CN212363617U - 光学检测机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种光学检测机，包括操作平台、压接装置、定位装置以及光学检测装置，压接装置设于操作平台的台面，且至少部分压接装置滑动设置于操作平台的台面，并具有压接位和检测位，定位装置设于操作平台，至少部分定位装置设压接位的上方，且定位装置的设于压接位的上方的部分设有第一感应口，第一感应口朝向压接位设置，用于对压接装置上的产品进行定位，光学检测装置设于操作平台的台面，并位于检测位的上方，且光学检测装置的检测口朝向检测位设置，用于对位于检测位的压接装置上的产品进行图像信息采集。本实用新型技术方案提供了一种工作效率高的光学检测机。

Description

光学检测机

技术领域

本实用新型涉及光学检测技术领域，特别涉及一种光学检测机。

背景技术

显示面板产品器件在对位压接完成后需对其进行光学检测，目前使用的光学检测机只是起到单纯的光学检测作用，产品的对位压接与光学检测分别独立完成，产品需进行对位压接后，再通过人工将对位压接完成的产品放置在光学检测机中进行检测，导致工作效率低。

上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种光学检测机，旨在提供一种工作效率高的光学检测机。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种光学检测机，包括：

操作平台；

压接装置，所述压接装置设于所述操作平台的台面，且至少部分所述压接装置滑动设置于所述操作平台的台面，并具有压接位和检测位；

定位装置，所述定位装置设于所述操作平台，至少部分所述定位装置设于所述压接位的上方，且所述定位装置的设于所述压接位上方的部分设有第一感应口，所述第一感应口朝向所述压接位设置，用于对所述压接装置上的产品进行定位；以及

光学检测装置，所述光学检测装置设于所述操作平台的台面，并位于所述检测位的上方，且所述光学检测装置的检测口朝向所述检测位设置，用于对位于所述检测位的所述压接装置上的产品进行图像信息采集。

在本实用新型的一实施例中，所述定位装置包括第一定位组件和第二定位组件，所述第一定位组件和所述第二定位组件均设于所述操作平台；

当所述压接装置位于所述压接位时，所述第一定位组件和所述第二定位组件分别设于所述压接装置的上下两侧，且所述第一定位组件设有所述第一感应口，所述第二定位组件设有第二感应口，所述第二感应口朝向所述压接位设置，所述第一定位组件用于对所述压接装置上的产品进行初定位，所述第二定位组件用于对所述压接装置上的产品进行精对位。

在本实用新型的一实施例中，所述第一定位组件包括激光笔，所述激光笔的感应口构成所述第一感应口。

在本实用新型的一实施例中，所述第二定位组件包括定位相机，所述定位相机的感应口构成所述第二感应口。

在本实用新型的一实施例中，所述压接装置包括压接组件和第一驱动机构，所述第一驱动机构设于所述操作平台，所述第一驱动机构与所述压接组件传动连接，以驱动所述压接组件往复运动于所述压接位和所述检测位之间；

当所述压接组件位于所述压接位时，所述定位装置的感应口朝向所述压接位设置；

当所述压接组件位于所述检测位时，所述光学检测装置的检测口朝向所述检测位设置。

在本实用新型的一实施例中，所述第一驱动机构包括第一滑轨，所述第一滑轨设于所述操作平台，且所述第一滑轨沿所述压接位至所述检测位的方向延伸设置，所述压接组件架设于所述第一滑轨之上，所述压接组件与所述第一滑轨滑动连接。

在本实用新型的一实施例中，所述压接组件包括压接治具和旋转机构，所述旋转机构架设于所述第一滑轨之上，并滑动连接于所述第一滑轨，所述旋转机构的旋转轴的长度方向与所述第一滑轨的延伸方向一致，所述压接治具传动连接于所述旋转机构，所述旋转机构驱动所述压接治具旋转。

在本实用新型的一实施例中，所述压接组件还包括第一挡板，所述第一挡板架设于所述第一滑轨之上，并随所述旋转机构同步滑动，且设于所述压接治具的一侧；所述光学检测机还包括第二挡板，所述第二挡板设于所述操作平台，并设于所述第一滑轨的上方，且所述第二挡板可朝向或远离所述第一滑轨运动，并具有上下并排间隔设置的第一位置和第二位置；

当所述压接组件位于所述压接位时，所述第二挡板位于所述第一位置，并设于所述第一挡板的上方；

当所述压接组件位于所述检测位时，所述第二挡板位于所述第二位置，并设于所述压接治具的背离所述第一挡板的一侧，且所述压接治具位于所述第一挡板和所述第二挡板形成的挡光空间内。

在本实用新型的一实施例中，所述光学检测装置包括光学检测器、第二驱动机构和升降机构，所述第二驱动机构设于所述检测位的上方，所述升降机构传动连接于所述第二驱动机构，所述第二驱动机构驱动所述升降机构在水平方向上位移；

所述光学检测器传动连接于所述升降机构，所述升降机构驱动所述光学检测器升降。

在本实用新型的一实施例中，所述第二驱动机构包括第二滑轨，所述第二滑轨设于所述检测位的上方，且所述第二滑轨沿所述第一滑轨延伸方向的垂直方向延伸设置，所述升降机构滑动连接于所述第二滑轨；

所述升降机构包括第三滑轨，所述第三滑轨设于所述检测位的上方，并设于所述第二滑轨的侧方，所述第三滑轨沿竖直方向延伸设置，所述光学检测器滑动连接于所述第三滑轨。

本实用新型技术方案提出了一种光学检测机，该光学检测机设置有操作平台、压接装置、定位装置以及光学检测装置，产品首先放置在压接装置上，并可随压接装置滑动设置于操作平台的台面，并具有压接位和检测位，当压接装置位于压接位时，定位装置即可对压接装置上的产品进行定位，定位完成后压接装置对产品进行压接处理，当压接装置由压接位运动至检测位时，光学检测装置即可对压接装置上的产品进行图像信息采集，从而自动完成产品的压接和光学检测过程，避免了使用独立完成的方式先对产品进行压接，再通过人工将压接完成的产品放置在光学检测机中进行光学检测，而导致工作效率低的问题。也即，本实用新型的技术方案提供了一种工作效率高的光学检测机。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型光学检测机一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型光学检测机一实施例的正视图；

图3为本实用新型光学检测机一实施例的侧视图；

图4为图3中A处放大图；

图5为本实用新型光学检测机一实施例的俯视图；

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	光学检测机	311	激光笔
10	操作平台	312	扫码枪
				20	压接装置	32	第二定位组件
21	压接组件	321	定位相机
				211	压接治具	40	光学检测装置
212	旋转机构	41	光学检测器
				213	第一挡板	42	第二驱动机构
22	第一驱动机构	421	第二滑轨
				221	第一滑轨	43	升降机构
30	定位装置	431	第三滑轨
				31	第一定位组件	50	第二挡板

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种光学检测机100，旨在提供一种工作效率高的光学检测机100。

结合参阅图1至图5，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，该光学检测机100包括：

操作平台10；

压接装置20，所述压接装置20设于所述操作平台10的台面，且至少部分所述压接装置20滑动设置于所述操作平台10的台面，并具有压接位和检测位；

定位装置30，所述定位装置30设于所述操作平台10，至少部分所述定位装置30设于所述压接位的上方，且所述定位装置30的设于所述压接位上方的部分设有第一感应口(图未示)，所述第一感应口朝向所述压接位设置，用于对所述压接装置20上的产品进行定位；以及

光学检测装置40，所述光学检测装置40设于所述操作平台10的台面，并位于所述检测位的上方，且所述光学检测装置40的检测口朝向所述检测位设置，用于对位于所述检测位的所述压接装置20上的产品进行图像信息采集。

本实施例中，压接位为用于对产品进行上料定位以及压接的位置；检测位为用于对产品进行光学检测的位置。通过将压接装置20往复运动于压接位和检测位之间，可在该光学检测机100中自动完成产品的定位压接以及光学检测两种功能，并有效提高操作的便捷性，便于压接装置20上产品的安装定位。

该光学检测机100可设置有两个或多个工位同时工作，多个工位并排间隔设置于操作平台10的台面，且每一工位均包括有压接装置20、定位装置30以及光学检测装置40。

该光学检测机100可用于OLED面板器件的压接和光学检测，其中，光学检测的测试项目可包括亮度、光谱、多点均一性、视角色偏等。

因此，可以理解的是，本实用新型的技术方案中，该光学检测机100设置有操作平台10、压接装置20、定位装置30以及光学检测装置40，产品首先放置在压接装置20上，并可随压接装置20滑动设置于操作平台10的台面，并具有压接位和检测位，当压接装置20位于压接位时，定位装置30即可对压接装置20上的产品进行定位，定位完成后压接装置20对产品进行压接处理，当压接装置20由压接位运动至检测位时，光学检测装置40即可对压接装置20上的产品进行图像信息采集，从而自动完成产品的压接和光学检测过程，避免了使用独立完成的方式先对产品进行压接，再通过人工将压接完成的产品放置在光学检测机中进行光学检测，而导致工作效率低的问题。也即，本实用新型的技术方案提供了一种工作效率高的光学检测机100。

结合参阅图2至图4，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述定位装置30包括第一定位组件31和第二定位组件32，所述第一定位组件31和所述第二定位组件32均设于所述操作平台10；

当所述压接装置20位于所述压接位时，所述第一定位组件31和所述第二定位组件32分别设于所述压接装置20的上下两侧，且所述第一定位组件31设有所述第一感应口，所述第二定位组件32设有第二感应口(图未示)，所述第二感应口朝向所述位设置，所述第一定位组件31用于对所述压接装置20上的产品进行初定位，所述第二定位组件32用于对所述压接装置20上的产品进行精对位。

可以理解的，为了增加操作的便捷性和准确性，同时减少结构的运动动作，以降低工作成本，因此在压接装置20位于压接位时，将第一定位组件31和第二定位组件32分别设置于压接装置20的上下两侧，以使压接装置20在压接位首先通过第一定位组件31进行初定位，然后再通过第二定位组件32进行精对位，精对位完成后即可进行压接处理，无需在进行初定位后转换位置再对其进行精对位和压接处理。

结合参阅图2至图4，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述第一定位组件31包括激光笔311，所述激光笔311的感应口和所述扫码枪312的感应口构成所述第一感应口。

本实施例中，第一定位组件31还包括扫码枪312，扫码枪312与激光笔311间隔设置，扫码枪312用于扫描产品的信息。激光笔311和扫码枪312均设于压接装置20的上方，且激光笔311的感应口朝向压接装置20。待处理产品通过人工或吸笔放置在压接装置20的压接治具211上，通过定位相机321进行检测待处理产品的放置位置，然后通过人员手动调节直至肉眼在定位相机321的显示器视野范围内看到产品边缘，从而完成初定位过程。

可以理解的，为了准确获取待处理产品在压接装置20中的放置位置，以便于对待处理产品进行初定位，从而使用激光笔311和定位相机321配合的方式对压接装置20中的待处理产品进行初定位处理。

结合参阅图2至图4，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述第二定位组件32包括定位相机321，定位相机321的感应口构成所述第二感应口。

本实施例中，当压接装置20位于压接位时，定位相机321的感应口朝向压接装置20设置，且定位相机321的镜头对压接装置20上的产品进行精对位。

第二定位组件32还包括对位系统，对位系统可对压接装置上的产品进行微调整。

定位相机321对产品进行精对位的具体步骤为：同样的，在产品的相应位置上作出标记，记为照相位，在产品完成初定位后，打开定位相机321使定位相机321对产品进行拍摄，当拍摄到的图片没有包括标记的照相位或者拍摄图片中的照相位没有位于准确位置时，通过对位系统进行精对位。

可以理解的，为了进一步提高对产品的精准对位，以提高压接和光学检测的精准度，从而在压接装置20位于压接位时，在压接装置20的下方设置有定位相机321，并使定位相机321的感应口朝向压接装置20设置，以使定位装置30的镜头对产品进行拍照并进行精对位，然后再进行压接处理。

结合参阅图1、图3和图5，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述压接装置20包括压接组件21和第一驱动机构22，所述第一驱动机构22设于所述操作平台10，所述第一驱动机构22与所述压接组件21传动连接，以驱动所述压接组件21往复运动于所述压接位和所述检测位之间；

当所述压接组件21位于所述压接位时，所述定位装置30的感应口朝向所述压接位设置；

当所述压接组件21位于所述检测位时，所述光学检测装置40的检测口朝向所述检测位设置。

本实施例中，待处理产品放置于压接组件21上，压接组件21架设于第一驱动机构22的上方，第一驱动机构22为X轴移动机构。

可以理解的，为了便于驱动压接组件21往复运动于压接位和检测位之间，以对压接组件21上的产品分别在压接位进行定位压接和在检测位进行图像信息采集，因此通过第一驱动机构22驱动压接组件21往复运动于压接位和检测位之间。

结合参阅图1、图3和图5，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述第一驱动机构22包括第一滑轨221，所述第一滑轨221设于所述操作平台10，且所述第一滑轨221沿所述压接位至所述检测位的方向延伸设置，所述压接组件21架设于所述第一滑轨221之上，所述压接组件21与所述第一滑轨221滑动连接。

本实施例中，压接组件21面向第一滑轨221的一侧设有滑块，压接组件21通过滑块沿第一滑轨221滑动。

可以理解的，为了便于压接组件21于第一驱动机构22上稳定滑动，以使压接组件21往复运动于压接位和检测位之间，从而使压接组件21通过第一滑轨221滑动设置于操作平台10的台面。同时，第一驱动机构22不仅可起到驱动压接组件21往复运动于压接位和检测位之间的作用，还可起到在X轴方向上对压接组件21进行位置调整，以对压接组件21上的产品在X轴方向上的各个位置进行光学检测，从而实现检测轴和移动轴的合并使用，以进一步降低成本。

结合参阅图1和图3，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述压接组件21包括压接治具211和旋转机构212，所述旋转机构212架设于所述第一滑轨221之上，并滑动连接于所述第一滑轨221，所述旋转机构212的旋转轴的长度方向与所述第一滑轨221的延伸方向一致，所述压接治具211传动连接于所述旋转机构212，所述旋转机构212驱动所述压接治具211旋转。

本实施例中，旋转机构212包括固定部和旋转部，旋转部与固定部转动连接，固定部固定连接于第一滑轨221背离操作平台10的一侧，压接治具211传动连接于旋转机构212的旋转部。

旋转机构212为θ轴移动机构，旋转机构212带动压接治具211沿旋转机构212的旋转轴移动，且旋转机构212带动压接治具211沿竖直面内旋转，以使光学检测器41对压接治具211上的产品在θ轴方向上的各个位置进行光学检测。

可以理解的，为了进一步自动对产品上的多个位置进行光学检测，以提高检测效率，无需人工转换压接治具211上产品的位置进行多位置光学检测，因此使用旋转机构212驱动压接治具211旋转。

结合参阅图1和图2，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述压接组件21还包括第一挡板213，所述第一挡板213架设于所述第一滑轨221之上，并随所述旋转机构212同步滑动，并设于所述压接治具211的一侧；所述光学检测机100还包括第二挡板50，所述第二挡板50设于所述操作平台10，并设于所述第一滑轨221的上方，且所述第二挡板50可朝向或远离所述第一滑轨221运动，并具有上下间隔设置的第一位置和第二位置；

当所述压接组件21位于所述压接位时，所述第二挡板50位于所述第一位置，并设于所述第一挡板213的上方；

当所述压接组件21位于所述检测位时，所述第二挡板50位于所述第二位置，并设于所述压接治具211的背离所述第一挡板213的一侧，且所述压接治具211位于所述第一挡板213和所述第二挡板50形成的挡光空间内。

本实施例中，该光学检测机100还包括支撑架，支撑架设于操作平台10的台面，光学检测装置40设于支撑架上。第一挡板213和第二挡板50均设于支撑架上，第二挡板50可相对支撑架上下运动，当压接组件21由压接位运动至检测位时，第一挡板213将随压接组件21由压接位运动至检测位，同时，第二挡板50向下运动至压接治具211背离第一挡板213的一侧，即第二挡板50由第一位置运动至第二位置，以使压接治具211位于第一挡板213和第二挡板50形成的挡光空间内，当光学检测完成后，第二挡板50由第二位置运动至第一位置，压接组件21将由检测位运动至压接位，然后通过人工或其它取料机构完成下料过程。该设置可在对压接治具211上的产品进行光学检测时，有效避免外界光线对光学检测造成影响，以提高检测精度。

结合参阅图1至图3和图5，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述光学检测装置40包括光学检测器41、第二驱动机构42和升降机构43，所述第二驱动机构42设于所述检测位的上方，所述升降机构43传动连接于所述第二驱动机构42，所述第二驱动机构42驱动所述升降机构43在水平方向上位移；

所述光学检测器41传动连接于所述升降机构43，所述升降机构43驱动所述光学检测器41升降。

本实施例中，第二驱动机构42为Y轴移动机构，第二驱动机构42带动升降机构43和光学检测器41沿Y轴方向移动，以对压接治具211上的产品在Y轴方向上的各个位置进行光学检测。

升降机构43为Z轴移动机构，升降机构43带动光学检测器41沿Z轴方向移动，通过调整光学检测器41与压接治具211之间的距离，以提高光学检测器41的检测精准度。

可以理解的，为了便于控制光学检测器41的检测工作，以提高对光学检测器41进行图像信息采集的精准度，从而将光学检测器41传动连接于升降机构43，升降机构43传动连接于第二驱动机构42，通过在升降机构43和第二驱动机构42的带动下使光学检测器41精准地运动至相应的工作位置。

结合参阅图1至图3和图5，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述第二驱动机构42包括第二滑轨421，所述第二滑轨421设于所述检测位的上方，且所述第二滑轨421沿所述第一滑轨221延伸方向的垂直方向延伸设置，所述升降机构43滑动连接于所述第二滑轨421。

本实施例中，升降机构43的固定部滑动连接于第二滑轨421，以使光学检测器41沿第二滑轨421滑动，且光学检测器41传动连接于升降机构43的升降部，以通过升降机构43的升降部驱动光学检测器41升降。

可以理解的，为了便于升降机构43于第二驱动机构42上稳定滑动，从而使升降机构43通过第二滑轨421滑动设置于第二驱动机构42。

结合参阅图1至图3和图5，在本实用新型光学检测机100的一实施例中，所述升降机构43包括第三滑轨422，所述第三滑轨422设于所述检测位的上方，并设于所述第二滑轨421的侧方，所述第三滑轨422沿竖直方向延伸设置，所述光学检测器41滑动连接于所述第三滑轨422。

可以理解的，为了便于光学检测器41于升降机构43上稳定滑动，从而使光学检测器41通过第三滑轨422滑动设置于升降机构43。

以上所述仅为本实用新型的可选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种光学检测机，其特征在于，包括：

操作平台；

压接装置，所述压接装置设于所述操作平台的台面，且至少部分所述压接装置滑动设置于所述操作平台的台面，并具有压接位和检测位；

定位装置，所述定位装置设于所述操作平台，至少部分所述定位装置设于所述压接位的上方，且所述定位装置的设于所述压接位上方的部分设有第一感应口，所述第一感应口朝向所述压接位设置，用于对所述压接装置上的产品进行定位；以及

光学检测装置，所述光学检测装置设于所述操作平台的台面，并位于所述检测位的上方，且所述光学检测装置的检测口朝向所述检测位设置，用于对位于所述检测位的所述压接装置上的产品进行图像信息采集。

2.如权利要求1所述的光学检测机，其特征在于，所述定位装置包括第一定位组件和第二定位组件，所述第一定位组件和所述第二定位组件均设于所述操作平台；

当所述压接装置位于所述压接位时，所述第一定位组件和所述第二定位组件分别设于所述压接装置的上下两侧，且所述第一定位组件设有所述第一感应口，所述第二定位组件设有第二感应口，所述第二感应口朝向所述压接位设置，所述第一定位组件用于对所述压接装置上的产品进行初定位，所述第二定位组件用于对所述压接装置上的产品进行精对位。

3.如权利要求2所述的光学检测机，其特征在于，所述第一定位组件包括激光笔，所述激光笔的感应口构成所述第一感应口。

4.如权利要求2所述的光学检测机，其特征在于，所述第二定位组件包括定位相机，所述定位相机的感应口构成所述第二感应口。

5.如权利要求1所述的光学检测机，其特征在于，所述压接装置包括压接组件和第一驱动机构，所述第一驱动机构设于所述操作平台，所述第一驱动机构与所述压接组件传动连接，以驱动所述压接组件往复运动于所述压接位和所述检测位之间；

当所述压接组件位于所述压接位时，所述定位装置的感应口朝向所述压接位设置；

当所述压接组件位于所述检测位时，所述光学检测装置的检测口朝向所述检测位设置。

6.如权利要求5所述的光学检测机，其特征在于，所述第一驱动机构包括第一滑轨，所述第一滑轨设于所述操作平台，且所述第一滑轨沿所述压接位至所述检测位的方向延伸设置，所述压接组件架设于所述第一滑轨之上，所述压接组件与所述第一滑轨滑动连接。

7.如权利要求6所述的光学检测机，其特征在于，所述压接组件包括压接治具和旋转机构，所述旋转机构架设于所述第一滑轨之上，并滑动连接于所述第一滑轨，所述旋转机构的旋转轴的长度方向与所述第一滑轨的延伸方向一致，所述压接治具传动连接于所述旋转机构，所述旋转机构驱动所述压接治具旋转。

8.如权利要求7所述的光学检测机，其特征在于，所述压接组件还包括第一挡板，所述第一挡板架设于所述第一滑轨之上，并随所述旋转机构同步滑动，且设于所述压接治具的一侧；所述光学检测机还包括第二挡板，所述第二挡板设于所述操作平台，并设于所述第一滑轨的上方，且所述第二挡板可朝向或远离所述第一滑轨运动，并具有上下并排间隔设置的第一位置和第二位置；

当所述压接组件位于所述压接位时，所述第二挡板位于所述第一位置，并设于所述第一挡板的上方；

当所述压接组件位于所述检测位时，所述第二挡板位于所述第二位置，并设于所述压接治具的背离所述第一挡板的一侧，且所述压接治具位于所述第一挡板和所述第二挡板形成的挡光空间内。

9.如权利要求6所述的光学检测机，其特征在于，所述光学检测装置包括光学检测器、第二驱动机构和升降机构，所述第二驱动机构设于所述检测位的上方，所述升降机构传动连接于所述第二驱动机构，所述第二驱动机构驱动所述升降机构在水平方向上位移；

所述光学检测器传动连接于所述升降机构，所述升降机构驱动所述光学检测器升降。

10.如权利要求9所述的光学检测机，其特征在于，所述第二驱动机构包括第二滑轨，所述第二滑轨设于所述检测位的上方，且所述第二滑轨沿所述第一滑轨延伸方向的垂直方向延伸设置，所述升降机构滑动连接于所述第二滑轨；

所述升降机构包括第三滑轨，所述第三滑轨设于所述检测位的上方，并设于所述第二滑轨的侧方，所述第三滑轨沿竖直方向延伸设置，所述光学检测器滑动连接于所述第三滑轨。

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