CN114354992B - 一种单向并联双头测试探针 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241001391944 Commicarpus scandens Species 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种单向并联双头测试探针，包括并排固定在一起的第一针管和第二针管；所述第一针管内设置有第一盲孔，所述第一盲孔内设置有第一弹簧，所述第一弹簧的一端设置有第一针轴，所述第一针轴的一端从所述第一盲孔中伸出；所述第二针管内设置有第二盲孔，所述第二盲孔内设置有第二弹簧，所述第二弹簧的一端设置有第二针轴，所述第二针轴的一端从所述第二盲孔中伸出。该单向并联双头测试探针，解决了现有单头探针弹簧容易发生断裂，造成误测试、漏测试的问题。
Description
技术领域
本发明属于半导体检测设备技术领域，具体涉及一种单向并联双头测试探针。
背景技术
测试探针又称半导体探针，一般由针管、弹簧和针头组成，弹簧放置在针管中，针头则与弹簧连接，并从针管的一端伸出，结构较为简单。按照针头的数量，可分为双头探针和单头探针两类。其中：单头探针的一端与弹簧的一端连接，并从针管的一端伸出，针管的另一端则未开口，弹簧的另一端抵压在争端的另一端底部；双头探针的针管则两端均开口，弹簧的两端分别安装一个针头，两个针头则分别从针管的两端伸出。
但是，现有的单头探针使用的时候，弹簧容易发生断裂，这就会导致发生误测试、漏测试的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种单向并联双头测试探针，解决现有单头探针弹簧容易发生断裂，造成误测试、漏测试的问题。
为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种单向并联双头测试探针，包括并排固定在一起的第一针管和第二针管；所述第一针管内设置有第一盲孔，所述第一盲孔内设置有第一弹簧，所述第一弹簧的一端设置有第一针轴，所述第一针轴的一端从所述第一盲孔中伸出；所述第二针管内设置有第二盲孔，所述第二盲孔内设置有第二弹簧，所述第二弹簧的一端设置有第二针轴，所述第二针轴的一端从所述第二盲孔中伸出。
作为本发明的一种优选的技术方案，还包括绝缘套筒，所述绝缘套筒内设置有两个安装孔，所述第一针管和所述第二针管分别设置在两个安装孔中。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述第一弹簧和所述第二弹簧均为压缩弹簧。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述第一针轴和所述第二针头的尾部均设置有连接头，所述连接头的外径大于第一针轴和第二针轴的外径，并且小于第一盲孔或第二盲孔收口处的内径。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述第一弹簧和所述第二弹簧的弹力不相同。
本发明的有益效果是：(1)本发明的一种单向并联双头测试探针，通过并联一个单头探针可以起到双重保险的作用，若一个能够正常使用，则不会影响测试结果；(2)本发明的一种单向并联双头测试探针，通过两个针头一起使用，与一个相比，分担了弹簧的电流过流两，避免了过电流造成损坏断裂的问题；(3)本发明的一种单向并联双头测试探针，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明的一种单向并联双头测试探针的结构示意图。
图中：1.第一针管，2.第二针管，3.第二弹簧，4.第二针轴，5.第二针轴，6.连接头，7.绝缘套筒，8.第二弹簧。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
如图1所示，本发明的一种单向并联双头测试探针，包括并排固定在一起的第一针管1和第二针管2；第一针管1内设置有第一盲孔，第一盲孔内设置有第一弹簧8，第一弹簧8的一端设置有第一针轴5，第一针轴5的一端从第一盲孔中伸出；第二针管2内设置有第二盲孔，第二盲孔内设置有第二弹簧3，第二弹簧3的一端设置有第二针轴4，第二针轴4的一端从第二盲孔中伸出。
第一针管1、第一弹簧8和第一针轴5以及第二针管2、第二弹簧3和第二针轴4分别组成两个单头探针。测试时，第一针轴5和第二针轴4均与被测试对象接触，在测试过程中，两个单头探针只要有一个能正常工作，就能顺利进行测试，除非两个都发生损坏。大大降低了漏测、误测的可能性。
同时，两个单头探针通过两个弹簧可对电流进行分流，避免了一个弹簧承载较大电流容易导致烧毁断裂的问题发生。
如图1所示，在本发明的一种单向并联双头测试探针中，还包括绝缘套筒7，绝缘套筒7内设置有两个安装孔，第一针管1和第二针管2分别设置在两个安装孔中。
绝缘套筒7一方面可以起到并排安装第一针管1和第二针管2的目的，另一方面可以通过固定绝缘套筒7完成两个单头探针的固定，以便进行测试工作。
如图1所示，在本发明的一种单向并联双头测试探针中，第一弹簧8和第二弹簧3均为压缩弹簧。
压缩弹簧与拉伸弹簧相比，能够对第一针轴5或第二针轴4实施有效的弹力支撑，确保其与被测对象之间形成良好接触，进而得到更加精确的测试结果。
如图1所示，在本发明的一种单向并联双头测试探针中，第一针轴5和第二针轴4的尾部均设置有连接头6，连接头6的外径大于第一针轴5和第二针轴4的外径，并且小于第一盲孔或第二盲孔收口处的内径。
连接头6限位在第一盲孔或第二盲孔中，便于第一针轴5和第二针轴4能够沿着设定轨迹移动，不至于发生偏移，造成第一弹簧8或第二弹簧3折损。
如图1所示，在本发明的一种单向并联双头测试探针中，第一弹簧8和第二弹簧3的弹力不相同。
第一弹簧8和第二弹簧3的弹力也可相同，以便根据被测对象的接触点位置进行相应的调节。
因此，与现有技术相比，本发明的一种单向并联双头测试探针，通过并联一个单头探针可以起到双重保险的作用，若一个能够正常使用，则不会影响测试结果。另外，本发明的一种单向并联双头测试探针，通过两个针头一起使用，与一个相比，分担了弹簧的电流过流两，避免了过电流造成损坏断裂的问题。还有，本发明的一种单向并联双头测试探针，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (1)
1.一种单向并联双头测试探针，其特征在于，包括并排固定在一起的第一针管（1）和第二针管（2）；所述第一针管（1）内设置有第一盲孔，所述第一盲孔内设置有第一弹簧（8），所述第一弹簧（8）的一端设置有第一针轴（5），所述第一针轴（5）的一端从所述第一盲孔中伸出；所述第二针管（2）内设置有第二盲孔，所述第二盲孔内设置有第二弹簧（3），所述第二弹簧（3）的一端设置有第二针轴（4），所述第二针轴（4）的一端从所述第二盲孔中伸出；还包括绝缘套筒（7），所述绝缘套筒（7）内设置有两个安装孔，所述第一针管（1）和所述第二针管（2）分别设置在两个安装孔中；所述第一弹簧（8）和所述第二弹簧（3）均为压缩弹簧；所述第一针轴（5）和所述第二针轴（4）的尾部均设置有连接头（6），所述连接头（6）的外径大于第一针轴（5）和第二针轴（4）的外径，并且小于第一盲孔或第二盲孔收口处的内径；所述第一弹簧（8）和所述第二弹簧（3）的弹力不相同。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111523214.3A CN114354992B (zh) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | 一种单向并联双头测试探针 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111523214.3A CN114354992B (zh) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | 一种单向并联双头测试探针 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114354992A CN114354992A (zh) | 2022-04-15 |
| CN114354992B true CN114354992B (zh) | 2024-03-22 |
Family
ID=81099824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111523214.3A Active CN114354992B (zh) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | 一种单向并联双头测试探针 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114354992B (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN115290941B (zh) * | 2022-10-08 | 2022-12-27 | 深圳市美锐精密电子有限公司 | 一种pcb孔铜四线测试针及其加工方法 |
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| US9921262B2 (en) * | 2014-04-08 | 2018-03-20 | Elma Electronic Inc. | Method and apparatus for a probe card |
-
2021
- 2021-12-13 CN CN202111523214.3A patent/CN114354992B/zh active Active
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| CN213023363U (zh) * | 2020-06-19 | 2021-04-20 | 江苏海德频率科技有限公司 | 一种用于谐振器生产线的改进型测试装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114354992A (zh) | 2022-04-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 714000 No. 18, chongye Second Road, high tech Industrial Development Zone, Weinan City, Shaanxi Province Applicant after: Weinan Muwang Intelligent Technology Co.,Ltd. Address before: 714000 northwest corner of Dongfeng Street and Shiquan Road, high tech Industrial Development Zone, Weinan City, Shaanxi Province Applicant before: WEINAN HI-TECH ZONE WOOD KING TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| CB02 | Change of applicant information | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20240204 Address after: Room 104, Building 8, the Taihu Lake Photon Science Park, No. 198, Jialingjiang Road, High tech Zone, Suzhou City, Jiangsu Province, 215000 Applicant after: Muwangxin (Suzhou) Semiconductor Technology Co.,Ltd. Country or region after: China Address before: 714000 No. 18, chongye Second Road, high tech Industrial Development Zone, Weinan City, Shaanxi Province Applicant before: Weinan Muwang Intelligent Technology Co.,Ltd. Country or region before: China |
|
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |