CN210923891U - 一种测试治具 - Google Patents
一种测试治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN210923891U CN210923891U CN201921374182.3U CN201921374182U CN210923891U CN 210923891 U CN210923891 U CN 210923891U CN 201921374182 U CN201921374182 U CN 201921374182U CN 210923891 U CN210923891 U CN 210923891U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- ball
- connector
- cavity
- base plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000047 product Substances 0.000 description 5
- 229920001342 Bakelite® Polymers 0.000 description 4
- 239000004637 bakelite Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 4
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RVCKCEDKBVEEHL-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,5,6-pentachlorobenzyl alcohol Chemical compound OCC1=C(Cl)C(Cl)=C(Cl)C(Cl)=C1Cl RVCKCEDKBVEEHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种测试治具,底板及从下往上依次间隔设置在所述底板对应上方的基板、若干导向板和承载板,还包括若干探针和接插件,所述探针的一端从下往上依次穿设于所述基板、所述导向板和所述承载板,所述探针的另一端与所述接插件电性连接。探针的自由端嵌有可以自由转动的滚珠。本实用新型的实施例的测试治具可以一次性完成PCB板的整板电性能测试,同时可以减少探针剐蹭PCB板时产生划痕的概率,提高生产效率和良率。
Description
技术领域
本实用新型涉及治具领域,特别涉及一种测试治具。
背景技术
在PCBA制成中,需要对经过SMT后的PCB板进行电性能测试。由于测试时使用的探针比较细且探针针头比较尖锐,往往会在测试过程中会划伤产品。且为了提高SMT的生产效率,实际生产中往往设计成一块包含若干小板的大板,传统的PCB板测试制成是在PCB分板制成后,测试小板的电性能,测试效率低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种测试治具,能够减少测试过程中探针对被测试产品造成划伤的概率,且可以测试PCB板分板前整版的电性能,提高生产效率。
根据本实用新型提供一种测试治具,包括:
底板及从下往上依次间隔设置在所述底板对应上方的基板、若干导向板和承载板,还包括若干探针和接插件,所述探针的一端从下往上依次穿设于所述基板、所述导向板和所述承载板,所述探针的另一端与所述接插件电性连接。
本实用新型的技术方案的实施例具有以下有益效果:设置若干接插件,一个接插件对应一个需要测试的小板,可以在大板分板前一次性测试多个小板的电性能,提升测试效率,减少搬运次数,间接防止PCB板损伤,提高良率。
进一步地,还包括接插件架,所述接插件间隔安装在接插件架上。将接插件集中一处安放,便于连接。
进一步地,所述探针包括:具有导电性的杆体和滚珠,所述杆体的自由端设有空腔,所述滚珠容纳在所述空腔内,所述空腔的顶部设有防止滚珠从所述空腔脱落的内敛部,所述空腔的中下部设有防止滚珠往下跌落的凸台,所述滚珠可在所述凸台和所述内敛部之间滚动。由于探针自由端具有可以滚动的滚珠,增大了探针与PCB板上的金面的接触面积,且探针与PCB板之间发生剐蹭时可以将两者之间的滑动摩擦转变为滚动摩擦,降低了探针在PCB板上留下划痕的几率。
进一步地,所述空腔内安装有一电刷,所述滚珠和所述杆体通过所述电刷电性连接。使滚珠与杆体之间的电性连接稳定,保证测量结果的准确。
进一步地,所述底板和所述基板通过连接件连接,所述连接件为至少四根完全相同的连接杆,所述连接杆设置在所述底板的四角。连接杆易于安装拆卸,其布置灵活,可以为探针与接插件之间的连接导线腾出较大的空间。
优选地,所述导向板、所述基板和所述承载板之间通过垫片相连,所述导向板厚度相同,所述垫片高度相同。
进一步地,所述承载板上设有定位销钉。定位销钉用于定位测试产品,保证测量结果的准确。
进一步地,所述承载板上设有镂空。镂空可以避免PCB板下面器件或焊点与承载板接触,保证PCB不会在测试过程中被压坏。
优选地,其特征在于,所述探针和所述接插件之间通过导线连接。导线连接较为灵活,方便探针根据测试产品进行布置,满足测试需求。
优选地,所述接插件数量与测试产品的小板数量相同。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步地说明;
图1为本实用新型实施例的测试治具的俯视图;
图2为本实用新型实施例的测试治具的前视图;
图3为本实用新型实施例的测试治具的探针的剖视图。
附图标记:
底板10,连接杆11,
基板20,
导向板30,垫片31,
承载板40,定位销钉41,
接插件架50,接插件60,
探针70,杆体71,滚珠72,内敛部73,凸台74,电刷75,导线76,
具体实施方式
本部分将详细描述本实用新型的具体实施例,本实用新型之较佳实施例在附图中示出,附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述,使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案,但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,若干的含义是一个或者多个,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本实用新型的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
参照图1、图2和图3,在本实施例中,底板10与测试设备通过螺丝或者卡扣相连,基板20通过四根完全相同的连接杆11安装于底板10上。连接杆11设置底板10的四角,以为其他部件提供空间,底板10和基板20与连接杆11通过螺纹连接。基板20的一侧安装有接插件架50,接插件架50上安装有若干接插件60,接插件60的数量与本测试的PCB板上的小板数量相等。基板20的上方架设有用于承载被测试的PCB板的承载板40,承载板40与基板20之间间隔架设有若干导向板30。导向板30、基板20和承载板40之间通过垫片31相连,垫片31和基板20、导向板30、承载板40之间通过螺纹连接。在本实施例中,优选地,基板20和承载板40之间等间距地架设有3块导向板30,及每块导向板30的厚度相等,垫片31的厚度也相等,在引导探针70防止其变形的同时,又比较容易穿设探针。基板20、导向板30和承载板40上有按照被测PCB板的测试点布局的孔,探针70通过这些孔依次穿过基板20、若干导向板30及承载板40,探针70自由端漏出于承载板40的上表面。探针70的下端漏出于基板20的下表面,且通过导线76与接插件60的接线端相连。接插件60将治具和测试设备电性连接。承载板40上有定位销钉41和根据被测试的PCB板上器件布局而设置的镂空42,当被测试PCB板上的工艺孔对准定位销钉41放置在承载板40上时,PCB板下表面的器件会对应上镂空42,以保护器件不被损坏,探针70的自由端与PCB板上的测试点接触。每一个接插件60与测试PCB板上一个小板的所有测试点的探针70相连接,接插件60与PCB板上的小板一一对应。
优选地,在本实施例中,底板10为表面涂有绝缘漆的铁板,使测试治具的重心下移。其它板和接插件架50均由电木制成,易于加工。若干导向板30和垫片31的规格相同。在此实施例中,接插件60为牛角插头。可以理解的是,接插件60应与测试设备上的接插件规格一致。在本实施例中,接插件架50为两根电木条,电木条一端按接插件宽度固定于基板20一侧,接插件60两端分别固定于两根电木条上,接插件60之间等间距架设。
为了防止探针划伤PCB板,本实用新型的测试治具的实施例的探针70具有如下结构:探针70包括杆体71和嵌于杆体71自由端的空腔内的滚珠72,空腔下部有沿杆体70周向的凸台74,杆体71的自由端有有内敛部73,滚珠72保持在凸台74和内敛部73之间,滚珠72可以在空腔内自由滚动。在本实施例中,空腔内壁与滚珠72的外表面之间存在8~12个丝大小的间隙以方便滚珠72自由转动。滚珠72与杆体71之间还连接有电刷75,使滚珠72与杆体71之间的电性连接更加稳定。应该理解的是,用石墨粉充分填充在滚珠72和杆体71之间的间隙中,也可以产生同样的效果。
根据本实用新型的实施例的测试治具,可以一次性完成对经过SMT后的PCB板整版的电性能测试,相对于分板后再进行测试减少了大量的上下料时间,提高了生产效率,且结构简单,更换方便,易于制作。探针尖端镶嵌有可以滚动的滚珠,将探针与PCB剐蹭时发生的滑动摩擦变为滚动摩擦,降低了划伤PCB板的几率,提高PCB板的良率。
上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明,但是本实用新型不限于上述实施例,在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。
Claims (10)
1.一种测试治具,其特征在于,包括:
底板及从下往上依次间隔设置在所述底板对应上方的基板、导向板和承载板,还包括若干探针和接插件,所述探针的一端从下往上依次穿设于所述基板、所述导向板和所述承载板,所述探针的另一端与所述接插件电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,还包括接插件架,所述接插件间隔安装在接插件架上。
3.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述探针包括:具有导电性的杆体和滚珠,所述杆体的自由端设有空腔,所述滚珠容纳在所述空腔内,所述空腔的顶部设有防止滚珠从所述空腔脱落的内敛部,所述空腔的中下部设有防止滚珠往下跌落的凸台,所述滚珠可在所述凸台和所述内敛部之间滚动。
4.根据权利要求3所述的一种测试治具,其特征在于,所述空腔内安装有一电刷,所述滚珠和所述杆体通过所述电刷电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述底板和所述基板通过连接件连接,所述连接件为至少四根完全相同的连接杆,所述连接杆设置在所述底板的四角。
6.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述导向板、所述基板和所述承载板之间通过垫片相连,所述导向板厚度相同,所述垫片高度相同。
7.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述承载板上设有定位销钉。
8.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述承载板上设有镂空。
9.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述探针和所述接插件之间通过导线连接。
10.根据权利要求1所述的一种测试治具,其特征在于,所述接插件数量与测试产品的小板数量相同。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201921374182.3U CN210923891U (zh) | 2019-08-22 | 2019-08-22 | 一种测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201921374182.3U CN210923891U (zh) | 2019-08-22 | 2019-08-22 | 一种测试治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN210923891U true CN210923891U (zh) | 2020-07-03 |
Family
ID=71363760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201921374182.3U Expired - Fee Related CN210923891U (zh) | 2019-08-22 | 2019-08-22 | 一种测试治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN210923891U (zh) |
-
2019
- 2019-08-22 CN CN201921374182.3U patent/CN210923891U/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101713790B (zh) | 检查治具、电极结构及电极结构的制造方法 | |
US10948519B2 (en) | Probe | |
GB1309160A (en) | Electrical test probe assembly | |
US2578288A (en) | Test adapter | |
CN102998493A (zh) | 探头单元、电路基板检查装置以及探头单元制造方法 | |
CN105004895B (zh) | 一种表贴封装微波器件测试装置 | |
CN210604724U (zh) | 一种高电流测试探针及探针组件 | |
CN210923891U (zh) | 一种测试治具 | |
CN114252003A (zh) | 铜箔厚度测量探针及其探测头 | |
CN211554060U (zh) | 一种多功能的线路板测试治具 | |
CN204560009U (zh) | 印制电路板测点引出转接板 | |
CN207779330U (zh) | 功能测试治具顶针的检测装置 | |
CN207181625U (zh) | 微电子测试模块及系统 | |
CN209167403U (zh) | 一种万用表端子排专用接线头 | |
CN205643569U (zh) | 一种测试手机卡信号的装置 | |
CN205646181U (zh) | 导线端子套 | |
CN207780168U (zh) | 一种绝缘耐压测试工装 | |
CN208013260U (zh) | 汽车电路测试集成探针 | |
CN204760358U (zh) | 一种用于ipm和igbt测试的适配器 | |
CN207396672U (zh) | 测试治具 | |
CN109085391A (zh) | 电子设备测试装置及电子设备 | |
CN211426568U (zh) | 一种环形器用smd测试治具 | |
CN216117701U (zh) | 弹簧片电连接夹具 | |
CN214473855U (zh) | 一种导通测试装置 | |
CN219737550U (zh) | 一种翘板式连接器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20200703 |