CN212229141U

CN212229141U - 一种霍尔芯片磁通量测试装置

Info

Publication number: CN212229141U
Application number: CN202020812714.3U
Authority: CN
Inventors: 娄战军; 岳树栋; 樊永红; 樊玲瑜; 卫松华
Original assignee: Xinxiang Loong First Electronics Co ltd
Current assignee: Xinxiang Loong First Electronics Co ltd
Priority date: 2020-05-15
Filing date: 2020-05-15
Publication date: 2020-12-25
Anticipated expiration: 2030-05-15

Abstract

本实用新型属于磁通量测试设备技术领域，尤其为一种霍尔芯片磁通量测试装置，针对现有的霍尔芯片磁通量测试装置难以将芯片间歇性运入和运出测试工位、导致测试效率较低且测试精确度较差的问题，现提出如下方案，其包括底座和测试组件，测试组件固定安装在底座顶部一侧，所述底座顶部开设有圆形槽和两个方形槽，圆形槽内转动安装有圆盘，圆盘顶部固定连接有竖轴的一端，竖轴顶端固定安装有转盘，转盘顶部开设有多个通孔，多个通孔一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧的一端。本实用新型结构设计合理，便于将霍尔芯片间歇性运入和运出测试设备且每次运输的距离相等，从而提高测试效率的同时保证测试精度。

Description

一种霍尔芯片磁通量测试装置

技术领域

本实用新型涉及磁通量测试设备技术领域，尤其涉及一种霍尔芯片磁通量测试装置。

背景技术

霍尔传感器是磁电效应的一种，当电流以垂直于外磁场的方向通过位于该磁场中的导体时，在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差，这种现象叫做霍尔效应。霍尔传感器即是利用霍尔元件基于霍尔效应原理而将被测量的物理量(如电流、磁场、位移、压力等)转换成电动势输出的一种传感器。其结构简单，体积小，无触点，可靠性高，易微型化，因此，在测量技术中得到了广泛的应用。在霍尔产品的生产过程中，需要对霍尔产品进行磁通量的测试。

现有的霍尔芯片磁通量测试装置难以将芯片间歇性运入和运出测试工位，导致测试效率较低且测试精确度较差，因此我们提出了一种霍尔芯片磁通量测试装置用于解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有的霍尔芯片磁通量测试装置难以将芯片间歇性运入和运出测试工位、导致测试效率较低且测试精确度较差的缺点，而提出的一种霍尔芯片磁通量测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种霍尔芯片磁通量测试装置，包括底座和测试组件，测试组件固定安装在底座顶部一侧，所述底座顶部开设有圆形槽和两个方形槽，圆形槽内转动安装有圆盘，圆盘顶部固定连接有竖轴的一端，竖轴顶端固定安装有转盘，转盘顶部开设有多个通孔，多个通孔一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧的一端，多个压紧弹簧的另一端均固定安装有压板，竖轴上固定安装有驱动齿轮，所述底座顶部固定安装有电机，电机输出轴上固定安装有扇形齿轮，扇形齿轮与驱动齿轮相啮合，两个方形槽内均滑动安装有竖杆，两个竖杆顶端均固定安装有卡球，所述竖轴外侧固定套设有套圈，套圈底部开设有多个卡槽，两个卡球分别与对应的卡槽活动卡装，两个卡球底部均固定连接有复位弹簧的一端，两个复位弹簧的另一端均与底座顶部固定连接。

优选的，多个卡槽和多个通孔均相对于竖轴呈环形等间距设置，且卡槽与通孔的个数相等，保证霍尔芯片每次转过的角度相等。

优选的，所述底座顶部固定安装有两个限位板，两个限位板均与圆盘顶部活动连接，对圆盘进行限位从而保证竖轴的稳定性。

优选的，所述圆形槽底部内壁上开设有多凹槽，多个凹槽内均活动连接有滚珠，多个滚珠均与圆盘底部滚动连接，降低圆盘的转动阻力。

优选的，多个压板一侧均固定连接有拉杆的一端，所述转盘滑动套设在多个拉杆外侧，多个拉杆的另一端均固定安装有拉环，便于对压板进行控制。

优选的，两个竖杆两侧均固定安装有限位销，两个方形槽两侧内壁上均开设有限位槽，两个限位销分别与对应的限位槽滑动连接，对竖杆进行限位。

本实用新型中，所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，通过拉动拉环并通过拉杆带动压板向一侧运动并压缩压紧弹簧，将霍尔芯片放置在通孔内并松开拉环，压板在压紧弹簧的作用下复位反向滑动对霍尔芯片进行固定；

本实用新型中，所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，通过电机输出轴带动扇形齿轮转动，扇形齿轮带动驱动齿轮转过一个小的角度，驱动齿轮带动竖轴转动，竖轴带动转盘和套圈转动套圈通过与卡球的配合推动卡球和竖杆向下运动并对复位弹簧进行压缩，套圈在惯性的作用下继续转动，两个卡球在复位弹簧的作用下向上运动卡入对应的卡槽内，对套圈进行定位，扇形齿轮持续转动带动竖轴间歇性转动并通过卡球与卡槽的配合使竖轴每次转过的角度相等，竖轴带动转盘间歇性转动并将霍尔芯片运入测试组件内并运出，从而提高测试的效率，且霍尔芯片内在测试组件内停留一端时间，从而保证测试的精确程度；

本实用新型结构设计合理，便于将霍尔芯片间歇性运入和运出测试设备且每次运输的距离相等，从而提高测试效率的同时保证测试精度，可靠性高。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种霍尔芯片磁通量测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种霍尔芯片磁通量测试装置的A部分的结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种霍尔芯片磁通量测试装置的B-B截面的结构示意图。

图中：1、底座；2、测试组件；3、圆形槽；4、圆盘；5、竖轴；6、转盘；7、通孔；8、压板；9、驱动齿轮；10、电机；11、扇形齿轮；12、套圈；13、方形槽；14、竖杆；15、卡球；16、卡槽；17、复位弹簧；18、压紧弹簧；19、拉杆；20、拉环；21、限位板；22、滚珠；23、限位销。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-3，一种霍尔芯片磁通量测试装置，包括底座1和测试组件2，测试组件2固定安装在底座1顶部一侧，底座1顶部开设有圆形槽3和两个方形槽13，圆形槽3内转动安装有圆盘4，圆盘4顶部固定连接有竖轴5的一端，竖轴5顶端固定安装有转盘6，转盘6顶部开设有多个通孔7，多个通孔7一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧18的一端，多个压紧弹簧18的另一端均固定安装有压板8，竖轴5上固定安装有驱动齿轮9，底座1顶部固定安装有电机10，电机10输出轴上固定安装有扇形齿轮11，扇形齿轮11与驱动齿轮9相啮合，两个方形槽13内均滑动安装有竖杆14，两个竖杆14顶端均固定安装有卡球15，竖轴5外侧固定套设有套圈12，套圈12底部开设有多个卡槽16，两个卡球15分别与对应的卡槽16活动卡装，两个卡球15底部均固定连接有复位弹簧17的一端，两个复位弹簧17的另一端均与底座1顶部固定连接。

本实用新型中，多个卡槽16和多个通孔7均相对于竖轴5呈环形等间距设置，且卡槽16与通孔7的个数相等，保证霍尔芯片每次转过的角度相等。

本实用新型中，底座1顶部固定安装有两个限位板21，两个限位板21均与圆盘4顶部活动连接，对圆盘4进行限位从而保证竖轴5的稳定性。

本实用新型中，圆形槽3底部内壁上开设有多凹槽，多个凹槽内均活动连接有滚珠22，多个滚珠22均与圆盘4底部滚动连接，降低圆盘4的转动阻力。

本实用新型中，多个压板8一侧均固定连接有拉杆19的一端，转盘6滑动套设在多个拉杆19外侧，多个拉杆19的另一端均固定安装有拉环20，便于对压板8进行控制。

本实用新型中，两个竖杆14两侧均固定安装有限位销23，两个方形槽13两侧内壁上均开设有限位槽，两个限位销23分别与对应的限位槽滑动连接，对竖杆14进行限位。

本实用新型中，在使用时，通过拉动拉环20并通过拉杆19带动压板8向一侧运动并压缩压紧弹簧18，将霍尔芯片放置在通孔7内并松开拉环20，压板8在压紧弹簧18的作用下复位反向滑动对霍尔芯片进行固定，然后开启电机10和测试组件2，通过电机10输出轴带动扇形齿轮11转动，扇形齿轮11带动驱动齿轮9转过一个小的角度，驱动齿轮9带动竖轴5转动，竖轴5带动转盘6和套圈12转动套圈12通过与卡球15的配合推动卡球15和竖杆14向下运动并对复位弹簧17进行压缩，套圈12在惯性的作用下继续转动，两个卡球15在复位弹簧17的作用下向上运动卡入对应的卡槽16内，对套圈12进行定位，扇形齿轮11持续转动带动竖轴5间歇性转动并通过卡球15与卡槽16的配合使竖轴5每次转过的角度相等，竖轴5带动转盘6间歇性转动并将霍尔芯片运入测试组件2内并运出，从而提高测试的效率，且霍尔芯片内在测试组件2内停留一端时间，从而保证测试的精确程度。

Claims

1.一种霍尔芯片磁通量测试装置，包括底座（1）和测试组件（2），测试组件（2）固定安装在底座（1）顶部一侧，其特征在于，所述底座（1）顶部开设有圆形槽（3）和两个方形槽（13），圆形槽（3）内转动安装有圆盘（4），圆盘（4）顶部固定连接有竖轴（5）的一端，竖轴（5）顶端固定安装有转盘（6），转盘（6）顶部开设有多个通孔（7），多个通孔（7）一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧（18）的一端，多个压紧弹簧（18）的另一端均固定安装有压板（8），竖轴（5）上固定安装有驱动齿轮（9），所述底座（1）顶部固定安装有电机（10），电机（10）输出轴上固定安装有扇形齿轮（11），扇形齿轮（11）与驱动齿轮（9）相啮合，两个方形槽（13）内均滑动安装有竖杆（14），两个竖杆（14）顶端均固定安装有卡球（15），所述竖轴（5）外侧固定套设有套圈（12），套圈（12）底部开设有多个卡槽（16），两个卡球（15）分别与对应的卡槽（16）活动卡装，两个卡球（15）底部均固定连接有复位弹簧（17）的一端，两个复位弹簧（17）的另一端均与底座（1）顶部固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，多个卡槽（16）和多个通孔（7）均相对于竖轴（5）呈环形等间距设置，且卡槽（16）与通孔（7）的个数相等。

3.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，所述底座（1）顶部固定安装有两个限位板（21），两个限位板（21）均与圆盘（4）顶部活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，所述圆形槽（3）底部内壁上开设有多凹槽，多个凹槽内均活动连接有滚珠（22），多个滚珠（22）均与圆盘（4）底部滚动连接。

5.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，多个压板（8）一侧均固定连接有拉杆（19）的一端，所述转盘（6）滑动套设在多个拉杆（19）外侧，多个拉杆（19）的另一端均固定安装有拉环（20）。

6.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，两个竖杆（14）两侧均固定安装有限位销（23），两个方形槽（13）两侧内壁上均开设有限位槽，两个限位销（23）分别与对应的限位槽滑动连接。