CN211043158U - 一种光纤阵列检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光纤阵列检测治具，包括三轴调整台、支撑装置以及调整装置，其中：所述支撑装置包括支撑柱，所述支撑柱设置在所述三轴调整台上表面，且与所述三轴调整台转动连接，所述支撑柱包括一对卡爪；所述调整装置包括一调整轮以及至少一个定位单元，所述调整轮与所述支撑柱固定连接，所述调整轮内壁形成一沿周向曲率周期变化的第一凸面，所述定位单元包括压块、定位块以及弹簧，所述压块与所述三轴调整台上表面固定连接，所述定位块和所述弹簧设置在所述压块内，且所述定位块与所述压块滑动连接，所述定位块远离所述弹簧的一端形成第二凸面，所述第二凸面与所述第一凸面抵接。本实用新型结构简单，使用便捷。

Description

一种光纤阵列检测治具

技术领域

本实用新型涉及光纤制造技术领域，具体的涉及一种光纤阵列检测治具。

背景技术

光纤阵列是利用V形槽把一条光纤、一束光纤或一条光纤带安装在阵列基片上。光纤阵列是除去光纤涂层的裸露光纤部分被置于该V形槽中。光纤阵列以高精度V型槽定位带状光纤的纤维位置，具有精确研磨的端面，通常光纤阵列端面具有多种角度，在光纤阵列的制造工艺中需要对光纤阵列端面进行特定角度研磨。研磨完成后需要将光纤阵列端面放在显微镜下检测，现有技术中是将光纤阵列从光纤阵列研磨夹具上拆下来逐一直接放在显微镜下检测，或将光纤阵列研磨夹具连同光纤阵列一起直接倒置在三轴平台上再放在显微镜下检测，这两种方式精度都很差，都需要反复调整位置、效率低下。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服上述技术不足，提供一种光纤阵列检测治具，用于解决现有技术中光纤阵列研磨夹具使用效率低的问题。

为达到上述技术目的，本实用新型的技术方案如下：一种光纤阵列检测治具，三轴调整台、支撑装置以及调整装置，其中：支撑装置包括支撑柱，支撑柱设置在三轴调整台上表面，且与三轴调整台转动连接，支撑柱包括支撑柱本体和对称设置在支撑柱本体上表面一对卡爪；调整装置包括一调整轮以及至少一个定位单元，调整轮与支撑柱固定连接，调整轮内壁形成一沿周向曲率周期变化的第一凸面，定位单元包括压块、定位块以及弹簧，压块与三轴调整台上表面固定连接，定位块和弹簧设置在压块内，且定位块与压块滑动连接，弹簧两端分别与压块内壁和定位块一端抵接，定位块远离弹簧的一端形成第二凸面，第二凸面与第一凸面抵接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果包括：使用三轴调整台可以精确调整光纤阵列夹具位置，使用了相互抵接的定位块和调整轮，结构简单，操作人员仅需旋转调整轮就可以实现定角度旋转，因此检测每个光纤阵列时都无需重新调整位置，使用便捷。

附图说明

图1是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的使用时的立体图；

图2是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的爆炸视图；

图3是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的调整装置的立体图；

图4是图3中A处的局部放大图；

图5是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的光纤阵列夹具的立体图；

附图标记：1-三轴调整台、2-支撑装置、3-调整装置、4-光纤阵列夹具、21-支撑柱、22-轴承、31-调整轮、32-定位单元、41-卡槽、42-光纤阵列、211-支撑柱本体、212-卡爪、311-第一凸面、321-压块、322-定位块、323-弹簧、3211-第一凸台、3221-第二凸面、3222-第二凸台。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1，图1是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的使用时的立体图。本实用新型提供了一种光纤阵列检测夹具，其包括三轴调整台1、支撑装置2、调整装置3，三轴调整台1用于连接支撑装置2并移动支撑装置2，支撑装置2连接光纤阵列夹具4并带动其旋转，调整装置3用于带动支撑装置2旋转一定角度，其中：

三轴调整台1可沿包括竖直方向在内的三个互相垂直的方向平移运动，本实施例中使用的是MISUMI XYZLNG60升降滑台，具体结构此处不再赘述。

为具体说明支撑装置2的结构，请参阅图2，图2是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的爆炸视图。支撑装置2包括支撑柱21，支撑柱21设置在三轴调整台1上表面，且与三轴调整台1转动连接，具体来说，支撑装置2还包括一轴承22，轴承22外圈与三轴调整台1固定连接，轴承22内圈与支撑柱21固定连接。支撑柱21包括支撑柱本体211和对称设置在支撑柱本体211上表面的一对卡爪212。

作为优选的实施例，此处选用的轴承22为推力球轴承。

推力球轴承22仅可承受轴向载荷，而支撑装置2和光纤阵列夹具4的重量全部作用在轴承22端面，因此轴承22仅承受轴向载荷，此处选用推力球轴承最为合适。

为具体说明调整装置3的结构，请参阅图2和图3，图3是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的调整装置的立体图。调整装置3包括一调整轮31以及至少一个定位单元32，调整轮31与支撑柱21固定连接，调整轮31内壁形成一沿周向曲率周期变化的第一凸面311，定位单元32包括压块321、定位块322以及弹簧323，压块321与三轴调整台1上表面固定连接，具体可以是螺纹连接，定位块322和弹簧323设置在压块321内，且定位块322与压块321滑动连接，弹簧323两端分别与压块321内壁和定位块322一端抵接，具体来说，请参阅图4，图4是图3中A处的局部放大图。定位块322远离弹簧323的一端形成第二凸面3221，第二凸面3221与第一凸面311抵接。具体来说，压块321内壁形成第一凸台3211，定位块322远离第二凸面3221的一端形成第二凸台3222，第二凸台3222与第二凸台3222抵接。

作为优选的实施例，调整轮31侧面沿周向形成滚花。

调整轮31表面设置滚花可以增加摩擦，便于工作人员转动调整轮31。

为说明光纤阵列夹具4的结构，请参阅图5，图5是本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具的光纤阵列夹具的立体图。光纤阵列夹具4下表面开设两相对设置的卡槽41，卡槽41与卡爪212相配合，使支撑装置2可以带动光纤阵列夹具4旋转，光纤阵列夹具4装夹有多个光纤阵列42。

下面就本实施例提供的一种光纤阵列检测治具的工作原理作具体说明：本实用新型提供的光纤阵列检测治具放置在显微镜下，首先将光纤阵列夹具4放置在支撑柱21上，使卡爪212卡入卡槽41内，移动三轴调整台1并在显微镜下观察，直至有光纤阵列42落入显微镜视野中，手动旋转调整轮31，第一凸面311将随之旋转，因此挤压与之抵接的第二凸面3221，弹簧323压缩，因此工作人员需加大旋转力才可以继续旋转，当旋转一定角度后，定位块322越过第一凸面311半径最低点，定位块322在弹簧323作用下沿第一凸面311方向移动，工作人员只需很小力或者不用力即可旋转调整轮31，这之后弹簧323逐渐恢复形变，直至调整轮31的第一凸面311半径最大点与定位块322抵接，这时，下个个光纤阵列42正好落入显微镜视野中，需要说明的是要做到这一点，须使光纤阵列42的数量与第一凸面311半径最大点的数量相同，在本实施例中，光纤阵列42数量以及第一凸面311半径最大点均为12，因此可实现定角度旋转。

综上所述，本实用新型提供的一种光纤阵列检测治具，调整轮内壁形成一沿周向曲率周期变化的第一凸面，以及与第一凸面抵接的定位单元，可以实现调整轮的定角度旋转，从而带动支撑柱及光纤阵列随之旋转。在一个光纤阵列旋转至下一个光纤阵列的过程中，工作人员对调整轮施加的力由逐渐增大至逐渐减小，工作人员还可以以此判断调整轮旋转过了多少个光纤阵列。

以上本实用新型的具体实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限定。任何根据本实用新型的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (5)

1.一种光纤阵列检测治具，与光纤阵列夹具连接，其特征在于，所述光纤阵列检测治具包括三轴调整台、支撑装置以及调整装置，其中：

所述支撑装置包括支撑柱，所述支撑柱设置在所述三轴调整台上表面，且与所述三轴调整台转动连接，所述支撑柱包括支撑柱本体和对称设置在所述支撑柱本体上表面一对卡爪；

所述调整装置包括一调整轮以及至少一个定位单元，所述调整轮与所述支撑柱固定连接，所述调整轮内壁形成一沿周向曲率周期变化的第一凸面，所述定位单元包括压块、定位块以及弹簧，所述压块与所述三轴调整台上表面固定连接，所述定位块和所述弹簧设置在所述压块内，且所述定位块与所述压块滑动连接，所述弹簧两端分别与所述压块内壁和所述定位块一端抵接，所述定位块远离所述弹簧的一端形成第二凸面，所述第二凸面与所述第一凸面抵接。

2.根据权利要求1所述的一种光纤阵列检测治具，其特征在于，所述支撑装置还包括一轴承，所述轴承外圈与所述三轴调整台固定连接，所述轴承内圈与所述支撑柱固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种光纤阵列检测治具，其特征在于，所述轴承为推力球轴承。

4.根据权利要求1所述的一种光纤阵列检测治具，其特征在于，所述压块内壁形成第一凸台，所述定位块远离所述第二凸面的一端形成第二凸台，所述第二凸台与所述第二凸台抵接。

5.根据权利要求1所述的一种光纤阵列检测治具，其特征在于，所述调整轮侧面沿周向形成滚花。

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