CN116699204A - 弧形双头双动半导体测试探针 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种弧形双头双动半导体测试探针，包括可弹性弯曲的弧形针套，所述弧形针套的一端中设置有第一弧形针管，所述第一弧形针管内设置有第一弧形弹性件和第一弧形针头，所述第一弧形弹性件位于第一弧形针头和第一弧形针管的底部之间；弧形针套的另一端中设置有第二弧形针管，所述第二弧形针管内设置有第二弧形弹性件和第二弧形针头，所述第二弧形弹性件位于第二弧形针头和第二弧形针管的底部之间。该弧形双头双动半导体测试探针，解决了现有半导体测试探针无法完成位于非直线位置上的被测物与测试基板之间连接的问题。
Description
技术领域
本发明属于半导体测试技术领域，具体涉及一种弧形双头双动半导体测试探针。
背景技术
半导体测试探针作为一种常见的检测工具，目前已经在消费电子、通信系统、医疗仪器等领域有广泛应用。在实际使用过程中用于连接被测物与测试基板，通过传输一定电流和频率至测试仪器来判定该被测物是否合格。半导体测试探针的结构通常是由针头、针管、弹簧三部分组成，针头和弹簧装在针管内部，在针管管口运用压铆缩口方式，使得针头、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针头受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针头确保针头与被测件之间形成良好接触，方便后续进行测试。
但是现有半导体测试探针一般都是直线设计的，但是在某些应用场合难以确保被测物与测试基板一定处于直线位置，使用现有半导体测试探针就难以实现未处在非直线位置上的被测物与测试基板之间的连接。
发明内容
本发明的目的是提供一种弧形双头双动半导体测试探针，解决现有半导体测试探针无法完成位于非直线位置上的被测物与测试基板之间连接的问题。
为了解决上述技术问题，本发明公开了一种弧形双头双动半导体测试探针，包括可弹性弯曲的弧形针套，所述弧形针套的一端中设置有第一弧形针管，所述第一弧形针管内设置有第一弧形弹性件和第一弧形针头，所述第一弧形弹性件位于第一弧形针头和第一弧形针管的底部之间；弧形针套的另一端中设置有第二弧形针管，所述第二弧形针管内设置有第二弧形弹性件和第二弧形针头，所述第二弧形弹性件位于第二弧形针头和第二弧形针管的底部之间。
本发明的技术方案，还具有以下特点：
作为本发明的一种优选方案，所述第一弧形弹性件和第二弧形弹性件均为弹簧。
作为本发明的一种优选方案，所述第一弧形针头和第二弧形针头的尾部的外径大于其杆部的外径。
作为本发明的一种优选方案，所述第一弧形针头和第二弧形针头的首部均为锥形。
作为本发明的一种优选方案，所述第一弧形针管和第二弧形针管的端口形成有缩口。
与现有技术相比：本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针，在使用过程中，可以根据测试基板与待测产品的不同特性调整弧形针套的环形半径及环形大小以达到适用所需测试环境的目的，能够在保证测试精度的同时保证半导体测试探针的测试性能，因此所述环型双头双动半导体测试探针具有非常广阔的适用性。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针的结构示意图。
图中：1.弧形针套，2.第一弧形针管，3.第一弧形针头，4.第一弧形弹性件，5.第二弧形针头，6.第二弧形针管，7.第二弧形弹性件。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
实施例1
如图1所示，本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针，包括可弹性弯曲的弧形针套1，弧形针套1的一端中设置有第一弧形针管2，第一弧形针管2内设置有第一弧形弹性件4和第一弧形针头3，第一弧形弹性件4位于第一弧形针头3和第一弧形针管2的底部之间；弧形针套1的另一端中设置有第二弧形针管6，第二弧形针管6内设置有第二弧形弹性件7和第二弧形针头5，第二弧形弹性件7位于第二弧形针头3和第二弧形针管6的底部之间。
如图1所示，弧形针套1的两端分别布置有盲孔，每个盲孔分别安装一个半导体测试探针，其中一个半导体测试探针由第一弧形针管2以及位于第一弧形针管2内的第一弧形弹性件4和第一弧形针头3组成；另一个半导体测试探针由第二弧形针管6以及位于第二弧形针管6内的第二弧形弹性件7和第二弧形针头3组成。
工作的时候第一弧形针头3和第二弧形针头5分别与被测物和测试基板接触，此时第一弧形弹性件4和第二弧形弹性件7受压收缩。带测试完毕后第一弧形针头3和第二弧形针头5不再与被测物和测试基板接触，此时在第一弧形弹性件4和第二弧形弹性件7的弹力作用下第一弧形针头3和第二弧形针头5将复位。针对不同的被测物和测试基板接触环境，可以适当弯曲弧形针套1确保第一弧形针头3和第二弧形针头5能够分别与被测物和测试基板顺利接触。
实施例2
如图1所示，在本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针中，包括弧形针套1，弧形针套1的一端中设置有第一弧形针管2，第一弧形针管2内设置有第一弧形弹性件4和第一弧形针头3，第一弧形弹性件4位于第一弧形针头3和第一弧形针管2的底部之间；弧形针套1的另一端中设置有第二弧形针管6，第二弧形针管6内设置有第二弧形弹性件7和第二弧形针头5，第二弧形弹性件7位于第二弧形针头3和第二弧形针管6的底部之间。第一弧形弹性件4和第二弧形弹性件7均为弹簧。
与实施例1不同的是，在本发明的实施例2中限定了第一弧形弹性件4和第二弧形弹性件7优选为弹簧，弹簧优选压缩弹簧，这样选择一方面可以节约成本，另一方面压缩弹簧可以顺利完成第一弧形针头3和第二弧形针头5的收缩适应。
实施例3
如图1所示，在本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针，包括弧形针套1，弧形针套1的一端中设置有第一弧形针管2，第一弧形针管2内设置有第一弧形弹性件4和第一弧形针头3，第一弧形弹性件4位于第一弧形针头3和第一弧形针管2的底部之间；弧形针套1的另一端中设置有第二弧形针管6，第二弧形针管6内设置有第二弧形弹性件7和第二弧形针头5，第二弧形弹性件7位于第二弧形针头3和第二弧形针管6的底部之间；第一弧形针头3和第二弧形针头5的尾部的外径大于其杆部的外径；第一弧形针管2和第二弧形针管6的端口形成有缩口。
与实施例1不同的是，本发明的实施例3中限定了第一弧形针头3和第二弧形针头5的尾部的外径大于其杆部的外径，只需要在第一弧形针管2和第二弧形针管6的端口加工缩口，确保缩口的内径大于杆部外径且小于尾部外径，即可将第一弧形针管2和第二弧形针管6可伸缩的限定在第一弧形针管2和第二弧形针管6中。
实施例4
如图1所示，本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针，包括弧形针套1，弧形针套1的一端中设置有第一弧形针管2，第一弧形针管2内设置有第一弧形弹性件4和第一弧形针头3，第一弧形弹性件4位于第一弧形针头3和第一弧形针管2的底部之间；弧形针套1的另一端中设置有第二弧形针管6，第二弧形针管6内设置有第二弧形弹性件7和第二弧形针头5，第二弧形弹性件7位于第二弧形针头3和第二弧形针管6的底部之间；第一弧形针头3和第二弧形针头5的首部均为锥形。
与实施例1不同的是，在本发明的实施例4中限定了第一弧形针头3和第二弧形针头5的首部均为锥形，这样设计可以方便第一弧形针头3和第二弧形针头5分别与被测物、测试基板之间形成良好的接触。
因此，与现有技术相比，本发明的一种弧形双头双动半导体测试探针，在使用过程中，可以根据测试基板与待测产品的不同特性调整弧形针套的环形半径及环形大小以达到适用所需测试环境的目的，能够在保证测试精度的同时保证半导体测试探针的测试性能，因此所述环型双头双动半导体测试探针具有非常广阔的适用性。
上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (5)
1.一种弧形双头双动半导体测试探针，其特征在于，包括可弹性弯曲的弧形针套(1)，所述弧形针套(1)的一端中设置有第一弧形针管(2)，所述第一弧形针管(2)内设置有第一弧形弹性件(4)和第一弧形针头(3)，所述第一弧形弹性件(4)位于第一弧形针头(3)和第一弧形针管(2)的底部之间；弧形针套(1)的另一端中设置有第二弧形针管(6)，所述第二弧形针管(6)内设置有第二弧形弹性件(7)和第二弧形针头(5)，所述第二弧形弹性件(7)位于第二弧形针头(3)和第二弧形针管(6)的底部之间。
2.根据权利要求1所述的弧形双头双动半导体测试探针，其特征在于，所述第一弧形弹性件(4)和第二弧形弹性件(7)均为弹簧。
3.根据权利要求1所述的弧形双头双动半导体测试探针，其特征在于，所述第一弧形针头(3)和第二弧形针头(5)的尾部的外径大于其杆部的外径。
4.根据权利要求1所述的弧形双头双动半导体测试探针，其特征在于，所述第一弧形针头(3)和第二弧形针头(5)的首部均为锥形。
5.根据权利要求1所述的弧形双头双动半导体测试探针，其特征在于，所述第一弧形针管(2)和第二弧形针管(6)的端口形成有缩口。
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