CN212513557U - 用于发光器件的多功能测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件安装于X轴组件上，所述Z轴组件的支撑板安装于Y轴组件上，所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个安装于支撑板上。本实用新型既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流‑功率曲线扫描，提高了测试的效率。

Description

用于发光器件的多功能测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种用于发光器件的多功能测试装置，属于光通讯测试技术领域。

背景技术

目前光通信器件包括光模块及光器件，一般光模块需要进行调试校准及性能测试，光器件需要进行性能测试；现有的光模块及光器件的调测方法在实际的生产过程中，流程复杂，多台测试仪器难以对多个光模块、光器件并行测试；测试效率低，设备利用率小，测试时间长。上述内容仅用于辅助理解本实用新型的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于发光器件的多功能测试装置，该用于发光器件的多功能测试装置既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构安装于基板上，所述测试探头可移动地安装于驱动机构上，并位于测试座上方；

所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件可移动地安装于X轴组件上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件的支撑板可移动地安装于Y轴组件上，使得Z轴组件可沿Y轴方向往复运动；

所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个安装于支撑板上。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，两个所述测试探头中与螺母连接的测试探头为光谱扫描探头。

2. 上述方案中，所述测试座一侧还设置有一转接座，此转接座上具有一PCB板和与PCB板电连接的第一连接器，此PCB板设置有第二连接器。

3. 上述方案中，所述转接板上设置有若干个调节孔。

4. 上述方案中，所述第一连接器一端与PCB板连接，另一端用于与设置于测试座上的夹具电连接。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型用于发光器件的多功能测试装置，其通过在驱动机构上安装两个测试探头，既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率，而两个探头一个通过电机上下调节、一个相对固定，则可以对两个探头之间的相对位置进行调节，进一步保证了不同探头的测试精度。

附图说明

附图1为本实用新型用于发光器件的多功能测试装置结构示意图；

附图2为本实用新型用于发光器件的多功能测试装置结构局部结构示意图；

附图3为本实用新型转接座结构示意图；

附图4为本实用新型Z轴组件的结构示意图。

以上附图中：1、机架；101、基板；2、测试座；3、驱动机构；31、X轴组件；32、Y轴组件；33、Z轴组件；331、支撑板；332、Z轴丝杆；333、Z轴电机；334、螺母；4、测试探头；5、转接座；6、PCB板；7、第一连接器；8、第二连接器。

具体实施方式

在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。

实施例1：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架1、安装于机架1的基板101上的测试座2、驱动机构3和测试探头4，所述驱动机构3安装于基板101上，所述测试探头4可移动地安装于驱动机构3上，并位于测试座2上方；

所述驱动机构3进一步包括X轴组件31、Y轴组件32和Z轴组件33，所述X轴组件31安装于基板101上表面，所述Y轴组件32可移动地安装于X轴组件31上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件33的支撑板331可移动地安装于Y轴组件32上，使得Z轴组件33可沿Y轴方向往复运动；

所述支撑板331上设置有一Z轴丝杆332，此Z轴丝杆332一端连接有一用于驱动Z轴丝杆332旋转的Z轴电机333，所述Z轴丝杆332上套装有一螺母334，两个所述测试探头4中的一个通过转接板与螺母334连接，此测试探头4可随螺母334在Z轴方向移动，两个所述测试探头4中的另一个安装于支撑板331上。

两个上述测试探头4中与螺母334连接的测试探头4为光谱扫描探头。

上述转接板上设置有若干个调节孔，用于模具调试时匹配高度。

实施例2：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架1、安装于机架1的基板101上的测试座2、驱动机构3和测试探头4，所述驱动机构3安装于基板101上，所述测试探头4可移动地安装于驱动机构3上，并位于测试座2上方；

所述驱动机构3进一步包括X轴组件31、Y轴组件32和Z轴组件33，所述X轴组件31安装于基板101上表面，所述Y轴组件32可移动地安装于X轴组件31上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件33的支撑板331可移动地安装于Y轴组件32上，使得Z轴组件33可沿Y轴方向往复运动；

所述支撑板331上设置有一Z轴丝杆332，此Z轴丝杆332一端连接有一用于驱动Z轴丝杆332旋转的Z轴电机333，所述Z轴丝杆332上套装有一螺母334，两个所述测试探头4中的一个通过转接板与螺母334连接，此测试探头4可随螺母334在Z轴方向移动，两个所述测试探头4中的另一个安装于支撑板331上。

上述测试座2一侧还设置有一转接座5，此转接座5上具有一PCB板6和与PCB板6电连接的第一连接器7，此PCB板6设置有第二连接器8。

上述第一连接器7一端与PCB板6连接，另一端用于与设置于测试座2上的夹具电连接。

采用上述用于发光器件的多功能测试装置时，其通过在驱动机构上安装两个测试探头，既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率，而两个探头一个通过电机上下调节、一个相对固定，则可以对两个探头之间的相对位置进行调节，进一步保证了不同探头的测试精度。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种用于发光器件的多功能测试装置，其特征在于：包括机架（1）、安装于机架（1）的基板（101）上的测试座（2）、驱动机构（3）和测试探头（4），所述驱动机构（3）安装于基板（101）上，所述测试探头（4）可移动地安装于驱动机构（3）上，并位于测试座（2）上方；

所述驱动机构（3）进一步包括X轴组件（31）、Y轴组件（32）和Z轴组件（33），所述X轴组件（31）安装于基板（101）上表面，所述Y轴组件（32）可移动地安装于X轴组件（31）上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件（33）的支撑板（331）可移动地安装于Y轴组件（32）上，使得Z轴组件（33）可沿Y轴方向往复运动；

所述支撑板（331）上设置有一Z轴丝杆（332），此Z轴丝杆（332）一端连接有一用于驱动Z轴丝杆（332）旋转的Z轴电机（333），所述Z轴丝杆（332）上套装有一螺母（334），两个所述测试探头（4）中的一个通过转接板与螺母（334）连接，此测试探头（4）可随螺母（334）在Z轴方向移动，两个所述测试探头（4）中的另一个安装于支撑板（331）上。

2.根据权利要求1所述的用于发光器件的多功能测试装置，其特征在于：两个所述测试探头（4）中与螺母（334）连接的测试探头（4）为光谱扫描探头。

3.根据权利要求1所述的用于发光器件的多功能测试装置，其特征在于：所述转接板上设置有若干个调节孔。

4.根据权利要求1所述的用于发光器件的多功能测试装置，其特征在于：所述测试座（2）一侧还设置有一转接座（5），此转接座（5）上具有一PCB板（6）和与PCB板（6）电连接的第一连接器（7），此PCB板（6）设置有第二连接器（8）。

5.根据权利要求4所述的用于发光器件的多功能测试装置，其特征在于：所述第一连接器（7）一端与PCB板（6）连接，另一端用于与设置于测试座（2）上的夹具电连接。

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