CN212703121U - 一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备 - Google Patents

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谢思浩
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Abstract

本发明公开了一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,包括装置主体和第一盛放腔,所述装置主体的外部左右两侧均设置有边板,且边板的外壁安装有转轴,所述第一盛放腔的内侧设置有盖板,且第一盛放腔位于装置主体的内部,所述装置主体的内部左右两侧均设置有第二盛放腔,且第二盛放腔的内侧安装有抬板,该充电宝用外置散热装置通过边板的设置,使装置主体构成一个完整的密闭结构,利用转轴的结构设置,使盖板能够在边板上进行转动,边板上通过透风网板的设置,保证了装置主体内部的通风散热环境,利用对盖板的翻转控制,对装置主体的密闭结构进行调整,透风网板外露时,装置主体具有良好的散热能力。

Description

一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备
技术领域
本发明涉及二极管封装检测技术领域,具体为一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备。
背景技术
二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件,它具有单向导电性能,即给二极管阳极和阴极加上正向电压时,二极管导通,当给阳极和阴极加上反向电压时,二极管截止,二极管是最早诞生的半导体器件之一,其应用非常广泛,特别是在各种电子电路中,利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接,构成不同功能的电路,可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能。
传统的二极管在加工完成后,需进行一定的封装检测作业,以保证其有效性,传统的二极管封装检测作业中,大多需要人工手动用万能表对二极管两极进行检测,这样的检测方式,极大的降低了二极管封装检测的效率,同时二极管中的部分金属元素容易被工作人员吸入身体内,影响了工作人员的健康。
发明内容
本发明的目的在于提供一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,以解决上述背景技术中提出的传统的二极管在加工完成后,需进行一定的封装检测作业,以保证其有效性,传统的二极管封装检测作业中,大多需要人工手动用万能表对二极管两极进行检测,这样的检测方式,极大的降低了二极管封装检测的效率,同时二极管中的部分金属元素容易被工作人员吸入身体内,影响了工作人员的健康的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,包括装置主体和第二电机,所述装置主体的底部设置有支脚,且装置主体的顶部左侧设置有支杆,所述支杆的顶部设置有转盘,且转盘的前侧设置有衔接杆,所述衔接杆的底部设置有液压杆,且液压杆的底部设置有气动抓手,所述装置主体的前侧设置有集料箱,且装置主体的顶部前侧设置有支架,所述支架的顶部设置有往复机构,且往复机构连接有L型衔接条,所述L型衔接条的右侧连接有检测机构,所述装置主体的顶部设置有滑轨,且滑轨的顶部设置有凹型滑块,所述凹型滑块的顶部设置有三角支架,且三角支架的顶部设置有定料槽,所述装置主体的底部传动机构,且传动机构的前侧连接有第二电机,所述往复机构的顶部设置有固定杆,且固定杆的内部设置有矩形框,所述固定杆的底部设置有底架,且底架的右侧设置有转环,所述转环的内部设置有转轴,且转环的右侧设置有定位轴,所述矩形框的内部贯穿有滑动框,且滑动框的内侧底部设置有固定块,所述底架的左侧设置有第一电机,所述检测机构的左侧设置有支撑板,且支撑板的右侧设置有伸缩杆,所述支撑板的右侧设置有T型滑轨,且T型滑轨的右侧设置有U型滑块,所述U型滑块的后侧连接有T型架,且U型滑块的右侧设置有衔接板,所述衔接板的右侧设置有万能表,所述定料槽的内部设置有固定槽,且固定槽的左侧设置有隔条,所述传动机构的右侧设置有矩形固定框,且矩形固定框的内部贯穿有滑动杆,所述滑动杆的左侧设置有移动框,且移动框的内部设置有滑动板,所述滑动板的前部左侧设置有U型框,且U型框的右侧设置有受力轴,所述受力轴的顶部设置有齿轮,且齿轮的前侧设置有转动轴。
优选的,所述支杆与转盘呈嵌入式结构,且转盘呈可转动结构,所述转盘的转动角度为90°。
优选的,所述液压杆呈伸缩结构,且液压杆的伸缩长度不小于支杆的高度,所述气动抓手共设置两组,且两组气动抓手呈轴对称结构。
优选的,所述矩形框与滑动框呈贯穿结构,且矩形框与滑动框呈可滑动结构,所述滑动框与定位轴呈贯穿结构,且固定块与滑动框呈贯穿结构,所述转环与转轴呈嵌入式结构,且转环与转轴呈转动结构。
优选的,所述往复机构与检测机构通过L型衔接条呈左右连接结构,且往复机构、L型衔接条和检测机构呈滑动结构,所述检测机构的滑动距离小于矩形框的长度。
优选的,所述T型滑轨共设置两组,且两组T型滑轨呈平行结构,所述T型滑轨与U型滑块呈嵌入式结构,且T型滑轨与U型滑块呈滑动结构,所述两组U型滑块通过T型架连接,且两组U型滑块呈等距离滑动结构。
优选的,所述滑轨共设置两组,且两组滑轨呈平行结构,所述凹型滑块与滑轨呈嵌入式结构,且凹型滑块与滑轨呈可滑动结构。
优选的,所述固定槽共设置四组,且四组固定槽呈等距结构分布于定料槽的表面,所述隔条共设置三组,且三组隔条呈等距结构分布于定料槽的表面,所述三组隔条呈平行结构。
优选的,所述矩形固定框与滑动杆呈贯穿结构,且矩形固定框与滑动杆呈滑动结构,所述移动框与滑动板呈嵌入式结构,且移动框与滑动板呈可滑动结构,所述U型框共设置两组,且两组U型框呈轴对称结构,所述受力轴与齿轮呈嵌入式结构,且受力轴与齿轮呈可转动结构。
与现有技术相比,本发明的有益效果如下:
1、本发明通过往复机构的设置,使装置上存在一处可进行前后位移调节的活动结构,第一电机作业,带动转轴转动,由于转轴与转环呈嵌入式结构,故转轴与转环呈同角度转动,转环右侧设置有定位轴,且定位轴贯穿于滑动框处,转环转动时,带动定位轴进行圆形运动轨迹进行移动,进而带动滑动框前后角度摆动,在固定块对滑动框底部的固定作用下,滑动框顶部将在矩形框中进行往复运动,实现对检测机构的移动控制。
2、本发明通过检测机构的设置,使装置上存在一处可以高度调节及检测封装质量的结构,伸缩杆进行延伸作业,带动T型架进行移动,由于T型架连接与两组U型滑块的中间,且U型滑块与T型滑轨呈嵌入式结构,故在T型架的作业下,U型滑块将在T型滑轨上进行滑动作业,进而带动衔接板和万能表下降至指定高度并进行检测作业。
3、本发明通过定料槽的设置,使装置上存在一处可固定二极管及定位辅助的结构,在准备进行封装检测前,将二极管放置于固定槽中进行固定,因固定槽中设置有对称的凹槽,故二极管两端可置于其中进行固定,检测机构在对定料槽中的二极管进行封装检测时,可依靠隔条的位置进行校准,便于万能表准确的与二极管进行衔接及检测作业。
4、本发明通过传动机构的设置,使装置上存在一处可对定料槽实行位移控制的结构,第二电机作业,带动转动轴及齿轮进行转动,齿轮在受力轴中进行转动,给予受力轴压力促进滑动板进行移动,同时两组U型框可确保齿轮进行往复转动作业,带动滑动板在移动框中沿着内壁进行滑动作业,进而带动移动框及滑动杆移动,滑动杆将在矩形固定框中实现往复运动。
5、本发明通过转盘和气动抓手的设置,使装置上存在一处可进行角度调整的结构,二极管在进行封装检测后,会显示部分未合格产品,转盘通过转动带动衔接杆同角度转动,液压杆进行伸缩作用,将气动抓手高度调低,气动抓手对未合格产品进行抓取,并投至集料箱中。
附图说明
图1为本发明结构示意图;
图2为本发明往复机构结构示意图;
图3为本发明检测机构结构示意图;
图4为本发明定料槽结构示意图;
图5为本发明传动机构结构示意图。
图中:1、装置主体;2、支脚;3、支杆;4、转盘;5、衔接杆;6、液压杆;7、气动抓手;8、集料箱;9、支架;10、往复机构;1001、固定杆;1002、矩形框;1003、底架;1004、滑动框;1005、定位轴;1006、固定块;1007、转环;1008、转轴;1009、第一电机;11、L型衔接条;12、检测机构;1201、支撑板;1202、伸缩杆;1203、T型滑轨;1204、U型滑块;1205、T型架;1206、衔接板;1207、万能表;13、滑轨;14、凹型滑块;15、三角支架;16、定料槽;1601、固定槽;1602、隔条;17、传动机构;1701、矩形固定框;1702、滑动杆;1703、移动框;1704、滑动板;1705、U型框;1706、受力轴;1707、齿轮;1708、转动轴;18、第二电机。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-5,本发明提供一种技术方案:一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,包括装置主体1和第二电机18,装置主体1的底部设置有支脚2,且装置主体1的顶部左侧设置有支杆3,支杆3的顶部设置有转盘4,且转盘4的前侧设置有衔接杆5,支杆3与转盘4呈嵌入式结构,且转盘4呈可转动结构,转盘4的转动角度为90°,便于调整气动抓手7的抓取方向及放置作业,衔接杆5的底部设置有液压杆6,且液压杆6的底部设置有气动抓手7,液压杆6呈伸缩结构,且液压杆6的伸缩长度不小于支杆3的高度,气动抓手7共设置两组,且两组气动抓手7呈轴对称结构,提供下降作用力,便于气动抓手7实施夹持作业,装置主体1的前侧设置有集料箱8,且装置主体1的顶部前侧设置有支架9,支架9的顶部设置有往复机构10,且往复机构10连接有L型衔接条11,L型衔接条11的右侧连接有检测机构12,往复机构10与检测机构12通过L型衔接条11呈左右连接结构,且往复机构10、L型衔接条11和检测机构12呈滑动结构,检测机构12的滑动距离小于矩形框1002的长度,便于提供检测机构12滑动作用力,以调整检测机构12的作业位置,装置主体1的顶部设置有滑轨13,且滑轨13的顶部设置有凹型滑块14,滑轨13共设置两组,且两组滑轨13呈平行结构,凹型滑块14与滑轨13呈嵌入式结构,且凹型滑块14与滑轨13呈可滑动结构,提供滑动结构,便于对定料槽16的移动作业,凹型滑块14的顶部设置有三角支架15,且三角支架15的顶部设置有定料槽16,装置主体1的底部传动机构17,且传动机构17的前侧连接有第二电机18,往复机构10的顶部设置有固定杆1001,且固定杆1001的内部设置有矩形框1002,固定杆1001的底部设置有底架1003,且底架1003的右侧设置有转环1007,转环1007的内部设置有转轴1008,且转环1007的右侧设置有定位轴1005,矩形框1002的内部贯穿有滑动框1004,且滑动框1004的内侧底部设置有固定块1006,矩形框1002与滑动框1004呈贯穿结构,且矩形框1002与滑动框1004呈可滑动结构,滑动框1004与定位轴1005呈贯穿结构,且固定块1006与滑动框1004呈贯穿结构,转环1007与转轴1008呈嵌入式结构,且转环1007与转轴1008呈转动结构,第一电机1009进行作业,带动转轴1008转动,由于转轴1008与转环1007呈嵌入式结构,故转轴1008与转环1007呈同角度转动作业,转环1007右侧设置有定位轴1005,且定位轴1005贯穿于滑动框1004处,转环1007转动时,将带动定位轴1005进行圆形运动轨迹移动,进而带动滑动框1004前后角度摆动,在固定块1006对滑动框1004底部的固定作用下,滑动框1004顶部将在矩形框1002中进行往复运动,实现对检测机构12的移动控制,底架1003的左侧设置有第一电机1009,检测机构12的左侧设置有支撑板1201,且支撑板1201的右侧设置有伸缩杆1202,支撑板1201的右侧设置有T型滑轨1203,且T型滑轨1203的右侧设置有U型滑块1204,U型滑块1204的后侧连接有T型架1205,且U型滑块1204的右侧设置有衔接板1206,衔接板1206的右侧设置有万能表1207,T型滑轨1203共设置两组,且两组T型滑轨1203呈平行结构,T型滑轨1203与U型滑块1204呈嵌入式结构,且T型滑轨1203与U型滑块1204呈滑动结构,两组U型滑块1204通过T型架1205连接,且两组U型滑块1204呈等距离滑动结构,伸缩杆1202进行延伸作业,带动T型架1205进行移动,由于T型架1205连接与两组U型滑块1204的中间,且U型滑块1204与T型滑轨1203呈嵌入式结构,故在T型架1205的作业下,U型滑块1204将在T型滑轨1203上进行滑动作业,进而带动衔接板1206和万能表1207下降至指定高度并进行检测作业,定料槽16的内部设置有固定槽1601,且固定槽1601的左侧设置有隔条1602,固定槽1601共设置四组,且四组固定槽1601呈等距结构分布于定料槽16的表面,隔条1602共设置三组,且三组隔条1602呈等距结构分布于定料槽16的表面,三组隔条1602呈平行结构,固定槽1601中设置有对称的凹槽,故二极管两端可置于其中进行固定,检测机构12在对定料槽16中的二极管进行封装检测时,可依靠隔条1602的位置进行校准,便于万能表1207准确的与二极管进行衔接及检测作业,传动机构17的右侧设置有矩形固定框1701,且矩形固定框1701的内部贯穿有滑动杆1702,滑动杆1702的左侧设置有移动框1703,且移动框1703的内部设置有滑动板1704,滑动板1704的前部左侧设置有U型框1705,且U型框1705的右侧设置有受力轴1706,受力轴1706的顶部设置有齿轮1707,且齿轮1707的前侧设置有转动轴1708,矩形固定框1701与滑动杆1702呈贯穿结构,且矩形固定框1701与滑动杆1702呈滑动结构,移动框1703与滑动板1704呈嵌入式结构,且移动框1703与滑动板1704呈可滑动结构,U型框1705共设置两组,且两组U型框1705呈轴对称结构,受力轴1706与齿轮1707呈嵌入式结构,且受力轴1706与齿轮1707呈可转动结构,第二电机18进行作业,带动转动轴1708及齿轮1707进行转动,齿轮1707在受力轴1706中进行转动,给予受力轴1706压力促进滑动板1704进行移动,同时两组U型框1705可确保齿轮1707进行往复转动作业,带动滑动板1704在移动框1703中沿着内壁进行滑动作业,进而带动移动框1703及滑动杆1702移动,滑动杆1702将在矩形固定框1701中实现往复运动。
工作原理:对于这类二极管封装检测设备,首先将成品二极管置于定料槽16中的固定槽1601处进行固定,因固定槽1601中设置有对称的凹槽,故二极管两端可置于其中进行固定,待二极管固定完成后,打开第二电机18,第二电机18带动转动轴1708及齿轮1707进行转动,齿轮1707在受力轴1706中进行转动,给予受力轴1706压力促进滑动板1704进行移动,同时两组U型框1705可确保齿轮1707进行往复转动作业,带动滑动板1704在移动框1703中沿着内壁进行滑动作业,进而带动移动框1703及滑动杆1702移动,滑动杆1702将在矩形固定框1701中实现往复运动,由于传动机构17与定料槽16的连接作用,将带动定料槽16进行移动,滑轨13与凹型滑块14提供滑动作业,待定料槽16移至检测机构12的底部时,第一电机1009进行作业,带动转轴1008转动,由于转轴1008与转环1007呈嵌入式结构,故转轴1008与转环1007呈同角度转动作业,转环1007右侧设置有定位轴1005,且定位轴1005贯穿于滑动框1004处,转环1007转动时,将带动定位轴1005进行圆形运动轨迹移动,进而带动滑动框1004前后角度摆动,在固定块1006对滑动框1004底部的固定作用下,滑动框1004顶部将在矩形框1002中进行往复运动,通过L型衔接条11的连接作用,实现对检测机构12的移动控制,待前后位置调整完毕后,伸缩杆1202进行延伸作业,带动T型架1205进行移动,由于T型架1205连接与两组U型滑块1204的中间,且U型滑块1204与T型滑轨1203呈嵌入式结构,故在T型架1205的作业下,U型滑块1204将在T型滑轨1203上进行滑动作业,进而带动衔接板1206和万能表1207下降至指定高度并进行检测作业,往复机构10与检测机构12的协同作用,对定料槽16中的二极管进行封装检测,检测完毕后,在传动机构17的作用下,定料槽16沿滑轨13继续向左移动,转盘4进行自转,调节衔接杆5及气动抓手7的夹持方向,液压杆6进行延伸作用,气动抓手7对于不合格产品进行夹持并投至集料箱8中,至此,二极管的封装检测作业完成。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,包括装置主体(1)和第二电机(18),其特征在于:所述装置主体(1)的底部设置有支脚(2),且装置主体(1)的顶部左侧设置有支杆(3),所述支杆(3)的顶部设置有转盘(4),且转盘(4)的前侧设置有衔接杆(5),所述衔接杆(5)的底部设置有液压杆(6),且液压杆(6)的底部设置有气动抓手(7),所述装置主体(1)的前侧设置有集料箱(8),且装置主体(1)的顶部前侧设置有支架(9),所述支架(9)的顶部设置有往复机构(10),且往复机构(10)连接有L型衔接条(11),所述L型衔接条(11)的右侧连接有检测机构(12),所述装置主体(1)的顶部设置有滑轨(13),且滑轨(13)的顶部设置有凹型滑块(14),所述凹型滑块(14)的顶部设置有三角支架(15),且三角支架(15)的顶部设置有定料槽(16),所述装置主体(1)的底部设置有传动机构(17),且传动机构(17)的前侧连接有第二电机(18),所述往复机构(10)的顶部设置有固定杆(1001),且固定杆(1001)的内部设置有矩形框(1002),所述固定杆(1001)的底部设置有底架(1003),且底架(1003)的右侧设置有转环(1007),所述转环(1007)的内部设置有转轴(1008),且转环(1007)的右侧设置有定位轴(1005),所述矩形框(1002)的内部贯穿有滑动框(1004),且滑动框(1004)的内侧底部设置有固定块(1006),所述底架(1003)的左侧设置有第一电机(1009),所述检测机构(12)的左侧设置有支撑板(1201),且支撑板(1201)的右侧设置有伸缩杆(1202),所述支撑板(1201)的右侧设置有T型滑轨(1203),且T型滑轨(1203)的右侧设置有U型滑块(1204),所述U型滑块(1204)的后侧连接有T型架(1205),且U型滑块(1204)的右侧设置有衔接板(1206),所述衔接板(1206)的右侧设置有万能表(1207),所述定料槽(16)的内部设置有固定槽(1601),且固定槽(1601)的左侧设置有隔条(1602),所述传动机构(17)的右侧设置有矩形固定框(1701),且矩形固定框(1701)的内部贯穿有滑动杆(1702),所述滑动杆(1702)的左侧设置有移动框(1703),且移动框(1703)的内部设置有滑动板(1704),所述滑动板(1704)的前部左侧设置有U型框(1705),且U型框(1705)的右侧设置有受力轴(1706),所述受力轴(1706)的顶部设置有齿轮(1707),且齿轮(1707)的前侧设置有转动轴(1708)。
2.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述支杆(3)与转盘(4)呈嵌入式结构,且转盘(4)呈可转动结构,所述转盘(4)的转动角度为90°。
3.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述液压杆(6)呈伸缩结构,且液压杆(6)的伸缩长度不小于支杆(3)的高度,所述气动抓手(7)共设置两组,且两组气动抓手(7)呈轴对称结构。
4.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述矩形框(1002)与滑动框(1004)呈贯穿结构,且矩形框(1002)与滑动框(1004)呈可滑动结构,所述滑动框(1004)与定位轴(1005)呈贯穿结构,且固定块(1006)与滑动框(1004)呈贯穿结构,所述转环(1007)与转轴(1008)呈嵌入式结构,且转环(1007)与转轴(1008)呈转动结构。
5.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述往复机构(10)与检测机构(12)通过L型衔接条(11)呈左右连接结构,且往复机构(10)、L型衔接条(11)和检测机构(12)呈滑动结构,所述检测机构(12)的滑动距离小于矩形框(1002)的长度。
6.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述T型滑轨(1203)共设置两组,且两组T型滑轨(1203)呈平行结构,所述T型滑轨(1203)与U型滑块(1204)呈嵌入式结构,且T型滑轨(1203)与U型滑块(1204)呈滑动结构,所述两组U型滑块(1204)通过T型架(1205)连接,且两组U型滑块(1204)呈等距离滑动结构。
7.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述滑轨(13)共设置两组,且两组滑轨(13)呈平行结构,所述凹型滑块(14)与滑轨(13)呈嵌入式结构,且凹型滑块(14)与滑轨(13)呈可滑动结构。
8.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述固定槽(1601)共设置四组,且四组固定槽(1601)呈等距结构分布于定料槽(16)的表面,所述隔条(1602)共设置三组,且三组隔条(1602)呈等距结构分布于定料槽(16)的表面,所述三组隔条(1602)呈平行结构。
9.根据权利要求1所述的一种二极管加工用具备分类夹持功能的封装检测设备,其特征在于:所述矩形固定框(1701)与滑动杆(1702)呈贯穿结构,且矩形固定框(1701)与滑动杆(1702)呈滑动结构,所述移动框(1703)与滑动板(1704)呈嵌入式结构,且移动框(1703)与滑动板(1704)呈可滑动结构,所述U型框(1705)共设置两组,且两组U型框(1705)呈轴对称结构,所述受力轴(1706)与齿轮(1707)呈嵌入式结构,且受力轴(1706)与齿轮(1707)呈可转动结构。
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