CN210775606U - 一种低互调优耐久性测试组件 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种低互调优耐久性测试组件，包括外壳体、组壳体外导体、组壳体第一绝缘子、组壳体内导体、组壳体第二绝缘子和电缆，所述组壳体内导体的右端贯穿组壳体第一绝缘子且延伸至其外部，所述组壳体第一绝缘子设置在组壳体外导体的内部，所述组壳体外导体安装在外壳体的内部。本实用新型通过外壳体、组壳体外导体、组壳体第一绝缘子、组壳体内导体、组壳体第二绝缘子和电缆，实现了一种低互调优耐久性测试组件，组壳体外导体和电缆形成整体并压入外壳体，使得外壳体与电缆外导体焊接，使整个组件和电缆固定不变形，信号传输不发生在组壳体外导体上，不产生电火花，对互调无信号无影响。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试组件技术领域，具体为一种低互调优耐久性测试组件。
背景技术
电缆通常是由几根或几组导线(每组至少两根)绞合而成的类似绳索的电缆，每组导线之间相互绝缘，并常围绕着一根中心扭成，整个外面包有高度绝缘的覆盖层。电缆具有内通电，外绝缘的特征，电缆有电力电缆、控制电缆、补偿电缆、屏蔽电缆、高温电缆、计算机电缆、信号电缆、同轴电缆、耐火电缆、船用电缆、矿用电缆、铝合金电缆等等。它们都是由单股或多股导线和绝缘层组成，用来连接电路、电器等，电缆在生产完成值之后常需对其性能进行测试，现有测试组件在测试电缆的过程中容易产生一些电火花，从而影响互调测试结果，并且固定电缆效果不理想，容易引起电缆和测试组件变形。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种低互调优耐久性测试组件，以解决背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种低互调优耐久性测试组件，包括外壳体、组壳体外导体、组壳体第一绝缘子、组壳体内导体、组壳体第二绝缘子和电缆，所述组壳体内导体的右端贯穿组壳体第一绝缘子且延伸至其外部，所述组壳体第一绝缘子设置在组壳体外导体的内部，所述组壳体外导体安装在外壳体的内部，所述组壳体第二绝缘子套接在电缆左侧的端面上，所述组壳体内导体焊接在电缆的左侧，所述电缆的左端依次贯穿外壳体和组壳体外导体且延伸至组壳体外导体的内部。
优选的，所述组壳体内导体焊接在电缆左侧的芯线上。
优选的，所述电缆左侧的芯线贯穿组壳体内导体且延伸至其内部。
优选的，所述组壳体外导体与电缆形成整体并压入外壳体，所述外壳体与电缆外导体焊接。
优选的，所述组壳体第一绝缘子与组壳体内导体过盈压配，所述组壳体外导体与外壳体过盈压配。
优选的，所述组壳体外导体、组壳体第一绝缘子、组壳体内导体和组壳体第二绝缘子配合形成了组壳体。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
本实用新型通过外壳体、组壳体外导体、组壳体第一绝缘子、组壳体内导体、组壳体第二绝缘子和电缆，实现了一种低互调优耐久性测试组件，组壳体外导体和电缆形成整体并压入外壳体，使得外壳体与电缆外导体焊接，使整个组件和电缆固定不变形，信号传输不发生在组壳体外导体上，不产生电火花，对互调无信号无影响。
附图说明
图1为本实用新型正视图的结构剖面图；
图2为本实用新型外壳体正视图的结构剖面图；
图3为本实用新型组壳体外导体正视图的结构剖面图；
图4为本实用新型组壳体第一绝缘子正视图的结构剖面图；
图5为本实用新型组壳体内导体正视图的结构剖面图；
图6为本实用新型组壳体第二绝缘子正视图的结构剖面图；
图7为本实用新型电缆正视图的结构剖面图；
图8为本实用新型组壳体外导体、组壳体第一绝缘子、组壳体内导体和组壳体第二绝缘子组成的组壳体正视图的结构剖面图。
图中：1外壳体、2组壳体外导体、3组壳体第一绝缘子、4组壳体内导体、5组壳体第二绝缘子、6电缆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-8，一种低互调优耐久性测试组件，包括外壳体1、组壳体外导体2、组壳体第一绝缘子3、组壳体内导体4、组壳体第二绝缘子5和电缆6，组壳体外导体2、组壳体第一绝缘子3、组壳体内导体4和组壳体第二绝缘子5配合形成了组壳体，组壳体相当于标准连接器，外壳体1起固定作用，外壳体1不传输电信号，外壳体1作用为固定线缆和配合连接器连接功能，组壳体内导体4的右端贯穿组壳体第一绝缘子3且延伸至其外部，组壳体第一绝缘子3设置在组壳体外导体2的内部，组壳体第一绝缘子3与组壳体内导体4过盈压配，组壳体外导体2与外壳体1过盈压配，组壳体外导体2安装在外壳体1的内部，组壳体第二绝缘子5套接在电缆6左侧的端面上，组壳体内导体4焊接在电缆6的左侧，组壳体内导体4焊接在电缆6左侧的芯线上，电缆6左侧的芯线贯穿组壳体内导体4且延伸至其内部，组壳体外导体2与电缆6形成整体并压入外壳体1，外壳体1与电缆6外导体焊接，电缆6的左端依次贯穿外壳体1和组壳体外导体2且延伸至组壳体外导体2的内部，通过外壳体1、组壳体外导体2、组壳体第一绝缘子3、组壳体内导体4、组壳体第二绝缘子5和电缆6，实现了一种低互调优耐久性测试组件，组壳体外导体2和电缆6形成整体并压入外壳体1，使得外壳体1与电缆6外导体焊接，使整个组件和电缆6固定不变形，信号传输不发生在组壳体外导体2上，不产生电火花，对互调无信号无影响。
使用时，将组壳体内导体4压入组壳体第一绝缘子3，将组壳体第二绝缘子5套在电缆6的端面，将组壳体内导体4焊接到电缆6芯线上，然后将焊接好组壳体内导体4的电缆6直接插入组壳体外导体2，焊接组壳体外导体2和电缆6形成整体，组壳体外导体2和电缆6形成整体压入外壳体1，焊接外壳体1和电缆6外导体，固定不变形，组壳体第一绝缘子3和组壳体内导体4为过盈压配，组壳体外导体2和外壳体1也为过盈压配。
综上所述：该低互调优耐久性测试组件，通过外壳体1、组壳体外导体2、组壳体第一绝缘子3、组壳体内导体4、组壳体第二绝缘子5和电缆6，解决了背景技术中提出的问题。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种低互调优耐久性测试组件，包括外壳体(1)、组壳体外导体(2)、组壳体第一绝缘子(3)、组壳体内导体(4)、组壳体第二绝缘子(5)和电缆(6)，其特征在于：所述组壳体内导体(4)的右端贯穿组壳体第一绝缘子(3)且延伸至其外部，所述组壳体第一绝缘子(3)设置在组壳体外导体(2)的内部，所述组壳体外导体(2)安装在外壳体(1)的内部，所述组壳体第二绝缘子(5)套接在电缆(6)左侧的端面上，所述组壳体内导体(4)焊接在电缆(6)的左侧，所述电缆(6)的左端依次贯穿外壳体(1)和组壳体外导体(2)且延伸至组壳体外导体(2)的内部。
2.根据权利要求1所述的一种低互调优耐久性测试组件，其特征在于：所述组壳体内导体(4)焊接在电缆(6)左侧的芯线上。
3.根据权利要求1所述的一种低互调优耐久性测试组件，其特征在于：所述电缆(6)左侧的芯线贯穿组壳体内导体(4)且延伸至其内部。
4.根据权利要求1所述的一种低互调优耐久性测试组件，其特征在于：所述组壳体外导体(2)与电缆(6)形成整体并压入外壳体(1)，所述外壳体(1)与电缆(6)外导体焊接。
5.根据权利要求1所述的一种低互调优耐久性测试组件，其特征在于：所述组壳体第一绝缘子(3)与组壳体内导体(4)过盈压配，所述组壳体外导体(2)与外壳体(1)过盈压配。
6.根据权利要求1所述的一种低互调优耐久性测试组件，其特征在于：所述组壳体外导体(2)、组壳体第一绝缘子(3)、组壳体内导体(4)和组壳体第二绝缘子(5)配合形成了组壳体。
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