CN211783177U - 一种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，主要包括限位块A、限位块B等，模芯A右侧同心连接台阶A，台阶A右侧同心连接台阶B，台阶B右侧同心连接模芯B，台阶A和台阶B上分别固定限位块A、限位块B，限位块A、限位块B的外侧面分别超过台阶A和台阶B的外侧面。本实用新型将复杂且效率低的投影仪检测转变为直观的通止检测，解决了三销架内孔中心到轴径端面距离尺寸检测不便及检测时间长的问题，解决了现有精密测量不能满足批量生产过程控制的问题，现场操作方便快捷，适用于批量生产现场控制，且大大提高了检测效率和准确性，现场在自己的工位上可随时检测确认该尺寸是否合格，产品加工过程质量可有效控制。
Description
技术领域
本实用新型涉及三销架检具的领域，具体涉及一种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具。
背景技术
现三球销的零件三销架，生产加工过程中每天加工时需要首件测量内孔中心到轴颈指定位置距离尺寸，更换刀片或调整工装后还需要对该尺寸进行复检。其内孔中心到轴颈指定位置距离用通用量检具无法检测，需采用精密投影仪测量检测。具体测量时需要将产品放在投影仪上寻找轮廓：找出三销架内孔中心(φB中心)，并找到轴径指定位置(φA与φC之间的平面区域)，然后测出内孔中心到轴径端面2的距离(尺寸L)。而投影仪为精密设备，操作复杂，需要专业人员操作，一般的现场操作人员无法操作，只能通过送检进行精密测量，检测时间长，不利于现场控制，造成测量该尺寸时效率也相对低下。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术存在的不足，而提供一种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具。
本实用新型的目的是通过如下技术方案来完成的：这种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，主要包括模芯A、台阶A、台阶B、模芯B、限位块A、限位块B，模芯A右侧同心连接台阶A，台阶A右侧同心连接台阶B，台阶B右侧同心连接模芯B，台阶A和台阶B上分别固定限位块A、限位块B，限位块A、限位块B的外侧面分别超过台阶A和台阶B的外侧面。
所述模芯A、模芯B的外径φD比三销架的内孔内径φB略大。
所述台阶A、台阶B高度尺寸与三销架的尺寸L的上下差相关，台阶A设计成检测项目尺寸L的公差下限，台阶B设计成检测项目尺寸L的公差上限。
所述限位块A、限位块B的底面与三销架的轴径端面尺寸配合。
所述限位块A、限位块B的检测工作面采用阶梯结构。
本实用新型的有益效果为：本实用新型将复杂且效率低的投影仪检测转变为直观的通止检测，解决了三销架内孔中心到轴径端面距离尺寸检测不便及检测时间长的问题，解决了现有精密测量不能满足批量生产过程控制的问题，现场操作方便快捷，适用于批量生产现场控制，且大大提高了检测效率和准确性，现场在自己的工位上可随时检测确认该尺寸是否合格，产品加工过程质量可有效控制。
附图说明
图1为三销架的结构正视图。
图2为三销架的结构剖视图。
图3为本实用新型的结构示意图。
图4为本实用新型的实施例2结构示意图。
图5为本实用新型的实施例3结构示意图。
图6为本实用新型的实施例4结构示意图。
图7为本实用新型的限位块的阶梯结构示意图。
图8为本实用新型检测时止端示意图。
图9为图8中E处局部放大示意图。
图10为本实用新型的检测时通端示意图。
图11为图10中F处局部放大示意示意图。
附图标记说明：三销架1、轴径端面2、模芯A3、台阶A4、台阶B5、模芯B6、限位块A7、限位块B8、螺母9、固定螺钉10。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型做详细的介绍：
实施例1：如附图所示，这种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，主要包括模芯A3、台阶A4、台阶B5、模芯B6、限位块A7、限位块B8，模芯A3右侧同心连接台阶A4，台阶A4右侧同心连接台阶B5，台阶B5右侧同心连接模芯B6，台阶A4和台阶B5上分别固定限位块A7、限位块B8，限位块A7、限位块B8的外侧面分别超过台阶A4和台阶B5的外侧面。模芯A3、模芯B5的外径φD比三销架1的内孔内径φB略大，确保三销架1的内孔可塞入模芯A3和模芯B5。台阶A4、台阶B5高度尺寸与三销架1的尺寸L的上下差相关，台阶A4设计成检测项目尺寸L的公差下限，台阶B5设计成检测项目尺寸L的公差上限。限位块A7、限位块B8的底面与三销架1的轴径端面2尺寸配合。限位块A7、限位块B8可采用螺纹、镶嵌、铆接等方式连接固定在台阶A4、台阶B5上，并且配合处紧密无间隙，使得限位块A7、限位块B8的底平面到模芯中心距离分别为检测项目尺寸L的上限和下限尺寸。限位块A7、限位块B8的检测工作面采用阶梯结构，保证L尺寸满足要求，检测不同尺寸时更换限位块即可。
本实用新型检测方式：将本实用新型的模芯A3、模芯B6依次装插入三销架1的内孔并转动，使限位块A7、限位块B8到达检测部位，观察限位块A7、限位块B8与轴径端面2的位置关系。若止端不能卡入，即三销架1的轴径端面2高于限位块A7底平面，且通端可以卡入，即三销架1的轴径端面2低于限位块B8底平面，即为符合，反之，则不符合。
实施例2：在实施例1的基础上，限位块A7、限位块B8为螺钉形式并穿过台阶A4、台阶B5上的通孔通过螺母9固定。
实施例3：在实施例1的基础上，限位块A7、限位块B8为垫块形式并通过固定螺钉10连接到台阶A4、台阶B5上。
实施例4：在实施例1的基础上，限位块A7、限位块B8为大平头螺钉的形式直接固定到台阶A4、台阶B5上，大平头螺钉的头部作为限位检测部位。
可以理解的是，对本领域技术人员来说，对本实用新型的技术方案及实用新型构思加以等同替换或改变都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
Claims (5)
1.一种三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，其特征在于：主要包括模芯A(3)、台阶A(4)、台阶B(5)、模芯B(6)、限位块A(7)、限位块B(8)，模芯A(3)右侧同心连接台阶A(4)，台阶A(4)右侧同心连接台阶B(5)，台阶B(5)右侧同心连接模芯B(6)，台阶A(4)和台阶B(5)上分别固定限位块A(7)、限位块B(8)，限位块A(7)、限位块B(8)的外侧面分别超过台阶A(4)和台阶B(5)的外侧面。
2.根据权利要求1所述的三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，其特征在于：所述模芯A(3)、模芯B(6)的外径φD比三销架(1)的内孔内径φB略大。
3.根据权利要求1所述的三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，其特征在于：所述台阶A(4)、台阶B(5)高度尺寸与三销架(1)的尺寸L的上下差相关，台阶A(4)设计成检测项目尺寸L的公差下限，台阶B(5)设计成检测项目尺寸L的公差上限。
4.根据权利要求1所述的三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，其特征在于：所述限位块A(7)、限位块B(8)的底面与三销架(1)的轴径端面(2)尺寸配合。
5.根据权利要求1或4所述的三销架内孔中心到轴颈指定位置距离检具，其特征在于：所述限位块A(7)、限位块B(8)的检测工作面采用阶梯结构。
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