CN212301346U - 小直径部件现场金相试验辅助平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于试验台技术领域，尤其涉及一种小直径部件现场金相试验辅助平台，包括磁吸平台、连接筒、螺钉、支撑柱和垫块，磁吸平台的中心设有观察口，磁吸平台的四个角下方设有螺纹柱；连接筒的内壁设有内螺纹，连接筒的上端通过内螺纹连接螺纹柱，连接筒的下端的侧壁设有螺纹通孔，螺钉通过螺纹通孔将支撑柱固定在连接筒内，垫块设置于观察口的正下方；将受检部件放置于垫块上，显微镜磁力吸附在磁吸平台上，物镜对观察口对正下方垫块上的受检部件进行观察采样。通过本实用新型，能提高微观组织观察和图像采集的质量，提升小直径部件现场金相试验的工作效率。

Description

小直径部件现场金相试验辅助平台

技术领域

本实用新型属于试验台技术领域，尤其涉及一种小直径部件现场金相试验辅助平台。

背景技术

金相试验是微观组织检验的一种常用手段，可用于判断金属材料制造质量、设备安装质量和使用中组织性能的变化，以及判断老化部件蠕变损伤，是国际通用的实验方法。其优点是不需要破坏设备、成本低、耗时少、易操作，适用于各种规格金属部件的微观组织检验，特别是对于无法实现取样的情况，在各行业现场中应用广泛。

现场金相试验多采用便携式光学显微镜进行微观组织观察，从而确定磨抛及侵蚀过程是否达到图像采集需求，能否取得清晰微观组织照片。但对于小直径的管道、螺栓、螺杆等外表面为曲面或其他不规则形状的部件，便携式光学显微镜在架设时由于与部件外表面接触面积较小，缺少供其平稳放置的平面，往往会严重影响微观组织观察和图像采集的质量。其主要缺点表现如下：①由于受检部件尺寸小，便携式光学显微镜根本无法吸附固定，无法开展金相试验；②显微镜在观察过程中晃动，聚焦不稳定，难以锁定合适的观察视场；③显微镜吸附角度受限，光学聚焦面与观察面平行度差距较大，微观组织影像景深不一致，采集的图像模糊；④即使存在某些少数位置能够取得较好观察效果，但必然需要现场进行反复尝试操作，耗费大量时间、精力，降低工作效率。

上述问题给现场金相试验的质量、速率、成本等带来了很多不确定因素，有待改善解决。

实用新型内容

本实用新型提供了一种小直径部件现场金相试验辅助平台，目的在于提高微观组织观察和图像采集的质量，提升小直径部件现场金相试验的工作效率。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种小直径部件现场金相试验辅助平台，包括磁吸平台、连接筒、螺钉、支撑柱和垫块，磁吸平台的中心设有观察口，磁吸平台的四个角下方设有螺纹柱；连接筒的内壁设有内螺纹，连接筒的上端通过内螺纹连接螺纹柱，连接筒的下端的侧壁设有螺纹通孔，螺钉通过螺纹通孔将支撑柱固定在连接筒内，所述垫块设置于观察口的正下方；

将受检部件放置于垫块上，显微镜通过磁力吸附在磁吸平台上，物镜对观察口对准正下方垫块上的受检部件进行观察采样。

进一步地，磁吸平台为矩形。

进一步地，垫块为2个，呈直角梯形体，垫块的斜面为金相抛磨处理过的平面，2个垫块的斜面拼接成凹槽状。

进一步地，支撑柱的底部设有脚螺旋部件。

进一步地，连接筒与螺钉均为4个。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型设置带有观察口的磁吸平台，磁吸平台能够供便携式光学显微镜平稳吸附。磁吸平台的四个角设有螺纹柱，螺纹柱通过连接筒与支撑柱连接，螺纹柱的侧壁设有螺纹通孔，螺钉通过插入螺纹通孔将支撑柱固定在连接筒的内部，分别调整4个螺钉和支撑柱粗调平台的高度和水平度，支撑柱的底部设有脚螺旋部件，用于细调平台的高度和水平度。在观察口的正下方设有2个垫块，垫块为直角梯形状，垫块的斜面经金相抛磨处理，两个垫块的斜面拼接成凹槽状，用于放置受检部件，避免金相试验过程中受检部件的滚动。将受检部件放置于垫块上，显微镜的物镜通过观察口对下方的受检部件进行观察，可精确调节聚焦平面，有利于微观组织观察和图像采集，提高金相试验的质量和效率。

附图说明

图1为小直径部件现场金相试验辅助平台的俯视结构图；

图2为小直径部件现场金相试验辅助平台的仰视结构图。

其中：1-磁吸平台；2-观察口；3-螺纹柱；4-连接筒；5-螺钉；6-支撑柱；7-垫块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1、图2所示，一种小直径部件现场金相试验辅助平台，包括磁吸平台1、螺纹柱3、连接筒4、螺钉5、支撑柱6和垫块7。

磁吸平台1为矩形，磁吸平台1的四个角下方设有螺纹柱3，磁吸平台1的中心设有观察口2。连接筒4的内壁为内螺纹，连接筒4的上端通过内螺纹连接螺纹柱3，下端由支撑柱6插入内部，下端的侧壁设有螺纹通孔，螺钉5通过插入螺纹通孔顶紧支撑柱6，使支撑柱6固定在连接筒4的内部，支撑部6底部设有脚螺旋部件。观察口2的正下方设置垫块7，垫块7为2个直角梯形体，垫块7的斜面经过金相抛磨和腐蚀制作，避免受检部件滚动影响。

使用时，将四个连接筒4连接在螺纹柱3上，通过四个螺钉5将四根支撑柱6固定在连接筒4内，显微镜通过磁性固定在磁吸平台1上，两块垫块7设置在观察口2的正下方，两块垫块7的斜面拼接成凹槽状，受检部件设置在凹槽状的面上。组装完成后，显微镜通过观察口2对垫块7上的对受检部件进行观察，通过适当调整螺钉5的松紧，可以使支撑柱6上下移动，从而粗略调整磁吸平台1的高度和水平度，通过支撑柱6的脚螺旋部件精细调整高度和水平度，即可顺利调整聚焦平面，进行微观组织观察和图像采集。

以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域人员能很好的理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (5)

1.一种小直径部件现场金相试验辅助平台，其特征在于，包括磁吸平台(1)、连接筒(4)、螺钉(5)、支撑柱(6)和垫块(7)，所述磁吸平台(1)的中心设有观察口(2)，所述磁吸平台(1)的四个角下方设有螺纹柱(3)；所述连接筒(4)的内壁设有内螺纹，连接筒(4)的上端通过内螺纹连接螺纹柱(3)，连接筒(4)的下端的侧壁设有螺纹通孔，所述螺钉(5)通过螺纹通孔将所述支撑柱(6)固定在连接筒(4)内，所述垫块(7)设置于观察口(2)的正下方；

将受检部件放置于垫块(7)上，显微镜通过磁力吸附在磁吸平台(1)上，物镜对观察口(2)对准正下方垫块(7)上的受检部件进行观察采样。

2.根据权利要求1所述的小直径部件现场金相试验辅助平台，其特征在于，所述磁吸平台(1)为矩形。

3.根据权利要求1所述的小直径部件现场金相试验辅助平台，其特征在于，所述垫块(7)为2个，呈直角梯形体，垫块(7)的斜面为金相抛磨处理过的平面，2个垫块(7)的斜面拼接成凹槽状。

4.根据权利要求1所述的小直径部件现场金相试验辅助平台，其特征在于，所述支撑柱(6)的底部设有脚螺旋部件。

5.根据权利要求1所述的小直径部件现场金相试验辅助平台，其特征在于，所述连接筒(4)与螺钉(5)均为4个。

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