CN210667743U - 显示面板测试电路及显示面板 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供了一种显示面板测试电路及显示面板，涉及显示技术领域。该显示面板测试电路包括：第一测试子电路与第一开关信号线、第一数据线和开关模块连接，在第一开关信号线的第一开关信号、第一数据线的第一数据信号和开关模块的控制下，对第一显示区测试；开关模块与第二开关信号线和第二测试子电路连接，用于在第二开关信号线的第二开关信号的控制下，控制第一测试子电路或第二测试子电路进入工作状态；第二测试子电路与第三开关信号线和第二数据线连接，用于在第三开关信号线的第三开关信号、第二数据线的第二数据信号和开关模块的控制下，对第二显示区测试。利用本实用新型的技术方案能够分别独立对显示面板不同显示区进行测试。

Description

显示面板测试电路及显示面板

技术领域

本实用新型属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板测试电路及显示面板。

背景技术

随着显示技术的发展，用户对显示装置的屏幕的要求也越来越高。显示装置可能会需要安装摄像头、听筒、感应单元等元件。现阶段，可在显示装置上设置一个与主显示区区分开来的显示区，将摄像头、听筒、感应单元等元件安装在该显示区下方。

与主显示区区分开来的显示区的像素排布方式往往与主显示区不同，无法利用主显示区的测试电路为该显示区进行测试。因此，亟需一种能够为该显示区进行测试的测试电路。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种显示面板测试电路及显示面板，能够分别独立对显示面板的第一显示区和第二显示区进行测试。

一方面，本实用新型实施例提供一种显示面板测试电路，用于显示面板，显示面板包括第一显示区和第二显示区，第二显示区的透光率高于第一显示区的透光率，显示面板还包括第一开关信号线、第二开关信号线、第三开关信号线、第一数据线和第二数据线；

显示面板测试电路包括：

第一测试子电路，与第一开关信号线、第一数据线和开关模块分别连接，用于在第一开关信号线提供的第一开关信号、第一数据线提供的第一数据信号和开关模块的控制下，进入工作状态对第一显示区进行测试；

开关模块，与第二开关信号线和第二测试子电路分别连接，用于在第二开关信号线提供的第二开关信号的控制下，协助控制第一测试子电路或

第二测试子电路进入工作状态；

第二测试子电路，与第三开关信号线和第二数据线连接，用于在第三开关信号线提供的第三开关信号、第二数据线提供的第二数据信号和开关模块的控制下，进入工作状态对第二显示区进行测试。

在一些可能的实施例中，第一测试电路包括与第一显示区中多个像素组对应的多个第一开关管，每个第一开关管的控制端与第一开关信号线连接，至少部分第一开关管的第一端与开关模块连接，每个第一开关管的第二端与第一数据线连接。

在一些可能的实施例中，第二测试电路包括与第二显示区中多个像素组对应的多个第二开关管，每个第二开关管的控制端与第三开关信号线连接，每个第二开关管的第一端与第二数据线连接，每个第二开关管的第二端与开关模块连接。

在一些可能的实施例中，开关模块包括与第二显示区中多个像素组对应的多个第三开关管，每个第三开关管的控制端与第二开关信号线连接，每个第三开关管的第一端与对应的第二开关管的第二端连接，每个第三开关管的第二端与对应的第一开关管的第一端连接。

另一方面，本实用新型实施例提供一种显示面板，包括显示区和非显示区，

显示区包括第一显示区和第二显示区，第二显示区的透光率高于第一显示区的透光率；

非显示区设置有第一方面的技术方案中的显示面板测试电路。

在一些可能的实施例中，非显示区包括第一非显示区和第二非显示区，第一非显示区与第二非显示区相对，第二非显示区临近第二显示区；

第一测试子电路和开关模块位于第一非显示区，第二测试子电路位于第二非显示区。

在一些可能的实施例中，非显示区包括第一非显示区，第一非显示区与第二显示区相对；

第一测试子电路、第二测试子电路和开关模块均位于第一非显示区。

在一些可能的实施例中，非显示区还设置有第一开关信号线、第二开关信号线、第三开关信号线、第一数据线和第二数据线。

在一些可能的实施例中，第一显示区包括多个像素组，每个像素组包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种；第一数据线包括为第一子像素提供第一数据信号的第一子数据线、为第二子像素提供第一数据信号的第二子数据线和为第三子像素提供第一数据信号的第三子数据线；

第一测试子电路中用于对第一目标像素组进行测试的第一开关管的第二端，与为第一目标像素组包括的子像素提供第一数据信号的子数据线连接，第一目标像素组为第一显示区中的任意一个像素组。

在一些可能的实施例中，第二显示区包括多个像素组，每个像素组包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种；第二数据线包括为第一子像素提供第二数据信号的第四子数据线、为第二子像素提供第二数据信号的第五子数据线和为第三子像素提供第二数据信号的第六子数据线；

第二测试子电路中用于对第二目标像素组进行测试的第二开关管的第一端，与为第二目标像素组包括的子像素提供第二数据信号的子数据线连接，第二目标像素组为第二显示区中的任意一个像素组。

本实用新型实施例提供一种显示面板测试电路及显示面板，显示面板测试电路包括第一测试子电路、开关模块和第二测试子电路。第一测试子电路进入工作状态可对第一显示区进行测试。第二测试子电路进入工作状态可对第二显示区进行测试。可通过开关模块的断开或导通，使第一测试子电路或第二测试子电路进入工作状态，从而使得显示面板测试电路可分别独立对显示面板的第一显示区和第二显示区进行测试。

附图说明

从下面结合附图对本实用新型的具体实施方式的描述中可以更好地理解本实用新型其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1为本实用新型实施例中显示面板的各显示区的示意图；

图2为本实用新型实施例中一种显示面板测试电路的结构示意图；

图3为本实用新型实施例中一种显示面板测试电路的一种实施方式的结构示意图；

图4为本实用新型实施例中一种显示面板测试电路的另一种实施方式的结构示意图；

图5为本实用新型一实施例中一种显示面板中显示面板检测电路设置位置的示意图；

图6为本实用新型另一实施例中一种显示面板中显示面板检测电路设置位置的示意图；

图7为本实用新型实施例中一种显示面板中显示区局部与显示面板测试电路局部的示意图；

图8为与图7对应的部分开关信号的信号时序图。

具体实施方式

下面将详细描述本实用新型的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本实用新型的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本实用新型可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本实用新型的示例来提供对本实用新型的更好的理解。本实用新型决不限于下面所提出的任何具体配置和算法，而是在不脱离本实用新型的精神的前提下覆盖了元素、部件和算法的任何修改、替换和改进。在附图和下面的描述中，没有示出公知的结构和技术，以便避免对本实用新型造成不必要的模糊。

本实用新型实施例提供一种显示面板测试电路及显示面板，可用于包括第一显示区和第二显示区的显示面板。图1为本实用新型实施例中显示面板的各显示区的示意图。如图1所示，显示面板包括第一显示区111和第二显示区112。其中，第一显示区111围绕第二显示区112的至少部分。第二显示区112的透光率高于第一显示区111的透光率。在一些示例中，如前置摄像头、光纤感应器等的感光器件可设置在第二显示区112下方，在保证感光器件可正常工作的情况下实现显示面板的显示。

在显示面板出厂前，需要对显示面板进行点亮测试，以保证显示面板中各像素均可正常发光。由于第一显示区的像素排布方式和第二显示区的像素排布方式可能不同，需要一种显示面板测试电路能够分别独立实现第一显示区和第二显示区的点亮测试。显示面板中设置有第一开关信号线、第二开关信号线、第三开关信号线、第一数据线和第二数据线。其中，第一开关信号线可提供第一开关信号，第二开关信号线可提供第二开关信号，第三开关信号线可提供第三开关信号，第一数据线可提供第一数据信号，第二数据线可提供第二数据信号。

图2为本实用新型实施例中一种显示面板测试电路的结构示意图。如图2所示，显示面板测试电路可包括第一测试子电路21、开关模块22和第二测试子电路23。

第一测试子电路21与第一开关信号线SW_1、第一数据线D_1和开关模块22分别连接。第一测试子电路21用于在第一开关信号线SW_1提供的第一开关信号、第一数据线D_1提供的第一数据信号和开关模块22的控制下，进入工作状态对第一显示区进行测试。

第一测试子电路21进入工作状态，则可对第一显示区进行点亮测试。第一开关信号可用于控制第一测试子电路21导通或断开。第一数据信号可用于控制第一显示区中的像素的点亮或熄灭。

开关模块22与第二开关信号线SW_2和第二测试子电路23分别连接。开关模块22用于在第二开关信号线SW_2提供的第二开关信号的控制下，协助控制第一测试子电路21或第二测试子电路23进入工作状态。

第二开关信号可用于控制开关模块的导通或断开。

在一些示例中，开关模块22导通，第二测试子电路23可进入工作状态。开关模块22断开，第一测试子电路21可进入工作状态。

在另一些示例中，开关模块22导通，第一测试子电路可进入工作状态。开关模块22断开，第二测试自电路23可进入工作状态。

第二测试子电路23与第三开关信号线SW_3和第二数据线D_2连接。第二测试子电路23用于在第三开关信号线SW_3提供的第三开关信号、第二数据线D_2提供的第二数据信号和开关模块22的控制下，进入工作状态对第二显示区进行测试。

第二测试子电路23进入工作状态，则可对第二显示区进行点亮测试。第三开关信号可用于控制第二测试子电路23导通或断开。第二数据信号可用于控制第二显示区中的像素的点亮或熄灭。

在本实用新型实施例中，显示面板测试电路包括第一测试子电路21、开关模块22和第二测试子电路23。第一测试子电路21进入工作状态可对第一显示区进行测试。第二测试子电路23进入工作状态可对第二显示区进行测试。可通过开关模块22的断开或导通，使第一测试子电路21或第二测试子电路23进入工作状态，从而使得显示面板测试电路可分别独立对显示面板的第一显示区和第二显示区进行测试。

图3为本实用新型实施例中一种显示面板测试电路的一种实施方式的结构示意图。图4为本实用新型实施例中一种显示面板测试电路的另一种实施方式的结构示意图。图3、图4与图2的不同之处在于，图3和图4所示的显示面板测试电路中的第一测试子电路21包括多个第一开关管T1，第二测试电路23包括多个第二开关管T2，开关模块22包括多个第三开关管T3。其中，第一开关管T1、第二开关管T2和第三开关管T3具体可为薄膜晶体管(ThinFilm Transistor，TFT)。

第一测试子电路21中的第一开关管T1与第一显示区中多个像素组对应，一个第一开关管T1可实现对第一显示区中的一个像素组的测试，即第一测试子电路中第一开关管T1的数目可根据第一显示区中的像素组的数目设置。第一显示区可包括多个像素组，第一显示区中每个像素组可包括多个像素。每个像素可包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种。第一子像素、第二子像素和第三子像素的颜色不同。比如，第一子像素为红色子像素，第二子像素为蓝色子像素，第三子像素为绿色子像素，在此并不限定。

其中，每个第一开关管T1的控制端与第一开关信号线SW_1连接。至少部分第一开关管T1的第一端与开关模块22连接。每个第一开关管T1的第二端与第一数据线D_1连接。第一端与开关模块22连接的第一开关管T1的数目与第二测试子电路23中的第二开关管T2的数目及开关模块22中的第三开关管T3的数目相关。

在一些示例中，第一开关管T1为TFT，第一开关管T1的控制端为栅极，第一开关管T1的第一端可为源极和漏极中的一个，第一开关管T1的第二端可为源极和漏极中的另一个。

第一开关信号线SW_1提供的第一开关信号具体可为脉冲信号，若在某一时刻，第一开关信号的电平为第一电平，则第一开关管T1导通，第一数据信号可传输至第一显示区对应的像素组；若在某一时刻，第一开关信号的电平为第二电平，则第一开关管T1断开，第一数据信号不能传输至第一显示区对应的像素组。比如，第一电平为高电平和低电平中的一个，第二电平为高电平和低电平中的另一个。第一开关管T1根据第一开关信号的电平导通或关断还与第一开关管T1的类型相关，在此不再赘述。

第一数据线D_1提供的第一数据信号具体可为脉冲信号，若在某一时刻，第一数据信号为第三电平，第一显示区中对应的像素组被点亮；若在某一时刻，第一数据信号为第四电平，第一显示区中对应的像素组熄灭。比如，第三电平为高电平和低电平中的一个，第四电平为高电平和低电平中的另一个。第一显示区中的像素组被点亮或熄灭还与像素组的驱动晶体管的类型相关，在此不再赘述。

第二测试子电路23中的第二开关管T2与第二显示区中多个像素组对应，一个第二开关管T2可实现对第二显示区中一个像素组的测试，即第二测试子电路23中第二开关管T2的数目可根据第二显示区中像素组的数目设置。第二显示区中每个像素组可包括多个像素。每个像素可包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种，第一子像素、第二子像素和第三子像素的颜色不同。

其中，每个第二开关管T2的控制端与第三开关信号线SW_3连接。每个第二开关管T2的第一端与第二数据线D_2连接。每个第二开关管T2的第二端与开关模块22连接。

在一些示例中，第二开关管T2为TFT，第二开关管T2的控制端为栅极，第二开关管T2的第一端可为源极和漏极中的一个，第二开关管T2的第二端可为源极和漏极中的另一个。

第三开关信号线SW_3提供的第三开关信号具体可为脉冲信号，若在某一时刻，第三开关信号的电平为第一电平，则第二开关管T2导通，第二数据信号可传输至第二显示区对应的像素组；若在某一时刻，第三开关信号的电平为第二电平，则第二开关管T2断开，第二数据信号不能传输至第二显示区对应的像素组。第一电平和第二电平的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。其中，第二开关管T2根据第三开关信号的电平导通或关断还与第二开关管T2的类型相关。

第二数据线D_2提供的第二数据信号具体可为脉冲信号，若在某一时刻，第二数据信号为第三电平，第二显示区中对应的像素组被点亮；若在某一时刻，第一数据信号为第四电平，第二显示区中对应的像素组熄灭。比如，第三电平为高电平和低电平中的一个，第四电平为高电平和低电平中的另一个。第二显示区中的像素组被点亮或熄灭还与像素组的驱动晶体管的类型相关，在此不再赘述。

开关模块22中的第三开关管T3与第二显示区中多个像素组对应，一个第三开关管T3与一个第二开关管T2对应。

每个第三开关管T3的控制端与第二开关信号线SW_2连接，每个第三开关管T3的第一端与对应的第二开关管T2的第二端连接，每个第三开关管T3的第二端与对应的第一开关管T1的第一端连接。

在一些示例中，第三开关管T3为TFT，第三开关管T3的控制端为栅极，第三开关管T3的第一端可为源极和漏极中的一个，第三开关管T3的第二端可为源极和漏极中的另一个。

第二开关信号线SW_2提供的第二开关信号具体可为脉冲信号。

在一些示例中，如图3所示，第一开关管T1的第一端与第一显示区中的像素组连接，第三开关管T3的第二端与第二显示区中的像素组连接。图3中的像素组包括第一显示区中的像素组和/或第一显示区中的像素组。若在某一时刻，第二开关信号的电平为第一电平，则第三开关管T3导通，第二数据信号可传输至第二显示区对应的像素组；若在某一时刻，第二开关信号的电平为第二电平，则第三开关管T3断开，第二数据信号不能传输至第二显示区对应的像素组，第一数据信号可传输至第一显示区对应的像素组。

在另一些示例中，如图4所示，第三开关管T3的第一端与第一显示区中的像素组连接，第二开关管T2的第二端与第二显示区中的像素组连接。图4中的像素组包括第一显示区中的像素组和/或第一显示区中的像素组。若在某一时刻，第二开关信号的电平为第一电平，则第三开关管T3导通，第一数据信号可传输至第一显示区对应的像素组；若在某一时刻，第二开关信号的电平为第二电平，则第三开关管T3断开，第一数据信号不能传输至第一显示区对应的像素组，第二数据信号可传输至第二显示区对应的像素组。

其中，第一电平和第二电平的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。其中，第三开关管T3根据第二开关信号的电平导通或关断还与第三开关管T3的类型相关。

本实用新型实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括显示区和非显示区。在一些示例中，非显示区可为边框区。

其中，显示区包括第一显示区和第二显示区，第二显示区的透光率高于第一显示区的透光率。第一显示区与第二显示区的具体内容可参见上述实施例中的相关说明，在此不再赘述。

非显示区设置有上述实施例中的显示面板测试电路。为了便于说明，下面将以两个实施例说明显示面板中显示面板测试电路设置的具体内容。

图5为本实用新型一实施例中一种显示面板中显示面板检测电路设置位置的示意图。如图5所示，非显示区包括第一非显示区121和第二非显示区122。其中，第二非显示区122临近第二显示区112，第一非显示区121与第二非显示区122相对。

其中，显示面板测试电路中的第一测试子电路21和开关模块22位于第一非显示区121，第二测试子电路23位于第二非显示区122。

图6为本实用新型另一实施例中一种显示面板中显示面板检测电路设置位置的示意图。如图6所示，非显示区包括第一非显示区121，第一非显示区121与第二显示区112相对。

其中，显示面板测试电路中的第一测试子电路21、开关模块22和第二测试子电路23均位于第一非显示区121。

在一些示例中，显示面板中的第一开关信号线SW_1、第二开关信号线SW_2、第三开关信号线SW_3、第一数据线D_1和第二数据线D_2可设置于非显示区中。

在一些实施例中，第一显示区包括多个像素组，每个像素组包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种。第一显示区中像素组中子像素的组成具体可根据第一显示区的具体像素排布确定。

对应地，第一数据线可包括第一子数据线、第二子数据线和第三子数据线。其中，第一子数据线用于为第一显示区的像素组中第一子像素提供第一数据信号。第二子数据线用于为第一显示区的像素组中第二子像素提供第一数据信号。第三子数据线用于为第一显示区的像素组中第三子像素提供第一数据信号。需要说明的是，第一子数据线提供的第一数据信号、第二子数据线提供的第一数据信号和第三子数据线提供的第一数据信号可以不同，也可以相同，在此并不限定。

第一测试子电路中用于对第一目标像素组进行测试的第一开关管的第二端，与为第一目标像素组包括的子像素提供第一数据信号的子数据线连接。第一目标像素组为第一显示区中的任意一个像素组。也就是说，用于对像素组进行测试的第一测试子电路中的开关管的第二端所连接的子数据线与该像素组所具有的子像素的种类相关。

比如，第一显示区中的像素组A1包括第一子像素和第二子像素，则第一测试子电路中用于测试像素组A1的第一开关管的第二端与第一子数据线、第二子数据线连接，以使第一子数据线可为像素组A1中的第一子像素提供第一数据信号，第二子数据线可为像素组A1中的第二子像素提供第一数据信号。第一显示区中的像素组A2包括第二子像素和第三子像素，则第一测试子电路中用于测试像素组A2的第一开关管的第二端与第二子数据线、第三子数据线连接，以使第二子数据线可为像素组A2中的第二子像素提供第一数据信号，第三子数据线可为像素组A2中的第三子像素提供第一数据信号。

在一些实施例中，第二显示区包括多个像素组，每个像素组包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种。第二显示区中像素组中子像素的组成具体可根据第二显示区的具体像素排布确定。

对应地，第二数据线可包括第四子数据线、第五子数据线和第六子数据线。其中，第四子数据线用于为第二显示区的像素组中第一子像素提供第二数据信号。第五子数据线用于为第二显示区的像素组中第二子像素提供第二数据信号。第六子数据线用于为第二显示区的像素组中第三子像素提供第二数据信号。需要说明的是，第四子数据线提供的第二数据信号、第五子数据线提供的第二数据信号和第六子数据线提供的第二数据信号可以不同，也可以相同，在此并不限定。

第二测试子电路中用于对第二目标像素组进行测试的第二开关管的第一端，与为第二目标像素组包括的子像素提供第二数据信号的子数据线连接。第二目标像素组为第二显示区中的任意一个像素组。也就是说，用于对像素组进行测试的第二测试子电路中的开关管的第一端所连接的子数据线与该像素组所具有的子像素的种类相关。

比如，第二显示区中的像素组B1包括第一子像素，则第二测试子电路中用于测试像素组B1的第二开关管的第一端与第四子数据线连接，以使第四子数据线可为像素组B1中的第一子像素提供第二数据信号。若像素组B2包括第二子像素，则第二测试子电路中用于测试像素组B2的第二开关管的第一端与第五子数据线连接，以使第五子数据线可为像素组B2中的第二子像素提供第二数据信号。

第一开关信号、第二开关信号、第三开关信号、第一数据信号和第二数据信号可根据测试场景和测试需求设定，在此并不限定。

为了便于说明，下面将以一个示例对显示面板中第一显示区、第二显示区以及显示面板测试电路进行说明。

图7为本实用新型实施例中一种显示面板中显示区局部与显示面板测试电路局部的示意图。如图7所示，第一显示区的像素排布为子像素渲染(Sub Pixel Rendering，SPR)排布，第二显示区的像素排布为real RGB排布。显示面板的一行像素包括第一显示区的一个像素组和第二显示区的一个像素组。第一子数据线D_1R用于为第一显示区中红色子像素提供第一数据信号。第二子数据线D_1B用于为第一显示区中蓝色子像素提供第一数据信号。第一子数据线D_1G用于为第一显示区中绿色子像素提供第一数据信号。第一开关信号线可包括第一子开关信号线SW_11、第二子开关信号线SW_12和第三子开关信号线SW_13。第一子开关信号线SW_11、第二子开关信号线SW_12和第三子开关信号线SW_13为第一检测子电路中的开关管提供开关信号。第四子数据线D_2R用于为第二显示区中红色子像素提供第二数据信号。第五子数据线D_2B用于为第二显示区中蓝色子像素提供第二数据信号。第六子数据线D_2G用于为第二显示区中绿色子像素提供第二数据信号。

图7中示出了三行像素。针对第一行像素，第一显示区的像素组包括红色子像素R和蓝色子像素B，第二显示区的像素组包括红色子像素R。第一测试子电路包括用于测试第一行像素中第一显示区的像素组的开关管TFT1和TFT2。第二测试子电路包括用于测试第一行像素中第二显示区的像素组的开关管TFT3。开关模块包括TFT4。

针对第二行像素，第一显示区的像素组包括绿色子像素G，第二显示区的像素组包括绿色子像素G。第一测试子电路包括用于测试第二行像素中第一显示区的像素组的开关管TFT5。第二测试子电路包括用于测试第一行像素中第二显示区的像素组的开关管TFT6。开关模块包括开关管TFT7。

针对第三行像素，第一显示区的像素组包括蓝色子像素B和红色子像素R，第二显示区的像素组包括蓝色子像素B。第一测试子电路包括用于测试第二行像素中第一显示区的像素组的开关管TFT8和TFT9。第二测试子电路包括用于测试第一行像素中第二显示区的像素组的开关管TFT10。开关模块包括开关管TFT11。

图8为与图7对应的部分开关信号的信号时序图。如图8所示，其中，SW_11的开关信号为低电平时，开关管TFT1和TFT8导通；SW_11的开关信号为高电平时，开关管TFT1和TFT8断开。SW_12的开关信号为低电平时，开关管TFT2和TFT9导通；SW_12的开关信号为高电平时，开关管TFT2和TFT9断开。SW_13的开关信号为低电平时，开关管TFT5导通；SW_13的开关信号为高电平时，开关管TFT5断开。

SW_2的开关信号为高电平时，开关管TFT4、TFT7和TFT11断开，第二测试子电路可进入工作状态；SW_2的开关信号为低电平时，开关管TFT4、TFT7和TFT11导通，第一测试子电路可进入工作状态。

需要说明的是，随着第一显示区中像素组的结构以及第二显示区中像素组的结构的不同，可调整显示面板检测电路的结构。本实用新型实施例保护的范围包括但并不限于上述实施例中显示面板检测电路的结构。

需要指出的是，在附图中，为了图示的清晰可能夸大了层和区域的尺寸。而且可以理解，当元件或层被称为在另一元件或层“上”时，它可以直接在其他元件上，或者可以存在中间的层。另外，可以理解，当元件或层被称为在另一元件或层“下”时，它可以直接在其他元件下，或者可以存在一个以上的中间的层或元件。另外，还可以理解，当层或元件被称为在两层或两个元件“之间”时，它可以为两层或两个元件之间唯一的层，或还可以存在一个以上的中间层或元件。通篇相似的参考标记指示相似的元件。

需要明确的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。对于显示装置实施例而言，相关之处可以参见显示面板实施例的说明部分。本实用新型并不局限于上文所描述并在图中示出的特定结构。本领域的技术人员可以在领会本实用新型的精神之后，作出各种改变、修改和添加。并且，为了简明起见，这里省略对已知方法技术的详细描述。

本领域技术人员应能理解，上述实施例均是示例性而非限制性的。在不同实施例中出现的不同技术特征可以进行组合，以取得有益效果。本领域技术人员在研究附图、说明书及权利要求书的基础上，应能理解并实现所揭示的实施例的其他变化的实施例。在权利要求书中，术语“包括”并不排除其他装置或步骤；不定冠词“一个”不排除多个；术语“第一”、“第二”用于标示名称而非用于表示任何特定的顺序。权利要求中的任何附图标记均不应被理解为对保护范围的限制。权利要求中出现的多个部分的功能可以由一个单独的硬件或软件模块来实现。某些技术特征出现在不同的从属权利要求中并不意味着不能将这些技术特征进行组合以取得有益效果。

Claims (10)

1.一种显示面板测试电路，其特征在于，用于显示面板，所述显示面板包括第一显示区和第二显示区，所述第二显示区的透光率高于所述第一显示区的透光率，所述显示面板还包括第一开关信号线、第二开关信号线、第三开关信号线、第一数据线和第二数据线；

所述显示面板测试电路包括：

第一测试子电路，与所述第一开关信号线、所述第一数据线和开关模块分别连接，用于在所述第一开关信号线提供的第一开关信号、所述第一数据线提供的第一数据信号和所述开关模块的控制下，进入工作状态对所述第一显示区进行测试；

所述开关模块，与所述第二开关信号线和第二测试子电路分别连接，用于在第二开关信号线提供的第二开关信号的控制下，协助控制所述第一测试子电路或所述第二测试子电路进入工作状态；

所述第二测试子电路，与所述第三开关信号线和所述第二数据线连接，用于在所述第三开关信号线提供的第三开关信号、所述第二数据线提供的第二数据信号和所述开关模块的控制下，进入工作状态对所述第二显示区进行测试。

2.根据权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，

所述第一测试电路包括与所述第一显示区中多个像素组对应的多个第一开关管，每个所述第一开关管的控制端与所述第一开关信号线连接，至少部分所述第一开关管的第一端与所述开关模块连接，每个所述第一开关管的第二端与第一数据线连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板测试电路，其特征在于，

所述第二测试电路包括与所述第二显示区中多个像素组对应的多个第二开关管，每个所述第二开关管的控制端与所述第三开关信号线连接，每个所述第二开关管的第一端与所述第二数据线连接，每个所述第二开关管的第二端与所述开关模块连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板测试电路，其特征在于，

所述开关模块包括与所述第二显示区中多个像素组对应的多个第三开关管，每个所述第三开关管的控制端与所述第二开关信号线连接，每个所述第三开关管的第一端与对应的所述第二开关管的第二端连接，每个所述第三开关管的第二端与对应的所述第一开关管的第一端连接。

5.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和非显示区，

所述显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第二显示区的透光率高于所述第一显示区的透光率；

所述非显示区设置有如权利要求1至4中任意一项所述的显示面板测试电路。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括第一非显示区和第二非显示区，所述第一非显示区与所述第二非显示区相对，所述第二非显示区临近所述第二显示区；

所述第一测试子电路和所述开关模块位于所述第一非显示区，所述第二测试子电路位于第二非显示区。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括第一非显示区，所述第一非显示区与所述第二显示区相对；

所述第一测试子电路、所述第二测试子电路和所述开关模块均位于所述第一非显示区。

8.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区还设置有所述第一开关信号线、所述第二开关信号线、所述第三开关信号线、所述第一数据线和所述第二数据线。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述第一显示区包括多个像素组，每个像素组包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种；第一数据线包括为所述第一子像素提供所述第一数据信号的第一子数据线、为所述第二子像素提供所述第一数据信号的第二子数据线和为所述第三子像素提供所述第一数据信号的第三子数据线；

所述第一测试子电路中用于对第一目标像素组进行测试的第一开关管的第二端，与为第一目标像素组包括的子像素提供第一数据信号的子数据线连接，所述第一目标像素组为所述第一显示区中的任意一个像素组。

10.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述第二显示区包括多个像素组，每个像素组包括第一子像素、第二子像素和第三子像素中的至少一种；第二数据线包括为所述第一子像素提供所述第二数据信号的第四子数据线、为所述第二子像素提供所述第二数据信号的第五子数据线和为所述第三子像素提供所述第二数据信号的第六子数据线；

所述第二测试子电路中用于对第二目标像素组进行测试的第二开关管的第一端，与为第二目标像素组包括的子像素提供第二数据信号的子数据线连接，所述第二目标像素组为所述第二显示区中的任意一个像素组。

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