CN212646962U - 一种非标准pcie3.0接口测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种非标准PCIE3.0接口测试装置，包括示波器主体，所述示波器主体的一侧固定设置有引出通道，所述引出通道连接有SMA线缆，所述SMA线缆的一端固定连接有连接探头，所述SMA线缆一端通过连接探头连接有夹具，所述夹具的四侧分别固定设置有第一金手指、第二金手指、第三金手指和第四金手指，所述夹具的板身上对应第一金手指设置有第一探测点和第二探测点。本实用新型中，夹具板表面分别对应设置有×1金手指、×4金手指、×8金手指和×16金手指，可以实现不同PCIE插槽的插接作业，设置探头，除连接夹具外，可以进行PCIE插口的储存波形检测，进而可以对PCIE接口进行发射接收实验，检测是否能够通过发射接收测试，从而实现非标准PCIE接口的检测作业。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCIE测试领域，尤其涉及一种非标准PCIE3.0接口测试装置。
背景技术
目前业内通用的是X1、X4、X8、X16宽度的标准PCIE3.0接口。并且，PCIE协会对主板上标准PCIE3.0接口的引脚定义和测试流程及测试规范有严格要求。同时，标准PCIE3.0插卡制作和验证都同样需要满足PCIE协会的要求。
一般检测装置的夹具结构设置单一，无法进行不同接口的测试作业，本身设置金手指为标准金手指结构，无法实现非标准式接口的检测作业，连接线体结构设置单一，只能够进行示波器与夹具之间的信号传导，无法实现非标准接口内部储存波形的检测作业。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种非标准PCIE3.0接口测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种非标准PCIE3.0接口测试装置，包括示波器主体，所述示波器主体的一侧固定设置有引出通道，所述引出通道连接有SMA线缆，所述SMA线缆的一端固定连接有连接探头，所述SMA线缆一端通过连接探头连接有夹具，所述夹具的四侧分别固定设置有第一金手指、第二金手指、第三金手指和第四金手指，所述夹具的板身上对应第一金手指设置有第一探测点和第二探测点。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述引出通道在示波器主体的一侧固定设置有多个，所述示波器主体的型号固定设置为泰克TDS系列示波器。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述SMA线缆的一端对应插接在引出通道上，且SMA线缆与引出通道之间连接为可拆卸式，所述SMA线缆对应引出通道可连接多根，所述连接探头对应固定连接在SMA线缆背离连接引出通道的一端。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述连接探头本身具备连接PEIE3.0的功能。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述第一金手指设置为×1金手指，所述第二金手指设置为×4金手指，所述第三金手指设置为×8金手指，所述第四金手指固定设置为×16金手指。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述第一探测点设置为REFCLK探测点，所述第二探测点设置为SMA探测点，所述夹具上设置有四组第一探测点和第二探测点，且四组第一探测点和第二探测点分别与第一金手指、第二金手指、第三金手指和第四金手指相对应。
本实用新型具有如下有益效果：
1、本实用新型非标准PCIE3.0接口测试装置中，夹具板结构表面四周分别对应设置有×1金手指、×4金手指、×8金手指和×16金手指，可以实现不同PCIE插槽的插接作业，设置探头，除连接夹具外，可以进行PCIE插口的储存波形检测，进而可以对PCIE接口进行发射接收实验，检测是否能够通过发射接收测试，从而实现非标准PCIE接口的检测作业。
2、本实用新型非标准PCIE3.0接口测试装置中，夹具板结构表面对应设置有SMA检测点和REFCLK探测点，可以进行相应的参考时钟探测以及SMA探测作业，从而得到信号的抖动和眼图测试结果。
附图说明
图1为一种非标准PCIE3.0接口测试装置的主视图；
图2为一种非标准PCIE3.0接口测试装置的夹具结构示意图。
图例说明：
1、示波器主体；2、引出通道；3、SMA线缆；4、连接探头；5、夹具；6、第一金手指；7、第二金手指；8、第三金手指；9、第四金手指；10、第一探测点；11、第二探测点。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参照图1-2，本实用新型提供的一种实施例：一种非标准PCIE3.0接口测试装置，包括示波器主体1，提供示波器结构，示波器主体1的一侧固定设置有引出通道2，提供信号输出及接收，引出通道2连接有SMA线缆3，提供信号传递，SMA线缆3的一端固定连接有连接探头4，提供夹具连接以及非标准接口探测，SMA线缆3一端通过连接探头4连接有夹具5，夹具5的四侧分别固定设置有第一金手指6、第二金手指7、第三金手指8和第四金手指9，实现不同标准接口的检测作业，夹具5的板身上对应第一金手指6设置有第一探测点10和第二探测点11，对应REFCLK和SMA探测连接点。
引出通道2在示波器主体1的一侧固定设置有多个，示波器主体1的型号固定设置为泰克TDS系列示波器，SMA线缆3的一端对应插接在引出通道2上，且SMA线缆3与引出通道2之间连接为可拆卸式，可减少整体使用面积，SMA线缆3对应引出通道2可连接多根，连接探头4对应固定连接在SMA线缆3背离连接引出通道2的一端，连接探头4本身具备连接PEIE3.0的功能，实现非标准接口的波形检测，第一金手指6设置为×1金手指，第二金手指7设置为×4金手指，第三金手指8设置为×8金手指，第四金手指9固定设置为×16金手指，分别对应四种标准接口，第一探测点10设置为REFCLK探测点，第二探测点11设置为SMA探测点，实现检测的正常作业，夹具5上设置有四组第一探测点10和第二探测点11，且四组第一探测点10和第二探测点11分别与第一金手指6、第二金手指7、第三金手指8和第四金手指9相对应，确保可以进行四种不同标准接口的检测作业。
工作原理：在非标准PCIE3.0接口测试作业中，线缆的端部设置连接探头4，除连接夹具外，可以进行非标准PCIE3.0插口的储存波形检测，进而可以对PCIE接口进行发射接收实验，检测是否能够通过发射接收测试，从而实现非标准PCIE接口的检测作业，夹具5板结构表面四周分别对应设置有×1金手指、×4金手指、×8金手指和×16金手指，可以实现不同标准PCIE插槽的插接作业，从而确保装置可进行非标准和标准的两种PCIE3.0接口的检测作业，实用性较高。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种非标准PCIE3.0接口测试装置，包括示波器主体(1)，其特征在于：所述示波器主体(1)的一侧固定设置有引出通道(2)，所述引出通道(2)连接有SMA线缆(3)，所述SMA线缆(3)的一端固定连接有连接探头(4)，所述SMA线缆(3)一端通过连接探头(4)连接有夹具(5)，所述夹具(5)的四侧分别固定设置有第一金手指(6)、第二金手指(7)、第三金手指(8)和第四金手指(9)，所述夹具(5)的板身上对应第一金手指(6)设置有第一探测点(10)和第二探测点(11)。
2.根据权利要求1所述的一种非标准PCIE3.0接口测试装置，其特征在于：所述引出通道(2)在示波器主体(1)的一侧固定设置有多个，所述示波器主体(1)的型号固定设置为泰克TDS系列示波器。
3.根据权利要求1所述的一种非标准PCIE3.0接口测试装置，其特征在于：所述SMA线缆(3)的一端对应插接在引出通道(2)上，且SMA线缆(3)与引出通道(2)之间连接为可拆卸式，所述SMA线缆(3)对应引出通道(2)可连接多根，所述连接探头(4)对应固定连接在SMA线缆(3)背离连接引出通道(2)的一端。
4.根据权利要求1所述的一种非标准PCIE3.0接口测试装置，其特征在于：所述连接探头(4)本身具备连接PEIE3.0的功能。
5.根据权利要求1所述的一种非标准PCIE3.0接口测试装置，其特征在于：所述第一金手指(6)设置为×1金手指，所述第二金手指(7)设置为×4金手指，所述第三金手指(8)设置为×8金手指，所述第四金手指(9)固定设置为×16金手指。
6.根据权利要求1所述的一种非标准PCIE3.0接口测试装置，其特征在于：所述第一探测点(10)设置为REFCLK探测点，所述第二探测点(11)设置为SMA探测点，所述夹具(5)上设置有四组第一探测点(10)和第二探测点(11)，且四组第一探测点(10)和第二探测点(11)分别与第一金手指(6)、第二金手指(7)、第三金手指(8)和第四金手指(9)相对应。
Priority Applications (1)
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| CN202021303294.2U CN212646962U (zh) | 2020-07-02 | 2020-07-02 | 一种非标准pcie3.0接口测试装置 |
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| CN202021303294.2U CN212646962U (zh) | 2020-07-02 | 2020-07-02 | 一种非标准pcie3.0接口测试装置 |
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Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN212646962U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114047433A (zh) * | 2021-11-17 | 2022-02-15 | 浪潮商用机器有限公司 | 一种多功能pcie测试板卡 |
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2020
- 2020-07-02 CN CN202021303294.2U patent/CN212646962U/zh active Active
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