CN210465666U - 一种探针寿命测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种探针寿命测试治具，包括底板、竖直设置于底板后侧的导柱、与导柱配合的滑套、设置在滑套上的升降板、设置于升降板正下方底板上的探针板架，升降板底部设有用于检测每个点探针压力的薄膜压力传感器，底板上设有竖直的下压气缸，下压气缸的气缸杆与升降板连接，探针板架用于放置探针板。本实用新型利用下压气缸实现压力对探针的反复下压，利用薄膜压力传感器对比不同下压次数压力传感器数值，进行比对，从而判断探针次数的使用寿命，测试效率高，测试更加精准。

Description

一种探针寿命测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具，特别涉及一种探针寿命测试治具。

背景技术

PCB电路板行业通常采用探针进行线路板的检测，探针的使用寿命严重影响检测精度，现有测试探针使用寿命预测没有统一的检测标准，普遍是在使用过程中才会知晓，或是使用眼睛分别探针伪劣从而判断使用的寿命。使用眼睛判断需要人员对探针产品非常了解，生手很难判断。在使用过程中发现探针的使用次数寿命，费时费力增加生产成本。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种探针寿命测试治具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种探针寿命测试治具，包括底板、竖直设置于所述底板后侧的导柱、与所述导柱配合的滑套、设置在所述滑套上的升降板、设置于所述升降板正下方底板上的探针板架，所述升降板底部设有用于检测每个点探针压力的薄膜压力传感器，所述底板上设有竖直的下压气缸，所述下压气缸的气缸杆与所述升降板连接，所述探针板架用于放置探针板。

上述设计中利用下压气缸实现压力对探针的反复下压，利用薄膜压力传感器对比不同下压次数压力传感器数值，进行比对，从而判断探针次数的使用寿命，测试效率高，测试更加精准。

作为本设计的进一步改进，所述探针板架包括竖直于所述底板顶面的立柱、设置于所述立柱顶部的定位板，所述定位板为水平放置的U形板且开口向前，所述定位板上螺纹连接有贯穿探针板的夹紧螺栓，所述夹紧螺栓顶面设有与所述探针板顶面贴合的压板。U形定位板和夹紧螺栓便于对探针板定位和夹紧，结构简单。

作为本设计的进一步改进，所述升降板底部设有传感器框，所述薄膜压力传感器可拆卸机械连接于所述传感器框底部，传感器框便于薄膜压力传感器的拆装，维修更换更加方便。

作为本设计的进一步改进，所述下压气缸为微调行程气缸，可以测试不同下压行程下的探针寿命。

作为本设计的进一步改进，所述升降板底部或传感器框底部设有缓冲胶块，所述探针板顶面或所述探针板架上设有与所述缓冲胶块配合的定位孔。缓冲胶块便于下压时的冲击力。

作为本设计的进一步改进，所述底板后侧以及以及左右两侧后方设有向上延伸的围板，所述围板顶部设有顶板，所述导柱顶部与所述顶板连接，所述导柱为两根且左右对称设置。两根导柱稳定性更好降低薄膜压力传感器与探针水平方向的移动。

作为本设计的进一步改进，所述下压气缸上螺纹连接有竖直的弹簧销，所述弹簧销调整下压气缸的行程和降低下压气缸行程末段的冲击力。

本实用新型的有益效果是：本实用新型利用下压气缸实现压力对探针的反复下压，利用薄膜压力传感器对比不同下压次数压力传感器数值，进行比对，从而判断探针次数的使用寿命，测试效率高，测试更加精准。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的俯视立体结构示意图。

图2是本实用新型的仰视立体结构示意图。

在图中1.底板，2.传感器框，3.探针板，4.立柱，5.定位板，6.下压气缸，7.围板，8.导柱，9.升降板，10.顶板，11.滑套，12.定位孔，13.缓冲胶块，14.薄膜压力传感器，15.弹簧销，16.压板，17.夹紧螺栓。

具体实施方式

下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，其中的示意性实施例以及说明仅用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。

实施例：一种探针寿命测试治具，包括底板1、竖直设置于所述底板1后侧的导柱8、与所述导柱8配合的滑套11、设置在所述滑套11上的升降板9、设置于所述升降板9正下方底板1上的探针板架，所述升降板9底部设有用于检测每个点探针压力的薄膜压力传感器14，所述底板1上设有竖直的下压气缸6，所述下压气缸6的气缸杆与所述升降板9连接，所述探针板架用于放置探针板3。

上述设计中利用下压气缸6实现压力对探针的反复下压，利用薄膜压力传感器14对比不同下压次数压力传感器数值，进行比对，从而判断探针次数的使用寿命，测试效率高，测试更加精准。

作为本设计的进一步改进，所述探针板架包括竖直于所述底板1顶面的立柱4、设置于所述立柱4顶部的定位板5，所述定位板5为水平放置的U形板且开口向前，所述定位板5上螺纹连接有贯穿探针板3的夹紧螺栓17，所述夹紧螺栓17顶面设有与所述探针板3顶面贴合的压板16。U形定位板5和夹紧螺栓17便于对探针板3定位和夹紧，结构简单。

作为本设计的进一步改进，所述升降板9底部设有传感器框2，所述薄膜压力传感器14可拆卸机械连接于所述传感器框2底部，传感器框2便于薄膜压力传感器14的拆装，维修更换更加方便。

作为本设计的进一步改进，所述下压气缸6为微调行程气缸，可以测试不同下压行程下的探针寿命。

作为本设计的进一步改进，所述升降板9底部或传感器框2底部设有缓冲胶块13，所述探针板3顶面或所述探针板架上设有与所述缓冲胶块13配合的定位孔12。缓冲胶块13便于下压时的冲击力。

作为本设计的进一步改进，所述底板1后侧以及以及左右两侧后方设有向上延伸的围板7，所述围板7顶部设有顶板10，所述导柱8顶部与所述顶板10连接，所述导柱8为两根且左右对称设置。两根导柱8稳定性更好降低薄膜压力传感器14与探针水平方向的移动。

作为本设计的进一步改进，所述下压气缸6上螺纹连接有竖直的弹簧销15，所述弹簧销15调整下压气缸6的行程和降低下压气缸6行程末段的冲击力。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种探针寿命测试治具，其特征在于，包括底板、竖直设置于所述底板后侧的导柱、与所述导柱配合的滑套、设置在所述滑套上的升降板、设置于所述升降板正下方底板上的探针板架，所述升降板底部设有用于检测每个点探针压力的薄膜压力传感器，所述底板上设有竖直的下压气缸，所述下压气缸的气缸杆与所述升降板连接，所述探针板架用于放置探针板。

2.根据权利要求1所述的一种探针寿命测试治具，其特征是，所述探针板架包括竖直于所述底板顶面的立柱、设置于所述立柱顶部的定位板，所述定位板为水平放置的U形板且开口向前，所述定位板上螺纹连接有贯穿探针板的夹紧螺栓，所述夹紧螺栓顶面设有与所述探针板顶面贴合的压板。

3.根据权利要求1所述的一种探针寿命测试治具，其特征是，所述升降板底部设有传感器框，所述薄膜压力传感器可拆卸机械连接于所述传感器框底部。

4.根据权利要求1所述的一种探针寿命测试治具，其特征是，所述下压气缸为微调行程气缸。

5.根据权利要求3所述的一种探针寿命测试治具，其特征是，所述升降板底部或传感器框底部设有缓冲胶块，所述探针板顶面或所述探针板架上设有与所述缓冲胶块配合的定位孔。

6.根据权利要求1所述的一种探针寿命测试治具，其特征是，所述底板后侧以及以及左右两侧后方设有向上延伸的围板，所述围板顶部设有顶板，所述导柱顶部与所述顶板连接，所述导柱为两根且左右对称设置。

7.根据权利要求1所述的一种探针寿命测试治具，其特征是，所述下压气缸上螺纹连接有竖直的弹簧销。

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