CN202915847U - 磁体辐射环检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种磁体辐射环检测设备。该磁体辐射环检测设备包括:平行度测量装置、外圆测量装置、旋转构件和辐射环固定装置,所述平行度测量装置位于所述辐射环固定装置的上方,所述外圆测量装置位于所述辐射环固定装置的一侧,所述辐射环固定装置能与所述旋转构件一起旋转。本实用新型的磁体辐射环检测设备可实现同时测定辐射环的平行度和尺寸,具有结构简单、成本低、高效、易于推广使用等特点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种磁体辐射环检测设备,特别是一种钕铁硼永磁体辐射环检测设备。
背景技术
近年来永磁材料的应用和发展十分迅速,特别是钕铁硼(NdFeB)作为目前最强的磁性材料,已经广泛应用于电镀器件、机械、医疗、汽车等诸领域。钕铁硼永磁体主要装配在汽车电机、汽车打火线圈、交流发电机、传感器等设备中。钕铁硼永磁材料制成的辐射环可以直接运用在汽车电机中。目前关于钕铁硼永磁体制造专利很多如中科三环在2008年申请号为CN200810226970的实用新型专利详细说明了如何制备钕铁硼永磁体辐射环,但是目前却没有相关的技术和设备用于精确控制辐射环的尺寸和平行度,以保证产品的装配。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种结构简单、成本低、效率高的磁体辐射环检测设备。为了实现上述目的,本实用新型的磁体辐射环检测设备包括:平行度测量装置、外圆测量装置、旋转构件和辐射环固定装置,所述平行度测量装置位于所述辐射环固定装置的上方,所述外圆测量装置位于所述辐射环固定装置的一侧,所述辐射环固定装置能与所述旋转构件一起旋转。
本实用新型的磁体辐射环检测设备还包括可移动构件,其中所述平行度测量装置和所述外圆测量装置设置在所述可移动构件上;所述可移动构件能相对于所述辐射环固定装置沿与所述辐射环固定装置的轴向平行和垂直的方向移动。
所述平行度测量装置和所述外圆测量装置可以分别以可拆卸方式设置在所述移动构件上。
所述平行度测量装置可以是千分表或百分表。所述外圆测量装置可以是千分表或百分表。
所述辐射环固定装置设有支架,该支架有用于测量辐射环内孔尺寸的刻度。所述支架可以是圆锥形。
利用本实用新型的磁体辐射环检测设备,可实现同时测定辐射环的平行度和尺寸,因此具有结构简单、成本低、高效、易于推广使用等特点。
附图说明
图1是本实用新型一个实施方式的磁体辐射环检测设备结构示意图;
图2是图1所示的磁体辐射环检测设备的左视图;
图3是图1所示的磁体辐射环检测设备的俯视图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型具体实施方式中的磁体辐射环检测设备进行说明。
图1所示的本实用新型一个实施方式的磁体辐射环检测设备结构示意图是操作者在使用该设备进行测量时所处位置的正视示意图,纸面的左侧是面向磁体辐射环检测设备时操作者的左手侧,平行度测量装置3所在的一侧为上侧。如图1所示,本实用新型具体实施方式的磁体辐射环检测设备包括支撑构件1、可移动构件2、平行度测量装置3、外圆测量装置4、旋转构件5和辐射环固定装置6。可移动构件2安装在支撑构件1上,可相对于辐射环固定装置6沿与该辐射环固定装置6的轴线L平行和垂直的方向移动。旋转构件5位于支撑构件1下方,辐射环固定装置6可和旋转构件5一起旋转。平行度测量装置3和外圆测量装置4安装在可移动构件2上,平行度测量装置3位于辐射环固定装置6的上方,外圆测量装置4位于辐射环固定装置6的一侧(在本具体实施方式中为左侧)。为了便于更换不同精度的测量装置,平行度测量装置3和外圆测量装置4可以以可拆卸方式安装在可移动构件2上。
辐射环固定装置6上设有支架,辐射环放置在支架上时,其中心轴线与辐射环固定装置6的轴线L重合。该支架上有刻度(见图3中右侧的同心圆),辐射环的内孔尺寸可以直接通过支架上的刻度而测得。为了方便固定待测辐射环,该支架可以是圆锥形。
进行测量操作时,首先将待测辐射环稳固放置在辐射环固定装置6的支架上,通过支架上的刻度得知待测辐射环的内孔尺寸。然后将平行度测量装置3和外圆测量装置4固定在可移动构件2。接下来,通过移动可移动构件2调节平行度测量装置3和外圆测量装置4的位置,使得它们的测量头都处于合适的测量位置,即平行度测量装置3的测量头位于待测辐射环上底面的上方,外圆测量装置4的测量头靠近待测辐射环的侧表面并对准该待测辐射环的中心轴线,整个测量过程测量头都不与辐射环接触,因此在允许的误差范围内测量头与辐射环的被测表面之间留有一定距离。接着,驱动旋转构件5旋转,辐射环固定装置6和旋转构件5一起旋转,稳固放置在辐射环固定装置6上的待测辐射环也随之旋转。随着待测辐射环的旋转,待测辐射环的上底面均匀地经过平行度测量装置3,待测辐射环旋转一周后,平行度测量装置3的读数变化量就是辐射环的平行度误差。同时,待测辐射环的侧表面均匀地经过外圆测量装置4时,外圆测量装置4完成对辐射环外圆度的测量,如果在旋转过程中外圆测量装置4的测量头不接触被测辐射环,则该被测辐射环为合格。外圆测量装置4的测量头选用百分表或千分表时,还可同时测得辐射环的外径。
由于本实用新型的磁体辐射环检测设备中的可移动构件2可沿与辐射环固定装置6的轴线L平行和垂直的两个方向移动,从而可以根据需要很方便地调节它相对于待测辐射环的位置,进而调节平行度测量装置3和外圆测量装置4至合适的测量位置。另外,平行度测量装置3和外圆测量装置4以可拆卸方式设置在可移动构件2上,从而可以更换不同精度的测量装置,因此适用于不同精度要求的测量操作。
以上通过具体实施方式对本实用新型进行了详细的说明,但是本实用新型并不限于此。在实现本实用新型目的的前提下,可以有其他变型。
Claims (7)
1.一种磁体辐射环检测设备,其特征在于,包括:平行度测量装置(3)、外圆测量装置(4)、旋转构件(5)和辐射环固定装置(6),所述平行度测量装置(3)位于所述辐射环固定装置(6)的上方,所述外圆测量装置(4)位于所述辐射环固定装置(6)的一侧,所述辐射环固定装置(6)能与所述旋转构件(5)一起旋转。
2.根据权利要求1所述磁体辐射环检测设备,其特征在于,还包括可移动构件(2),其中所述平行度测量装置(3)和所述外圆测量装置(4)设置在所述可移动构件(2)上;所述可移动构件(2)能相对于所述辐射环固定装置(6)沿与所述辐射环固定装置(6)的轴向平行和垂直的方向移动。
3.根据权利要求2所述的磁体辐射环检测设备,其特征在于,所述平行度测量装置(3)和所述外圆测量装置(4)分别以可拆卸方式设置在所述可移动构件(2)上。
4.根据权利要求1所述的磁体辐射环检测设备,其特征在于,所述平行度测量装置(3)是千分表或百分表。
5.根据权利要求1所述的磁体辐射环检测设备,其特征在于,所述外圆测量装置(4)是千分表或百分表。
6.根据权利要求1所述的磁体辐射环检测设备,其特征在于,所述辐射环固定装置(6)设有支架,该支架有用于测量辐射环内孔尺寸的刻度。
7.根据权利要求6所述的磁体辐射环检测设备,其特征在于,所述支架是圆锥形。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN105107928A (zh) * | 2015-08-13 | 2015-12-02 | 昆山—邦泰汽车零部件制造有限公司 | 冲头检测设备 |
CN105423860A (zh) * | 2016-01-18 | 2016-03-23 | 苏州思威特精密机械有限公司 | 带锥度工件的小径检测方法以及检测检具 |
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- 2012-10-26 CN CN201220553035.4U patent/CN202915847U/zh not_active Expired - Fee Related
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