CN212646895U - 一种芯片测试机的翻转限位设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片测试机的翻转限位设备，包括底板,底板的顶部对称固定连接有承载板，承载板一侧的顶部转动穿插套接有第一主轴，两个第一主轴之间对称设置有夹板，第一主轴外壁的一侧固定连接有第一定位块，两个第一定位块位于两个承载板相悖的一侧，两个承载板相悖一侧的顶部对称固定连接有第二定位块，两个承载板之间的底部转动套接有第二主轴。本实用新型利用两个第一主轴的设置方式，第一主轴的外壁固定连接有第一定位块，第一定位块在两个第二定位块的作用下，第一主轴只能够翻转一百八十度，从而使第一定位与不同的第二定位块接触时，芯片即翻转为不同的平面，从而便于芯片检测，提高其检测效。
Description
技术领域
本实用新型涉及限位设备领域，特别涉及一种芯片测试机的翻转限位设备。
背景技术
芯片又称集成电路，缩写作IC；或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路，主要包括半导体设备，也包括被动组件等，小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
对芯片测试的时候，需要对其进行定位从而便于测试机对其进行电路导电性能测试，但是有的芯片需要对其两面进行测试，对芯片另一面进行测试的时候，需要将其从定位装置上取下，然后翻转过来再次对其进行位置固定，从而降低了芯片检测的效率。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种芯片测试机的翻转限位设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试机的翻转限位设备，包括底板,所述底板的顶部对称固定连接有承载板，所述承载板一侧的顶部转动穿插套接有第一主轴，两个所述第一主轴之间对称设置有夹板，所述第一主轴外壁的一侧固定连接有第一定位块，两个所述第一定位块位于两个承载板相悖的一侧，两个所述承载板相悖一侧的顶部对称固定连接有第二定位块，两个所述承载板之间的底部转动套接有第二主轴。
优选的，所述第二主轴外壁的两端均固定套接有第一皮带轮，所述第一主轴外壁的一端固定套接有第二皮带轮，所述第一皮带轮和第二皮带轮之间设置有皮带，所述第二主轴的一端固定连接有把手。
优选的，其中一个所述第一主轴的一端开设有连接槽，所述连接槽的内腔滑动套接有连接杆，所述连接杆的一端与夹板固定连接。
优选的，其中一个所述第一主轴的外壁螺纹套接有定位螺栓，所述定位螺栓的底部与连接杆相贴。
优选的，其中另一个所述第一主轴的一端开设有滑槽，所述滑槽的内腔设置有滑板，所述滑板的一端与夹板固定连。
优选的，所述滑槽内腔的一侧固定套接有限位块，所述滑板的外壁与限位块滑动穿插套接，所述滑板的一端固定连接有第三定位块，所述第三定位块的外壁与滑槽滑动套接，所述滑板的外壁滑动套接有弹簧，所述弹簧位于限位块和夹板之间。
本实用新型的技术效果和优点：
(1)本实用新型利用两个第一主轴的设置方式，第一主轴的外壁固定连接有第一定位块，第一定位块在两个第二定位块的作用下，第一主轴只能够翻转一百八十度，从而使第一定位与不同的第二定位块接触时，芯片即翻转为不同的平面，从而便于芯片检测，提高其检测效率；
(2)本实用新型利用第二主轴的设置方式，第二主轴通过第一皮带轮、第二皮带轮和皮带可以带动两个第一主轴同步运动，从而实现两个夹板同时带动芯片翻转，避免两个夹板之间存在扭矩，对芯片造成破坏。
附图说明
图1为本实用新型整体结构示意图。
图2为本实用新型正面内部结构示意图。
图3为本实用新型图1中A处放大结构示意图。
图4为本实用新型图2中B处放大结构示意图。
图中：1、底板；2、承载板；3、第一主轴；4、夹板；6、第一定位块；7、第二定位块；8、第二主轴；9、第一皮带轮；10、第二皮带轮；11、皮带；12、把手；13、连接槽；14、连接杆；15、定位螺栓；16、滑槽；17、滑板；18、限位块；19、第三定位块；20、弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供了如图1-4所示的一种芯片测试机的翻转限位设备，包括底板1,底板1的顶部对称固定连接有承载板2，承载板2一侧的顶部转动穿插套接有第一主轴3，两个第一主轴3之间对称设置有夹板4，第一主轴3外壁的一侧固定连接有第一定位块6，且第一定位块6与夹板4处于平行状态，两个第一定位块6位于两个承载板2相悖的一侧，两个承载板2相悖一侧的顶部对称固定连接有第二定位块7，两个第二定位块7可以对第一定位块6进行位置限定，只能使第一定位块6转动一个半圆轨迹，从而使第一定位块6与不同的第二定位块7接触时，芯片便会以不同的面向上，两个承载板2之间的底部转动套接有第二主轴8，第二主轴8通过两个第一皮带轮9、两个皮带11和两个第二皮带轮10同步带动两个第一主轴3转动，从而避免两个夹板4之间出现扭矩，从而对芯片造成破环，第二主轴8外壁的两端均固定套接有第一皮带轮9，第一主轴3外壁的一端固定套接有第二皮带轮10，第一皮带轮9和第二皮带轮10之间设置有皮带11，第二主轴8的一端固定连接有把手12；
其中一个第一主轴3的一端开设有连接槽13，连接槽13的内腔滑动套接有连接杆14，连接杆14在连接槽13中滑动，就可以改变连哥哥夹板4之间的距离，从而使其对不同宽度的芯片进行定位，连接杆14的一端与夹板4固定连接，其中一个第一主轴3的外壁螺纹套接有定位螺栓15，定位螺栓15可以对连接杆14进行位置固定，定位螺栓15的底部与连接杆14相贴，其中另一个第一主轴3的一端开设有滑槽16，滑槽16的内腔设置有滑板17，滑板17的一端与夹板4固定连，滑槽16内腔的一侧固定套接有限位块18，滑板17的外壁与限位块18滑动穿插套接，滑板17和滑槽16的横截面均为矩形，从而第一主轴3转动的时候可以带动滑板17转动，进而带动夹板4转动，滑板17的一端固定连接有第三定位块19，第三定位块19的外壁与滑槽16滑动套接，滑板17的外壁滑动套接有弹簧20，弹簧20位于限位块18和夹板4之间，弹簧20可以给其中一个夹板4一个弹力，从而使两个夹板4夹紧芯片。
本实用新型工作原理：当对芯片进行检测的时候，首先将芯片放到两个夹板4之间，即拉动其中一个夹板4，使滑板17在滑槽16中滑动，从而使两个夹板4之间的距离大于芯片的宽度，然后将芯片的一侧滑动卡接在其中另一个夹板4中，然后松动其中一个夹板4，在弹簧20的作用下，其中一个夹板4向另一个夹板4靠近夹住芯片；
芯片定位完成后，转动把手12，使第二主轴8转动，第二主轴8通过两个第一皮带轮9、两个皮带11和两个第二皮带轮10同步带动两个第一主轴3转动，直至第一定位块6与其中一个第二定位块7相贴合，此时两个夹板4带动芯片的一面向上，当其一面检测完成后，转动把手12，使第二主轴8带动两个第一主轴3转动，从而使第一定位块6与另一个第二定位块7相贴合，此时芯片的另一面向上，对其另一面检测即可，然后更换待检测的芯片重复上述步骤即可。
在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
本实用新型使用到的标准零件均可以从市场上购买，异形件根据说明书的和附图的记载均可以进行订制。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种芯片测试机的翻转限位设备，包括底板(1)，其特征在于,所述底板(1)的顶部对称固定连接有承载板(2)，所述承载板(2)一侧的顶部转动穿插套接有第一主轴(3)，两个所述第一主轴(3)之间对称设置有夹板(4)，所述第一主轴(3)外壁的一侧固定连接有第一定位块(6)，两个所述第一定位块(6)位于两个承载板(2)相悖的一侧，两个所述承载板(2)相悖一侧的顶部对称固定连接有第二定位块(7)，两个所述承载板(2)之间的底部转动套接有第二主轴(8)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转限位设备，其特征在于，所述第二主轴(8)外壁的两端均固定套接有第一皮带轮(9)，所述第一主轴(3)外壁的一端固定套接有第二皮带轮(10)，所述第一皮带轮(9)和第二皮带轮(10)之间设置有皮带(11)，所述第二主轴(8)的一端固定连接有把手(12)。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转限位设备，其特征在于，其中一个所述第一主轴(3)的一端开设有连接槽(13)，所述连接槽(13)的内腔滑动套接有连接杆(14)，所述连接杆(14)的一端与夹板(4)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转限位设备，其特征在于，其中一个所述第一主轴(3)的外壁螺纹套接有定位螺栓(15)，所述定位螺栓(15)的底部与连接杆(14)相贴合。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转限位设备，其特征在于，其中另一个所述第一主轴(3)的一端开设有滑槽(16)，所述滑槽(16)的内腔设置有滑板(17)，所述滑板(17)的一端与夹板(4)固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种芯片测试机的翻转限位设备，其特征在于，所述滑槽(16)内腔的一侧固定套接有限位块(18)，所述滑板(17)的外壁与限位块(18)滑动穿插套接，所述滑板(17)的一端固定连接有第三定位块(19)，所述第三定位块(19)的外壁与滑槽(16)滑动套接，所述滑板(17)的外壁滑动套接有弹簧(20)，所述弹簧(20)位于限位块(18)和夹板(4)之间。
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| CN202021072314.XU CN212646895U (zh) | 2020-06-11 | 2020-06-11 | 一种芯片测试机的翻转限位设备 |
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| CN202021072314.XU Active CN212646895U (zh) | 2020-06-11 | 2020-06-11 | 一种芯片测试机的翻转限位设备 |
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| CN (1) | CN212646895U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113451181A (zh) * | 2021-07-19 | 2021-09-28 | 安徽弘电微电子有限公司 | 一种低漏电低压二极管芯片用助焊装置 |
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2020
- 2020-06-11 CN CN202021072314.XU patent/CN212646895U/zh active Active
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