CN212658786U - 一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，包括光衰检测装置本体，所述光衰检测装置本体正面的底部固定连接有支撑板，所述支撑板的顶部活动安装有检测盘，所述检测盘的顶部设置有电池片，所述电池片通过胶条粘黏在检测盘的顶部，所述支撑板顶部的右侧设置有刮胶板。本实用新型解决了现有光衰检测装置电池板检测时需要胶条固定，在检测完成后需要撕开胶条进行下次检测，其检测效率低下，设备停运时间长，造成了检测量减少的现象，不便于检测的问题，具备检测效率高的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域，具体为一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置。
背景技术
晶体硅太阳能电池片是目前太阳能电池市场的主流产品，由于硅晶体生长过程中引入了杂质，对电池的初期光照会导致其中的掺杂剂和氧、铁等杂质形成复合中心，从而使硅片的少子寿命降低，引起电池转换效率下降，产生光衰现象，随着光伏技术的发展，晶硅太阳能电池的转换效率越来越高，光致衰减对太阳电池的影响也越来越大，终端市场对多晶硅太阳能电池的光衰率有严格的要求，因此，在多晶硅太阳能电池的生产过程中，需要对成品晶体硅太阳能电池片的抗光衰能力进行实时测试。
现有光衰检测装置存在的问题是：电池板检测时需要胶条固定，在检测完成后需要撕开胶条进行下次检测，其检测效率低下，设备停运时间长，造成了检测量减少的现象，不便于检测。
发明内容
为解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型的目的在于提供一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，具备检测效率高的优点，解决了现有光衰检测装置电池板检测时需要胶条固定，在检测完成后需要撕开胶条进行下次检测，其检测效率低下，设备停运时间长，造成了检测量减少的现象，不便于检测的问题。
本实用新型提供如下技术方案：一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，包括光衰检测装置本体，所述光衰检测装置本体正面的底部固定连接有支撑板，所述支撑板的顶部活动安装有检测盘，所述检测盘的顶部设置有电池片，所述电池片通过胶条粘黏在检测盘的顶部，所述支撑板顶部的右侧设置有刮胶板，所述光衰检测装置本体正面的底部镶嵌有第一电机，所述第一电机的输出轴与检测盘的顶部固定连接，所述支撑板顶部右侧的前侧固定连接有传动机构。
所述传动机构包括第二电机，所述第二电机的输出轴固定连接有螺杆，所述螺杆的表面套设有螺套，所述螺套的后侧与刮胶板的正面固定连接。
所述螺套的底部固定连接有滑块，所述支撑板顶部的前侧开设有与滑块滑动连接的滑槽。
所述支撑板顶部前侧的左侧固定连接有限位架，所述限位架的右侧与螺杆的左端活动连接。
所述光衰检测装置本体正面的底部设置有密封板，所述密封板的底部固定连接有橡胶条，密封板的正面螺纹连接有手柄。
所述光衰检测装置本体正面左侧和右侧的底部均固定连接有限位套，所述限位套的内部滑动安装有滑杆，所述滑杆的底端与密封板的顶部固定连接，所述滑杆的表面套设有弹簧，所述弹簧的顶端与限位套的底部接触，所述弹簧的底端与密封板的顶部固定连接。
本实用新型的有益效果如下：
1、本实用新型将位于光衰检测装置本体内部的检测盘进行光衰检测，同时位于支撑板顶部的待检测的检测盘便于同时粘黏电池片进行待检测，检测完成后，启动第一电机带动检测盘旋转，将检测完成的电池片旋转位于支撑板的顶部，待检测电池片进入光衰检测装置本体的内部进行检测，再启动第二电机带动螺杆旋转，螺杆旋转带动螺套左右移动，螺套带动刮胶板左右移动将电池片刮离检测盘，便于快速将检测后的电池片取出，解决了现有光衰检测装置电池板检测时需要胶条固定，在检测完成后需要撕开胶条进行下次检测，其检测效率低下，设备停运时间长，造成了检测量减少的现象，不便于检测的问题，具备检测效率高的优点。
2、本实用新型通过设置第二电机、螺杆和螺套，便于启动第二电机带动螺杆旋转，螺杆旋转带动螺套左右移动，螺套带动刮胶板左右移动将电池片刮离检测盘，便于快速将检测后的电池片取出。
3、本实用新型通过设置滑块和滑槽，便于通过滑块与滑槽的滑动连接使螺套左右移动，防止螺套翻转倾斜。
4、本实用新型通过设置限位架，便于通过限位架使螺杆旋转时更加稳定，防止螺杆的左端晃动，提高传动稳定性。
5、本实用新型通过设置密封板、橡胶条和手柄，便于旋转手柄向后移动与光衰检测装置本体的正面紧密接触对密封板定位，便于检测盘旋转转换待检测的电池片进行检测，缩减大量的检测更换时间，保证检测效率，橡胶条可消除密封板与检测盘的旋转间隙，避免紫外线检测的辐射影响车间环境。
6、本实用新型通过设置限位套、滑杆和弹簧，便于通过限位套配合滑杆的滑动连接使密封板上下滑动稳定，同时弹簧的弹力可将密封板向下弹动，密封板向下带动橡胶条向下将检测盘进行密封防护，防止紫外线辐射泄漏。
附图说明
图1为本实用新型立体结构示意图；
图2为本实用新型俯视剖面结构示意图；
图3为本实用新型支撑板的局部剖面结构示意图。
图中：1、光衰检测装置本体；2、支撑板；3、检测盘；4、电池片；5、刮胶板；6、第一电机；7、传动机构；71、第二电机；72、螺杆；73、螺套；8、滑块；9、滑槽；10、限位架；11、密封板；12、橡胶条；13、手柄；14、限位套；15、滑杆；16、弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1至图3所示，本实用新型包括光衰检测装置本体1，光衰检测装置本体1正面的底部固定连接有支撑板2，支撑板2的顶部活动安装有检测盘3，检测盘3的顶部设置有电池片4，电池片4通过胶条粘黏在检测盘3的顶部，支撑板2顶部的右侧设置有刮胶板5，光衰检测装置本体1正面的底部镶嵌有第一电机6，第一电机6的输出轴与检测盘3的顶部固定连接，支撑板2顶部右侧的前侧固定连接有传动机构7。
参考图1，传动机构7包括第二电机71，第二电机71的输出轴固定连接有螺杆72，螺杆72的表面套设有螺套73，螺套73的后侧与刮胶板5的正面固定连接。
本实施例通过设置第二电机71、螺杆72和螺套73，便于启动第二电机71带动螺杆72旋转，螺杆72旋转带动螺套73左右移动，螺套73带动刮胶板5左右移动将电池片4刮离检测盘3便于快速将检测后的电池片4取出。
参考图3，螺套73的底部固定连接有滑块8，支撑板2顶部的前侧开设有与滑块8滑动连接的滑槽9。
本实施例通过设置滑块8和滑槽9，便于通过滑块8与滑槽9的滑动连接使螺套73左右移动，防止螺套73翻转倾斜。
参考图1，支撑板2顶部前侧的左侧固定连接有限位架10，限位架10的右侧与螺杆72的左端活动连接。
本实施例通过设置限位架10，便于通过限位架10使螺杆72旋转时更加稳定，防止螺杆72的左端晃动，提高传动稳定性。
参考图1，光衰检测装置本体1正面的底部设置有密封板11，密封板11的底部固定连接有橡胶条12，密封板11的正面螺纹连接有手柄13。
本实施例通过设置密封板11、橡胶条12和手柄13，便于旋转手柄13向后移动与光衰检测装置本体1的正面紧密接触对密封板11定位，便于检测盘3旋转转换待检测的电池片4进行检测，缩减大量的检测更换时间，保证检测效率，橡胶条12可消除密封板11与检测盘3的旋转间隙，避免紫外线检测的辐射影响车间环境。
参考图1，光衰检测装置本体1正面左侧和右侧的底部均固定连接有限位套14，限位套14的内部滑动安装有滑杆15，滑杆15的底端与密封板11的顶部固定连接，滑杆15的表面套设有弹簧16，弹簧16的顶端与限位套14的底部接触，弹簧16的底端与密封板11的顶部固定连接。
本实施例通过设置限位套14、滑杆15和弹簧16，便于通过限位套14配合滑杆15的滑动连接使密封板11上下滑动稳定，同时弹簧16的弹力可将密封板11向下弹动，密封板11向下带动橡胶条12向下将检测盘3进行密封防护，防止紫外线辐射泄漏。
本实用新型将位于光衰检测装置本体1内部的检测盘3进行光衰检测，同时位于支撑板2顶部的待检测的检测盘3便于同时粘黏电池片4进行待检测，检测完成后，启动第一电机6带动检测盘3旋转，将检测完成的电池片4旋转位于支撑板2的顶部，待检测电池片4进入光衰检测装置本体1的内部进行检测，再启动第二电机71带动螺杆72旋转，螺杆72旋转带动螺套73左右移动，螺套73带动刮胶板5左右移动将电池片4刮离检测盘3便于快速将检测后的电池片4取出。
Claims (6)
1.一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，包括光衰检测装置本体（1），其特征在于：所述光衰检测装置本体（1）正面的底部固定连接有支撑板（2），所述支撑板（2）的顶部活动安装有检测盘（3），所述检测盘（3）的顶部设置有电池片（4），所述电池片（4）通过胶条粘黏在检测盘（3）的顶部，所述支撑板（2）顶部的右侧设置有刮胶板（5），所述光衰检测装置本体（1）正面的底部镶嵌有第一电机（6），所述第一电机（6）的输出轴与检测盘（3）的顶部固定连接，所述支撑板（2）顶部右侧的前侧固定连接有传动机构（7）。
2.根据权利要求1所述的一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，其特征在于：所述传动机构（7）包括第二电机（71），所述第二电机（71）的输出轴固定连接有螺杆（72），所述螺杆（72）的表面套设有螺套（73），所述螺套（73）的后侧与刮胶板（5）的正面固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，其特征在于：所述螺套（73）的底部固定连接有滑块（8），所述支撑板（2）顶部的前侧开设有与滑块（8）滑动连接的滑槽（9）。
4.根据权利要求2所述的一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，其特征在于：所述支撑板（2）顶部前侧的左侧固定连接有限位架（10），所述限位架（10）的右侧与螺杆（72）的左端活动连接。
5.根据权利要求1所述的一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，其特征在于：所述光衰检测装置本体（1）正面的底部设置有密封板（11），所述密封板（11）的底部固定连接有橡胶条（12），所述密封板（11）的正面螺纹连接有手柄（13）。
6.根据权利要求5所述的一种便于晶体硅电池片的超高倍速光衰测试装置，其特征在于：所述光衰检测装置本体（1）正面左侧和右侧的底部均固定连接有限位套（14），所述限位套（14）的内部滑动安装有滑杆（15），所述滑杆（15）的底端与密封板（11）的顶部固定连接，所述滑杆（15）的表面套设有弹簧（16），所述弹簧（16）的顶端与限位套（14）的底部接触，所述弹簧（16）的底端与密封板（11）的顶部固定连接。
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