CN113109607A - 一种双头双动大电流测试探针 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种双头双动大电流测试探针，包括：针管；第一针轴，所述第一针轴包含第一针杆，所述第一针杆滑动设置在所述针管内，第一针杆的一端设置有第一针头，所述第一针头从所述针管的一端伸出，第一针杆的另一端设置有针尾，所述针尾设置有麻花针；第二针轴，所述第二针轴包含第二针杆，所述第二针杆滑动设置在所述针管中，第二针杆的一端设置有第二针头，所述第二针头从所述针管的另一端伸出，第二针杆内设置有内孔，所述麻花针伸入所述内孔中；弹簧，所述弹簧设置在所述针管内，所述弹簧位于第一针轴与第二针轴之间。该双头双动大电流测试探针，解决了现有探针使用时，存在针轴与针管容易出现接触不良的问题。
Description
技术领域
本发明属于半导体检测设备技术领域，具体涉及一种双头双动大电流测试探针。
背景技术
测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。
测试探针的结构通常是由针轴、针管、弹簧三部分组成，针轴和弹簧装在针管内部，在针管两端口运用压铆缩口方式，使得针轴、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针轴受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针轴，针轴与被测件良好接触，进行测试。
但是现有的测试探针使用时，由于针轴与针管不能稳定接触，在振动环境中，会出现针轴和针管接触不良的情况，此时电流通过针轴和弹簧传输，使得测试探针的接触电阻大，且容易烧毁弹簧，损坏测试设备，不能很好地满足大电流的测试要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种双头双动大电流测试探针，解决现有探针使用时，存在针轴与针管容易出现接触不良的问题。
为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种双头双动大电流测试探针，包括：
针管；
第一针轴，所述第一针轴包含第一针杆，所述第一针杆滑动设置在所述针管内，第一针杆的一端设置有第一针头，所述第一针头从所述针管的一端伸出，第一针杆的另一端设置有针尾，所述针尾设置有麻花针；
第二针轴，所述第二针轴包含第二针杆，所述第二针杆滑动设置在所述针管中，第二针杆的一端设置有第二针头，所述第二针头从所述针管的另一端伸出，第二针杆内设置有内孔，所述麻花针伸入所述内孔中；
弹簧，所述弹簧设置在所述针管内，所述弹簧位于第一针轴与第二针轴之间。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述弹簧套设在麻花针和针尾的外部。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述弹簧为压缩弹簧。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述麻花针由多根导线组合而成，多跟导线两端固定且中间形成有胖点。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述针管的两端形成有收缩口，所述第一针杆和第二针杆限位在所述收缩口内。
本发明的有益效果是：本发明的一种双头双动大电流测试探针在使用过程中，无论测试探针的针轴如何位移，麻花针和内孔始终多点有效接触，增大了接触面积，减小了测试探针本身的接触电阻，避免了弹簧被烧毁，进而满足了测试大电流的需要。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明的一种双头双动大电流测试探针的结构示意图。
图中：1.第一针头，2.第一针杆，3.针尾，4.弹簧，5.麻花针，6.胖点，7.内孔，8.针管，9.第二针杆，10.第二针头。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
如图1所示，本发明的一种双头双动大电流测试探针，包括针管8、第一针轴、第二针轴和弹簧4。其中：第一针轴包含第一针杆2，第一针杆2滑动设置在针管8内，第一针杆2的一端设置有第一针头1，第一针头1从针管8的一端伸出，第一针杆2的另一端设置有针尾3，针尾3设置有麻花针5；第二针轴包含第二针杆9，第二针杆9滑动设置在针管8中，第二针杆9的一端设置有第二针头10，第二针头10从针管8的另一端伸出，第二针杆9内设置有内孔7，麻花针5伸入内孔7中；弹簧4设置在针管8内，弹簧4套设在麻花针5和针尾3的外部；麻花针5由多根导线组合而成，多跟导线两端固定且中间形成有胖点6；针管8的两端形成有收缩口，第一针杆2和第二针杆9限位在收缩口内。
第一针轴由第一针头1、第一针杆2、针尾3和麻花针5组成，第一针头1、第一针杆2、针尾3在加工时一体成型，针尾3与麻花针3通过压接形成压接点结合在一起，麻花针3压接的一端远离胖点6。
麻花针5是由内圈多根纯铜线捻合时左旋，外圈多根铍青铜线捻合时右旋，然后内圈与外圈两端头焊接在一起，进行冲胖并热处理，形成胖点6，胖点具备弹性径向收缩的特性，自然状态下胖点处外径大于非胖点处。将麻花针5与第一针杆3朝向弹簧4的一端通过压接结合为一体形成第一针轴，在第二针杆9朝向弹簧4的一端打孔形成内孔7，内孔7的孔径小于麻花针5的胖点6处的外径。
第二针轴由第二针头10、第二针杆9和内孔7一体加工成型，装配时，依次将第一针轴、弹簧4、第二针轴装入针管8中，在针管8的两端口收铆缩口，形成一双头双动探针。此时麻花针5的胖点6插入内孔7中，由于胖点6处外径在自然状态下大于内孔7内径，插入后胖点6会在内孔7的限制下，弹性径向收缩，但胖点6具有径向向外的弹力施加在内孔7上，这样便实现了胖点6与内孔7的多点弹性接触。使用时，第一针轴和第二针轴相向位移，即内部发胖点6和内孔7相对位移，但在整个位移过程中，胖点6和内孔7始终保持多点弹性接触，确保了传输的可靠性，能持续稳定通过大电流，满足测试需求。
因此，本发明的一种双头双动大电流测试探针在使用过程中，无论测试探针的针轴如何位移，麻花针和内孔始终多点有效接触，增大了接触面积，减小了测试探针本身的接触电阻，避免了弹簧被烧毁，进而满足了测试大电流的需要。
上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (5)
1.一种双头双动大电流测试探针，其特征在于，包括：
针管(8)；
第一针轴，所述第一针轴包含第一针杆(2)，所述第一针杆(2)滑动设置在所述针管(8)内，第一针杆(2)的一端设置有第一针头(1)，所述第一针头(1)从所述针管(8)的一端伸出，第一针杆(2)的另一端设置有针尾(3)，所述针尾(3)设置有麻花针(5)；
第二针轴，所述第二针轴包含第二针杆(9)，所述第二针杆(9)滑动设置在所述针管(8)中，第二针杆(9)的一端设置有第二针头(10)，所述第二针头(10)从所述针管(8)的另一端伸出，第二针杆(9)内设置有内孔(7)，所述麻花针(5)伸入所述内孔(7)中；
弹簧(4)，所述弹簧(4)设置在所述针管(8)内，所述弹簧(4)位于第一针轴与第二针轴之间。
2.根据权利要求1所述的双头双动大电流测试探针，其特征在于，所述弹簧(4)套设在麻花针(5)和针尾(3)的外部。
3.根据权利要求1所述的双头双动大电流测试探针，其特征在于，所述弹簧(4)为压缩弹簧。
4.根据权利要求1所述的双头双动大电流测试探针，其特征在于，所述麻花针(5)由多根导线组合而成，多跟导线两端固定且中间形成有胖点(6)。
5.根据权利要求1所述的双头双动大电流测试探针，其特征在于，所述针管(8)的两端形成有收缩口，所述第一针杆(2)和第二针杆(9)限位在所述收缩口内。
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