CN214409144U - 激光器芯片的高低温测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种激光器芯片的高低温测试台，包括安装于机架上的基板，所述机架外部安装有壳体，所述基板将壳体内的区域分隔为位于基板上方的测试腔和位于基板下方的仪表腔，所述基板上表面设置有至少一个用于放置待测试产品的温控座，若干个所述待测试产品通过一夹具安装于温控座上；所述温控座上方还设置有一安装板，所述安装板上间隔安装有第一探头和第二探头，一安装有所述第一探头的第一安装板可以在第一电机的驱动下上下移动，所述安装板上安装有一水平设置的第二安装板。本实用新型可以实现同一时间内对两颗芯片的测试，大大提高了测试的效率，进一步通过不同探头的组合设置，实现对每种参数的连续测试，提高了测试过程中仪表的使用效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种激光器芯片的高低温测试台，属于光通信技术领域。
背景技术
激光器在光刻录、光通讯、国防、工业及医疗等方面都有广泛的用途，尤其在电子设备领域中激光器的应用范围比较广泛，现在多处领域已经能见到激光器的身影，激光器在封装完成后，需要利用测试装置对其进行光电流电压等的测试，激光器测试是生产中非常重要的环节，因此研发更利于工业化生产的激光器芯片的高低温测试台显得尤为重要。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种激光器芯片的高低温测试台，其可以实现同一时间内对两颗芯片的测试，大大提高了测试的效率，进一步通过不同探头的组合设置，实现对每种参数的连续测试，提高了测试过程中仪表的使用效率。
为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种激光器芯片的高低温测试台，包括安装于机架上的基板，所述机架外部安装有壳体，所述基板将壳体内的区域分隔为位于基板上方的测试腔和位于基板下方的仪表腔，所述基板上表面设置有至少一个用于放置待测试产品的温控座，若干个所述待测试产品通过一夹具安装于温控座上，还具有一第一探头和一第二探头，所述第一探头和第二探头通过一安装板可移动地设置于温控座上方；
所述安装板上间隔安装有一第一电机和一第二电机，一安装有所述第一探头的第一安装板可以在第一电机的驱动下上下移动，所述安装板上安装有一水平设置的第二安装板，所述第二安装板上方平行叠置有第一活动板和第二活动板，所述第一活动板可沿第一方向移动，所述第二活动板可沿垂直于第一方向的第二方向移动，所述第二活动板上竖直安装有一用于固定第二电机的第三安装板，一安装有所述第二探头的第四安装板可以在第二电机的驱动下上下移动。
上述技术方案中进一步改进的方案如下：
1、上述方案中，所述第一探头为PD探头，所述第二探头为光谱探头。
2、上述方案中，所述第二安装板与第一活动板之间、第一活动板与第二活动板之间、第四安装板与第三安装板之间均通过至少一组滑轨与滑块连接。
3、上述方案中，所述仪表腔内安装有电源、光谱仪和源表。
4、上述方案中，温控座包括底座、安装于底座上的水盒和间隔排布于水盒上方的TEC模块。
由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
本实用新型激光器芯片的高低温测试台，其可以实现同一时间内对两颗芯片的测试，大大提高了测试的效率，进一步通过不同探头的组合设置，实现对每种参数的连续测试，提高了测试过程中仪表的使用效率。
附图说明
附图1为本实用新型激光器芯片的高低温测试台结构示意图；
附图2为本实用新型高低温测试台待测试产品和夹具结构示意图；
附图3为本实用新型激光器芯片的高低温测试台局部结构示意图。
以上附图中：1、机架；2、基板；3、壳体；4、待测试产品；5、温控座；6、夹具；7、测试探头；8、安装板；9、第一探头；10、第二探头；11、第一安装板；12、第一电机；13、第二安装板；14、第一活动板；15、第二活动板；16、第三安装板；17、第四安装板；18、第二电机。
具体实施方式
在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。
实施例1：一种激光器芯片的高低温测试台，包括安装于机架1上的基板2，所述机架1外部安装有壳体3，所述基板2将壳体3内的区域分隔为位于基板2上方的测试腔和位于基板2下方的仪表腔，所述基板2上表面设置有两个用于放置待测试产品4的温控座5，一百个所述待测试产品4通过一夹具6安装于温控座5上，还具有一第一探头9和一第二探头10，所述第一探头9和第二探头10通过一安装板8可移动地设置于温控座5上方；
所述第一探头9和第二探头10间隔设置于安装板8上，一安装有所述第一探头9的第一安装板11可以在第一电机12的驱动下上下移动，所述安装板8上安装有一水平设置的第二安装板13，所述第二安装板13上方平行叠置有第一活动板14和第二活动板15，所述第一活动板14可沿第一方向移动，所述第二活动板15可沿垂直于第一方向的第二方向移动，所述第二活动板15上竖直安装有一用于固定第二电机18的第三安装板16，一安装有所述第二探头10的第四安装板17可以在第二电机18的驱动下上下移动。
所述第一探头9为PD探头，所述第二探头10为光谱探头。
所述第二安装板13与第一活动板14之间、第一活动板14与第二活动板15之间、第四安装板17与第三安装板16之间均通过一组滑轨与滑块连接。
所述仪表腔内安装有电源、光谱仪和源表。
实施例2：一种激光器芯片的高低温测试台，包括安装于机架1上的基板2，所述机架1外部安装有壳体3，所述基板2将壳体3内的区域分隔为位于基板2上方的测试腔和位于基板2下方的仪表腔，所述基板2上表面设置一个用于放置待测试产品4的温控座5，一百六十个所述待测试产品4通过一夹具6安装于温控座5上，还具有一第一探头9和一第二探头10，所述第一探头9和第二探头10通过一安装板8可移动地设置于温控座5上方；
所述第一探头9和第二探头10间隔设置于安装板8上，一安装有所述第一探头9的第一安装板11可以在第一电机12的驱动下上下移动，所述安装板8上安装有一水平设置的第二安装板13，所述第二安装板13上方平行叠置有第一活动板14和第二活动板15，所述第一活动板14可沿第一方向移动，所述第二活动板15可沿垂直于第一方向的第二方向移动，所述第二活动板15上竖直安装有一用于固定第二电机18的第三安装板16，一安装有所述第二探头10的第四安装板17可以在第二电机18的驱动下上下移动。
所述第二安装板13与第一活动板14之间、第一活动板14与第二活动板15之间、第四安装板17与第三安装板16之间均通过一组滑轨与滑块连接。
所述温控座5包括底座、安装于底座上的水盒和间隔排布于水盒上方的TEC模块。
上述安装板8与一套装在X轴丝杆上的X轴螺母连接，并可以随X轴螺母沿着一端连接有X轴电机的X轴丝杆往复移动；
装有上述X轴丝杆、X轴电机的支架一端与一套装在Y轴丝杆上的Y轴螺母连接，并可以随Y轴螺母沿着一端连接有Y轴电机的Y轴丝杆往复移动，上述支架的另一端通过一个滑块与平行于Y轴丝杆的Y轴导轨滑动连接；上述Y轴丝杆与Y轴导轨分别设置于温控座的两侧。
采用上述激光器芯片的高低温测试台时，通其可以实现同一时间内对两颗芯片的测试，大大提高了测试的效率，进一步通过不同探头的组合设置，实现对每种参数的连续测试，提高了测试过程中仪表的使用效率。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种激光器芯片的高低温测试台，包括安装于机架（1）上的基板（2），所述机架（1）外部安装有壳体（3），所述基板（2）将壳体（3）内的区域分隔为位于基板（2）上方的测试腔和位于基板（2）下方的仪表腔，其特征在于：所述基板（2）上表面设置有至少一个用于放置待测试产品（4）的温控座（5），若干个所述待测试产品（4）通过一夹具（6）安装于温控座（5）上，还具有一第一探头（9）和一第二探头（10），所述第一探头（9）和第二探头（10）通过一安装板（8）可移动地设置于温控座（5）上方；
所述安装板（8）上间隔安装有一第一电机（12）和一第二电机（18），一安装有所述第一探头（9）的第一安装板（11）可以在第一电机（12）的驱动下上下移动，所述安装板（8）上安装有一水平设置的第二安装板（13），所述第二安装板（13）上方平行叠置有第一活动板（14）和第二活动板（15），所述第一活动板（14）可沿第一方向移动，所述第二活动板（15）可沿垂直于第一方向的第二方向移动，所述第二活动板（15）上竖直安装有一用于固定第二电机（18）的第三安装板（16），一安装有所述第二探头（10）的第四安装板（17）可以在第二电机（18）的驱动下上下移动。
2.根据权利要求1所述的激光器芯片的高低温测试台，其特征在于：所述第一探头（9）为PD探头，所述第二探头（10）为光谱探头。
3.根据权利要求1所述的激光器芯片的高低温测试台，其特征在于：所述第二安装板（13）与第一活动板（14）之间、第一活动板（14）与第二活动板（15）之间、第四安装板（17）与第三安装板（16）之间均通过至少一组滑轨与滑块连接。
4.根据权利要求1所述的激光器芯片的高低温测试台，其特征在于：所述仪表腔内安装有电源、光谱仪和源表。
5.根据权利要求1所述的激光器芯片的高低温测试台，其特征在于：所述温控座（5）包括底座、安装于底座上的水盒和间隔排布于水盒上方的TEC模块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202023213184.XU CN214409144U (zh) | 2020-12-28 | 2020-12-28 | 激光器芯片的高低温测试台 |
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Publications (1)
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ID=78041543
Family Applications (1)
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| CN202023213184.XU Active CN214409144U (zh) | 2020-12-28 | 2020-12-28 | 激光器芯片的高低温测试台 |
Country Status (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114964726A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-08-30 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件高温自动测试载具 |
| CN116990555A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-11-03 | 上海菲莱测试技术有限公司 | 一种测试台底座及其测试装置 |
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2020
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Cited By (3)
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| CN114964726A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-08-30 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件高温自动测试载具 |
| CN114964726B (zh) * | 2022-07-27 | 2022-10-21 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件高温自动测试载具 |
| CN116990555A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-11-03 | 上海菲莱测试技术有限公司 | 一种测试台底座及其测试装置 |
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