱体密封门上设置有便于开合箱体密封门的开合把手。

优选的，所述半导体制冷片的制热面通过导热硅脂贴合安装有导热块，所述导热块设置在箱体外侧的端面上安装有散热翅片。

优选的，所述温度传感器的型号为AD590，所述温度控制器的信号为 AT89C51。

有益效果：与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于，本设备通过将活动托盘作为试验平台，滑动设在试验箱体的中部，便于待测电器组件的搭建；

通过在试验箱体内设有循环风扇，循环风扇启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘上开设的开孔，使试验箱体内部的空气产生强制对流，使得试验箱体内部每一点温度相等；同时，由于活动托盘上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽，待测电器组件的上下表面均处在同一试验温度下，这样就使温度模拟值更加准确，从而使老化试验实验结果更为精确；

通过在试验箱体外部设置箱体密封门，有效保证了与外界的隔绝，避免了试验箱体内部与外界的热交换，降低了加热器的能耗，节能环保；

通过设置半导体制冷片对箱体内进行吸热降温，以及单片机进行控制散热效果，便于散热，使得装置内部热量及时排出，保障电器元件有良好的试验环境，延长设备的使用寿命，避免试验环境的超负荷的进行，降低试验出错。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实施例提供的一种电器老化试验箱的整体结构示意图。

图2为本实施例提供的一种电器老化试验箱的整体结构剖面示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

实施例

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。

实施例，由说明书附图可知，本方案提供了一种电器老化试验箱，包括试验箱体1，其中，还包括设置在试验箱体外部的加热装置2、制冷装置3和散热装置4；

所述加热装置2包括设置在试验箱体1一侧壁的温度控制器21，所述温度控制器21与设置在试验箱1体内部的加热器22相联；所述试验箱体1内部四角还设置有用于形成箱体内部气体对流的循环风扇23；

所述制冷装置3包括设置在所述箱体顶部的半导体制冷片31，所述半导体制冷片31的制冷面一侧设置有引风通道32，且所述引风通道32内固定安装有引风机33；所述引风通道32上还设置有与外界连通的气压平衡口34，所述气压平衡口34上安装有单向阀；

所述散热装置4包括设置在箱体侧面上端的散热口41，所述散热口41上安装有防尘网板42，且散热口41的内侧固定安装有散热风扇43；

所述试验箱体1中部内侧壁还设置有便于实时探测箱体内部的温度传感器24，且所述温度传感器24与温度控制器21信号连接；所述温度控制器21 还与半导体制冷片31、引风机33、散热风扇43电性连接。

优选的，所述试验箱体1内部设置有便于承载电器元件的承载平台11，所述承载平台11上设置有活动托盘12，所述活动托盘12将试验箱体分为上、下两个空腔，活动托盘12上开设连通上、下两个空腔的开孔13。

优选的，所述活动托盘12上开设有用于放置待测电器组件的内凹通槽。

优选的，所述承载平台11的外侧面设置有便于推拉活动托盘12的推动把手。

优选的，所述试验箱体1外部设置有箱体密封门14，且所述箱体密封门 14上设置有便于开合箱体密封门14的开合把手15。

优选的，所述半导体制冷片31的制热面通过导热硅脂贴合安装有导热块 35，所述导热块35设置在箱体外侧的端面上安装有散热翅片36。

优选的，所述温度传感器24的型号为AD590，所述温度控制器21的信号为AT89C51。

工作原理，

使用时，将加热器连接到温度控制器上，然后将温度控制器接通至外部电源，将待测电器组件在放置在内凹通槽内，搭建完活动托盘后，将活动托盘推入试验箱体内，关闭箱体密封门，打开温度控制器，通过温度控制器调节至预先设定的温度，设定加温时间，使试验箱体内温度升高，活动托盘上搭载的试验平台在高温中运行预定时间，从而起到老化作用；

具体试验的时候，通过温度传感器试验箱体内部温度，并将试验结果实时以电信号传输给温度控制器，温度控制器将接收到的电信号转换为数值与设定的阈值对比，当所述数值大于等于所述阈值，温度控制器控制半导体制冷片和引风机启动，半导体制冷片的制冷面吸热降低周边空气温度，引风机将低温空气通过导风管经壳体排出，并与箱体上的散热风扇形成循环气流，将箱体内的热气流排出，便于散热，使得装置内部热量及时排出，保障电子配件良好的老化环境，延长设备的使用寿命，避免仅影响温度过高导致电器元件损坏；当所述数值小于所述阈值时，单片机关闭控制半导体制冷片和引风机，通过散热风扇单独工作进行散热，节约能源。

上述试验过程中，由于活动托盘滑动设在试验箱体的中部，试验箱体内设有循环风扇，循环风扇启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘上开设的开孔，使试验箱体内部的空气产生强制对流，使得试验箱体内部每一点温度相等，同时，由于活动托盘上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽，待测电器组件的上下表面均处在同一试验温度下，这样就使老化试验实验结果更为精确。

此外，需要说明的是，该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V 市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。

Claims (8)

1.一种电器老化试验箱，包括试验箱体，其特征在于：还包括设置在试验箱体外部的加热装置、制冷装置和散热装置；

所述加热装置包括设置在试验箱体一侧壁的温度控制器，所述温度控制器与设置在试验箱体内部的加热器相联；所述试验箱体内部四角还设置有用于形成箱体内部气体对流的循环风扇；

所述制冷装置包括设置在所述箱体顶部的半导体制冷片，所述半导体制冷片的制冷面一侧设置有引风通道，且所述引风通道内固定安装有引风机；所述引风通道上还设置有与外界连通的气压平衡口，所述气压平衡口上安装有单向阀；

所述散热装置包括设置在箱体侧面上端的散热口，所述散热口上安装有防尘网板，且散热口的内侧固定安装有散热风扇；

所述试验箱体中部内侧壁还设置有便于实时探测箱体内部的温度传感器，且所述温度传感器与温度控制器信号连接；所述温度控制器还与半导体制冷片、引风机、散热风扇电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述试验箱体内部设置有便于承载电器元件的承载平台，所述承载平台上设置有活动托盘，所述活动托盘将试验箱体分为上、下两个空腔，活动托盘上开设连通上、下两个空腔的开孔。

3.根据权利要求2所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述活动托盘上开设有用于放置待测电器组件的内凹通槽。

4.根据权利要求2所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述承载平台的两端与设置在箱体内壁的平台滑道滑动连接。

5.根据权利要求2所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述承载平台的外侧面设置有便于推拉承载平台的推动把手。

6.根据权利要求1所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述试验箱体外部设置有箱体密封门，且所述箱体密封门上设置有便于开合箱体密封门的开合把手。

7.根据权利要求1所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述半导体制冷片的制热面通过导热硅脂贴合安装有导热块，所述导热块设置在箱体外侧的端面上安装有散热翅片。

8.根据权利要求1所述的一种电器老化试验箱，其特征在于：所述温度传感器的型号为AD590，所述温度控制器的信号为AT89C51。

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