CN212483761U - 一种芯片联动测试机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于测试机技术领域，尤其为一种芯片联动测试机，针对现有的芯片无法实现运输与检测同步进行的功能，从而造成芯片生产效率过低的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部一侧转动安装有蜗杆与大蜗轮，蜗杆与大蜗轮相互啮合，大蜗轮的前侧固定安装有不完全齿轮，不完全齿轮的外侧啮合有齿轮，齿轮转动安装在底座的顶部。本实用新型将检测和运输同步进行，通过设置的不完全蜗杆，当人工转动把手的时候，不完全蜗杆的转动带动小蜗轮的转动，使得中空框得到竖直方向的运动，从而使得吸盘得到同样的运动，当吸盘向下运动的时候吸住不合格的废芯片，使得合格的芯片在传送带表面进行运输。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试机技术领域，尤其涉及一种芯片联动测试机。
背景技术
芯片是半导体元件产品的统称。微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
针对现有的芯片无法实现运输与检测同步进行的功能，从而造成芯片生产效率过低的缺点，因此我们提出了一种芯片联动测试机用于解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有的芯片无法实现运输与检测同步进行的功能，从而造成芯片生产效率过低的缺点，而提出的一种芯片联动测试机。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种芯片联动测试机，包括底座，所述底座的顶部一侧转动安装有蜗杆与大蜗轮，蜗杆与大蜗轮相互啮合，大蜗轮的前侧固定安装有不完全齿轮，不完全齿轮的外侧啮合有齿轮，齿轮转动安装在底座的顶部，底座的顶部两侧均转动安装有传送轮，两个传送轮上传动连接有同一个传送带，两个传送轮中的一个传送轮的后侧与齿轮的前侧固定连接，底座的顶部固定安装有箱体，箱体的内部转动安装有不完全蜗杆与小蜗轮，不完全蜗杆与小蜗轮相互啮合，小蜗轮的前侧固定安装有圆轴，圆轴的外侧活动套设有中空框，中空框的底部固定安装有竖杆的顶端，竖杆的底端延伸至箱体的外侧并固定安装有吸盘。
优选的，所述底座的顶部一侧固定安装有电机，电机的输出轴与蜗杆的一端固定连接，电机的设置使得不完全齿轮能够持续性转动，从而带动齿轮得到周期性的转动，使得两个传送轮得到同样的转动方式，使得芯片在传送带的表面间歇性的被运输。
优选的，所述底座的顶部固定安装有检测器，吸盘位于检测器的上方，吸盘的设置可以将不合格的废芯片吸出。
优选的，所述底座的顶部另一侧固定安装有四个支撑柱的底端，四个支撑柱的顶端固定安装有同一个支撑台，支撑台的顶部固定安装有显示器，显示器的设置方便工作人员观察芯片的好坏。
优选的，所述不完全蜗杆的一端延伸至箱体的外侧并固定安装有转盘的一侧，转盘的另一侧固定安装有把手，把手的设置使得人工转动不完全蜗杆更加便捷。
优选的，所述底座的顶部固定安装有限位杆，蜗杆的外侧转动安装在限位杆的内侧，限位杆的设置给蜗杆的转动提供一定的支撑作用。
本实用新型中，所述的一种芯片联动测试机，通过设置的不完全蜗杆，当人工转动把手的时候，不完全蜗杆的转动会带动小蜗轮的转动，从而使得中空框得到竖直方向的运动，从而使得吸盘得到同样的运动，吸盘向下运动的时候吸住不合格的废芯片，从而使得合格的芯片在传送带表面进行运输；
本实用新型通过设置的不完全齿轮与齿轮，蜗杆带动大蜗轮转动，大蜗轮带动不完全齿轮缓慢的转动，从而使得齿轮得到间歇性的转动，使得两个传送轮得到同样的运动，使得传送带表面的芯片可以缓慢的间歇性的移动，使得芯片可以充分的被检测。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种芯片联动测试机的结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种芯片联动测试机的A部分的结构示意图。
图中：1、底座；2、箱体；3、传送轮；4、传送带；5、电机；6、蜗杆；7、大蜗轮；8、不完全齿轮；9、齿轮；10、不完全蜗杆；11、小蜗轮；12、圆轴；13、中空框；14、竖杆；15、吸盘；16、显示器；17、转盘；18、把手；19、检测器。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种芯片联动测试机，包括底座1，底座1的顶部一侧转动安装有蜗杆6与大蜗轮7，蜗杆6与大蜗轮7相互啮合，大蜗轮7的前侧固定安装有不完全齿轮8，不完全齿轮8的外侧啮合有齿轮9，齿轮9转动安装在底座1的顶部，底座1的顶部两侧均转动安装有传送轮3，两个传送轮3上传动连接有同一个传送带4，两个传送轮3中的一个传送轮3的后侧与齿轮9的前侧固定连接，底座1的顶部固定安装有箱体2，箱体2的内部转动安装有不完全蜗杆10与小蜗轮11，不完全蜗杆10与小蜗轮11相互啮合，小蜗轮11的前侧固定安装有圆轴12，圆轴12的外侧活动套设有中空框13，中空框13的底部固定安装有竖杆14的顶端，竖杆14的底端延伸至箱体2的外侧并固定安装有吸盘15。
本实用新型中，底座1的顶部一侧固定安装有电机5，电机5的输出轴与蜗杆6的一端固定连接，电机5的设置使得不完全齿轮8能够持续性转动，从而带动齿轮9得到周期性的转动，使得两个传送轮3得到同样的转动方式，使得芯片在传送带4的表面间歇性的被运输。
本实用新型中，底座1的顶部固定安装有检测器19，吸盘15位于检测器19的上方，吸盘15的设置可以将不合格的废芯片吸出。
本实用新型中，底座1的顶部另一侧固定安装有四个支撑柱的底端，四个支撑柱的顶端固定安装有同一个支撑台，支撑台的顶部固定安装有显示器16，显示器16的设置方便工作人员观察芯片的好坏。
本实用新型中，不完全蜗杆10的一端延伸至箱体2的外侧并固定安装有转盘17的一侧，转盘17的另一侧固定安装有把手18，把手18的设置使得人工转动不完全蜗杆10更加便捷。
本实用新型中，底座1的顶部固定安装有限位杆，蜗杆6的外侧转动安装在限位杆的内侧，限位杆的设置给蜗杆6的转动提供一定的支撑作用。
该芯片联动测试机的工作原理如下：通过设置的蜗杆6，该装置在使用时，实现了自动化操作，通过设置在底座1顶部的电机5，首先启动电机5的转动，从而带动与之连接的蜗杆6开始转动，蜗杆6的转动会使得大蜗轮7转动，使得与大蜗轮7固定连接的不完全齿轮8开始转动，不完全齿轮8的转动会使得齿轮9得到间歇性的转动，从而使得两个传送轮3得到同样的转动方式，使得传送带4表面的芯片可以缓慢的并间歇性的移动，当芯片经过检测器19内部的时候，从而检测出芯片的好坏，通过显示器16可以判断芯片的质量问题，当发现废芯片的时候，人工转动把手18，使得不完全蜗杆10转动，从而带动小蜗轮11的转动，使得圆轴12逆时针转动，从而使得中空框13带动竖杆14获得向下的运动，使得吸盘15得到同样的运动，使得吸盘15将废芯片吸出，让剩下的好的芯片继续被运输出去，使得装置灵活性增大，实现装置的多样性，可以解决不同的问题，实现一种可持续发展的方式，本实用新型结构简单，设计合理，能够有效的改善工作人员的工作环境，提高自动化，减少人为操作的繁琐等问题，具有很强的实用性价值。
Claims (6)
1.一种芯片联动测试机，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的顶部一侧转动安装有蜗杆(6)与大蜗轮(7)，蜗杆(6)与大蜗轮(7)相互啮合，大蜗轮(7)的前侧固定安装有不完全齿轮(8)，不完全齿轮(8)的外侧啮合有齿轮(9)，齿轮(9)转动安装在底座(1)的顶部，底座(1)的顶部两侧均转动安装有传送轮(3)，两个传送轮(3)上传动连接有同一个传送带(4)，两个传送轮(3)中的一个传送轮(3)的后侧与齿轮(9)的前侧固定连接，底座(1)的顶部固定安装有箱体(2)，箱体(2)的内部转动安装有不完全蜗杆(10)与小蜗轮(11)，不完全蜗杆(10)与小蜗轮(11)相互啮合，小蜗轮(11)的前侧固定安装有圆轴(12)，圆轴(12)的外侧活动套设有中空框(13)，中空框(13)的底部固定安装有竖杆(14)的顶端，竖杆(14)的底端延伸至箱体(2)的外侧并固定安装有吸盘(15)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片联动测试机，其特征在于，所述底座(1)的顶部一侧固定安装有电机(5)，电机(5)的输出轴与蜗杆(6)的一端固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片联动测试机，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定安装有检测器(19)，吸盘(15)位于检测器(19)的上方。
4.根据权利要求1所述的一种芯片联动测试机，其特征在于，所述底座(1)的顶部另一侧固定安装有四个支撑柱的底端，四个支撑柱的顶端固定安装有同一个支撑台，支撑台的顶部固定安装有显示器(16)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片联动测试机，其特征在于，所述不完全蜗杆(10)的一端延伸至箱体(2)的外侧并固定安装有转盘(17)的一侧，转盘(17)的另一侧固定安装有把手(18)。
6.根据权利要求1所述的一种芯片联动测试机，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定安装有限位杆，蜗杆(6)的外侧转动安装在限位杆的内侧。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113539348A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-22 | 西安环宇芯微电子有限公司 | 一种flash芯片检测设备 |
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2020
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