CN211553820U - 一种首饰用样品测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种首饰用样品测试装置，包括：测试平台，设有载样部和微调部，载样部设有承载样品以供检测光束照射该样品进行检测的至少一测样位，测样位配置有能够在测样位横向支撑测样的支撑部；载样部安装在微调部上方以能够在载样部的带动下进行横向移动以调节测样位的横向位置；支架，设置在测试平台下方，能够进行升降移动以带动测试平台沿竖向远离或靠近检测器光源。本实用新型能够对多种形状的样品的不同部位进行测试，使用极其方便，通过升降移动能够快速到达样品测试位置，横向调节以达到测试样品不同位置的目的，实现精准测量的效果。

Description

一种首饰用样品测试装置

技术领域

本实用新型涉及样品测试方面的技术领域，尤其涉及一种首饰用样品测试装置。

背景技术

近年来，X射线荧光技术不断完善和发展，带动了X射线荧光光谱仪的发展。作为一种无损、快速、经济的元素分析手段，已被广泛应用于冶金、地质、建材、刑侦、考古、贵金属等诸多领域。样品测试装置是X射线荧光光谱仪的重要部件，对于检测起着重要作用。现有技术的测试装置，其样品仓采用固定平面结构测试面板和固定不可调的定位系统进行检测，对待测样品表面形貌要求高，仅适用平面形态的待测样品。对于非平面的待测样品(如首饰)，测试时不规则的平面极易将水平面定位薄膜压变形，难以检测到凹进去的区域，导致测试结果不准确。为满足各种首饰样品的测试结果准确度要求，本实用新型提出功能结构更合理、使用更方便的样品仓X射线样品测试装置，实现定位系统可调节功能，通过升降移动和横向调节来调节样品位置，保证接收到的X射线强度最高，不仅能适用于较好平面样品，也能适用于非平面形样品(如首饰的戒指和手镯)的检测，保证检测结果的准确度。

实用新型内容

(一)实用新型目的

本实用新型的目的是提供一种首饰用样品测试装置，能够对多种形状不规则的样品进行测试，使用极其方便，在保持样品位置稳定的情况下，通过升降移动能够快速到达样品测试位置、横向调节以达到测试样品不同位置的目的，实现精准测量的效果。本装置可折叠，有效减小体积占比，使用简单，方便搬运，可靠牢固。

(二)技术方案

为了实现上述目的，本实用新型采用如下的技术方案以提供一种首饰用样品测试装置，包括：

测试平台，设有载样部和微调部，其中，所述载样部设有承载样品以供检测光束照射该样品进行检测的至少一测样位，所述测样位配置有能够在所述测样位横向支撑所述测样的支撑部；

所述载样部安装在所述微调部上方以能够在所述载样部的带动下进行横向移动以调节所述测样位的横向位置；

支架，设置在所述测试平台下方，能够进行升降移动以带动所述测试平台沿竖向远离或靠近检测器光源。

进一步地，所述测样位包括：

第一测样位，呈凹槽状开设在所述载样部的中心；

第一支撑部，可拆卸地配置在所述第一测样位的中部或端面处支撑所述测样。

进一步地，所述测样位还包括：

第二测样位，呈槽状，可拆卸地卡合在所述第一测样位处；

第二支撑部，可拆卸地配置在所述第二测样位的中部或端面处，能够与所述第一支撑部在竖向上间隔设置或平行设置。

进一步地，所述微调部包括：

调节槽，对应设置在所述测样位正下方；

调节组件，设置在所述调节槽的四周，连接所述载样部，能够带动所述载样部在左右方向、前后方向上进行所述横向移动。

进一步地，所述调节组件包括：

横向调节组件，设置在所述调节槽的一侧或相对立的两侧，所述横向调节组件设有顶部连接所述载样部的横向滑块，受驱转动以带动所述载样部沿所述横向滑块进行左右方向的横向移动；

纵向调节组件，与所述横向调节组件对立设置，所述纵向调节组件设有顶部连接所述载样部的纵向滑块，受驱转动以带动所述载样部沿所述纵向滑块进行前后方向的纵向移动。

进一步地，所述调节槽四周设有能够受驱转动的转动件，所述转动件能够在所述调节组件带动所述载样部进行移动时提供竖向支撑力和横向滑动力。

进一步地，所述支架包括：

安装板；

升降架，下端能够转动地连接在所述安装板上，上端安装在所述测试平台下方，中部能够转动地设置在上下端之间；

调节丝杆，连接在所述升降架的中部，受驱转动以带动所述升降架的上下两端于竖向上相靠近或相远离进行所述升降移动。

进一步地，所述支架呈立体的菱形状。

进一步地，所述第一支撑部、所述第二支撑部均包括弹性和/或非弹性的支撑结构。

进一步地，所述第一支撑部包括线性支撑结构；第二支撑部包括板面支撑结构。

(三)有益效果

本实用新型的上述技术方案具有如下有益的技术效果：通过测试平台设有载样部和微调部，载样部设有供检测光束通过以对测样进行检测的至少一测样位，测样位配置有能够在测样位横向支撑测样的支撑部，支撑部放置多种形状的样品进行测试，使用极其方便；再者，载样部安装在微调部上方以能够在载样部的带动下进行横向移动以调节测样位的横向位置，在保持样品位置稳定的情况下，将样品进行横向调节以达到测试样品不同位置的目的，通过样品位置进行调节实现精准测量的效果；进一步地，在测试平台下方设置支架，使支架能够进行升降移动以带动测试平台沿竖向远离或靠近检测器光源，使样品能够快速达到接近样品测试位置，由此可以选择样品不同部位进行测试，升降的支架能够有效减小体积占比，占据空间较小，使用简单，方便搬运，可靠牢固。

附图说明

图1是本实用新型一实施例的首饰用样品测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型一实施例的首饰用样品测试装置的安装结构示意图；

图3是本实用新型一实施例的测试平台的分解结构示意图；

图4是本实用新型一实施例的载样部的结构示意图；

图5是图4的分解结构示意图。

附图标记：

测试平台1，载样部2，测样位21，第一测样位211，第一支撑部212，第二测样位213，第二支撑部214，微调部3，调节槽31，横向调节组件32，横向滑块33，纵向调节组件34，纵向滑块35，转动件36，支架4，安装板41，升降架42，调节丝杆43，测试装置5。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。

下面详细描述本实用新型的实施例，所述的实施例示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，对于方位词，如有术语“中心”，“横向”、“纵向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。

此外，如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征，在本实用新型描述中，“至少”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除另有明确规定和限定，如有术语“组装”、“相连”、“连接”术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本实用新型中的具体含义。

在实用新型中，除非另有规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅是表示第一特征水平高度高于第二特征的高度。第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。

下面结合说明书的附图，通过对本实用新型的具体实施方式作进一步的描述，使本实用新型的技术方案及其有益效果更加清楚、明确。下面通过参考附图描述实施例是示例性的，旨在解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

传统的固定式X荧光光谱仪测试装置，样品不好放置固定，样品固定后不方便调节或微调，难以实现精准选取样品位置测量的目的，尤其是横向或竖向的距离调节，使用不方便，操作较繁琐。本实用新型公开一种首饰用样品测试装置，能够对多种形状不规则的样品进行测试，使用极其方便，通过升降移动能够快速到达样品测试位置、横向调节以达到测试样品不同位置的目的，实现精准测量的效果。本装置可折叠，有效减小体积占比，使用简单，方便搬运，可靠牢固。

如图1-5所示，本实用新型在一实施例中公开一种首饰用样品测试装置，包括：测试平台1，载样部2，微调部3，支架4，具体的：测试平台1设有载样部2和微调部3，其中，载样部2设有承载样品以供检测光束照射该样品进行检测的至少一测样位21，测样位21配置有能够在测样位21横向支撑测样的支撑部；载样部2安装在微调部3上方以能够在载样部2的带动下进行横向移动以调节测样位21的横向位置；支架4设置在测试平台1下方，能够进行升降移动以带动测试平台1沿竖向远离或靠近检测器光源。

如图5所示，测样位21包括第一测样位211和第一支撑部212，具体的：第一测样位211呈凹槽状开设在载样部2的中心，第一支撑部212可拆卸地配置在第一测样位211的中部或端面处支撑测样。

如图5所示，在其他实施例中，本实用新型的测样位21还包括第二测样位213和第二支撑部214，具体的：第二测样位213呈槽状，第二测样位213可拆卸地卡合在第一测样位211处，第二测样位可以设置为透明的槽状，以能够供检测光束穿过第二测样位213至第一测样位211投射到第一支撑部的测样上，也可以不设置为透明的；如图5所示，第二支撑部214可拆卸地配置在第二测样位213的中部或端面处，能够与第一支撑部214在竖向上间隔设置或平行设置。

第一测样位211和第二测样位213用于测试的样品对象可以根据具体要求设置，例如：在一些实施例中，第一测样位211可以用于测试形状较规则的普通样品，第二测样位213可以设置为方便拆卸的卡槽或凹槽，能够放置形状不规则的样品，如戒指和手镯等，同时可以进行普通形状规则样品的测试。或者，在另一些实施例中，第一测样位211可以设置为方便拆卸的卡槽或凹槽，能够放置形状不规则的样品，如戒指和手镯等，同时可以进行普通形状规则样品的测试；第二测样位213设置为用于测试形状较规则的普通样品。

在保持样品位置稳定的情况下，为了能够将样品进行横向调节以达到测试样品不同位置的目的。优选的，如图3所示，本实施例的微调部3包括调节槽31和调节组件，具体的：调节槽31对应设置在测样位21正下方能够供样品在竖向上供检测光束竖向穿过，调节组件设置在调节槽31的四周，调节组件连接载样部2以能够带动载样部2沿微调部3在左右方向、前后方向上进行横向移动。荧光光谱仪测试样品的面积很小，虽然现在可以选择视频窗口内多点测定，但是对于较大面积的样品，视频窗口显然无法全部观察到，需要进行样品位置的调节，在保持样品位置稳定的情况下，通过调节该微调部3可以进行前后和左右的调节，从而达到测试样品不同位置的目的，实现微距调节，达到精准测量的效果。

优选的，本实用新型在任一可选实施例中的调节组件包括横向调节组件32和纵向调节组件34，具体的：横向调节组件32设置在调节槽31的一侧或相对立的两侧，横向调节组件32设有顶部连接载样部2的横向滑块33，横向调节组件32受驱转动以带动载样部2沿横向滑块进行左右方向的横向移动；纵向调节组件34，与横向调节组件21对立设置，纵向调节组件34设有顶部连接载样部2的纵向滑块35，纵向调节组件34受驱转动以带动载样部2沿纵向滑块35进行前后方向的纵向移动。

进一步地，如图3所示，调节槽31四周设有能够受驱转动的转动件36，转动件36能够在调节组件带动载样部2进行移动时提供竖向支撑力和横向滑动力。即载样部2在横向调节组件32和/或纵向调节组件34的驱动下进行左右和/或前后移动时，载样部2能够抵接转动件36并在转动件36的转动下进行移动，调节结构稳定牢固，可靠安全，高效实用。

本实用新型在测试平台1下方设置支撑测试平台的支架4，其中，支架4可折叠，占据空间较小，方便搬运。如图1所示，在一实施例中的支架4包括安装板41，升降架42，调节丝杆43，具体的：安装板41能够安装在样品测试装置5上，以支撑支架4将样品放置在测试点下方，升降架42的下端能够转动地连接在安装板41上，升降架42的上端安装在测试平台下方，升降架42的中部能够转动地设置在上下端之间；调节丝杆43连接在升降架42的中部，受驱转动以带动升降架42的上下两端于竖向上相靠近或相远离进行升降移动。

如图1所示，本实施例的支架4呈立体的菱形状。菱形状的支架4在左右两侧的中部设置为能够转动的，可以通过轴承和轴承座将升降架42的上下两端进行活动连接，调节丝杆43穿过升降架42在左右两侧的中部轴承座，当调节丝杆43转动时即可实现升降架42的升降移动，从而实现测试平台在测试点下方的升降距离调节。

为能够对不同材质或不同性质的测试样品进行测试，支撑部的支撑结构能够根据具体需要进行设置，其中，在一实施例中，第一支撑部212、第二支撑部214均包括弹性或非弹性的支撑结构。第一支撑部212包括线性支撑结构，第二支撑部214包括板面支撑结构，实现能够对多种形状的样品进行测试的测试作用。在一些其他实施例中，可以根据具体的测试第一支撑部212也可以包括板面支撑结构，第二支撑部214包括线性支撑结构。具体的，第一支撑部212可以设置为至少两条弹筋搭建的线性支撑结构，第二支撑部214可以设置为凹槽状的平面支撑结构。

综上所述，本实用新型基于上述公开技术特征旨在保护一种首饰用样品测试装置，能够对多种形状不规则的样品进行测试，使用极其方便，升降移动能够快速到达样品测试位置，在保持样品位置稳定的情况下，横向调节以达到测试样品不同位置的目的，实现精准测量的效果。本装置可折叠，有效减小体积占比，使用简单，方便搬运，可靠牢固。

应当理解的是，本实用新型的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本实用新型的原理，而不构成对本实用新型的限制。因此，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。此外，本实用新型所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。

Claims (10)

1.一种首饰用样品测试装置，其特征在于，包括：

测试平台，设有载样部和微调部，其中，所述载样部设有承载样品以供检测光束照射该样品进行检测的至少一测样位，所述测样位配置有能够在所述测样位横向支撑所述测样的支撑部；

所述载样部安装在所述微调部上方以能够在所述载样部的带动下进行横向移动以调节所述测样位的横向位置；

支架，设置在所述测试平台下方，能够进行升降移动以带动所述测试平台沿竖向远离或靠近检测器光源。

2.根据权利要求1所述的首饰用样品测试装置，其特征在于，所述测样位包括：

第一测样位，呈凹槽状开设在所述载样部的中心；

第一支撑部，可拆卸地配置在所述第一测样位的中部或端面处支撑所述测样。

3.根据权利要求2所述的首饰用样品测试装置，其特征在于，所述测样位还包括：

第二测样位，呈槽状，可拆卸地卡合在所述第一测样位处；

第二支撑部，可拆卸地配置在所述第二测样位的中部或端面处，能够与所述第一支撑部在竖向上间隔设置或平行设置。

4.根据权利要求1-3任一项所述的首饰用样品测试装置，其特征在于，所述微调部包括：

调节槽，对应设置在所述测样位正下方；

调节组件，设置在所述调节槽的四周，连接所述载样部，能够带动所述载样部在左右方向、前后方向上进行所述横向移动。

5.根据权利要求4所述的首饰用样品测试装置，其特征在于，所述调节组件包括：

横向调节组件，设置在所述调节槽的一侧或相对立的两侧，所述横向调节组件设有顶部连接所述载样部的横向滑块，受驱转动以带动所述载样部沿所述横向滑块进行左右方向的横向移动；

纵向调节组件，与所述横向调节组件对立设置，所述纵向调节组件设有顶部连接所述载样部的纵向滑块，受驱转动以带动所述载样部沿所述纵向滑块进行前后方向的纵向移动。

6.根据权利要求5所述的首饰用样品测试装置，其特征在于：所述调节槽四周设有能够受驱转动的转动件，所述转动件能够在所述调节组件带动所述载样部进行移动时提供竖向支撑力和横向滑动力。

7.根据权利要求6所述的首饰用样品测试装置，其特征在于，所述支架包括：

安装板；

升降架，下端能够转动地连接在所述安装板上，上端安装在所述测试平台下方，中部能够转动地设置在上下端之间；

调节丝杆，连接在所述升降架的中部，受驱转动以带动所述升降架的上下两端于竖向上相靠近或相远离进行所述升降移动。

8.根据权利要求7所述的首饰用样品测试装置，其特征在于：所述支架呈立体的菱形状。

9.根据权利要求3所述的首饰用样品测试装置，其特征在于：所述第一支撑部、所述第二支撑部均包括弹性和/或非弹性的支撑结构。

10.根据权利要求9所述的首饰用样品测试装置，其特征在于：所述第一支撑部包括线性支撑结构；第二支撑部包括板面支撑结构。

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