CN210899115U

CN210899115U - 一种二极管测试单元与装置

Info

Publication number: CN210899115U
Application number: CN201922013001.0U
Authority: CN
Inventors: 宁凯; 左洪涛; 贾明杰; 张凡
Original assignee: CASIC Defense Technology Research and Test Center
Current assignee: CASIC Defense Technology Research and Test Center
Priority date: 2019-11-20
Filing date: 2019-11-20
Publication date: 2020-06-30
Anticipated expiration: 2029-11-20

Abstract

本实用新型公开了一种二极管测试单元及装置，用于对二极管进行可靠性测试。测试单元包括第一电源、第二电源、保险管、采样电阻、功率电阻、电流调整三极管以及第一待测二极管、第二待测二极管与第三待测二极管；第一待测二极管、第二待测二极管与第三待测二极管按照正负极相同指向依次串联；第一电源正极施加到保险管，保险管与三个待测二极管以及采样电阻和功率电阻串联在同一支路并接入电流调整三极管的集电极；电流调整三极管的发射极与第二电源的负极相连接；第二电源的正极与第一电源的负极连接，电流调整三极管的基极连接在第二电源的正极与第一电源的负极之间。本实用新型能够对二极管进行可靠性测试。

Description

一种二极管测试单元与装置

技术领域

本实用新型涉及电子器件技术领域，特别是指一种二极管测试单元与装置。

背景技术

老炼试验能够缩短器件早期失效的时间，能充分暴露器件绝大部分的失效机理，是提高器件使用可靠性的有效措施。如图1所示，为LL-34二极管的结构原理示意图，LL-34二极管体型较小，采用特殊封装形式，对其进行老炼试验难度较大，目前尚没有对该二极管进行老炼试验的测试装置，使得该二极管的使用无法满足实际要求。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种二极管测试单元与装置，能够对二极管进行可靠性测试。

基于上述目的，本实用新型提供了一种二极管测试单元，包括：

第一电源、第二电源、保险管、采样电阻、功率电阻、电流调整三极管以及第一待测二极管、第二待测二极管与第三待测二极管；

所述第一待测二极管、所述第二待测二极管与所述第三待测二极管按照正负极相同指向依次串联；

所述保险管的一端与所述第一电源的正极相连接，另一端与所述第一待测二极管的正极连接；

所述采样电阻与所述功率电阻串联，所述采样电阻远离所述功率电阻的一端与所述第三待测二极管的负极连接，所述功率电阻远离所述采样电阻的一端与所述电流调整三极管的集电极连接；

所述电流调整三极管的发射极与所述第二电源的负极相连接；

所述第二电源的正极与所述第一电源的负极连接，所述电流调整三极管的基极连接在所述第二电源的正极与所述第一电源的负极之间。

可选的，所述待测二极管的型号为LL-34。

可选的，所述保险管的额定电压为250V，额定电流为0.1A。

可选的，所述采样电阻的型号为RJ14-1，功率为2W，阻值为10Ω，误差值为1％。

可选的，所述功率电阻的型号为RX24，功率为6W，阻值为51Ω，误差值为5％。

可选的，所述电流调整三极管的型号为TIP42C。

基于上述目的，本实用新型还提供了一种二极管测试装置，包括多个所述二极管测试单元。

可选的，所述测试装置基于PCB电路板实现，所述PCB电路板上配置16个所述二极管测试单元。

可选的，所述PCB电路板上与所述二极管测试单元相对应的位置设置有插入夹具，用于安装插入所述待测二极管。

可选的，所述PCB电路板上所述二极管测试单元按照横向排风方式进行排布设计，每两路相邻的测试单元横向交错。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的二极管测试单元与装置，测试单元能够对LL-34二极管进行可靠性测试，测试装置能够同时对48个上述LL-34二极管进行可靠性测试，且散热性能良好。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例的二极管结构原理示意图；

图2为本实用新型实施例测试单元电路原理结构示意图；

图3为本实用新型实施例测试装置顶层视图；

图4为本实用新型实施例测试装置底层视图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

图2为本实用新型实施例的测试单元电路原理结构示意图，如图所示，本实用新型提供的二极管测试单元，用于对LL-34二极管进行可靠性测试。

如图所示，测试单元包括第一电源Vb、第二电源Vc、保险管FUSE、采样电阻F0、功率电阻Fc、电流调整三极管T以及第一待测二极管D1、第二待测二极管D2与第三待测二极管D3，其中所述第一电源Vb用于为所述电流调整三极管的集电极与基极之间提供偏置电压Ucb，所述第二电源Vb用于为所述电流调整三极管的基极与发射极之间提供偏置电压Ube。

所述第一待测二极管D1、所述第二待测二极管D2与所述第三待测二极管D3按照正负极相同指向依次串联，所述第一待测二极管D1的负极指向所述第二待测二极管D2的正极，所述第二待测二极管D2的负极指向所述第三待测二极管D3的正极；

所述保险管FUSE的一端与所述第一电源Vc的正极相连接，另一端与所述第一待测二极管D1的正极连接；

所述采样电阻R0与所述功率电阻Rc串联，所述采样电阻R0远离所述功率电阻Rc的一端与所述第三待测二极管D3的负极连接，所述功率电阻Rc远离所述采样电阻R0的一端与所述电流调整三极管T的集电极连接；

所述电流调整三极管T的发射极与所述第二电源Vb的负极相连接；

所述第二电源Vb的正极与所述第一电源Vc的负极连接，所述电流调整三极管T的基极连接在所述第二电源Vb的正极与所述第一电源Vc的负极之间。

测试时，通过调节所述第一电源Vc与所述第二电源Vb，对三个所述待测二极管进行可靠性测试。具体的，第一电源Vc与第二电源Vb提供偏置电压，所述第一电源Vc的正端通过所述保险管FUSE施加到所述第一待测二极管D1,所述第二电源Vb的负端通过所述电流调整三极管T施加到所述第三待测二极管D3，测试中电流的流向为：第一电源Vc正端——第一待测二极管D1——第二待测二极管D2——第三待测二极管D3——第二电源Vb负端。根据三极管的工作原理，本实用新型的测试单元能够对所述待测二极管进行可靠性测试。

在一些可选实施例中，所述待测二极管的型号为LL-34。

在一些可选实施例中，所述保险管FUSE的额定电压为250V，额定电流为0.1A。

在一些可选实施例中，所述采样电阻的型号为RJ14-1，功率为2W，阻值为10Ω，误差值为1％。

在一些可选实施例中，所述功率电阻的型号为RX24，功率为6W，阻值为51Ω，误差值为5％。

在一些可选实施例中，所述电流调整三极管的型号为TIP42C。

图3为本实用新型实施例的测试装置的顶视图，图4为本实用新型实施例的测试装置的底视图。如图所示，本实用新型实施例提供的二极管测试装置，能够同时对48个型号为LL-34的二极管进行可靠性测试。具体的说：

测试装置基于PCB电路板实现，所述PCB电路板上配置16个所述二极管测试单元，每个工位上配置一个用于为二极管进行可靠性测试的测试单元，每个测试单元中设置有3个待测二极管，16个试验工位可以同时对48个二极管进行测试。

所述PCB电路板上与所述二极管测试单元相对应的位置设置有插入夹具，用于安装插入所述待测二极管，在测试时只需要按照极性方向将待测二极管插入。

为提高PCB板整体散热能力，设备为横向排风设计，将每两路相邻的试验测试单元横向交错，工位间加大间距，确保风道畅通；

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本实用新型难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本实用新型难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本实用新型的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本实用新型的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本实用新型。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。

尽管已经结合了本实用新型的具体实施例对本实用新型进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态RAM(DRAM))可以使用所讨论的实施例。

本实用新型的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种二极管测试单元，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述待测二极管的型号为LL-34。

3.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述保险管的额定电压为250V，额定电流为0.1A。

4.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述采样电阻的型号为RJ14-1，功率为2W，阻值为10Ω，误差值为1％。

5.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述功率电阻的型号为RX24，功率为6W，阻值为51Ω，误差值为5％。

6.根据权利要求1所述测试单元，其特征在于，所述电流调整三极管的型号为TIP42C。

7.一种二极管测试装置，其特征在于，包括多个如权利要求1-6任意一项所述的二极管测试单元。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置基于PCB电路板实现，所述PCB电路板上配置16个所述二极管测试单元。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述PCB电路板上与所述二极管测试单元相对应的位置设置有插入夹具，用于安装插入所述待测二极管。

10.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述PCB电路板上所述二极管测试单元按照横向排风方式进行排布设计，每两路相邻的测试单元横向交错。