CN210954244U - 一种烟雾探测芯片测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种烟雾探测芯片测试系统，包括用于测试烟雾探测芯片的功能板，还包括控制器、开关阵列和FT测试机，控制器分别通讯连接所述功能板和所述FT测试机，控制器与开关阵列的受控端电连接，所述功能板需要连接烟雾探测芯片的引脚分别连接至开关阵列的各个公共端，FT测试机的Handler上的各个探针分别连接至开关阵列的各个接线端。本实用新型利用FT测试机的现有探针结构来实现自由改变与烟雾探测芯片的硬件连接方式，通过开关阵列使功能板的引脚选择性与FT测试机的探针进行连接，从而使功能板完成其相应测试功能，整个测试过程由控制器统筹实现全自动控制，无需工作人员手动插拔，故可避免烟雾探测芯片引脚折弯损坏，实现高速测试的目的。

Description

一种烟雾探测芯片测试系统

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种烟雾探测芯片测试系统。

背景技术

现有技术中，烟雾探测芯片需用FOVI板测试其电压负荷能力，用FPVI板测试其电流负荷能力，用TMU板测试其运行的频率参数，用CBIT板测试其资源切换速度，用DIO板测试其MTP擦写能力，由于每块板需要连接的烟雾探测芯片的引脚不同，故测试时需要工作人员手动将烟雾探测芯片插到其一块板上，待该板测试完毕后再将烟雾探测芯片换到另一块板上，直至所有板测试完毕，该过程中，烟雾探测芯片经过多次手工插拔，容易出现引脚折弯损坏，一旦烟雾探测芯片的引脚损坏，则需更换新的烟雾探测芯片重头再来，造成测试成本增加及测试耗时长。

实用新型内容

本实用新型为改善现有技术中的不足之处，而提供一种烟雾探测芯片测试系统的硬件结构，待软件人员对其中的控制器编程后，烟雾探测芯片测试系统可实现自动测试，达到高速测试的目的。

为此，提出一种烟雾探测芯片测试系统，包括用于测试烟雾探测芯片的功能板，还包括控制器、开关阵列和FT测试机，控制器分别通讯连接所述功能板和所述FT测试机，控制器与开关阵列的受控端电连接，所述功能板需要连接烟雾探测芯片的引脚分别连接至开关阵列的各个公共端，FT测试机的Handler上的各个探针分别连接至开关阵列的各个接线端。

进一步地，所述开关阵列的各个接线端连接至FT测试机的LoadBoard，经LoadBoard通过转接器连接至所述探针。

进一步地，所述探针与开关阵列之间的电线为SMA线；且/或开关阵列与功能板之间的电线为SMA线。

进一步地，所述功能板包括FOVI板、FPVI板、TMU板、DIO板、CBIT板中的一者或多者。

进一步地，所述开关阵列具体是多路开关阵列。

进一步地，所述控制器具体是ST8200芯片。

有益效果：

本实用新型的烟雾探测芯片测试系统，待软件人员对其中的控制器编程后，控制器可通过FT测试机的现有探针结构来实现自由改变与烟雾探测芯片的硬件连接方式，通过开关阵列使功能板的引脚选择性与FT测试机的探针进行连接，从而使功能板完成其相应测试功能，整个测试过程由控制器统筹实现全自动控制，无需工作人员手动插拔，故可避免烟雾探测芯片引脚折弯损坏，实现高速测试的目的。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本实用新型的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本实用新型的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1示出了本实用新型的烟雾探测芯片测试系统的系统框图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

本实施例的烟雾探测芯片测试系统如图1所示，包括FOVI板1、FPVI板2、TMU板3、DIO2.0数字板4、CBIT板5、ST8200控制器6、多路开关阵列7和FT测试机8。

ST8200控制器6一方面分别与FOVI板1、FPVI板2、TMU板3、DIO2.0数字板4、CBIT板5、FT测试机8通讯连接，另一方面连接多路开关阵列7的受控端，从而控制多路开关阵列7的导通情况。FOVI板1、FPVI板2、TMU板3、DIO2.0数字板4、CBIT板5上需要连接烟雾探测芯片的引脚分别连接至多路开关阵列7的各个公共端，FT测试机8Handler上的各个探针分别连接至多路开关阵列7的各个接线端。

使用时，将待测试的烟雾探测芯片放置于FT测试机8上，然后ST8200控制器6依次启动对烟雾探测芯片的电压负荷测试、电流负荷测试、频率参数测试、资源切换测试、MTP擦写能力测试。

具体地，当要测试电压负荷时，ST8200控制器6通知FT测试机8用特定探针来连接烟雾探测芯片需连接到FOVI板1的引脚，然后控制多路开关阵列7的导通情况，使FOVI板1上需要连接烟雾探测芯片的引脚与FT测试机8用于连接雾探测芯片的探针连通起来，此时，雾探测芯片实际相当于按传统规定的连接方式连接到了FOVI板1上，接着ST8200控制器6通知FOVI板1启动进行电压负荷测试即可。

FOVI板1测试完毕后，FOVI板1返回相应指令通知ST8200控制器6，ST8200控制器6收到指令则断开多路开关阵列7，并启动进行电流负荷测试。

测试电流负荷时，ST8200控制器6通知FT测试机8用另外的探针来连接烟雾探测芯片需连接到FPVI板2的引脚，然后控制多路开关阵列7将FPVI板2上的引脚与FT测试机8用于连接的探针连通起来，接着通知FPVI板2启动进行电压负荷测试即可。

同样，FPVI板2测试完毕后返回指令使ST8200控制器6依次启动频率参数测试、资源切换测试、MTP擦写能力测试，由于测试过程及原理与上述类似，此处不再赘述。

本实施例的烟雾探测芯片测试系统，利用FT测试机8的现有探针结构来实现自由改变与烟雾探测芯片的硬件连接方式，通过多路开关阵列7使FT测试机8的探针选择性与各个功能板进行连接，从而使各个功能板可完成其相应测试功能，整个测试过程由ST8200控制器6统筹实现全自动控制，无需工作人员手动插拔，故可避免烟雾探测芯片引脚折弯损坏，实现高速测试的目的。

实际中，由于FT测试机8Handler上的探针结构十分精巧，直接将电线连接至探针较为困难，而在FT测试机8中探针会通过转接器连接至FT测试机8的LoadBoard，故将电线与LoadBoard连接，用LoadBoard实现转接。进一步地，由于芯片引脚上的信号比较弱，为保证信号经长电线传输后不引起失真，将探针与多路开关阵列7之间的电线、多路开关阵列7与功能板之间的电线均设置为SMA线。

需要说明的是，可用继电器阵列等其他开关阵列来替代本实施例的多路开关阵列7。

最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对本申请保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本申请作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本申请的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本申请技术方案的实质和范围。

Claims (6)

1.一种烟雾探测芯片测试系统，包括用于测试烟雾探测芯片的功能板，其特征在于：

还包括控制器、开关阵列和FT测试机，控制器分别通讯连接所述功能板和所述FT测试机，控制器与开关阵列的受控端电连接，所述功能板需要连接烟雾探测芯片的引脚分别连接至开关阵列的各个公共端，FT测试机的Handler上的各个探针分别连接至开关阵列的各个接线端。

2.根据权利要求1所述的烟雾探测芯片测试系统，其特征在于：所述开关阵列的各个接线端连接至FT测试机的LoadBoard，经LoadBoard通过转接器连接至所述探针。

3.根据权利要求1或2所述的烟雾探测芯片测试系统，其特征在于：所述探针与开关阵列之间的电线为SMA线；且/或开关阵列与功能板之间的电线为SMA线。

4.根据权利要求1所述的烟雾探测芯片测试系统，其特征在于：所述功能板包括FOVI板、FPVI板、TMU板、DIO板、CBIT板中的一者或多者。

5.根据权利要求1所述的烟雾探测芯片测试系统，其特征在于：所述开关阵列具体是多路开关阵列。

6.根据权利要求1所述的烟雾探测芯片测试系统，其特征在于：所述控制器具体是ST8200芯片。

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