CN211580131U - 一种交换机sfp+接口的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种交换机SFP+接口的测试装置,包括:第一EEPROM、第二EEPROM、第一电阻、第一电容以及测试点;第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接;第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接,另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接;第一和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接;测试点分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。利用本实用新型提供的交换机SFP+接口的测试装置可以实现对交换机SFP+接口的测试,测试效率高且测试成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及交换机测试领域,特别涉及一种交换机SFP+接口的测试装置。
背景技术
交换机出货前需要对其所有功能进行测试,很多交换机都会带有SFP+(SmallForm-factor Pluggable,SFP+)接口。针对SFP+接口,如果使用光模块作为陪测设备,这样测试环境搭建非常繁琐,测试工作强度大,且测试效率也很低,而且陪测设备的成本很高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中交换机SFP+接口使用光模块作为陪测设备存在测试强度大、测试效率低、成本高等的缺陷,提供一种交换机SFP+接口的测试装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:
一种交换机SFP+接口的测试装置,包括:第一EEPROM、第二EEPROM、第一电阻、第一电容以及测试点;
所述第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接,另一端接地;
所述第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接,另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接;
所述第一EEPROM和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接,所述第一EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_TX引脚连接,所述第二EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_RX引脚连接;
所述测试点分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。
较佳地,所述第一电阻的阻值为0欧姆。
较佳地,所述第一电容的容值为0.1微法。
在符合本领域常识的基础上,上述各优选条件,可任意组合,即得本实用新型各较佳实例。
本实用新型的积极进步效果在于:
在本实用新型提供的交换机SFP+接口的测试装置中:
第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接,另一端接地。通过读Present引脚的状态可以检测Present信号是否正确;
第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接,另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接。在测试装置中将SerDes_TD引脚和SerDes_RD引脚通过第一电容连接,实现了自环发送接收数据,通过发送和接收到的数据是否一致可以判断SerDes数据通道功能是否正常。
第一EEPROM和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接,所述第一EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_TX引脚连接,所述第二EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_RX引脚连接。交换机SFP+接口通过I2C总线分别对第一EEPROM和第二EEPROM进行读写操作,并通过读写操作是否正确可以判断供电与I2C功能是否正常。
测试点分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。通过交换机SFP+接口控制TX_Disable引脚的输出信号并且读取TX_Fault引脚和RX_Los引脚的输入信号可以判断这3个信号链路是否正确。
利用本实用新型提供的交换机SFP+接口的测试装置可以实现对交换机SFP+接口的测试,与现有技术中使用光模块作为陪测设备相比,测试效率得到了提高,同时也降低了测试成本。
附图说明
图1为交换机SFP+接口与本实用新型实施例提供的测试装置连接的结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本实用新型,但并不因此将本实用新型限制在所述的实施例范围之中。
本实用新型中,交换机SFP+接口所需测试覆盖的信号描述如表1所示:
表1
引脚名称 | 输入I/输出O(针对交换机) | 引脚说明 |
TX_Disable | O | 关断发射 |
TX_Fault | I | 发射报错 |
RX_Los | I | Los告警 |
SerDes_TD+ | O | 数据发送+ |
SerDes_TD- | O | 数据发送- |
SerDes_RD+ | I | 数据接收+ |
SerDes_RD- | I | 数据接收- |
Present | I | 模块在位信号 |
I2C_clk | O | I2C时钟 |
I2C_data | I/O | I2C数据 |
VCC_TX | O | TX供电 |
VCC_RX | O | RX供电 |
针对上述交换机SFP+接口,本实施例提供一种测试装置,如图1所示,包括:第一EEPROM、第二EEPROM、第一电阻R1、第一电容C1以及测试点P1。
第一电阻R1的一端与SFP+接口的Present引脚连接,另一端接地。Present引脚在交换机侧为输入引脚,将其与测试装置中的一颗下拉电阻R1连接,可以通过读Present引脚的状态来检测Present信号是否正确。具体地,若Present引脚为低电平,则Present信号正确;若Present引脚为高电平,则Present信号存在异常。
在可选的一种实施方式中,第一电阻R1的阻值为0欧姆。
第一电容C1的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接,另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接。在测试装置中将SerDes_TD引脚和SerDes_RD引脚通过第一电容C1连接,实现自环发送接收数据,通过发送和接收到的数据是否一致来判断SerDes数据通道功能是否正常。具体地,若发送和接收到的数据一致,则SerDes数据通道功能正常;若发送和接收到的数据不一致,则SerDes数据通道功能异常。
在可选的一种实施方式中,第一电容C1的容值为0.1微法。
第一EEPROM和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接,第一EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_TX引脚连接,第二EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_RX引脚连接。
本实施方式中,分别使用交换机SFP+接口输出的Vcc_TX和Vcc_RX给两个独立的EEPROM进行供电,具体地,使用交换机SFP+接口输出的Vcc_TX给第一EEPROM供电,使用交换机SFP+接口输出的Vcc_RX给第二EEPROM供电。交换机SFP+接口通过I2C总线分别对第一EEPROM和第二EEPROM进行读写操作,并通过读写操作是否正确来判断供电与I2C功能是否正常。
测试点P1分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。
TX_Disable引脚在交换机侧为输出信号,TX_Fault引脚和RX_Los引脚在交换机侧为输入信号,在测试装置中通过测试点P1将这3个信号连接在一起。测试时可以通过交换机SFP+接口控制TX_Disable引脚的输出信号并且读取TX_Fault引脚和RX_Los引脚的输入信号来判断这3个信号链路是否正确。具体地,如果TX_Fault引脚和RX_Los引脚输入信号的电平均与TX_Disable引脚输出的电平保持一致,说明这3个信号链路正确。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
Claims (3)
1.一种交换机SFP+接口的测试装置,其特征在于,包括:第一EEPROM、第二EEPROM、第一电阻、第一电容以及测试点;
所述第一电阻的一端与SFP+接口的Present引脚连接,另一端接地;
所述第一电容的一端与SFP+接口的SerDes_TD引脚连接,另一端与SFP+接口的SerDes_RD引脚连接;
所述第一EEPROM和第二EEPROM分别通过I2C总线与SFP+接口连接,所述第一EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_TX引脚连接,所述第二EEPROM的电源引脚与SFP+接口的Vcc_RX引脚连接;
所述测试点分别与SFP+接口的TX_Disable引脚、TX_Fault引脚以及RX_Los引脚连接。
2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第一电阻的阻值为0欧姆。
3.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第一电容的容值为0.1微法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
CN202020549664.4U CN211580131U (zh) | 2020-04-14 | 2020-04-14 | 一种交换机sfp+接口的测试装置 |
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2020
- 2020-04-14 CN CN202020549664.4U patent/CN211580131U/zh active Active
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