CN212433223U - 双排探针测试结构及一种光学摄像头模组测试工站 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种双排探针测试结构，包括母座和测试探针组，母座包括底板和设置在底板上母座连接器，母座连接器包括第一连接区和第二连接区，第一连接区和第二连接区与底板的第一板面距离不同，测试探针组包括第一探针和第二探针，属于同一组测试探针组的第一探针和第二探针并联连接，第一探针与第一连接区可接触连接，第二探针与第二连接区可接触连接。不同高度设计的第一连接区和第二连接区就给了第一探针和第二探针在接触时更多的定位误差余量，提高测试效率。同时，本申请还提供一种光学摄像头模组测试工站。

Description

双排探针测试结构及一种光学摄像头模组测试工站

技术领域

本实用新型涉及光学摄像头模组领域，特别是涉及双排探针测试结构及光学摄像头模组测试工站。

背景技术

在光学摄像头模组测试组件的设计中，通常有公座连接器和母座连接器两种探针测试模式可进行选择。相比较公座连接器而言，采用母座连接器时，探针的可接触面积变小，这就变相要求测试设备的对位精度提高，相应的功能测试工站的连接通过率就会降低，影响到自动测试的效率。

实用新型内容

本实用新型提供一种双排探针测试结构，通过高低位设置的第一连接区和第二连接区，增加了第一探针和第二探针的在检测时的定位误差，降低了第一探针和第二探针对位精度要求，提升摄像头模组的测试效率。

本实用新型提供一种双排探针测试结构，包括母座和测试探针组，所述母座包括底板和设置在所述底板上母座连接器，所述母座连接器包括电连接的第一连接区和第二连接区，所述第一连接区和所述第二连接区与所述底板的第一板面距离不同，所述测试探针组包括第一探针和第二探针，属于同一组所述测试探针组的所述第一探针和所述第二探针并联连接，所述第一探针用于与所述第一连接区可接触连接，所述第二探针用于与所述第二连接区可接触连接。在测试过程中，每条测试通路对应一组测试探针，每组测试探针包括第一探针和第二探针，当同属于一个测试探针组的第一探针或第二探针中任一个探针与第一连接区或第二连接区中的任一连接区接触就能实现该条测试通路的连通。实施例中让第一连接区和第二连接区与第一板面的距离不同，这样就形成高低位设置的第一连接区和第二连接区，不同高度设计的连接区就给了第一探针和第二探针在接触时更多的定位误差余量，提高测试效率。

在一个实施例中，所述母座连接器的数量为M个，所述测试探针组的组数为M组，M大于等于2。为了双排探针测试结构的测试效率，设置在底板上的母座连接器数量可以为多个，且母座连接器的数量和测试探针组的数量保持一致，一个母座连接器和一组测试探针组就可以构成一个测试回路，M个母座连接器和 M组测试探针组就可以构成M个测试回路，M个测试回路可以进一步提升提升摄像头模组的测试效率。

在一个实施例中，所述母座连接器包括凸起枝节和U形枝节，所述凸起枝节和所述U形枝节靠近所述底板的一端通过连接枝节连为一体，所述第一连接区位于所述凸起枝节远离所述底板的端部，所述第二连接区位于所述U形枝节的连通部。凸起枝节对应第一连接区，U形枝节对应第二连接区，两个不同连接区对应的高度因为枝节结构的不同而不同，形成明显的高度差，降低了第一探针和第二探针在接触过程中的精度要求。

在一个实施例中，所述第一连接区为所述凸起端部的凸起端面。第一连接区为凸起端部远离底板的凸起端面，这样第一连接区相对于底板的高度大于第二连接区相对于底板的高度，同时将凸起端面设计成平行于底板的方形平面，能够增加测试探针与第一连接区进行接触时的接触面积，进一步降低了测试探针的对位精度要求，降低测试成本。

在一个实施例中，所述第二连接区为所述连通部的连通端面。连通部是U 形枝节中间的弯折部分，当U形枝节和凸起枝节都连接底板上时，位于U形枝节连通部上的连通端面相对于底板的高度小于位于凸起枝节端部的凸起端面相对于底板的高度，这样就形成明显的第一连接区和第二连接区的高度差，降低了第一探针和第二探针在接触过程中的精度要求。

在一个实施例中，所述凸起端面平行于所述底板，所述连通端面平行于所述底板。当凸起端面平行于底板时，第一探针不管于凸起端面的上的任何接触区域进行连接时，都不会改变第一探针的行进高度；同样，当连通端面平行于底板时，第二探针不管于连通端面的上的任何接触区域进行连接时，都不会改变第二探针的行进高度，只有第一探针和第二探针的行进高度都是一个确定值时，才能够确保多次测试过程中行进高度的一致性，便于行进路径的控制。

在一个实施例中，在所述U形枝节的两个枝节顶端各设有一个探针限位凸起，两个所述探针限位凸起相向设置。在U形枝节的两个枝节顶端设计相向的探针限位凸起确保了第二探针在测试接触过程中的行动路径，避免路径偏倚，导致第二探针无法与连通端面接触。

在一个实施例中，所述母座连接器的数量为偶数，M个所述母座连接器分两行排列，第一行所述母座连接器的U形枝节与第二行所述母座连接器的U形枝节相近设置。M个母座连接器被分为均等的两行排列，对称的分布在底板上，这样分布便于对多个不同母座连接器进行定位，例如一共有10个母座连接器，如果是排成一行，则这一行的尺寸过长，且位于中间的第五或者第六个母座连接器不便于定位。而将这10个母座连接器分为两行排列时，则每一行只有5个母座连接器，每行的尺寸变为原来的二分之一，同时在对不同母座连接器进行定位是先确定哪一行，再确定列数就能够精准看出需要测试的母座连接器。在本实施例中，第一行所述母座连接器的U形枝节与第二行所述母座连接器的U形枝节相近设置，在其他的实施例中，第一行所述母座连接器的凸起枝节与第二行所述母座连接器的凸起枝节相近设置，这些都可以根据具体的需要进行调整。

在一个实施例中，所述双排探针测试结构还包括与所述底板配合的盖板，所述盖板上开设第一探孔和第二探孔，所述第一连接区通过所述第一探孔对外露出，所述第二连接区通过所述第二探孔对外露出。盖板用于保护位于底板上的母座连接器，同时盖板在跟第一连接区和第二连接区对应的位置开设有第一探孔和第二探孔，第一探孔便于第一探针进入并行进至于第一连接区接触，第二探孔便于第二探针进入并行进至于第二连接区接触。

另一方面，本申请还提供了一种光学摄像头模组测试工站，包括测试架和上述实施例中任一所述双排探针测试结构，所述双排探针测试结构固定在所述测试架上，用于对光学镜头模组的性能进行测试。针对一个待检测装置，测试架上的控制系统能够控制第一探针和第二探针行进，使其与母座连接器连通，由于第一探针和第二探针是并联的，所以只需要保证第一探针和第二探针中的任意一个探针于母座连接器上的连接区进行接触，即可实现对待测装置的测试。

本申请所提供的双排探针测试结构，通过并联设计的第一探针和第二探针，将一次测试分为同时行进的两个测试，分属两个测试的第一探针和第二探针只需要有一个能够与母座连接器进行连接，即可完成本次测试，同时，在母座连接器上与探针对应的连接区位置高度进行调整，从而降低了探针与连接区的对位过程中的精度要求。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一种实施例中双排探针测试结构的结构示意图；

图2是本申请一种实施例中双排探针测试结构的母座的结构示意图；

图3是图2中沿着剖面线A-A的剖视图；

图4是图2中B处的局部放大图；

图5是本申请一种实施例中双排探针测试结构的母座连接器的结构示意图；

图6是本申请一种实施例中光学摄像头模组测试工站的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的具体实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请所保护的范围。

在一个具体的实施例中，如图1和图3所示，本申请提供一种双排探针测试结构100，该双排探针测试结构100包括母座10和测试探针组20，母座10 包括底板11和设置在底板11上的母座连接器12，底板11用于固定安装母座连接器12，母座连接器12的作用在于构建一个并联电路。对于一个待测试的镜头模组而言，其对应一个并联电路，当该并联电路导通时，完成对该待测试镜头模组的测试。实施例中母座连接器12包括了并联电连接的第一连接区1212和第二连接区1222，第一连接区1212和第二连接区1222与底板11中固定板面111的距离不同，即第一连接区1212和第二连接区1222相对于固定板面111形成一定高度差。实施例中测试探针组20包括第一探针21和第二探针22，属于同一组测试探针组20的第一探针21和第二探针22并联连接，第一探针21与第一连接区1212可接触连接，第二探针22与第二连接区1222可接触连接。在具体的操作中，针对某个待检测的镜头模组，实施例中双排探针测试结构100 包含了一组并联的测试线路，即由第一探针21与第一连接区1212接触连接时形成的第一测试线路，由第二探针22与第二连接区1222接触连接时形成的第二测试线路，第一测试线路和第二测试线路是并联的，换言之，测试过程中只需要第一测试线路和第二测试线路中的其中一条线路连通即可实现对该待测试镜头模组的检测。在测试过程中，用于测试某个待测试镜头模组的测试探针组 20被机械传动设备控制与母座连接器12上的第一连接区1212和第二连接区 1222进行接触连接，而这种机械传动必然存在一定行程误差，而本实施例中，第一连接区1212和第二连接区1222相对于固定板面111被设计成不同的高度，目的在于降低测试探针组20出现行程误差时导致的测试无效，即当测试探针组20中的第一探针21和第二探针22中有一个能够和母座连接器12进行对接，即可实现对待测试镜头模组的测试，这种不同高度设计的连接区给了第一探针21 和第二探针22更多的定位误差余量，提高测试效率。

在一个具体的实施例中，如图2所示，母座连接器12的数量为M个，测试探针组20的组数为M组，M大于等于2。为了双排探针测试结构100的测试效率，设置在底板11上的母座连接器12数量可以为多个，且母座连接器12的数量和测试探针组20的数量保持一致，一个母座连接器12和一组测试探针组20 就可以构成一个测试回路，M个母座连接器12和M组测试探针组20就可以构成 M个测试回路，M个测试回路可以进一步提升提升镜头头模组的测试效率。

在一个具体的实施例中，如图5所示，母座连接器12包括凸起枝节121和 U形枝节122，凸起枝节121和U形枝节122靠近底板11的一端通过连接枝节 123连为一体，第一连接区1212位于凸起枝节121远离底板11的端部，第二连接区1222位于U形枝节122的连通部1221。凸起枝节121包括第一连接区1212， U形枝节122包括第二连接区1222，两个不同连接区对应的高度因为枝节结构的不同而不同，形成明显的高度差，降低了第一探针和第二探针在接触过程中的精度要求。具体的，第一连接区1212为凸起端部1211的凸起端面，第二连接区1222是连通部1221的连通端面。连通部1221是U形枝节122中间的弯折凹陷的区域，第一连接区1212为凸起端部1211远离底板11的凸起端面，这样第一连接区1212相对于底板11的高度大于第二连接区1222相对于底板11的高度，降低了测试探针的对位精度要求，降低测试成本。

在一个具体的实施例中，如图3和图4所示，凸起端面(第一测试区1212) 平行于底板11，连通端面(第二测试区1222)平行于底板11。当凸起端面平行于底板11时，第一探针21不管与凸起端面的上的任何接触区域进行连接时，都不会改变第一探针21的行进高度；同样，当连通端面平行于底板11时，第二探针22不管与连通端面的上的任何接触区域进行连接时，都不会改变第二探针22的行进高度，只有第一探针21和第二探针22的行进高度都是确定值时，才能够确保多次测试过程中行进高度的一致性，便于行进路径的控制。具体的，如图3所示，上述的凸起端面和连通端面为矩形接触面，这样设计的便于加工，只需要对凸起枝节121和U形枝节122进行一定切削加工即可得到。

在一个具体的实施例中，如图5所示，在U形枝节122的两个枝节顶端各设有一个探针限位凸起1223，两个探针限位凸起1223相向设置。在U形枝节 122的两个枝节顶端设计相向的探针限位凸起1223确保了第二探针22在测试接触过程中的行动路径，避免路径偏倚，导致第二探针22无法与连通端面接触。

在一个具体的实施例中，母座连接器12的数量为偶数，M个母座连接器12 分两行排列，第一行母座连接器12的U形枝节122与第二行母座连接器12的U 形枝节122相近设置。M个母座连接器12被分为均等的两行排列，对称的分布在底板11上，这样分布便于对多个不同母座连接器12进行定位，例如一共有10个母座连接器12，如果是排成一行，则这一行的尺寸过长，且位于中间的第五或者第六个母座连接器12不便于定位。而将这10个母座连接器12分为两行排列时，则每一行只有5个母座连接器12，每行的尺寸变为原来的二分之一，同时在对不同母座连接器12进行定位是先确定哪一行，再确定列数就能够精准看出需要测试的母座连接器12。在本实施例中，第一行母座连接器12的U形枝节122与第二行母座连接器12的U形枝节122相近设置，在其他的实施例中，第一行母座连接器12的凸起枝节121与第二行母座连接器12的凸起枝节121 相近设置，这些都可以根据具体的需要进行调整。

在一个具体的实施例中，如图2和图4所示，双排探针测试结构100还包括与底板11配合的盖板13，盖板13上开设第一探孔131和第二探孔132，第一连接区1212通过第一探孔131对外露出，第二连接区1222通过第二探孔132 对外露出。盖板13用于保护位于底板11上的母座连接器12，同时盖板13在跟第一连接区1212和第二连接区1222对应的位置开设有第一探孔131和第二探孔132，第一探孔131便于第一探针21进入并行进至于第一连接区1212接触，第二探孔132便于第二探针22进入并行进至于第二连接区1222接触。

同时，如图6所示，本申请还提供了一种光学摄像头模组测试工站，包括测试架200和上述实施例中任一双排探针测试结构100，双排探针测试结构100固定在测试架200上，用于对光学镜头模组的性能进行测试。针对一个待检测镜头模组，测试架200上的控制系统能够控制第一探针21和第二探针22行进，使其与母座连接器12连通，由于第一探针21和第二探针22是并联的，所以只需要保证第一探针21和第二探针22中的任意一个探针于母座连接器12上的连接区进行接触，即可实现对待测装置的测试。

以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种双排探针测试结构，其特征在于，包括母座和测试探针组，所述母座包括底板和设置在所述底板上母座连接器，所述母座连接器包括第一连接区和第二连接区，所述第一连接区和所述第二连接区与所述底板的第一板面距离不同，所述测试探针组包括第一探针和第二探针，属于同一组所述测试探针组的所述第一探针和所述第二探针并联连接，所述第一探针用于与所述第一连接区可接触连接，所述第二探针用于与所述第二连接区可接触连接。

2.如权利要求1所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述母座连接器的数量为M个，所述测试探针组的组数为M组，M大于等于2。

3.如权利要求2所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述母座连接器包括凸起枝节和U形枝节，所述凸起枝节和所述U形枝节靠近所述底板的一端通过连接枝节连为一体，所述第一连接区位于所述凸起枝节的凸起端部，所述凸起端部远离所述底板，所述第二连接区位于所述U形枝节的连通部。

4.如权利要求3所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述第一连接区为所述凸起端部的凸起端面。

5.如权利要求4所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述第二连接区为所述连通部的连通端面。

6.如权利要求5所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述凸起端面平行于所述底板，所述连通端面平行于所述底板。

7.如权利要求6所述的双排探针测试结构，其特征在于，在所述U形枝节的两个枝节顶端各设有一个探针限位凸起，两个所述探针限位凸起相向设置。

8.如权利要求2所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述母座连接器的数量为偶数，M个所述母座连接器分两行排列，第一行所述母座连接器的U形枝节与第二行所述母座连接器的U形枝节相近设置。

9.如权利要求8所述的双排探针测试结构，其特征在于，所述母座还包括与所述底板配合的盖板，所述盖板上开设第一探孔和第二探孔，所述第一连接区通过所述第一探孔对外露出，所述第二连接区通过所述第二探孔对外露出。

10.一种光学摄像头模组测试工站，其特征在于，包括测试架和如权利要求1至权利要求9中任一所述双排探针测试结构，所述双排探针测试结构固定在所述测试架上，用于对光学镜头模组的性能进行测试。

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