CN210689851U - 一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计 - Google Patents

一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计 Download PDF

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吴松
喻江
贾新标
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Abstract

本实用新型实施例公开了一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,包括圆柱状的玻璃基底,玻璃基底内部沿轴向设置有两条平行的金属导线丝,玻璃基底的两端分别为A端和B端,A端的端部经过抛光打磨而光滑平整,金属导线丝的一端延伸至A端且与A端的端部齐平,另一端则延伸出B端端部,A端表面经真空溅射形成铂薄膜,铂薄膜与金属导线丝相接,其中,铂薄膜的厚度为0.1μm~1μm,玻璃基底的为直径1.8mm~2.2mm,玻璃基底的外形椭圆度<0.05,金属导线丝的直径为玻璃基底直径的1/10,两个金属导线丝的间距≥1mm,本实用新型通过在玻璃基底内预埋金属导线丝来进行通电,替代现有技术中在玻璃基底两侧刷银浆的方式,简化电阻温度计的制作过程,提升电阻温度计的生产质量。

Description

一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计
技术领域
本实用新型实施例涉及电阻温度计技术领域,具体涉及一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计。
背景技术
通常,用于高超声速风洞测热试验的铂薄膜电阻温度计(如图1)是在玻璃基底上溅射上铂金膜,经500℃高温老化后,再在玻璃基底两侧刷银浆,以连接导线。银浆为手工刷涂,刷涂后也要经500℃高温老化后,方可焊接导线。
在使用过程中,铂薄膜电阻温度计要加载恒流源,使其两端电压为1V。因此,需要传感器与金属模型绝缘。通常采用裹透明胶纸的方式。由于银浆与玻璃基底的结合度并不高,很容易随胶纸一起剥落。同时,由于制作过程需要经过多次经500℃高温老化,过程较为繁琐。
实用新型内容
为此,本实用新型实施例提供一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,以解决现有技术中由于需要在玻璃基底两侧刷银浆以连通导线,银浆为手工刷涂,刷涂后也要经500℃高温老化后,过程较为繁琐,同时为了保持绝缘,需要采用裹透明胶纸的方式,由于银浆与玻璃基底的结合度并不高,很容易随胶纸一起剥落的问题。
为了实现上述目的,本实用新型的实施方式提供如下技术方案:
一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,包括圆柱状的玻璃基底,所述玻璃基底内部沿轴向设置有两条平行的金属导线丝,所述玻璃基底的两端分别为A端和B端,所述A端的端部经过抛光打磨而光滑平整,所述金属导线丝的一端延伸至所述A端且与所述A端的端部齐平,另一端则延伸出所述B端端部,所述A端表面经真空溅射形成铂薄膜,所述铂薄膜与所述金属导线丝相接。
作为本实用新型的一种优选方案,所述铂薄膜的厚度为0.1μm~1μm。
作为本实用新型的一种优选方案,所述玻璃基底的为直径1.8mm~2.2mm。
作为本实用新型的一种优选方案,所述玻璃基底的外形椭圆度<0.05。
作为本实用新型的一种优选方案,所述金属导线丝的直径为所述玻璃基底直径的1/10。
作为本实用新型的一种优选方案,两个所述的金属导线丝的间距≥1mm。
本实用新型的实施方式具有如下优点:
本实用新型通过在玻璃基底内预埋金属导线丝来进行通电,替代现有技术中在玻璃基底两侧刷银浆的方式,无需手动刷银浆,也无需再次经500℃高温老化,简化电阻温度计的制作过程,并且也无需为了保持绝缘,在玻璃基底的表面裹透明胶纸,从而避免了由于银浆与玻璃基底的结合度并不高,容易随胶纸一起剥落的问题,提升电阻温度计的生产质量。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型的实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是示例性的,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本实用新型可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1为本实用新型实施方式中的整体结构示意图。
图中:
1-玻璃基底;2-金属导线丝;3-A端;4-B端;5-铂薄膜。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示,本实用新型提供了一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,包括圆柱状的玻璃基底1,玻璃基底1内部沿轴向设置有两条平行的金属导线丝2,玻璃基底1的两端分别为A端3和B端4,A端3的端部经过抛光打磨而光滑平整,金属导线丝2的一端延伸至A端3且与A端3的端部齐平,另一端则延伸出B端4端部,A端3表面经真空溅射形成铂薄膜5,铂薄膜5与金属导线丝2相接,其中,铂薄膜5的厚度为0.1μm~1μm,玻璃基底1的为直径1.8mm~2.2mm,玻璃基底1的外形椭圆度<0.05,金属导线丝2的直径为玻璃基底1直径的1/10,两个金属导线丝2的间距≥1mm。
在本实施方式中,通过在玻璃基底1内预埋金属导线丝2来进行通电,替代现有技术中在玻璃基底1两侧刷银浆的方式,无需手动刷银浆,并且在整个电阻温度计生产过程中,只有在A端3表面经真空溅射形成铂薄膜5后需要经500℃高温老化后,从而可以简化电阻温度计的制作过程,并且也无需为了保持绝缘,在玻璃基底1的表面裹透明胶纸,避免了由于银浆与玻璃基底1的结合度并不高,容易随胶纸一起剥落的问题,从而简化电阻温度计的制作过程,简化操作,提升电阻温度计的生产质量。
在本实施方程中,只有在A端3表面经真空溅射形成铂薄膜5后需要经500℃高温老化后,从而可以简化电阻温度计的制作过程。
虽然,上文中已经用一般性说明及具体实施例对本实用新型作了详尽的描述,但在本实用新型基础上,可以对之作一些修改或改进,这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此,在不偏离本实用新型精神的基础上所做的这些修改或改进,均属于本实用新型要求保护的范围。

Claims (6)

1.一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,其特征在于,包括圆柱状的玻璃基底(1),所述玻璃基底(1)内部沿轴向设置有两条平行的金属导线丝(2),所述玻璃基底(1)的两端分别为A端(3)和B端(4),所述A端(3)的端部经过抛光打磨而光滑平整,所述金属导线丝(2)的一端延伸至所述A端(3)且与所述A端(3)的端部齐平,另一端则延伸出所述B端(4)端部,所述A端(3)表面经真空溅射形成铂薄膜(5),所述铂薄膜(5)与所述金属导线丝(2)相接。
2.根据权利要求1所述的一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,其特征在于,所述铂薄膜(5)的厚度为0.1μm~1μm。
3.根据权利要求1所述的一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,其特征在于,所述玻璃基底(1)的为直径1.8mm~2.2mm。
4.根据权利要求3所述的一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,其特征在于,所述玻璃基底(1)的外形椭圆度<0.05。
5.根据权利要求1所述的一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,其特征在于,所述金属导线丝(2)的直径为所述玻璃基底(1)直径的1/10。
6.根据权利要求5所述的一种预埋引线的铂薄膜电阻温度计,其特征在于,两个所述的金属导线丝(2)的间距≥1mm。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115216734B (zh) * 2022-08-09 2024-01-26 中国科学院力学研究所 一种提高铂膜与基底材料结合力的方法

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