CN212179812U - 用于冲击试样缺口投影仪v型口/u型口检测的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置。包括快速调整机构和标准样板，快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，Y向导轨组件设在X向导轨组件上部并由X向导轨组件带动沿X向移动，周向转台组件设在Y向导轨组件上部并由Y向导轨组件带动沿Y向移动，周向转台组件可周向转动且其上设有玻璃工作台，X向底板、Y向底板、周向转台底板上均设有同轴的圆孔；标准样板上设置有按照标准V形口/标准U形口的下公差和上公差所界定的范围所形成的V形/U形区域，标准样板的板面上设有相垂直的第一直线和第二直线，第一直线为V形/U形区域的对称轴，第二直线位于V形/U形区域的开口端，标准样板设在玻璃工作台上。

Description

用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，属于仪器测量技术领域。

背景技术

冲击试样缺口投影仪是一种用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。目前校准冲击试样缺口投影仪的方法是参照JJF1093-2015投影仪校准规范中介绍的方法，即通过标准玻璃尺测量投影屏水平方向和垂直方向的固定刻线的尺寸，测得其示值误差。但V形口的角度和圆弧半径及U形口的圆弧半径的技术要求没有简便的办法溯源。该校准方法存在的主要问题是：1.操作复杂，效率低下；2.测量V形口及U形口的相关技术要求时精度不高。

发明内容

针对现有技术中存在的上述缺陷，本实用新型提供了一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，利用其可以实现高效、准确的校准。

本实用新型是通过如下技术方案来实现的：一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：包括快速调整机构和标准样板，所述快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，所述X向导轨组件包括X向底板、设置在所述X向底板上的沿X向设置的X向丝杠副和X向导轨，所述Y向导轨组件包括Y向底板、设置在所述Y向底板上的沿Y向设置的Y向丝杠副和Y向导轨,所述周向转台组件包括周向转台底板、圆环形转动盘、玻璃工作台，所述周向转台底板上设置有定位环，所述圆环形转动盘可转动地与所述定位环配合，所述玻璃工作台放置在所述圆环形转动盘的上部，所述Y向导轨组件设置在所述X向导轨组件的上部，所述Y向底板的底部与所述X向丝杠副的丝母和所述X向导轨上的滑块连接，所述周向转台组件设置在所述Y向导轨组件的上部，所述周向转台底板的底部与所述Y向丝杠副的丝母和所述Y向导轨上的滑块连接，所述X向底板、Y向底板、周向转台底板上均设置有同轴的圆孔，所述周向转台底板上的定位环与所述周向转台底板上的圆孔同心设置；所述标准样板为矩形透明平板结构，所述标准样板的板面上设置有按照标准V形口/标准U形口的下公差和上公差所界定的范围所形成的V形/U形区域，在所述标准样板的板面上设置有相垂直的第一直线和第二直线，所述第一直线为V形/U形区域的对称轴，所述第二直线位于V形/U形区域的开口端，所述标准样板设置在所述玻璃工作台上。

本实用新型中，X向导轨组件通过其丝杠副和导轨可实现X向的移动，Y向导轨组件通过其丝杠副和导轨可实现Y向的移动，周向转台组件可实现周向转动。本实用新型中的标准样板有多块，不同的标准样板上的V形/U形区域分别用于校准冲击试样缺口投影仪不同的V形口/U形口，可根据不同的检测需要进行选择。本实用新型使用时，标准样板放置于快速调整机构的玻璃工作台的上部，通过调节X向导轨组件可带动其上部的Y向导轨组件、周向转台组件及标准样板沿X向移动，通过调节Y向导轨组件可带动其上部的周向转台组件及标准样板沿Y向移动，通过转动周向转台组件的圆环形转动盘可带动标准样板转动，调整标准样板的角度，从而对标准样板的位置进行精确调整。

进一步的，为便于调节，所述X向丝杠副、Y向丝杠副、圆环形转动盘上均设置有调节手柄。

进一步的，所述标准样板为在k9光学玻璃。

进一步的，所述标准样板上的V形/U形区域是由刻画在所述k9光学玻璃上的线条组成。

进一步的，所述第二直线为标准样板的板边。

本实用新型的有益效果是：本实用新型操作简单，调节精度高，利用其进行冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测可大大提高检测效率高，并大大提高测量准确度。

附图说明

图1是本实用新型中用于校准国标V形口圆弧半径R0.225mm，角度43°技术要求所用的标准样板；

图2是本实用新型中用于校准国标V形口圆弧半径R0.25mm，角度45°技术要求所用的标准样板；

图3是本实用新型中用于校准国标V形口圆弧半径R0.275mm，角度47°技术要求所用的标准样板；

图4是本实用新型中用于校准国标U形口圆弧半径R0.93mm技术要求所用的标准样板；

图5是本实用新型中用于校准国标U形口圆弧半径R1.00mm技术要求所用的标准样板；

图6是本实用新型中用于校准国标U形口圆弧半径R1.07mm技术要求所用的标准样板；

图7是本发实用新型中的快速调整机构的俯视示意图；

图8是本实用新型中的快速调整机构的右视示意图；

图9是本实用新型中的快速调整机构的后视示意图；

图10是本实用新型中的快速调整机构的仰视示意图；

图11是本实用新型具体实施例中的冲击试样缺口投影仪影屏上刻线图像；

图中，1、第一直线，2、第二直线，3、V形区域，4、U形区域，5、玻璃工作台，6、Y向导轨，7、Y向丝杠副，8、Y向调节手柄，9、X向调节手柄，10、X向丝杠副，11、周向转台调节手柄，12、X向导轨，13、圆环形转动盘，14、周向转台底板，15、Y向底板，16、X向底板，17、定位环，18、圆孔，19、影屏上的垂直固定刻线，20、影屏上的水平固定刻线。

具体实施方式

下面通过非限定性的实施例并结合附图对本实用新型作进一步的说明：

如附图所示，一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，包括标准样板和快速调整机构。

如图1-图6所示，所述标准样板为矩形透明平板结构，标准样板的板面上设置有按照国标标准V形口/国标标准U形口的下公差和上公差所界定的范围所形成的V形/U形区域，在所述标准样板的板面上设置有相垂直的第一直线1和第二直线2，所述第一直线1为V形/U形区域的对称轴，所述第二直线2位于V形/U形区域的开口端。标准样板可根据国标标准中的不同规格的V形口和U形口对应设置多块，不同的标准样板上的V形/U形区域分别用于校准冲击试样缺口投影仪不同的V形口/U形口，可根据不同的检测需要进行选择。如图1所示的是用于校准国标V形口圆弧半径R0.225mm，角度43°技术要求所用的标准样板，该标准样板上的V形区域3是由角度43°的下公差42.8°的两条角度线和一条R0.22mm的圆弧线和上公差43.2°的两条角度线和一条R0.23mm的圆弧线组成，第一垂直线1为V形区域3的对称轴，第二直线2位于V形区域3的开口端，并且第二直线2为标准样板的板边。图2和图3所示的分别是用于校准国标V形口圆弧半径R0.25mm，角度45°技术要求所用的标准样板和用于校准国标V形口圆弧半径R0.275mm，角度47°技术要求所用的标准样板，标准样板上的V形区域3的设置原理与图1相同。图4所示的是用于校准国标U形口圆弧半径R0.93mm技术要求所用的标准样板，该标准样板上的U形区域4是圆弧半径R0.93mm的下公差R0.9016mm所形成的U形与上公差R0.944mm所形成的U形之间的区域，第一垂直线1为U形区域4的对称轴，第二直线2位于U形区域4的开口端，并且第二直线2为标准样板的板边。图5和图6分别是用于校准国标U形口圆弧半径R1.00mm技术要求所用的标准样板和用于校准国标U形口圆弧半径R1.07mm技术要求所用的标准样板，标准样板上的U形区域4的设置原理与图4相同。本实用新型中，优选所述标准样板为在k9光学玻璃。优选，所述标准样板上的V形区域3和U形区域4是由刻画在所述k9光学玻璃上的线条组成。

如图7-图10所示，所述快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件。所述X向导轨组件包括X向底板16、设置在所述X向底板16上的沿X向设置的X向丝杠副10和X向导轨12，X向丝杠副10的丝杠端连接有X向调节手柄9。所述Y向导轨组件包括Y向底板15、设置在所述Y向底板15上的沿Y向设置的Y向丝杠副7和Y向导轨6，Y向丝杠副7的丝杠端连接有Y向调节手柄8。所述周向转台组件包括周向转台底板14、圆环形转动盘13、玻璃工作台5，所述周向转台底板14上设置有定位环17，所述圆环形转动盘13的可转动地与所述定位环17外圆配合，圆环形转动盘13可绕定位环17的中心转动。圆环形转动盘13上还连接有两个周向转台调节手柄11，通过周向转台调节手柄11可推动圆环形转动盘13绕定位环17旋转。所述玻璃工作台5放置在所述圆环形转动盘13的上部。所述Y向导轨组件设置在所述X向导轨组件的上部，所述Y向底板15的底部与所述X向丝杠副10的丝母和滑动设置在所述X向导轨12上的滑块连接。所述周向转台组件设置在所述Y向导轨组件的上部，所述周向转台底板14的底部与所述Y向丝杠副7的丝母和滑动设置在所述Y向导轨6上的滑块连接。X向底板16、Y向底板15、周向转台底板14的中心均设置有圆孔18，且X向底板16、Y向底板15、周向转台底板14上的圆孔同轴设置。所述周向转台底板14上的定位环17与所述周向转台底板14上的圆孔同心设置。所述标准样板设置在所述玻璃工作台5上。通过X向调节手柄9可调节X向导轨组件带动其上部的Y向导轨组件及周向转台组件沿X向移动，通过Y向调节手柄8可调节周向转台组件沿Y向移动，通过周向转台调节手柄11可带动圆环形转动盘13及玻璃工作台5旋转一定的角度，从而可使安放在玻璃工作台上的标准样板实现左右、前后及圆周方向自由精确调整，提高测量效率。

如图11所示，利用本实用新型进行冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测方法是：首先将快速调整机构放置在冲击试样缺口投影仪的玻璃圆形工作台上，并使快速调整机构的X向底板16上的圆孔18与冲击试样缺口投影仪的玻璃圆形工作台对齐。由于该快速调整机构的自重比较重，因此无需固定。选用标准样板并将标准样板放置在快速调整机构的玻璃工作台5上。当校准冲击试样缺口投影仪国标的V形口时，选用图1-图3所示的三种标准样板进行校准，当校准U形口时选用图4-图6所示的三种标准样板进行校准。本实施例中，以校准冲击试样缺口投影仪U形口为例，进行具体说明(V形口的校准操作方法与U形口的校准操作相同)。当校准U形口的基准U形口(圆弧半径为R1.00mm)时，选用图5中的标准样板放置在快速调整机构的圆形的玻璃工作台5上，通过冲击试样缺口投影仪的物镜将标准样板投影到其影屏上，通过周向转台调节手柄11，使周向转台沿Y向导轨组件中心点转动并保证标准样板上的第一直线1和第二直线2分别与冲击试样缺口投影仪影屏上的垂直固定刻线19和水平固定刻线20平行，然后通过旋转X向调节手柄9使标准样板在X方向移动，使标准样板的第一直线1和冲击试样缺口投影仪影屏上的垂直固定刻线19重合，通过旋转Y向调节手柄8使标准样板在Y方向移动，使标准样板的第二直线2和冲击试样缺口投影仪影屏上的水平固定刻线20重合，这时观察冲击试样缺口投影仪影屏上的基准U形口及两条角度线是否落在图5中的标准样板上由圆弧半径为R0.986mm和宽度为1.972mm的两条角度线与圆弧半径为R1.014mm和宽度为2.028mm的两条角度线组成的区域之间，如果落在该区域内则判定冲击试样缺口投影仪影屏上的基准U形口符合技术要求，如果没有落在该区域内则判定冲击试样缺口投影仪影屏上的基准U形口不符合技术要求。冲击试样缺口投影仪影屏上的其他刻线选用相应的标准样板校准，方法同上述方法一样，依次类推。

本实施例中的其他部分均为现有技术，在此不再赘述。

Claims (5)

1.一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：包括快速调整机构和多块标准样板，所述快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，所述X向导轨组件包括X向底板(16)、设置在所述X向底板(16)上的沿X向设置的X向丝杠副(10)和X向导轨(12)，所述Y向导轨组件包括Y向底板(15)、设置在所述Y向底板(15)上的沿Y向设置的Y向丝杠副(7)和Y向导轨(6),所述周向转台组件包括周向转台底板(14)、圆环形转动盘(13)、玻璃工作台(5)，所述周向转台底板(14)上设置有定位环(17)，所述圆环形转动盘(13)可转动地与所述定位环(17)配合，所述玻璃工作台(5)放置在所述圆环形转动盘(13)的上部，所述Y向导轨组件设置在所述X向导轨组件的上部，所述Y向底板(15)的底部与所述X向丝杠副(10)的丝母和所述X向导轨(12)上的滑块连接，所述周向转台组件设置在所述Y向导轨组件的上部，所述周向转台底板(14)的底部与所述Y向丝杠副(7)的丝母和所述Y向导轨(6)上的滑块连接，所述X向底板(16)、Y向底板(15)、周向转台底板(14)上均设置有同轴的圆孔，所述周向转台底板(14)上的定位环(17)与所述周向转台底板(14)上的圆孔同心设置；所述标准样板为矩形透明平板结构，所述标准样板的板面上设置有按照标准V形口/标准U形口的下公差和上公差所界定的范围所形成的V形/U形区域，在所述标准样板的板面上设置有相垂直的第一直线(1)和第二直线(2)，所述第一直线为V形/U形区域的对称轴，所述第二直线(2)位于V形/U形区域的开口端，所述标准样板设置在所述玻璃工作台(5)上。

2.根据权利要求1所述的用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：所述X向丝杠副(10)、Y向丝杠副(7)、圆环形转动盘(13)上均设置有调节手柄。

3.根据权利要求1或2所述的用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：所述标准样板为在k9光学玻璃。

4.根据权利要求3所述的用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：所述标准样板上的V形/U形区域是由刻画在所述k9光学玻璃上的线条组成。

5.根据权利要求4所述的用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：所述第二直线为标准样板的板边。

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