CN210664180U - 一种用于表面缺陷的测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于表面缺陷的测量装置,包括卡座、抓手、第一定位柱、固定帽、水平柱、第二定位柱、紧固螺丝、螺纹柱、测量尺、卡槽、导柱和导轨。本实用新型的有益效果是:水平柱通过固定帽固定在第一定位柱上固定,通过固定帽的卡紧,方便对水平柱的更换与安装,测量尺通过导柱和导轨卡接在卡槽内,利用导柱和导轨的结合,方便测量尺进行左右移动,测量尺通过紧固螺丝旋拧呈下压式卡紧固定,将测量尺卡紧,卡座的左侧为竖直平面,右侧呈45度斜角,防止无法对一些有缺陷或倾斜的角度的表面无法进行测量。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测量装置,具体为一种用于表面缺陷的测量装置,属于测量装置技术领域。
背景技术
尺子又称量尺,是用来画线段、量度长度的工具,尺上通常有刻度以量度长度,有些尺子,在中间留有特殊形状如字母或圆形的洞,方便用者画图,通常用于测量长度,一般分为卷尺,游标卡尺,直角尺,直尺,不同场合使用的尺子对其要求和标准不同,如果要求数值越精确的话,那么就需要较高的技术,而且必须借助机器生产制作,除了要求数值准确外,第二个重点就是刻数值的质量了,一般都会在刻数值后会再烙上一层保护膜的,第三点就是材料的选择,时下分为塑胶、金属、木质尺子,塑胶尺子主要是一般学生使用文具类,金属尺子则更多使用在工业上,而木制的尺子则主要用于教学。
因此,则需要一种用于表面缺陷的测量装置来满足目前市面上的需求,虽然目前市面上已经生产出来了多种测量装置,但总的来看,却仍然存在着很多的通病,其一、现有的测量装置上面没有设置水平柱,导致该测量装置无法进行水平方向的确定,其二、现有的测量装置的尺子无法进行紧固,导致尺子需要进行整体移动来改变测量位置,其三、现有的测量装置的左右两侧均为直角,导致无法对一些有缺陷的位置进行测量。
实用新型内容
本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种用于表面缺陷的测量装置。
本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的:一种用于表面缺陷的测量装置,包括卡座、抓手、第一定位柱、固定帽、水平柱、第二定位柱、紧固螺丝、螺纹柱、测量尺、卡槽、导柱和导轨;所述卡座构成该测量装置的主体结构,所述抓手位于卡座的右侧,所述第一定位柱连接设置在卡座、抓手之间顶部,所述固定帽紧固在第一定位柱的顶部,所述水平柱卡接在第一定位柱和第二定位柱之间,所述第二定位柱连接设置在卡座、抓手之间,且所述第二定位柱位于第一定位柱的下方,所述紧固螺丝旋拧在螺纹柱上,所述螺纹柱设置在卡座的底部中心位置,且所述螺纹柱位于第二定位柱的正下方,所述测量尺卡接固定在卡座的底部,且所述测量尺位于卡槽内,所述卡槽呈内凹式设置在卡座的底部,所述导柱设置在卡槽的侧壁上,所述导轨呈内凹式设置在测量尺的背部中心位置。
优选的,为了保证该测量装置在测量时保持水平,所述水平柱的直径小于第一定位柱和第二定位柱,第一定位柱贯通设置,第二定位柱的底部密封,且水平柱竖直卡接在第二定位柱内。
优选的,为了方便对水平柱的更换与安装,所述水平柱通过固定帽固定在第一定位柱上固定。
优选的,为了方便测量尺进行左右移动,所述测量尺通过导柱和导轨卡接在卡槽内。
优选的,为了将测量尺的卡紧,所述测量尺通过紧固螺丝旋拧呈下压式卡紧固定。
优选的,为了防止无法对一些有缺陷或倾斜的角度的表面无法进行测量,所述卡座的左侧为竖直平面,右侧呈45度斜角。
本实用新型的有益效果是:该测量装置设计合理,水平柱的直径小于第一定位柱和第二定位柱,第一定位柱贯通设置,第二定位柱的底部密封,且水平柱竖直卡接在第二定位柱内,通过两个定位柱,保证该测量装置在测量时保持水平,水平柱通过固定帽固定在第一定位柱上固定,通过固定帽的卡紧,方便对水平柱的更换与安装,测量尺通过导柱和导轨卡接在卡槽内,利用导柱和导轨的结合,方便测量尺进行左右移动,测量尺通过紧固螺丝旋拧呈下压式卡紧固定,将测量尺卡紧,卡座的左侧为竖直平面,右侧呈45度斜角,防止无法对一些有缺陷或倾斜的角度的表面无法进行测量。
附图说明
图1为本实用新型整体三维示意图;
图2为本实用新型拆分示意图;
图3为本实用新型底部示意图。
图中:1、卡座,2、抓手,3、第一定位柱,4、固定帽,5、水平柱,6、第二定位柱,7、紧固螺丝,8、螺纹柱,9、测量尺,10、卡槽,11、导柱和12、导轨。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1~3,一种用于表面缺陷的测量装置,包括卡座1、抓手2、第一定位柱3、固定帽4、水平柱5、第二定位柱6、紧固螺丝7、螺纹柱8、测量尺9、卡槽10、导柱11和导轨12;所述卡座1构成该测量装置的主体结构,所述抓手2位于卡座1的右侧,所述第一定位柱3连接设置在卡座1、抓手2之间顶部,所述固定帽4紧固在第一定位柱3的顶部,所述水平柱5卡接在第一定位柱3和第二定位柱6之间,所述第二定位柱6连接设置在卡座1、抓手2之间,且所述第二定位柱6位于第一定位柱3的下方,所述紧固螺丝7旋拧在螺纹柱8上,所述螺纹柱8设置在卡座1的底部中心位置,且所述螺纹柱8位于第二定位柱6的正下方,所述测量尺9卡接固定在卡座1的底部,且所述测量尺9位于卡槽10内,所述卡槽10呈内凹式设置在卡座1的底部,所述导柱11设置在卡槽10的侧壁上,所述导轨12呈内凹式设置在测量尺9的背部中心位置。
所述水平柱5的直径小于第一定位柱3和第二定位柱6,第一定位柱3贯通设置,第二定位柱6的底部密封,且水平柱5竖直卡接在第二定位柱6内,通过两个定位柱,保证该测量装置在测量时保持水平,所述水平柱5通过固定帽4固定在第一定位柱3上固定,通过固定帽4的卡紧,方便对水平柱5的更换与安装,所述测量尺9通过导柱11和导轨12卡接在卡槽10内,利用导柱11和导轨12的结合,方便测量尺9进行左右移动,所述测量尺9通过紧固螺丝7旋拧呈下压式卡紧固定,将测量尺9卡紧,所述卡座1的左侧为竖直平面,右侧呈45度斜角,防止无法对一些有缺陷或倾斜的角度的表面无法进行测量。
工作原理:在使用该测量装置时,先将测量尺9通过导柱11和导轨12卡接在卡槽10内,利用导柱11和导轨12的结合,方便测量尺9进行左右移动,然后通过紧固螺丝7旋拧呈下压式卡紧固定,将测量尺9卡紧,再将水平柱5通过固定帽4固定在第一定位柱3上固定,通过固定帽4的卡紧,方便对水平柱5的更换与安装,然后将该测量装置通过卡座1左右两侧的斜面对有缺陷的表面进行测量即可。
对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (6)
1.一种用于表面缺陷的测量装置,其特征在于:包括卡座(1)、抓手(2)、第一定位柱(3)、固定帽(4)、水平柱(5)、第二定位柱(6)、紧固螺丝(7)、螺纹柱(8)、测量尺(9)、卡槽(10)、导柱(11)和导轨(12);所述卡座(1)构成该测量装置的主体结构,所述抓手(2)位于卡座(1)的右侧,所述第一定位柱(3)连接设置在卡座(1)、抓手(2)之间顶部,所述固定帽(4)紧固在第一定位柱(3)的顶部,所述水平柱(5)卡接在第一定位柱(3)和第二定位柱(6)之间,所述第二定位柱(6)连接设置在卡座(1)、抓手(2)之间,且所述第二定位柱(6)位于第一定位柱(3)的下方,所述紧固螺丝(7)旋拧在螺纹柱(8)上,所述螺纹柱(8)设置在卡座(1)的底部中心位置,且所述螺纹柱(8)位于第二定位柱(6)的正下方,所述测量尺(9)卡接固定在卡座(1)的底部,且所述测量尺(9)位于卡槽(10)内,所述卡槽(10)呈内凹式设置在卡座(1)的底部,所述导柱(11)设置在卡槽(10)的侧壁上,所述导轨(12)呈内凹式设置在测量尺(9)的背部中心位置。
2.根据权利要求1所述的一种用于表面缺陷的测量装置,其特征在于:所述水平柱(5)的直径小于第一定位柱(3)和第二定位柱(6),第一定位柱(3)贯通设置,第二定位柱(6)的底部密封,且水平柱(5)竖直卡接在第二定位柱(6)内。
3.根据权利要求1所述的一种用于表面缺陷的测量装置,其特征在于:所述水平柱(5)通过固定帽(4)固定在第一定位柱(3)上固定。
4.根据权利要求1所述的一种用于表面缺陷的测量装置,其特征在于:所述测量尺(9)通过导柱(11)和导轨(12)卡接在卡槽(10)内。
5.根据权利要求1所述的一种用于表面缺陷的测量装置,其特征在于:所述测量尺(9)通过紧固螺丝(7)旋拧呈下压式卡紧固定。
6.根据权利要求1所述的一种用于表面缺陷的测量装置,其特征在于:所述卡座(1)的左侧为竖直平面,右侧呈45度斜角。
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- 2019-11-20 CN CN201922015144.5U patent/CN210664180U/zh active Active
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