CN211696446U - 一种ic芯片测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构，所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板，所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率，该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及IC芯片技术领域，具体为一种IC芯片测试治具。
背景技术
治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类,例如专利号为：201721674417.1，一种IC芯片测试治具，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。
虽然该IC芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC 芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率的问题，且存在该IC 芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种IC芯片测试治具，以解决上述背景技术中提出的虽然该IC芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但存在该IC 芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构；
所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板；
所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。
优选的，所述竖板位于底座的顶部中点处。使得竖板对放置机构进行固定，避免放置机构无法保持平衡。
优选的，所述底座的顶部设有第一调节机构；
所述第一调节机构包括圆杆、横块、第一弹簧、竖杆和滚轮；
两个所述圆杆固接于底座的顶部，两个所述圆杆的外壁均转动相连有横块，两个所述圆杆的外壁间隙配合有第一弹簧，所述第一弹簧的底部卡接于底座的顶部，所述第一弹簧的顶部卡接于横块的底部，两个所述横块的内侧固接有竖杆，所述竖杆的顶部通过销轴转动相连有滚轮。使得芯片可进行固定，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC 芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率。
优选的，两个所述圆杆关于竖板轴对称分布。使得圆杆可带动竖杆在竖板的中点处进行移动。
优选的，所述竖板的前端面设有第二调节机构；
所述第二调节机构包括V型块和圆板；
所述V型块通过销轴转动相连于竖板的前端面，所述V型块的底部与滚轮的顶部相贴合，所述V型块的顶部固接有圆板。使得V型块可在滚轮的顶部进行左右转动。
优选的，所述圆板的顶部设有放置机构；
所述放置机构包括横板、内腔和通槽；
所述横板通过轴承与圆板转动相连，所述横板的内部加工有内腔，所述内腔的内壁顶部加工有通槽。使得横板可带动芯片进行横向转动。
优选的，所述内腔的内壁设有固定机构；
所述固定机构包括滑杆、第二弹簧、第一滑套、横杆、手柄、第二滑套、竖块和橡胶垫；
所述滑杆的左右两侧固接于内腔的内壁左右两侧，所述滑杆的外壁左右两侧均滑动相连有第一滑套，两个所述第一滑套的外壁与通槽的内壁间隙配合，所述滑杆的外壁左右两侧均间隙配合有第二弹簧，所述第二弹簧的外侧卡接于内腔的内壁外侧，所述第二弹簧的内侧卡接于第一滑套的外侧，两个所述第一滑套的顶部均固接有横杆，两个所述横杆的外壁间隙配合有第二滑套，两个所述第二滑套固接于横板的顶部左右两侧，两个所述横杆的外侧固接有手柄，两个所述横杆的内侧均固接有竖块，两个所述竖块的内侧固接有橡胶垫，两个所述橡胶垫的内侧与芯片的外壁相接触并抵紧。使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。
优选的，所述手柄的表面加工有纹路。纹路用于增加手柄与手之间的摩擦力。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型结构科学合理，使用安全方便。
该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。
该IC芯片测试治具通过横杆、橡胶垫和手柄之间的配合，使得芯片可进行固定，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率。
该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。
附图说明
图1为本实用新型连接关系示意图；
图2为图1中吸盘、底座和竖板的连接关系示意图；
图3为图1中V型块、竖板和圆板的连接关系示意图；
图4为图1中滑杆、第二弹簧和手柄的连接关系示意图。
图中：1、芯片，2、吸附机构，201、底座，202、吸盘，203、竖板，3、第一调节机构，301、圆杆，302、横块，303、第一弹簧，304、竖杆，305、滚轮，4、第二调节机构，401、V型块，402、圆板，5、放置机构，501、横板，502、内腔，503、通槽，6、固定机构，601、滑杆，602、第二弹簧，603、第一滑套，604、横杆，605、手柄，606、第二滑套，607、竖块，608、橡胶垫。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种IC芯片测试治具，包括芯片1，芯片1的底部设有吸附机构2，吸附机构2包括底座201、吸盘 202和竖板203，底座201设于芯片1的底部，底座201的底部四角均安装有吸盘202，吸盘202用于外界平面相贴合，使得底座201固定在外界平面上，底座201的顶部固接有竖板203，竖板203位于底座201的顶部中点处，使得竖板203对放置机构5进行固定，避免放置机构5无法保持平衡。
底座201的顶部设有第一调节机构3，第一调节机构3包括圆杆301、横块302、第一弹簧303、竖杆304和滚轮305，两个圆杆301固接于底座201 的顶部，两个圆杆301的外壁均转动相连有横块302，使得横块302可在圆杆 301的外壁进行升降运动，两个圆杆301的外壁间隙配合有第一弹簧303，第一弹簧303的弹性系数为4500-5500N\M，第一弹簧303的底部卡接于底座201 的顶部，第一弹簧303的顶部卡接于横块302的底部，第一弹簧303给予横块302向上的力，两个横块302的内侧固接有竖杆304，使得竖杆304可进行升降运动，竖杆304的顶部通过销轴转动相连有滚轮305，两个圆杆301关于竖板203轴对称分布，使得圆杆301可带动竖杆304在竖板203的中点处进行移动。
竖板203的前端面设有第二调节机构4，第二调节机构4包括V型块401 和圆板402，V型块401通过销轴转动相连于竖板203的前端面，V型块401 的底部与滚轮305的顶部相贴合，使得V型块401受力时，可在通过滚轮305 的转动和向下移动，进行角度调节，V型块401的顶部固接有圆板402。
圆板402的顶部设有放置机构5，放置机构5包括横板501、内腔502和通槽503，横板501通过轴承与圆板402转动相连，使得横板501可在圆板 402的顶部进行转动，横板501的内部加工有内腔502，内腔502的内壁顶部加工有通槽503。
内腔502的内壁设有固定机构6，固定机构6包括滑杆601、第二弹簧602、第一滑套603、横杆604、手柄605、第二滑套606、竖块607和橡胶垫608，滑杆601的左右两侧固接于内腔502的内壁左右两侧，滑杆601的外壁左右两侧均滑动相连有第一滑套603，使得第一滑套603可在滑杆601的外壁进行左右移动，两个第一滑套603的外壁与通槽503的内壁间隙配合，使得第一滑套603可在通槽503的内壁进行左右移动，滑杆601的外壁左右两侧均间隙配合有第二弹簧602，第二弹簧602的弹性形变为4500-5500N\M，第二弹簧602的外侧卡接于内腔502的内壁外侧，第二弹簧602的内侧卡接于第一滑套603的外侧，第二弹簧602给予第一滑套603向内的力，两个第一滑套 603的顶部均固接有横杆604，两个横杆604的外壁间隙配合有第二滑套606，使得横杆604可在第二滑套606的内壁进行左右移动，两个第二滑套606固接于横板501的顶部左右两侧，两个横杆604的外侧固接有手柄605，手柄 605用于横杆604进行左右移动，两个横杆604的内侧均固接有竖块607，两个竖块607的内侧固接有橡胶垫608，两个橡胶垫608的内侧与芯片1的外壁相接触并抵紧，手柄605的表面加工有纹路，纹路用于增加手柄605与手之间的摩擦力。
当使用该IC芯片测试治具时，使用者将吸盘202吸附在外界平面上，使得该IC芯片测试治具进行固定，固定后，使用者将芯片1放置在横板501的顶部，在放置时，使用者拽动两侧的手柄605，使得手柄605带动横杆604在第二滑套606的内壁进行滑动，横杆604在滑动过程中，带动第一滑套603 移动，移动后，使用者将芯片1完全放置在横板501的顶部时，使用者取消对手柄605的力，使得橡胶垫608将芯片1完全固定在横板501的顶部，完全固定后，使用者可对芯片1进行检测，检测过程中，使用者可按动横板501 的一侧，使得横板604通过V型块401与滚轮305接触，并将滚轮305向下移动，使得横板604进行一定角度的调节，进而使得使用者可对芯片1进行不同角度的检测，在横板604左右转动调节时，使用者可转动横板604，使得横板604可带动芯片1进行横向转动，方便使用者对芯片1进行检测。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种IC芯片测试治具，包括芯片(1)，其特征在于：所述芯片(1)的底部设有吸附机构(2)；
所述吸附机构(2)包括底座(201)、吸盘(202)和竖板(203)；
所述底座(201)设于芯片(1)的底部，所述底座(201)的底部四角均安装有吸盘(202)，所述底座(201)的顶部固接有竖板(203)。
2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述竖板(203)位于底座(201)的顶部中点处。
3.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述底座(201)的顶部设有第一调节机构(3)；
所述第一调节机构(3)包括圆杆(301)、横块(302)、第一弹簧(303)、竖杆(304)和滚轮(305)；
两个所述圆杆(301)固接于底座(201)的顶部，两个所述圆杆(301)的外壁均转动相连有横块(302)，两个所述圆杆(301)的外壁间隙配合有第一弹簧(303)，所述第一弹簧(303)的底部卡接于底座(201)的顶部，所述第一弹簧(303)的顶部卡接于横块(302)的底部，两个所述横块(302)的内侧固接有竖杆(304)，所述竖杆(304)的顶部通过销轴转动相连有滚轮(305)。
4.根据权利要求3所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：两个所述圆杆(301)关于竖板(203)轴对称分布。
5.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述竖板(203)的前端面设有第二调节机构(4)；
所述第二调节机构(4)包括V型块(401)和圆板(402)；
所述V型块(401)通过销轴转动相连于竖板(203)的前端面，所述V型块(401)的底部与滚轮(305)的顶部相贴合，所述V型块(401)的顶部固接有圆板(402)。
6.根据权利要求5所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述圆板(402)的顶部设有放置机构(5)；
所述放置机构(5)包括横板(501)、内腔(502)和通槽(503)；
所述横板(501)通过轴承与圆板(402)转动相连，所述横板(501)的内部加工有内腔(502)，所述内腔(502)的内壁顶部加工有通槽(503)。
7.根据权利要求6所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述内腔(502)的内壁设有固定机构(6)；
所述固定机构(6)包括滑杆(601)、第二弹簧(602)、第一滑套(603)、横杆(604)、手柄(605)、第二滑套(606)、竖块(607)和橡胶垫(608)；
所述滑杆(601)的左右两侧固接于内腔(502)的内壁左右两侧，所述滑杆(601)的外壁左右两侧均滑动相连有第一滑套(603)，两个所述第一滑套(603)的外壁与通槽(503)的内壁间隙配合，所述滑杆(601)的外壁左右两侧均间隙配合有第二弹簧(602)，所述第二弹簧(602)的外侧卡接于内腔(502)的内壁外侧，所述第二弹簧(602)的内侧卡接于第一滑套(603)的外侧，两个所述第一滑套(603)的顶部均固接有横杆(604)，两个所述横杆(604)的外壁间隙配合有第二滑套(606)，两个所述第二滑套(606)固接于横板(501)的顶部左右两侧，两个所述横杆(604)的外侧固接有手柄(605)，两个所述横杆(604)的内侧均固接有竖块(607)，两个所述竖块(607)的内侧固接有橡胶垫(608)，两个所述橡胶垫(608)的内侧与芯片(1)的外壁相接触并抵紧。
8.根据权利要求7所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述手柄(605)的表面加工有纹路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201922385042.2U CN211696446U (zh) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | 一种ic芯片测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201922385042.2U CN211696446U (zh) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | 一种ic芯片测试治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN211696446U true CN211696446U (zh) | 2020-10-16 |
Family
ID=72795007
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| CN201922385042.2U Active CN211696446U (zh) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | 一种ic芯片测试治具 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN211696446U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114945256A (zh) * | 2022-06-07 | 2022-08-26 | 安徽建筑大学 | 一种用于fpga芯片调试的信号采样缓存装置 |
-
2019
- 2019-12-26 CN CN201922385042.2U patent/CN211696446U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114945256A (zh) * | 2022-06-07 | 2022-08-26 | 安徽建筑大学 | 一种用于fpga芯片调试的信号采样缓存装置 |
| CN114945256B (zh) * | 2022-06-07 | 2023-09-26 | 安徽建筑大学 | 一种用于fpga芯片调试中的芯片夹具固定装置 |
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