CN211374967U - Os测试系统和os测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种OS测试系统，该系统包括依次连接的计算机、通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片，所述控制芯片控制所述切换模块进行管脚测试切换，并采集测试结果、通过所述通讯接口将所述测试结果返回计算机。此外还提供了一种OS测试装置。通过该系统和装置，一方面小型化测试装置，解决了现有通用大型测试设备不适应OS单一测试的问题，另一方面降低制作成本，体积小便于携带，适用于多场景下的测试工作。

Description

OS测试系统和OS测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路领域，具体涉及一种OS测试系统和OS测试装置。

背景技术

集成电路IC的整个制造过程，工序复杂繁多，为确保生产质量，需要对工序过程进行验证检测，在后端工序的封装过程中，检测尤为重要，在封装过程中，需要对集成电路IC进行OS(OPEN/SHORT，开短路)测试，开短路测试是验证 IC封装工序的最直接最有效的方式，开短路测试可检测出集成电路IC封装过程中的物理引线连接。

现有OS测试系统在使用时存在一定的弊端，首先，现有的OS测试通常采用大型测试设备测试，通用大型测试设备集OS测试、漏电测试、交流参数测试等功能于一体，但通用大型测试设备体积大、价格贵、生产成本高，而且通用大型测试设备系统复杂，操作不便，不满足人们对于单一功能测试的使用要求。

实用新型内容

有鉴于上述问题，本实用新型提供了一种OS测试系统，其针对OS测试而开发，具有体积小、方便携带、制作成本低等优点。

上述系统由以下技术方案实现：

一种OS测试系统，包括依次连接的计算机、通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片，所述控制芯片控制所述切换模块进行管脚测试切换，并采集测试结果、通过所述通讯接口将所述测试结果返回计算机。

具体的，所述切换模块包括电阻网络以及电子开关，所述电阻网络中的电阻与所述待测芯片的管脚一一连接，所述电子开关控制待测芯片与控制芯片的连接与否。

具体的，所述系统还包括与控制芯片连接的显示模块，用于显示所述测试结果。

具体的，所述显示模块为显示屏和/或指示灯。

具体的，所述系统还包括与控制芯片连接的选择模块，所述选择模块用于根据待测芯片的不同类型选择不同的测试方案。

具体的，所述系统还包括与控制芯片连接的数据存储模块，所述数据存储模块用于存储所述测试结果。

此外，本实用新型还提供了一种OS测试装置，该装置包括依次连接的上述通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片插座，待测芯片插座用于插入待测芯片。

本实用新型提供的OS测试系统和OS测试装置，一方面小型化测试装置，解决了现有通用大型测试设备不适应OS单一测试的问题，另一方面降低制作成本，体积小便于携带，适用于多场景下的测试工作。

附图说明

附图1为本实用新型提供的OS测试系统的大致结构框图。

附图2为所提供的OS测试系统进一步完善、分解的结构框图。

附图3为作为示例的pin1管脚和pin2管脚测试时的部分电路示意图。

附图4为所提供的OS测试系统的整体结构框图。

附图5为本实用新型提供的OS测试装置的电路结构框图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的方案仅仅是本实用新型一部分，而不是全部。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定方案。基于本实用新型，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的其他技术方案，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了一种OS测试系统，如图1所示，该系统包括依次连接的计算机、通讯接口、控制芯片、切换模块以及待测芯片，其中待测芯片具有多个待测试管脚，控制所述芯片控制所述切换模块进行管脚测试切换，并采集测试结果、通过所述通讯接口将所述测试结果返回计算机。

上述通讯接口用于计算机与控制芯片之间的数据和命令传输，该通讯接口可以是各类通用接口，如USB接口、RD232接口等，

上述控制芯片用于接收计算机测试命令，根据测试命令下达切换指令，并采集待测芯片管脚的测试结果，然后将测试结果返回计算机。在本实用新型中，采集目标为管脚的电压AD值。

上述待测芯片为具有多个待测试管脚的集成电路芯片，在本实用新型中不具体限制其种类。

上述切换模块用于根据切换指令切换待测芯片管脚与控制芯片的连接关系，在本实用新型中，如图2所示，切换模块包括电阻网络和电子开关，图3作为一个具体实现示意图示出了控制芯片、待测芯片、电阻网络和电子开关的结构连接关系，图中待测芯片管脚pin1通过电阻网络中的电阻R1与控制芯片连接，待测芯片管脚pin2通过电阻网络中的电阻R2与控制芯片连接，待测芯片输入电压管脚pinD通过电阻网络中的电阻Rd与控制芯片连接，待测芯片接地管脚pinG通过电阻网络中的电阻Rg与控制芯片连接，电子开关控制pin1管脚、pin2管脚、 pinD管脚和pinG管脚与控制芯片的连通情况。

继续参照图3，在测试pin1管脚时，控制芯片指示电子开关连通pin1管脚，通过控制芯片内置DAC输出测试电压，经电阻网络中的R1输入pin1管脚，并通过控制芯片内置ADC采集图中所示AD1点的第一AD1值和ADd点的第一比较 ADd值，然后比较两者是否在正常压降范围0.2～1.2V内；接着保持电子开关连通 pin1管脚，通过控制芯片内置DAC输出测试电压，经电阻网络中的Rg输入pinG 管脚，并通过控制芯片内置ADC采集图中所示AD1点的第二AD1值和ADg点的第一比较ADg值，然后比较两者是否在正常压降范围0.2～1.2V内；由第一AD1 值和第一比较ADd值以及第二AD1值和第一比较ADg值判断pin1管脚是否正常良好，最后将结果返回计算机；

继续参照图3，在测试pin2管脚时，控制芯片指示电子开关连通pin2管脚，通过控制芯片内置DAC输出测试电压，经电阻网络中的R2输入pin2管脚，并通过控制芯片内置ADC采集图中所示AD2点的第一AD2值和ADd点的第二比较 ADd值，然后比较两者是否在正常压降范围0.2～1.2V内；接着保持电子开关连通 pin2管脚，通过控制芯片内置DAC输出测试电压，经电阻网络中的Rg输入pinG 管脚，并通过控制芯片内置ADC采集图中所示AD2点的第二AD2值和ADg点的第二比较ADg值，然后比较两者是否在正常压降范围0.2～1.2V内；由第一AD2 值和第二比较ADd值以及第二AD2值和第二比较ADg值判断pin2管脚是否正常良好，最后将结果返回计算机。

参照图2，上述测试系统还可以进一步包括与控制芯片连接的显示模块，用于显示所述测试结果。作为具体的实现手段，显示模块可以为显示屏和/或指示灯，在测试到管脚不良时可以文字、颜色、灯光等异常信息作为警示。

继续参照图2，上述测试系统还可以进一步包括与控制芯片连接的选择模块，所述选择模块用于根据待测芯片的不同类型选择不同的测试方案。作为具体的实施方式，测试方案包括在线测试与脱机测试，通过选择模块选择在线测试时，控制芯片与计算机连接，通过计算机发送测试命令道控制芯片，以此执行测试工作；通过选择模块选择脱机测试时，需将测试程序烧录至控制芯片的flash存储器中，由内置测试程序执行测试工作。

继续参照图2，上述测试系统还可以进一步包括与控制芯片连接的数据存储模块，所述数据存储模块用于存储所述测试结果。

另外，本实用新型还提供了一种OS测试装置，参照图5所示，该装置包括依次连接的上述通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片插座，待测芯片插座用于插入待测芯片。其中，切换模块如上所述，包括电阻网络和电子开关。进一步，该装置还包括上述显示模块、选择模块以及数据存储模块。各元件及模块作用及工作原理参照上述OS测试系统所述内容，本实用新型在此不予赘述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种OS测试系统，其特征在于，包括依次连接的计算机、通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片，所述控制芯片控制所述切换模块进行管脚测试切换，并采集测试结果、通过所述通讯接口将所述测试结果返回计算机。

2.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，所述切换模块包括电阻网络以及电子开关，所述电阻网络中的电阻与所述待测芯片的管脚一一连接，所述电子开关控制待测芯片与控制芯片的连接与否。

3.如权利要求1所述的OS测试系统，其特征在于，该系统还包括与控制芯片连接的显示模块，用于显示所述测试结果。

4.如权利要求1-3任一项所述的OS测试系统，其特征在于，该系统还包括与控制芯片连接的选择模块，所述选择模块用于根据待测芯片的不同类型选择不同的测试方案。

5.如权利要求4所述的OS测试系统，其特征在于，该系统还包括与控制芯片连接的数据存储模块，所述数据存储模块用于存储所述测试结果。

6.一种OS测试装置，其特征在于，该装置包括依次连接的通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片插座，所述待测芯片插座用于插入待测芯片。

7.如权利要求6所述的OS测试装置，其特征在于，所述切换模块包括电阻网络以及电子开关，所述电阻网络中的电阻与所述待测芯片的管脚一一连接，所述电子开关控制待测芯片与控制芯片的连接与否。

8.如权利要求6所述的OS测试装置，其特征在于，该装置还包括与控制芯片连接的显示模块，用于显示待测芯片的测试结果。

9.如权利要求6-8任一项所述的OS测试装置，其特征在于，该装置还包括与控制芯片连接的选择模块，所述选择模块用于根据待测芯片的不同类型选择不同的测试方案。

10.如权利要求9所述的OS测试装置，其特征在于，该装置还包括与控制芯片连接的数据存储模块，所述数据存储模块用于存储待测芯片的测试结果。

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