CN113539348A - 一种flash芯片检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种FLASH芯片检测设备，包括底座，所述底座的顶端固定连接有支撑架，且支撑架的两端分别活动套接有齿轮，且齿轮的正面固定连接有固定盘，并且固定盘的正面开设有轨槽，所述两端齿轮的外部活动套接有传送带，且传送带的内壁等距固定分布有齿块，所述传送带通过齿块与齿轮齿轮啮合连接，通过设置电机、支杆三、活动螺柱、支杆二、支杆一、齿轮和固定盘之间相互配合传动，使得支杆二在固定盘内的轨槽回转转动，从而使得齿轮间歇性齿轮传动齿块和传送带运转，实现传送带间歇有停顿的传动的目的，使得后期对芯片输送检测时提供了检测时间，提高了工作效率。

Description

一种FLASH芯片检测设备

技术领域

本发明涉及检测技术领域，具体为一种FLASH芯片检测设备。

背景技术

FLASH芯片是应用非常广泛的存储材料，与之容易混淆的是RAM芯片，我们经常在有关IT的文章里面谈到这两种芯片。由于它们的工作条件与方式不一样，决定它们性能和用途也有差异。

检测设备是指对芯片的各种方面的性能检测，而其中对芯片的耐高温检测尤为重要，耐高温性能主要是指对长时间的电路运作出现的电路损伤或芯片部件部件的损伤，而现有技术的耐高温检测多采用人工拿取一对一进行高温烘烤，无法实现批量高温处理，工作效率低下，同时芯片检测过程中通过人工拆卸安装接触芯片检测，存在检测过程中接触性电子元件损伤的情况，影响对高温检测结果，存在不准确性。

发明内容

本发明解决的技术问题在于克服现有技术的功能单一、使用不便、耐高温检测不准确等缺陷，提供一种FLASH芯片检测设备。所述一种FLASH芯片检测设备具有功能多样、使用便捷、无接触式检测等特点。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种FLASH芯片检测设备，包括底座，所述底座上固定设置有支撑架，且支撑架的两端分别活动套接有齿轮，且齿轮的正面固定连接有固定盘，该固定盘的正面开设有轨槽；两个所述齿轮通过传送带连接，该传送带的内壁上设置有与齿轮的齿牙相匹配的齿块，且传送带与齿轮的齿轮啮合连接；所述底座的其中一端上固定设置有调节箱，且调节箱的顶端内部固定连接有进料箱，并且进料箱的内部滑动连接有承载块，所述进料箱的底端固定连接有导料轨架，且导料轨架的一侧固定焊接有导向板；位于节箱下方的底座上固定设置有支撑杆，且支撑杆的顶端固定连接有电机，所述底座的另一端上固定设置有立柱，且立柱的一侧固定连接有支架，并且支架的底端固定连接有蓄电池。

优选的，所述电机的输出端固定连接有支杆三，且支杆三远离电机的一端设置有活动螺柱，所述活动螺柱(23)上活动设置有支杆二，所述支杆二的外部固定连接有轴杆二，所述支杆二通过轴杆二活动连接有支杆一，且支杆一的另一端通过另一轴杆二活动连接有弓型架，并且弓型架的底端与底座固定连接，所述支杆二的前端在轨槽的内部滑动。

优选的，所述电机的输出端固定固定连接有槽轮，且槽轮的槽口外部活动套接有皮带，并且皮带的另一端内部活动套接另一槽轮，所述另一槽轮的正面固定连接有支杆五，且支杆五的前端通过另一活动螺柱活动连接有支杆四，所述调节箱的内部固定连接有滑轨，且滑轨的内部滑动连接有滑板，并且滑板的底端固定连接有固定套块一，所述支杆四的前端活动套接在固定套块一的内部，所述滑轨的底端开设有通槽，所述固定套块一在通槽的内部滑动，所述滑板的顶端固定连接有固定套块二，且固定套块二的内部活动套接有L型杆，并且L型杆在导料轨架的内部间歇转动抵触承载块。

优选的，所述另一端齿轮的正面固定连接有轴杆一，所述另一端齿轮通过轴杆一活动连接有推杆，且推杆的另一端通过另一轴杆一活动连接有检测罩，所述立柱的内部开设有滑槽一，且滑槽一的内部固定连接有滑杆二，并且滑杆二的外部活动套接有滑套，所述滑套的外部固定连接有横杆，且横杆的另一端与检测罩固定连接。

优选的，所述检测罩的内壁固定连接有加热丝管，所述支架活动套接在检测罩的内部，所述支架的内部开设有滑槽二，且滑槽二的内部固定连接有滑杆一，所述检测罩的内部固定连接有固定杆，且固定杆活动套接在滑杆一的外部，所述固定杆的正面固定连接有固定块，且固定块的底端固定连接有导电触点块，所述支架的底端外部固定焊接有固定架，且固定架的底端固定连接有热风机。

优选的，所述承载块的内部滑动贯穿连接有活动杆，所述活动杆的外部活动套接有弹簧，且弹簧的一端固定连接夹持块，并且弹簧的另一端固定在承载块的内壁。

优选的，所述支杆四通过槽轮和支杆五与固定套块一之间构成转动结构，所述滑板通过支杆四与滑轨之间构成滑动结构。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明通过设置电机、支杆三、活动螺柱、支杆二、支杆一、齿轮和固定盘之间相互配合传动，使得支杆二在固定盘内的轨槽回转转动，从而使得齿轮间歇性齿轮传动齿块和传送带运转，实现传送带间歇有停顿的传动的目的，使得后期对芯片输送检测时提供了检测时间，提高了工作效率；通过设置槽轮，皮带、支杆五和活动螺柱相互之间的配合传动，实现支杆五传动支杆四往复拉动滑板在滑轨内的滑动的目的，从而使得L型杆推动进料箱下滑至导料轨架上的承载块，由导向板滑送至传送带上，达到无接触输送承载块的效果，避免因手部拿取芯片导致的接触式损伤，同时通过设置齿轮、推杆、轴杆一、滑套和滑杆二相互之间的配合传动，使实现齿轮间歇转动的同时传动检测罩抬起和罩住承载块进行高温检测的效果，节省检测时间，提高了工作效率，为检测提供了密闭的工作空间。

附图说明

图1为本发明剖视图；

图2为图1中A处的放大图；

图3为图1中B处的放大图；

图4为图1中C处的放大图；

图5为检测罩的内部结构示意图；

图6为承载块夹持芯片的结构示意图；

图7为滑轨的俯视图；

图中标号：1、底座；2、支撑架；3、弓型架；4、支撑杆；5、立柱；6、支架；7、蓄电池；8、检测罩；9、导向板；10、进料箱；11、调节箱；12、轴杆一；13、推杆；14、齿轮；15、传送带；16、齿块；17、轴杆二；18、固定盘；19、轨槽；20、支杆一；21、支杆二；22、电机；23、活动螺柱；24、支杆三；25、槽轮；26、皮带；27、支杆四；28、固定套块一；29、滑轨；30、滑板；31、固定套块二；32、L型杆；33、导料轨架；34、承载块；35、支杆五；36、滑槽一；37、横杆；38、滑套；39、加热丝管；40、固定杆；41、固定块；42、滑杆一；43、滑槽二；44、导电触点块；45、固定架；46、热风机；47、活动杆；48、夹持块；49、弹簧；50、通槽；51、滑杆二。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-7，本发明提供一种技术方案：本实施例一种FLASH芯片检测设备，包括底座1，其特征在于：所述底座1上固定设置有支撑架2，且支撑架2的两端分别活动套接有齿轮14，且齿轮14的正面固定连接有固定盘18，该固定盘18的正面开设有轨槽19；两个所述齿轮14通过传送带15连接，该传送带15的内壁上设置有与齿轮14的齿牙相匹配的齿块16，且传送带15与齿轮14的齿轮啮合连接；所述底座1的其中一端上固定设置有调节箱11，且调节箱11的顶端内部固定连接有进料箱10，并且进料箱10的内部滑动连接有承载块34，所述进料箱10的底端固定连接有导料轨架33，且导料轨架33的一侧固定焊接有导向板9；位于节箱11下方的底座1上固定设置有支撑杆4，且支撑杆4的顶端固定连接有电机22，所述底座1的另一端上固定设置有立柱5，且立柱5的一侧固定连接有支架6，并且支架6的底端固定连接有蓄电池7。

进一步地，所述电机22的输出端固定连接有支杆三24，且支杆三24远离电机22的一端设置有活动螺柱23，所述活动螺柱23上活动设置有支杆二21，支杆二21的外部固定连接有轴杆二17，支杆二21通过轴杆二17活动连接有支杆一20，且支杆一20的另一端通过另一轴杆二17活动连接有弓型架3，并且弓型架3的底端与底座1固定连接，支杆二21的前端在轨槽19的内部滑动，通过设置电机22、支杆三24、活动螺柱23、支杆二21、支杆一20、齿轮14和固定盘18之间相互配合传动，使得支杆二21在固定盘18内的轨槽19回转转动，从而使得齿轮14间歇性齿轮传动齿块16和传送带15运转，实现传送带15间歇有停顿传动的目的，使得后期对芯片输送检测时提供了检测时间，提高了工作效率。

同时，电机22的输出端固定连接有槽轮25，且槽轮25的槽口外部活动套接有皮带26，并且皮带26的另一端内部活动套接另一槽轮25，另一槽轮25的正面固定连接有支杆五35，且支杆五35的前端通过另一活动螺柱23活动连接有支杆四27，调节箱11的内部固定连接有滑轨29，且滑轨29的内部滑动连接有滑板30，并且滑板30的底端固定连接有固定套块一28，支杆四27的前端活动套接在固定套块一28的内部，滑轨29的底端开设有通槽50，固定套块一28在通槽50的内部滑动，滑板30的顶端固定连接有固定套块二31，且固定套块二31的内部活动套接有L型杆32，并且L型杆32在导料轨架33的内部间歇转动抵触承载块34。

再进一步地，所述另一端齿轮14的正面固定连接有轴杆一12，另一端齿轮14通过轴杆一12活动连接有推杆13，且推杆13的另一端通过另一轴杆一12活动连接有检测罩8，立柱5的内部开设有滑槽一36，且滑槽一36的内部固定连接有滑杆二51，并且滑杆二51的外部活动套接有滑套38，滑套38的外部固定连接有横杆37，且横杆37的另一端与检测罩8固定连接。

所述检测罩8的内壁固定连接有加热丝管39，支架6活动套接在检测罩8的内部，支架6的内部开设有滑槽二43，且滑槽二43的内部固定连接有滑杆一42，检测罩8的内部固定连接有固定杆40，且固定杆40活动套接在滑杆一42的外部，固定杆40的正面固定连接有固定块41，且固定块41的底端固定连接有导电触点块44，支架6的底端外部固定焊接有固定架45，且固定架45的底端固定连接有热风机46。

所述承载块34的内部滑动贯穿连接有活动杆47，活动杆47的外部活动套接有弹簧49，且弹簧49的一端固定连接夹持块48，并且弹簧49的另一端固定在承载块34的内壁。

所述支杆四27通过槽轮25和支杆五35与固定套块一28之间构成转动结构，滑板30通过支杆四27与滑轨29之间构成滑动结构。

工作原理：启动电机22输出端转动相应的带动支杆三24通过活动螺柱23传动支杆二21的前端在固定盘18的轨槽19内的回转性滑动，从而使得推动齿轮14间歇性转动，其中支杆一20通过弓型架3与轴杆二17的配合转动对支杆二21的转动进行了限位，实现支杆二21的圆周性转动的效果，进而使得齿轮14相应的通过齿块16齿轮啮合传动传送带15间歇性输送待检测芯片，同时通过电机22带动槽轮25的转动，从而使得槽轮25传送皮带26带动另一侧的槽轮25转动，从而使得支杆五35圆周转，通活动螺柱23相应的传动支杆四27在固定套块一28的内部相应转动，从而使得固定套块一28带动滑板30通过通槽50在滑轨29内部水平方向的往复滑动，进而使得L型杆32短柄处推动进料箱10因重力下落的承载块34在导料轨架33上滑动出料，并由导向板9导向至传送带15上，其中滑板30往复运动回拉时L型杆32短柄处触碰承载块34因长柄处重力通过在固定套块二31外部活动转动实现复位，进行下一次出料准备，就这样相应的输送芯片的同时实现无接触出料的效果，避免因接触损伤芯片的情况发生，同时提高了工作效率，同时另一端的齿轮14的间歇转动使得轴杆一12相应的推动检测罩8，从而使得横杆37的限位推动滑套38在滑杆二51的外部升降运动，实现对检测罩8对芯片高温检测的进行和释放，通过检测罩8的升降使得在支架6的外部滑动，从而使得固定杆40在滑杆一42上的上下滑动，进而使得固定块41带动导电触点块44与热风机46上的导电触点块44的连接或断开，实现热风机46的辅助升温的作用，同时加热丝管39对检测罩8进行实现均匀全面的加热保温，其中蓄电池7提供电源，最后，将需要检测的芯片放置在承载块34内，承载块34对芯片起到了防护性作用，通过拉伸活动杆47带动弹簧49拉伸或挤压，使得夹持块48相应的水平方向的平移，从而满足夹持不同规格大小的芯片。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种FLASH芯片检测设备，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上固定设置有支撑架(2)，且支撑架(2)的两端分别活动套接有齿轮(14)，且齿轮(14)的正面固定连接有固定盘(18)，该固定盘(18)的正面开设有轨槽(19)；两个所述齿轮(14)通过传送带(15)连接，该传送带(15)的内壁上设置有与齿轮(14)的齿牙相匹配的齿块(16)，且传送带(15)与齿轮(14)的齿轮啮合连接；所述底座(1)的其中一端上固定设置有调节箱(11)；位于节箱(11)下方的底座(1)上固定设置有支撑杆(4)，且支撑杆(4)的顶端固定连接有电机(22)，所述底座(1)的另一端上固定设置有立柱(5)，且立柱(5)的一侧固定连接有支架(6)，并且支架(6)的底端固定连接有蓄电池(7)。

2.根据权利要求1所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述调节箱(11)的顶端内部固定连接有进料箱(10)，并且进料箱(10)的内部滑动连接有承载块(34)，所述进料箱(10)的底端固定连接有导料轨架(33)，且导料轨架(33)的一侧固定焊接有导向板(9)。

3.根据权利要求2所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述电机(22)的输出端固定连接有支杆三(24)，且支杆三(24)远离电机(22)的一端设置有活动螺柱(23)，所述活动螺柱(23)上活动设置有支杆二(21)，所述支杆二(21)的外部固定连接有轴杆二(17)，所述支杆二(21)通过轴杆二(17)活动连接有支杆一(20)，且支杆一(20)的另一端通过另一轴杆二(17)活动连接有弓型架(3)，并且弓型架(3)的底端与底座(1)固定连接，所述支杆二(21)的前端在轨槽(19)的内部滑动。

4.根据权利要求3所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述电机(22)的输出端固定连接有槽轮(25)，且槽轮(25)的槽口外部活动套接有皮带(26)，并且皮带(26)的另一端内部活动套接另一槽轮(25)，所述另一槽轮(25)的正面固定连接有支杆五(35)，且支杆五(35)的前端通过另一活动螺柱(23)活动连接有支杆四(27)，所述调节箱(11)的内部固定连接有滑轨(29)，且滑轨(29)的内部滑动连接有滑板(30)，并且滑板(30)的底端固定连接有固定套块一(28)，所述支杆四(27)的前端活动套接在固定套块一(28)的内部，所述滑轨(29)的底端开设有通槽(50)，所述固定套块一(28)在通槽(50)的内部滑动，所述滑板(30)的顶端固定连接有固定套块二(31)，且固定套块二(31)的内部活动套接有L型杆(32)，并且L型杆(32)在导料轨架(33)的内部间歇转动抵触承载块(34)。

5.根据权利要求4所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述另一端齿轮(14)的正面固定连接有轴杆一(12)，所述另一端齿轮(14)通过轴杆一(12)活动连接有推杆(13)，且推杆(13)的另一端通过另一轴杆一(12)活动连接有检测罩(8)，所述立柱(5)的内部开设有滑槽一(36)，且滑槽一(36)的内部固定连接有滑杆二(51)，并且滑杆二(51)的外部活动套接有滑套(38)，所述滑套(38)的外部固定连接有横杆(37)，且横杆(37)的另一端与检测罩(8)固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述检测罩(8)的内壁固定连接有加热丝管(39)，所述支架(6)活动套接在检测罩(8)的内部，所述支架(6)的内部开设有滑槽二(43)，且滑槽二(43)的内部固定连接有滑杆一(42)，所述检测罩(8)的内部固定连接有固定杆(40)，且固定杆(40)活动套接在滑杆一(42)的外部，所述固定杆(40)的正面固定连接有固定块(41)，且固定块(41)的底端固定连接有导电触点块(44)，所述支架(6)的底端外部固定焊接有固定架(45)，且固定架(45)的底端固定连接有热风机(46)。

7.根据权利要求6所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述承载块(34)的内部滑动贯穿连接有活动杆(47)，所述活动杆(47)的外部活动套接有弹簧(49)，且弹簧(49)的一端固定连接夹持块(48)，并且弹簧(49)的另一端固定在承载块(34)的内壁。

8.根据权利要求7所述的一种FLASH芯片检测设备，其特征在于：所述支杆四(27)通过槽轮(25)和支杆五(35)与固定套块一(28)之间构成转动结构，所述滑板(30)通过支杆四(27)与滑轨(29)之间构成滑动结构。

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