CN211740566U - 一种像素检测系统 - Google Patents

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郭惠民
杨万山
胡永宝
傅姝炀
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Abstract

本公开实施例提供了一种像素检测系统,属于电控技术领域。所述像素检测系统包括:机架;治具,所述治具设置于所述机架上,所述治具用于盛放待检测像素;点亮装置,所述点亮装置包括点亮板,所述点亮板与所述待检测像素电连接;电参数检测装置,所述电参数检测装置与所述点亮板电连接;光强检测装置,所述光强检测装置包括光强传感器,所述光强传感器用于检测点亮后的所述待检测像素的光强数值;移动装置,所述移动装置以可活动方式设置于所述机架上;控制装置,所述控制装置与所述电参数检测装置和所述光强检测装置的数据输出端电连接。通过本公开的处理方案,实现了同时检测像素的电流电压信息和光强信息,提高了像素检测系统的检测效率。

Description

一种像素检测系统
技术领域
本公开涉及电控技术领域,尤其涉及一种像素检测系统。
背景技术
目前,随着社会的发展,娱乐生活的丰富,灯具成为人们生活中必不可少的物品,在许多场景都用到了发光二极管(Light Emitting Diode,简称LED)。在LED像素的制作过程中,由于工艺流程的问题,不可避免的会出现不合格产品的问题,如何高效地检测合格的LED像素,成为了关键的问题。现有的像素检测系统需要分开多次检测LED像素的相关信息,并且需要手动分拣,导致效率较低的问题。
实用新型内容
有鉴于此,本公开实施例提供一种像素检测系统,旨在改善现有的像素检测系统检测效率较低的问题。
第一方面,本公开实施例提供了一种像素检测系统,包括:
机架;
治具,所述治具设置于所述机架上,所述治具用于盛放待检测像素;
点亮装置,所述点亮装置设置于所述治具下方,所述点亮装置包括点亮板,所述点亮板与所述待检测像素电连接;
电参数检测装置,所述电参数检测装置与所述点亮板电连接,所述电参数检测装置包括电压变送器和电流变送器,所述电压变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电压数值,所述电流变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电流数值;
光强检测装置,所述光强检测装置设置于所述治具上方,所述光强检测装置包括光强传感器,所述光强传感器用于检测点亮后的所述待检测像素的光强数值;
移动装置,所述移动装置以可活动方式设置于所述机架上;
控制装置,所述控制装置与所述电参数检测装置和所述光强检测装置的数据输出端电连接,且所述控制装置与所述移动装置的控制端电连接,所述控制装置用于根据所述电参数检测装置和所述光强检测装置的输出数据确定所述待检测像素的检测结果是否合格,在检测结果不合格时控制所述移动装置将所述待检测像素移出。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述点亮装置还包括第一电机和探针;
所述探针设置于所述点亮板上,所述第一电机与所述点亮板连接,所述第一电机带动所述点亮板水平移动至所述治具对应的预设位置,以使得所述点亮板通过所述探针与所述待检测像素电连接。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述移动装置包括支撑架、传送带、第二电机、两个第一气缸和磁铁;
所述支撑架固定于所述机架上,所述第二电机设置于所述支撑架一端,两个所述第一气缸设置于所述支撑架外侧面,所述磁铁与所述治具位于同一水平位置,所述磁铁与两个所述第一气缸配合夹持所述治具,所述第二电机驱动所述传送带带动所述治具沿所述支撑架水平移动。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述支撑架顶部横向设置有向所述支撑架内弯折的挡板。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述光强检测装置还包括多个隔光罩;
所述隔光罩覆盖所述待检测像素;
所述隔光罩外表面与所述移动装置连接,所述光强传感器设置于所述隔光罩内表面。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述隔光罩为底部开口的圆柱体结构,所述隔光罩的直径大于所述待检测像素的直径。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述移动装置还包括夹爪、龙门架和导轨;
所述夹爪一端通过连接件与所述龙门架连接,所述夹爪另一端与所述隔光罩连接,所述导轨固定于所述机架,所述龙门架沿所述导轨滑动。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述支撑架侧面位置设置有接料盘;
所述夹爪带动所述隔光罩移动至所述接料盘上方。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述移动装置还包括有第二气缸,所述点亮装置还包括有第三气缸;
第二气缸设置于所述夹爪顶部,所述连接件活动设置于所述第二气缸内,以带动所述夹爪夹持所述隔光罩活动覆盖所述待检测像素,使得所述隔光罩内的光强传感器采集所述待检测像素对应的光强数值;以及,
第三气缸与所述点亮板底部连接,所述第三气缸驱动所述点亮板靠近或者远离所述待检测像素。
根据本公开实施例的一种具体实现方式,所述治具上开设有阵列排布的放置孔,所述放置孔内放置所述待检测像素;
所述移动装置移动所述光强检测装置至所述放置孔的待检测像素处。
本公开实施例中的像素检测系统,包括机架;治具,所述治具设置于所述机架上,所述治具用于盛放待检测像素;点亮装置,所述点亮装置设置于所述治具下方,所述点亮装置包括点亮板,所述点亮板与所述待检测像素电连接;电参数检测装置,所述电参数检测装置与所述点亮板电连接,所述电参数检测装置包括电压变送器和电流变送器,所述电压变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电压数值,所述电流变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电流数值;光强检测装置,所述光强检测装置设置于所述治具上方,所述光强检测装置包括光强传感器,所述光强传感器用于检测点亮后的所述待检测像素的光强数值;移动装置,所述移动装置以可活动方式设置于所述机架上;控制装置,所述控制装置与所述电参数检测装置和所述光强检测装置的数据输出端电连接,且所述控制装置与所述移动装置的控制端电连接,所述控制装置用于根据所述电参数检测装置和所述光强检测装置的输出数据确定所述待检测像素的检测结果是否合格,在检测结果不合格时控制所述移动装置将所述待检测像素移出。通过本公开的方案,同时对待检测像素的电压数值、电流数值和光强数值进行检测,同时将判定为不合格的待检测像素自动移出,提高了像素检测系统的检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本公开实施例提供的一种像素检测系统的结构示意图;
图2为本公开实施例提供的另一种像素检测系统的结构示意图;
图3为本公开实施例提供的另一种像素检测系统的结构示意图;
图4为本公开实施例提供的另一种像素检测系统的结构示意图;
图5为本公开实施例提供的另一种像素检测系统的结构示意图。
附图标记汇总:
像素检测系统100;
机架110;
治具120;
点亮装置130,第一电机131,探针132,点亮板133,第三气缸134;
接料盘140;
光强检测装置150,隔光罩151,光强传感器152;
移动装置160,支撑架161,传送带162,第二电机163,第一气缸164,夹爪165,龙门架166,导轨167,第二气缸168。
具体实施方式
下面结合附图对本公开实施例进行详细描述。
以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本公开的其他优点与功效。显然,所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例,而不是全部的实施例。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本公开保护的范围。
需要说明的是,下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见,本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中,且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本公开,所属领域的技术人员应了解,本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施,且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说,可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外,可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。
还需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本公开的基本构想,图式中仅显示与本公开中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。
另外,在以下描述中,提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而,所属领域的技术人员将理解,可在没有这些特定细节的情况下实践所述方面。
参见图1,本公开实施例提供的一种像素检测系统的结构示意图。如图1所示,所述像素检测系统100主要包括:
机架110;
治具120,所述治具120设置于所述机架110上,所述治具120用于盛放待检测像素;
点亮装置130,所述点亮装置130设置于所述治具120下方,所述点亮装置130包括点亮板133,所述点亮板133与所述待检测像素电连接;
电参数检测装置(图中未示出),所述电参数检测装置与所述点亮板133电连接,所述电参数检测装置包括电压变送器和电流变送器,所述电压变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电压数值,所述电流变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电流数值;
光强检测装置150,所述光强检测装置150设置于所述治具120上方,所述光强检测装置150包括光强传感器152,所述光强传感器152用于检测点亮后的所述待检测像素的光强数值;
移动装置160,所述移动装置160以可活动方式设置于所述机架110上;
控制装置(图中未示出),所述控制装置与所述电参数检测装置和所述光强检测装置150的数据输出端电连接,且所述控制装置与所述移动装置160的控制端电连接,所述控制装置用于根据所述电参数检测装置和所述光强检测装置150的输出数据确定所述待检测像素的检测结果是否合格,在检测结果不合格时控制所述移动装置160将所述待检测像素移出。
考虑到在LED像素的制作过程中,由于工艺流程的问题,不可避免的会出现不合格产品的问题,故需要对制作完成后的LED像素进行电流参数、电压参数、光强度检测,并分拣其合格品与不合格品,本公开实施例提供一种像素检测系统100,可以应用于流水线生产LED像素的场景中,对像素的电流参数、电压参数和光强度进行同步检测。
具体装配时,将所述治具120设置在所述机架110上,所述移动装置160以可活动方式设置于所述机架110上,所述点亮装置130设置在所述治具120的下方,所述光强检测装置150设置在所述治具120的上方,所述点亮装置130的点亮板133与所述待检测像素电连接,然后将电参数检测装置与所述点亮板133连接,所述电参数装置和所述光强检测装置150的数据输出端与所述控制装置电连接。
在使用时,所述移动装置160将盛放所述待检测像素的所述治具120移动至所述机架110上,然后所述移动装置160驱动所述光强检测装置150向所述治具120移动,以使得所述光强检测装置150覆盖所述待检测像素,所述点亮装置130向所述治具120所在的预设位置水平移动,以使得所述点亮装置130的点亮板133与所述待检测像素电连接,以使得所述电压变送器检测点亮后的所述待检测像素的电压数值,所述电流变送器检测点亮后的所述待检测像素的电流数值,所述光强检测装置150的光强传感器152检测所述待检测像素的光强数值。
所述电压变送器的数据输出端、所述电流变送器的数据输出端和光强传感器152的数据输出端与所述控制装置电连接,在所述电压变送器和所述电流变送器检测所述待检测像素的电压数值和电流数值,以及,所述光强传感器152检测所述待检测像素的光强数值后,通过所述数据输出端将所述待检测像素的电压数值、电流数值和光强数值传输至所述控制装置,由所述控制装置根据所述电参数检测装置和所述光强检测装置150的输出数据确定所述待检测像素的检测结果是否合格,在检测结果不合格时控制所述移动装置160将所述待检测像素移出,可以将移出的待检测像素进行废料回收。
本公开实施例中,点亮装置在将所述待检测像素点亮后,所述电参数检测装置开始检测所述待检测像素的电流参数和电压参数,光强检测装置也同时检测所述待检测像素的光强度,将检测得到的电流参数、电压参数和光强度数据传输至所述控制装置,由所述控制装置判定实时采集到的数值是否合格,数值在程序设定的上下区间内判定产品为合格,数值在程序设定的上下区间外判定产品为不合格,综合判定结果,所述控制装置判定不合格的待检测像素由所述移动装置移出,实现了像素检测时的自动化,提高了检测效率和检测精度。
在上述实施例的基础上,如图2所示,所述点亮装置130还包括第一电机131和探针132;
所述探针132设置于所述点亮板133上,所述第一电机131与所述点亮板133连接,所述第一电机131带动所述点亮板133水平移动至所述治具120对应的预设位置,以使得所述点亮板133通过所述探针132与所述待检测像素电连接。
在使用时,可以在所述点亮板133上设置多个探针132,所述第一电机131与所述点亮板133连接,所述第一电机131工作时,驱动所述点亮板133水平移动至所述治具120对应的预设位置,以使得每两个所述探针132的头部与一个所述待检测像素电连接并点亮所述待检测像素。所述探针132的尾部与所述电参数检测装置连接,以使得所述电参数检测装置的电压变送器检测点亮后的所述待检测像素的电压数值,以及所述电参数检测装置的电流变送器检测点亮后的所述待检测像素的电流数值,同时,所述点亮装置130还可以在多个所述探针132之间设置有模组、绝缘板、固定板、气缸连接板、联动板和点亮板安装座等部件,保证通电时不会发生短路、接触不良或者误触情况,还可以设置有左气缸和右气缸,气缸与所述探针132连接,所述探针132可以包括左探针和右探针启动时,左气缸驱动所述左探针向右运动,右气缸驱动所述右探针向左运动,使得一个所述左探针的头部与一个所述右探针的头部配合夹持所述待检测像素底部的针脚,使得所述点亮板133与所述待检测像素的底部电连接。
在上述实施例的基础上,如图3所示,所述移动装置160包括支撑架161、传送带162、第二电机163、两个第一气缸164和磁铁(图中未示出);
所述支撑架161固定于所述机架110上,所述第二电机163设置于所述支撑架161一端,两个所述第一气缸164设置于所述支撑架161外侧面,所述磁铁与所述治具120位于同一水平位置,所述磁铁与两个所述第一气缸164配合夹持所述治具120,所述第二电机163驱动所述传送带162带动所述治具120沿所述支撑架161水平移动。
可选的,所述支撑架顶部横向设置有向所述支撑架内弯折的挡板。
具体装配时,将所述支撑架161固定在所述机架110上,所述第二电机163设置于所述支撑架161的一端,两个所述第一气缸164设置于所述支撑架161的外侧面,所述磁铁与所述治具120位于同一水平位置,同时在所述支撑架161顶部横向设置有向所述支撑架内弯折的挡板。
具体实施时,考虑到生产在进行检测时,手动去更换或者固定所述治具120,会提高人力成本,降低检测效率,可以通过所述第二电机163驱动所述传送带162,带动所述治具120沿所述支撑架161水平移动,在所述治具120移动至预设位置时,通过两个所述第一气缸164夹持住所述治具120,以及,利用所述磁铁吸附住所述治具120,同时,所述支撑架161顶部横向设置的所述挡板防止所述治具120从所述支撑架161上脱落,以使得所述治具120的位置固定。当然,也可以选用机械臂等装置固定所述治具120,同时,所述移动装置160还可以设置有传送带支撑板、传送带轮、传送带轮固定销钉、左右支撑型材、联动轴接近开关传感器、接近开关安装座、磁铁安装座、阻挡气缸和位置传感器等部件,以配合移动或者固定所述治具120,位置传感器所述治具120移动至预设位置时,所述磁铁配合所述第一气缸164固定所述治具120,同时能防止在移动所述治具120的过程中出现所述治具120滑落或者移动不平稳的现象。
在上述实施例的基础上,如图4所示,所述光强检测装置150还包括多个隔光罩151;
所述隔光罩151覆盖所述待检测像素;
所述隔光罩151外表面与所述移动装置160连接,所述光强传感器152设置于所述隔光罩151内表面。
可选的,所述隔光罩151为底部开口的圆柱体结构,所述隔光罩151的直径大于所述待检测像素的直径。
在使用时,考虑到在对所述待检测像素进行光强检测时,外界光源会对检测结果产生影响,可以设置多个隔光罩151,所述隔光罩151覆盖所述待检测像素,所述光强传感器152设置在所述隔光罩151内表面,在检测时能将外界的干扰因素降低,同时,所述隔光罩151为底部开口的圆柱体结构,所述隔光罩151直径大于所述待检测像素的直径。当然,可以根据待检测像素的不同形状和大小选用不同规格的隔光罩151。所述隔光罩151的外表面与所述移动装置160连接,以使得所述移动装置160能移动所述隔光罩151至不同的所述待检测像素对应的位置。
在上述实施例的基础上,如图5所示,所述移动装置160还包括夹爪165、龙门架166和导轨167;
所述夹爪165一端通过连接件与所述龙门架166连接,所述夹爪165另一端与所述隔光罩151连接,所述导轨167固定于所述机架110,所述龙门架166沿所述导轨167滑动。
进一步的,所述治具120上开设有阵列排布的放置孔,所述放置孔内放置所述待检测像素;
所述移动装置160移动所述光强检测装置150至所述放置孔的待检测像素处。
进一步的,所述支撑架161侧面位置设置有接料盘140;
所述夹爪165带动所述隔光罩151移动至所述接料盘140上方。
具体实施时,考虑到在对所述待检测像素进行光强检测时,在检测完预设位置上的所述待检测像素后,还需要将所述光强检测装置150移动至其他位置进行检测,可以所述夹爪165的一端与所述隔光罩151的外表面连接,所述夹爪165的另一端与所述龙门架166连接,所述龙门架166沿所述导轨167滑动,带动所述夹爪165移动至所述治具120的放置孔的上方,所述治具120上设置的放置孔数量和大小可以根据检测量和检测像素的规格改变。同时,在所述支撑架161侧面位置设置所述接料盘140,当所述控制装置确定所述待检测像素为不合格时,所述夹爪165夹持所述待检测像素移动至所述接料盘140上方,松开夹爪165,以使得所述待检测像素掉落至所述接料盘140内。当然,所述移动装置160还可以设置有硅胶爪、夹爪安装板、位置感应片、导轨支柱安装脚、导轨支柱、导轨安装板、龙门架连接板、夹爪组件导轨、龙门架模组连接板、模组安装板、模组支柱安装脚和连接件固定座等部件,使得所述夹爪165在带动所述隔光罩151活动覆盖所述待检测像素时保持稳定,以及,使得所述夹爪165在夹持动作时不会损坏所述隔光罩151或待检测像素。
在上述实施例的基础上,所述移动装置160还包括有第二气缸168,所述点亮装置130还包括有第三气缸134;
第二气缸168设置于所述夹爪165顶部,所述连接件活动设置于所述第二气缸168内,以带动所述夹爪165夹持所述隔光罩151活动覆盖所述待检测像素,以使得所述隔光罩151内的光强传感器152采集所述待检测像素对应的光强数值;以及,
第三气缸134与所述点亮板133底部连接,所述第三气缸134驱动所述点亮板133靠近或者远离所述待检测像素。
在使用时,所述第二气缸168驱动所述夹爪165向所述待检测像素移动,以使得与所述夹爪165连接的所述隔光罩151覆盖所述待检测像素,同时,所述第三气缸134驱动所述点亮板133向所述待检测像素移动,以使得所述点亮板133与所述待检测像素电连接并点亮所述待检测像素。在检测完成后,所述第二气缸168驱动所述夹爪165远离所述待检测像素,所述第三气缸134驱动所述点亮板133远离所述待检测像素。
上述本公开实施例的像素检测系统,适用于自动化流水线作业,能将所述治具随推送机构出入设备,又能对像素同时进行电流参数、电压参数与光强度检测,并且能将判定不合格的待检测像素由所述夹爪自动分拣出,做到前后两道工序之间无缝对接,由控制装置将电流参数检测、电压参数检测、点亮光强度检测、自动分拣四种功能合一,达到智能自动的程度,同时工作效率远超人工,成本降低,且因无需人工参与,减少人工因素造成的误差,提高产品质量的稳定性。
综上所述,上述本公开实施例的像素检测系统,通过设置机架、治具、点亮装置、电参数检测装置、光强检测装置、移动装置和控制装置,实现了同时检测像素的电流电压信息和光强信息,综合判断像素是否合格,并自动将不合格像素挑拣出,提高了像素检测系统的检测效率。
以上所述,仅为本公开的具体实施方式,但本公开的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此,本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种像素检测系统,其特征在于,包括:
机架;
治具,所述治具设置于所述机架上,所述治具用于盛放待检测像素;
点亮装置,所述点亮装置设置于所述治具下方,所述点亮装置包括点亮板,所述点亮板与所述待检测像素电连接;
电参数检测装置,所述电参数检测装置与所述点亮板电连接,所述电参数检测装置包括电压变送器和电流变送器,所述电压变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电压数值,所述电流变送器用于检测点亮后的所述待检测像素的电流数值;
光强检测装置,所述光强检测装置设置于所述治具上方,所述光强检测装置包括光强传感器,所述光强传感器用于检测点亮后的所述待检测像素的光强数值;
移动装置,所述移动装置以可活动方式设置于所述机架上;
控制装置,所述控制装置与所述电参数检测装置和所述光强检测装置的数据输出端电连接,且所述控制装置与所述移动装置的控制端电连接,所述控制装置用于根据所述电参数检测装置和所述光强检测装置的输出数据确定所述待检测像素的检测结果是否合格,在检测结果不合格时控制所述移动装置将所述待检测像素移出。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述点亮装置还包括第一电机和探针;
所述探针设置于所述点亮板上,所述第一电机与所述点亮板连接,所述第一电机带动所述点亮板水平移动至所述治具对应的预设位置,以使得所述点亮板通过所述探针与所述待检测像素电连接。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述移动装置包括支撑架、传送带、第二电机、两个第一气缸和磁铁;
所述支撑架固定于所述机架上,所述第二电机设置于所述支撑架一端,两个所述第一气缸设置于所述支撑架外侧面,所述磁铁与所述治具位于同一水平位置,所述磁铁与两个所述第一气缸配合夹持所述治具,所述第二电机驱动所述传送带带动所述治具沿所述支撑架水平移动。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述支撑架顶部横向设置有向所述支撑架内弯折的挡板。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述光强检测装置还包括多个隔光罩;
所述隔光罩覆盖所述待检测像素;
所述隔光罩外表面与所述移动装置连接,所述光强传感器设置于所述隔光罩内表面。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述隔光罩为底部开口的圆柱体结构,所述隔光罩的直径大于所述待检测像素的直径。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述移动装置还包括夹爪、龙门架和导轨;
所述夹爪一端通过连接件与所述龙门架连接,所述夹爪另一端与所述隔光罩连接,所述导轨固定于所述机架,所述龙门架沿所述导轨滑动。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述支撑架侧面位置设置有接料盘;
所述夹爪带动所述隔光罩移动至所述接料盘上方。
9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述移动装置还包括有第二气缸,所述点亮装置还包括有第三气缸;
第二气缸设置于所述夹爪顶部,所述连接件活动设置于所述第二气缸内,以带动所述夹爪夹持所述隔光罩活动覆盖所述待检测像素,使得所述隔光罩内的光强传感器采集所述待检测像素对应的光强数值;以及,
第三气缸与所述点亮板底部连接,所述第三气缸驱动所述点亮板靠近或者远离所述待检测像素。
10.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述治具上开设有阵列排布的放置孔,所述放置孔内放置所述待检测像素;
所述移动装置移动所述光强检测装置至所述放置孔的待检测像素处。
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