CN211563733U - 电子元件成品测试仪的进料装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电子元件成品测试仪的进料装置，应用在电子元件的测试设备技术领域，其技术方案要点是：包括工作台、设置在工作台上的测试仪器和振动盘，所述测试仪器的进口处固定设置有倾斜向上的滑道，所述滑道的顶端与振动盘的出口处相齐平，所述滑道与振动盘的出口处之间设置有水平的软连接带，所述振动盘底部设置有减振装置。本实用新型具有的技术效果是：振动盘与滑道之间软连接，可阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器平稳工作，提高对电子元件测试的精准度。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元件的测试设备技术领域，特别涉及一种电子元件成品测试仪的进料装置。
背景技术
电子元件加工成型后，需对电子元件成品进行测试，以鉴定电子元件成品的品质，根据测试结果将电子元件成品分成多个档次，并对其进行分类，筛选出合格成品，剔除掉次品。
公告号为CN203711359U的中国专利公开了一种发热元件片的自动测试分选机，其结构包括设置在机架上且由PLC逻辑控制器控制的上料机构、送料机构、测试机构和分选机构组成，测试机构包括测试仪，与测试仪连接的测件装置以及人机界机操作台，测件装置包括用于夹住待测料的挡料块，在挡料块的侧边设置有测试针、在挡料块的上端设置有检料光纤探头。
上述中的现有技术方案存在以下缺陷：现有的自动测试分选机，电子元件上料是通过振动盘振动将电子元件送至皮带上，然而振动盘是直接与皮带送料结构接触连接的，振动盘会将振动传递至皮带送料结构上，导致整个机架振动，影响电子元件测试结果。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种电子元件成品测试仪的进料装置，其优点是：振动盘与滑道之间软连接，可阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器平稳工作，提高对电子元件测试的精准度。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电子元件成品测试仪的进料装置，包括工作台、设置在工作台上的测试仪器和振动盘，所述测试仪器的进口处固定设置有倾斜向上的滑道，所述滑道的顶端与振动盘的出口处相齐平，所述滑道与振动盘的出口处之间设置有水平的软连接带，所述振动盘底部设置有减振装置。
通过上述技术方案，电子元件经振动盘振动送至软连接带上，经过软连接带后，顺着滑道向下滑动至测试仪器内，以实现电子元件的上料工作，设置的软连接带具有弹性伸缩功能，使得振动盘与滑道之间软连接，在保证了振动盘工作过程中因振动而对滑道产生伸缩量的同时，还能够有效阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度；另外，在振动盘底部设置减振装置，可有效减轻振动盘传递至工作台的振动，进而也保证了测试仪器工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度。
本实用新型进一步设置为：所述滑道的顶端趋于水平，在所述滑道顶端的水平部分及振动盘的出口处均开设有沉槽，所述软连接带的两端分别粘接在两个沉槽内，且所述软连接带的上表面与滑道顶端水平部分的上表面及振动盘出口处的上表面相齐平。
通过上述技术方案，软连接带的两端固定置于两侧的沉槽内，可保证软连接带平滑连接在振动盘与滑道之间，即软连接带上表面与滑道顶端水平部分的上表面及振动盘出口处的上表面相齐平，从而有助于电子元件能够顺利地向前移动，以防电子元件在软连接带与振动盘和滑道连接处受阻，影响上料工作的顺利进行。
本实用新型进一步设置为：所述软连接带下方沿长度方向设置有托架，所述托架沿长度方向转动连接有若干与软连接带下表面相接触的托辊，所述托架下方设置有用于支撑托架的支架。
通过上述技术方案，由于在电子元件重力作用下，压住软连接带会致使软连接带向下凹陷，同时当振动盘振动有靠近滑道的趋势时，会导致软连接带松弛，此时在软连接带自身重力及电子元件重力作用下，也会出现向下凹陷的情况，影响电子元件顺利前行，通过在软连接带下方设置托辊，用于支撑住软连接带，可有效防止软连接带因各种原因向下凹陷，进而保证了电子元件顺利前行。
本实用新型进一步设置为：所述托架沿宽度方向的两侧固定设置有若干向上延伸的压条，所述软连接带沿宽度方向的两侧开设有若干与压条相对应的穿孔，所述压条向软连接带弯曲并贴于软连接带上表面延伸至穿孔，再向下弯曲插设在所述穿孔内。
通过上述技术方案，当振动盘振动有靠近滑道的趋势时，软连接带松弛也可能会致使软连接带向上拱起，以阻挡电子元件前移，通过压条可从软连接带两侧上方压住软连接带，以阻止软连接带向上拱起，从而进一步保证了电子元件顺利前行。
本实用新型进一步设置为：两侧所述穿孔相互靠近的一侧均设置有凸棱，所述凸棱固定于软连接带上表面并沿软连接带长度方向设置，且所述凸棱与软连接带材质相同。
通过上述技术方案，在软连接带两侧设置的凸棱与软连接带具有相同的材质，在适应软连接带伸缩量的同时，还对前移的电子元件起到限位的作用，以减小电子元件前移过程中向外掉出的可能。
本实用新型进一步设置为：所述软连接带上表面粘接有一层PVC薄膜，所述PVC薄膜位于两个凸棱之间。
通过上述技术方案，PVC薄膜具有一定的延展性，可适应软连接带的伸缩量，且PVC薄膜表面光滑，可减小电子元件移动过程中的摩擦力，从而便于电子元件更好的向前移动。
本实用新型进一步设置为：所述减振装置包括稳定板、若干缓冲座、若干与缓冲座相对应的固定座以及减振弹簧，所述稳定板固定设置在振动盘底部，且所述稳定板直径大于振动盘外径，若干所述缓冲座螺栓固定在稳定板下表面，且沿所述稳定板周缘均匀分布，若干所述固定座螺栓固定在工作台上，所述固定座内周壁与缓冲座外周壁相配合，所述缓冲座底部滑移连接在固定座内，所述减振弹簧设置在固定座内，所述减振弹簧的两端分别固定在固定座与缓冲座上。
通过上述技术方案，在减振弹簧的弹力作用下，能够有效减轻振动盘工作过程中传递至工作台的振动，从而保证了测试仪器测试工作的稳定进行，提高对电子元件测试的精准度。
本实用新型进一步设置为：所述缓冲座的外壁上对称设置有限位块，所述固定座的内壁上竖直开设有与限位块滑移配合的限位槽，所述限位槽顶部封闭。
通过上述技术方案，限位块与限位槽的滑移配合，能够对缓冲座起到一个限位的作用，以防缓冲座向上滑动而脱离固定座，进而提高了缓冲座在固定座内滑动的稳定性。
综上所述，本实用新型具有以下有益效果：
1、软连接带具有弹性伸缩功能，使得振动盘与滑道之间软连接，在保证了振动盘工作过程中因振动而对滑道产生伸缩量的同时，还能够有效阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度；
2、软连接带下方使用若干托辊进行支撑，可有效防止软连接带向下凹陷而影响电子元件顺利前移；
3、压条可从软连接带两侧上方压住软连接带，以阻止软连接带向上拱起，保证电子元件顺利前移。
附图说明
图1是本实施例的整体结构示意图。
图2是图1中A部分的放大图。
图3是本实施例用于体现减振装置的结构示意图。
图4是本实施例用于体现软连接带的结构示意图。
附图标记：1、工作台；2、测试仪器；3、振动盘；4、减振装置；41、稳定板；42、缓冲座；43、固定座；44、减振弹簧；45、限位块；46、限位槽；5、滑道；6、软连接带；7、沉槽；8、托架；9、托辊；10、支架；11、压条；12、穿孔；13、凸棱；14、PVC薄膜。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
实施例：一种电子元件成品测试仪的进料装置，如图1，包括工作台1、用于测试电子元件品质的测试仪器2以及用于电子元件上料的振动盘3，测试仪器2与振动盘3均置于工作台1上，测试仪器2的进口处固定连接有倾斜向上的滑道5，滑道5顶端高度与振动盘3出口处高度相同，且滑道5顶端与振动盘3出口处具有一定的距离，滑道5顶端趋于水平，该趋于水平的部分上表面与振动盘3出口处上表面相齐平，且在该趋于水平的部分上表面与振动盘3出口处的上表面均开设有沉槽7(如图4)，在振动盘3与滑道5之间设置有水平的软连接带6，软连接带6的两端分别置于两个沉槽7内，并粘接在沉槽7内，以对软连接带6进行固定，软连接带6的上表面与滑道5顶端水平部分的上表面和振动盘3出口处的上表面保持齐平，从而使得软连接带6平滑连接于振动盘3与滑道5之间。
如图1，工作时，将待测试的电子元件放置于振动盘3内，经振动盘3振动将电子元件送至软连接带6上，经过软连接带6后，顺着滑道5向下滑动至测试仪器2内，以实现对电子元件的上料工作。软连接带6为橡皮筋带，具有弹性伸缩功能，其在保证振动盘3工作过程中因振动而对滑道5产生伸缩量的同时，还能够有效阻止振动传递至滑道5和测试仪器2上，从而保证了测试仪器2工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度。
如图1和图2，在振动盘3下方设置有减振装置4，减振装置4包括稳定板41、缓冲座42、固定座43和减振弹簧44，稳定板41为直径大于振动盘3底面的圆柱体，且稳定板41固定连接在振动盘3底面上，缓冲座42螺栓固定在稳定板41的下表面，缓冲座42一共设置有四个，沿稳定板41周缘均匀分布，固定座43也设置有四个，均螺栓固定在工作台1上，且位置分别与四个缓冲座42相对应，缓冲座42内部中空设置底部为开口，固定座43内部中空设置顶部为开口，且缓冲座42的外周壁与固定座43的内周壁相配合，缓冲座42上下滑移连接在固定座43内，减振弹簧44位于固定座43与缓冲座42之间，减振弹簧44的两端分别固定连接在固定座43底壁与缓冲座42顶壁上。通过减振弹簧44起到对工作台1减振的作用，能够有效减轻振动盘3工作过程中传递至工作台1的振动，从而也保证了测试仪器2测试工作的稳定进行，提高对电子元件测试的精准度。
如图3，在缓冲座42的外壁上对称固定有两个限位块45，固定座43的内壁上沿竖直方向对称开设有两个限位槽46，两个限位块45分别置于两个限位槽46内，并与两个限位槽46滑移配合，限位槽46顶部不延伸出固定座43，以保持限位槽46顶部处于封闭的状态，以防限位块45向上滑出固定座43，通过限位块45与限位槽46的滑移配合，能够对缓冲座42起到一个限位的作用，以防缓冲座42向上滑动而脱离固定座43。
如图1和图4，当振动盘3振动有靠近滑道5的趋势时，软连接带6会松弛，此时在软连接带6自身重力及电子元件重力的作用下，软连接带6会向下凹陷，影响电子元件正常前移，为了防止这种情况的发生，可在软连接带6的下方设置有托架8，托架8沿软连接带6长度方向设置，托架8下方固定设置有用于支撑托架8的支架10，支架10底部螺栓固定在工作台1上，托架8沿长度方向转动连接有若干托辊9，托辊9上表面高出托架8，且托辊9上表面与软连接带6下表面相接触，从而可从下方支撑住软连接带6，有效防止了软连接带6向下凹陷，保证了电子元件能够顺利前移。
如图4，在软连接带6沿宽度方向的两侧上表面对称开设有若干向下贯穿软连接带6的穿孔12，且在托架8沿宽度方向的两侧外壁上对称固定有若干与穿孔12相对应的压条11，压条11竖直向上延伸至高出软连接带6后，向软连接带6弯曲并贴于软连接带6上表面延伸至穿孔12，再向下弯曲插设在穿孔12内，从而可从软连接带6两侧上方压住软连接带6，以防软连接带6因振动盘3振动有靠近滑道5的趋势，致使软连接带6松弛而向上拱起，使得电子元件前移受阻。
如图4，在软连接带6的上表面且沿宽度方向的两侧均设置有凸棱13，凸棱13与软连接带6具有相同的材质并同软连接带6一起加工成型，从而可适应软连接带6的伸缩量，且两个凸棱13分别位于两侧穿孔12相互靠近的一侧，并仅靠穿孔12，可对前移的电子元件起到限位的作用，以减小电子元件前移过程中向外掉出的可能。此外，在软连接带6的上表面位于两个凸棱13之间粘接有一层薄薄的PVC薄膜14，PVC薄膜14具有一定的延展性，可适应软连接带6的伸缩量，且PVC薄膜14表面光滑，可减小电子元件移动过程中的摩擦力，从而便于电子元件更好的向前移动。
工作过程：电子元件经振动盘3振动送至软连接带6上，经过软连接带6后，顺着滑道5向下滑动至测试仪器2内，以实现对电子元件的上料工作，这其中的软连接带6起到阻止振动传递至滑道5和测试仪器2上的作用，从而保证了测试仪器2工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度。
本具体实施方式的实施例均为本实用新型的较佳实施例，并非依此限制本实用新型的保护范围，故：凡依本实用新型的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种电子元件成品测试仪的进料装置，包括工作台(1)、设置在工作台(1)上的测试仪器(2)和振动盘(3)，其特征在于：所述测试仪器(2)的进口处固定设置有倾斜向上的滑道(5)，所述滑道(5)的顶端与振动盘(3)的出口处相齐平，所述滑道(5)与振动盘(3)的出口处之间设置有水平的软连接带(6)，所述振动盘(3)底部设置有减振装置(4)。
2.根据权利要求1所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：所述滑道(5)的顶端趋于水平，在所述滑道(5)顶端的水平部分及振动盘(3)的出口处均开设有沉槽(7)，所述软连接带(6)的两端分别粘接在两个沉槽(7)内，且所述软连接带(6)的上表面与滑道(5)顶端水平部分的上表面及振动盘(3)出口处的上表面相齐平。
3.根据权利要求2所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：所述软连接带(6)下方沿长度方向设置有托架(8)，所述托架(8)沿长度方向转动连接有若干与软连接带(6)下表面相接触的托辊(9)，所述托架(8)下方设置有用于支撑托架(8)的支架(10)。
4.根据权利要求3所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：所述托架(8)沿宽度方向的两侧固定设置有若干向上延伸的压条(11)，所述软连接带(6)沿宽度方向的两侧开设有若干与压条(11)相对应的穿孔(12)，所述压条(11)向软连接带(6)弯曲并贴于软连接带(6)上表面延伸至穿孔(12)，再向下弯曲插设在所述穿孔(12)内。
5.根据权利要求4所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：两侧所述穿孔(12)相互靠近的一侧均设置有凸棱(13)，所述凸棱(13)固定于软连接带(6)上表面并沿软连接带(6)长度方向设置，且所述凸棱(13)与软连接带(6)材质相同。
6.根据权利要求5所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：所述软连接带(6)上表面粘接有一层PVC薄膜(14)，所述PVC薄膜(14)位于两个凸棱(13)之间。
7.根据权利要求1所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：所述减振装置(4)包括稳定板(41)、若干缓冲座(42)、若干与缓冲座(42)相对应的固定座(43)以及减振弹簧(44)，所述稳定板(41)固定设置在振动盘(3)底部，且所述稳定板(41)直径大于振动盘(3)外径，若干所述缓冲座(42)螺栓固定在稳定板(41)下表面，且沿所述稳定板(41)周缘均匀分布，若干所述固定座(43)螺栓固定在工作台(1)上，所述固定座(43)内周壁与缓冲座(42)外周壁相配合，所述缓冲座(42)底部滑移连接在固定座(43)内，所述减振弹簧(44)设置在固定座(43)内，所述减振弹簧(44)的两端分别固定在固定座(43)与缓冲座(42)上。
8.根据权利要求7所述的电子元件成品测试仪的进料装置，其特征在于：所述缓冲座(42)的外壁上对称设置有限位块(45)，所述固定座(43)的内壁上竖直开设有与限位块(45)滑移配合的限位槽(46)，所述限位槽(46)顶部封闭。
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| CN114905249A (zh) * | 2022-06-29 | 2022-08-16 | 杭州电子科技大学 | 一种密封圈上料装置 |
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