CN211740080U - 一种轴零件的键槽深度测量工具 - Google Patents

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宁湧
李文琴
甘艳兰
李婕
张伶
万勇
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Abstract

本实用新型涉及一种轴类键槽深度测量工具,包括测量长度的千分表和测量支座;所述测量支座开有V型截面的通槽,所述通槽能够定位轴类零件,所述测量支座开有测量通孔,所述测量通孔贯穿所述通槽的槽底,且所述测量通孔的中心轴线为所述V型截面的对称中心线;所述测量长度的千分表与所述测量支座固定连接,且千分表的测量头设置在所述测量通孔中并能够沿着测量通孔伸缩位移。本实用新型通过轴类键槽深度测量工具测量的键槽尺寸精确可以达到千分位,可以满足图纸设计要求,是其他常规测量方法无法达到的,而且方便快捷。

Description

一种轴零件的键槽深度测量工具
技术领域
本实用新型涉及测量工具技术领域,具体涉及一种轴零件的键槽深度测量工具。
背景技术
在对不同直径轴类零件键槽深度测量时,一般使用不同规格深度卡尺进行测量,但由于轴类零件键槽的最高点不是理论的的零件最高点,测量结果存在误差,而且测量效率低下,随着检测精度和要求的提高,原来的检测方法无法满足使用要求,需要一种专用的键槽深度测量工具进行测量。
实用新型内容
实用新型目的:提供一种结构简单、使用方便的键槽深度测量工具。
技术方案:提供了一种轴类键槽深度测量工具,包括测量长度的千分表(1)和测量支座(2);所述测量支座(2)开有V型截面的通槽,所述通槽能够定位轴类零件,所述测量支座开有测量通孔,所述测量通孔贯穿所述通槽的槽底,且所述测量通孔的中心轴线为所述V型截面的对称中心线;所述测量长度的千分表与所述测量支座固定连接,且千分表的测量头设置在所述测量通孔中并能够沿着测量通孔伸缩位移。
进一步的,还包括锁紧销,所述测量支座还开有锁孔,所述锁孔与所述测量通孔连通,且所述锁紧销设置在锁孔中,并且所述锁紧销能够将所述测量头压紧或锁紧在测量通孔中。
进一步的,V型截面的角度范围为90°~120°。
进一步的,所述千分表为数显千分表。
本实用新型的使用方法,包括以下几个步骤:
步骤一:将被测零件放置在V型测量支座的下方,如图1-4所示,
步骤二:将通用数显百分表设置为零
步骤三:将被测零件的键槽放置在测量支座的下方,根据通用数显百分表的读数,就可以得出测零件的键槽的深度。
技术效果:通过轴类键槽深度测量工具测量的键槽尺寸精确可以达到千分位,可以满足图纸设计要求,是其他常规测量方法无法达到的,而且方便快捷。
附图说明
图1为测量工具测量的示意图;
图2为测量工具侧面剖视的示意图;
图3为测量支座示意图;
图4为测量支座侧面剖视示意图;
其中:1-千分表、2-测量支座、3-锁紧销、4-V型截面、5-测量通孔、6-锁孔、7-测量通孔中心轴线(V型截面对称中心线)。
具体实施方式
结合附图给出如下具体实施例
提供了一种轴类键槽深度测量工具,包括测量长度的数显千分表(1)和测量支座(2);所述测量支座(2)开有V型截面的通槽,所述通槽能够定位轴类零件,所述测量支座开有测量通孔,所述测量通孔贯穿所述通槽的槽底,且所述测量通孔的中心轴线为所述V型截面的对称中心线;所述测量长度的数显千分表与所述测量支座固定连接,且数显千分表的测量头设置在所述测量通孔中并能够沿着测量通孔伸缩位移。
还包括锁紧销,所述测量支座还开有锁孔,所述锁孔与所述测量通孔连通,且所述锁紧销设置在锁孔中,并且所述锁紧销能够将所述测量头压紧或锁紧在测量通孔中。
V型截面的角度范围为90°。

Claims (6)

1.一种轴类键槽深度测量工具,其特征在于,包括测量长度的千分表(1)和测量支座(2);所述测量支座(2)开有V型截面的通槽,所述通槽能够定位轴类零件,所述测量支座开有测量通孔,所述测量通孔贯穿所述通槽的槽底,且所述测量通孔的中心轴线为所述V型截面的对称中心线;所述测量长度的千分表与所述测量支座固定连接,且千分表的测量头设置在所述测量通孔中并能够沿着测量通孔伸缩位移。
2.根据权利要求1所述的一种轴类键槽深度测量工具,其特征在于:还包括锁紧销,所述测量支座还开有锁孔,所述锁孔与所述测量通孔连通,且所述锁紧销设置在锁孔中,并且所述锁紧销能够将所述测量头压紧或锁紧在测量通孔中。
3.根据权利要求1所述的一种轴类键槽深度测量工具,其特征在于:V型截面的角度范围为90°~120°。
4.根据权利要求1所述的一种轴类键槽深度测量工具,其特征在于:所述千分表为数显千分表。
5.根据权利要求1所述的一种轴类键槽深度测量工具,其特征在于:所述V型截面的角度范围为100°。
6.根据权利要求1所述的一种轴类键槽深度测量工具,其特征在于:所述V型截面的角度范围为110°。
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