CN210321483U - 复杂型面支架铸造成型质量检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型中公开了一种复杂型面支架铸造成型质量检具，包括检具本体、第一检测组件和第二检测组件，所述检具本体包括检测台、定位环和定位板，所述定位环和定位板分别设置在检测台的两端，定位环、定位板和检测台上均设置有水平底面，且三者的底面位于同一平面内，所述检测台上设置有定位基准平面，检测台位于定位环一端设置有第一定位空间，检测台位于定位板一端设置有第二定位空间，检测台中部设置有第三定位空间。本实用新型结构简单，结合支架自身的结构特点设置相应的定位基准平面，在对支架进行检测时定位检测方便，结合第一检测组件和第二检测组件可同时对支架的两端成型质量进行检测，实现一次定位完成对支架多个位置的检测，提高了检测效率。

Description

复杂型面支架铸造成型质量检具

技术领域

本实用新型涉及铸造成型技术领域，特别涉及一种复杂型面支架铸造成型质量检具。

背景技术

随着工业技术的快速发展，对机械零部件的加工精度要求也越来越高，各种加工成型工艺得到了大量的应用和发展。精密铸造是一种可获得精准尺寸铸件的成型工艺，相对于传统砂型铸造工艺，精密铸造所获得的铸件尺寸更加精准，表面光洁度更高，具体应用的工艺方法主要包括熔模铸造、陶瓷型铸造、金属型铸造、压力铸造和消失模铸造。常用的熔模铸造也称为失蜡铸造，其成型的产品基本接近于零件的最终形状，可不加工或经过很少的加工就可直接使用，因此广泛应用于复杂型面产品的成型。在零件或产品铸造成型后，由于产品的结构比较复杂，往往难以对产品铸造成型的精度进行有效的检测，给产品的铸造加工带来了很大的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有技术中存在的技术问题，提供一种复杂型面支架铸造成型质量检具。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：

复杂型面支架铸造成型质量检具，包括检具本体、第一检测组件和第二检测组件，所述检具本体包括检测台、定位环和定位板，所述定位环和定位板分别设置在检测台的两端，定位环、定位板和检测台上均设置有水平底面，且三者的底面位于同一平面内，所述检测台上设置有定位基准平面，检测台位于定位环一端设置有第一定位空间，检测台位于定位板一端设置有第二定位空间，检测台中部设置有第三定位空间，所述第一定位空间、第二定位空间和第三定位空间将支架在检测台上沿检测台纵向方向上进行定位，所述定位板上设置有检测孔，所述第一检测组件与定位环之间相互配合，用于对位于定位环一侧的支架进行检测，第二检测组件与定位板上的检测孔之间相互配合，用于对位于定位板一侧的支架进行检测。

上述技术方案中，进一步地，所述第一检测组件包括第一定位套和第一检测销，所述第一定位套与定位环之间间隙配合设置在定位环内，第一检测销设置在第一定位套内，第一检测销与第一定位套之间间隙配合。

上述技术方案中，进一步地，所述第一检测销上设置有检测端面，所述检测端面上设置有沿检测端面径向方向设置的间隙检测槽，间隙检测槽内插设有间隙检测杆。

上述技术方案中，进一步地，所述第二检测组件包括第二定位套和第二检测销，所述第二定位套设置在定位板的检测孔内与定位板之间间隙配合，第二检测销设置在第二定位套内，第二检测销与第二定位套之间间隙配合。

上述技术方案中，进一步地，所述第二检测销端部设置有检测头，所述检测头一端沿其周向均布设置有四个检测缺口。

上述技术方案中，进一步地，所述检测台上位于第一定位空间内一端端面上对称设置有第一让位槽和第二让位槽。

上述技术方案中，进一步地，所述检测台上位于定位基准平面设置有多个让位孔。

本实用新型结构简单，结合支架自身的结构特点设置相应的定位基准平面，使得在对支架进行检测时定位检测方便，同时结合第一检测组件和第二检测组件可同时对支架的两端成型质量进行检测，实现一次定位完成对支架多个位置的检测，提高了检测效率。

附图说明

图1为本实用新型结构主视图。

图2为本实用新型结构俯视图。

图3为本实用新型截面示意图。

图4为本实用新型检测台结构左视图。

图5为本实用新型检测台结构右视图。

图6为本实用新型第一检测销立体结构示意图。

图7为本实用新型第二检测销立体结构示意图。

图8为本实用新型中检测状态结构示意图。

图中：1、检测台，2、定位环，3、定位板，4、定位基准平面，5、第一定位空间，6、第二定位空间，7、第三定位空间，8、检测孔，9、第一定位套，10、第一检测销，11、检测端面，12、间隙检测槽，13、间隙检测杆，14、第二定位套，15、第二检测销，16、检测头，17、检测缺口，18、第一让位槽，19、第二让位槽，20、让位孔，21、支架。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。

如图1至5所示，本实施例中的复杂型面支架铸造成型质量检具，包括检具本体、第一检测组件和第二检测组件，所述检具本体包括检测台1、定位环2和定位板3，这里的检具本体可采用一体式结构或由检测台、定位环和定位板三部分组合而成的结构。这里的定位环和定位板分别设置在检测台的两端，定位环、定位板和检测台上均设置有水平底面，且三者的底面位于同一平面内，用于检测台、定位环和定位板之间的定位安装及在检具本体的放置。

在检测台1上设置有定位基准平面4，这里定位基准平面与支架本体平面之间相配合，用于将支架在检测台上在Z向方向上进行定位。检测台1位于定位环一端设置有第一定位空间5，检测台1位于定位板一端设置有第二定位空间6，检测台中部设置有第三定位空间7，这里第一定位空间、第二定位空间和第三定位空间均设置在检测台内部，如图8所示，在将待检测的支架放置到检测台的定位基准平面上时，使位于支架两端及中部、与支架本体相互垂直设置的突出部分能分别设置到第一定位空间、第二定位空间和第三定位空间内；此时，第一定位空间、第二定位空间和第三定位空间将支架在检测台上沿检测台纵向方向上进行定位，此时支架通过定位基准平面及与定位基准平面相垂直设置的第一定位空间、第二定位空间和第三定位空间对支架在检测台上进行定位。

在定位环一侧采用第一检测组件与定位环之间相互配合，用于对位于定位环一侧的支架进行检测；在定位板3上设置有检测孔8，在定位板一侧采用第二检测组件与定位板上的检测孔之间相互配合，用于对位于定位板一侧的支架进行检测。

结合图6，本实施例中的第一检测组件包括第一定位套9和第一检测销10，所述第一定位套9与定位环之间间隙配合设置在定位环内，第一检测销10设置在第一定位套9内，第一检测销10与第一定位套9之间间隙配合。如图8，检测时将第一定位套插设到定位环中，然后将第一检测销插设到第一定位套中，通过第一检测销对位于第一定位空间内的一侧支架进行检测。

优选地，如图6，在第一检测销10上设置有检测端面11，所述检测端面11上设置有沿检测端面径向方向设置的间隙检测槽12，间隙检测槽12内插设有间隙检测杆13。通过设置间隙检测槽和间隙检测杆对位于第一定位空间内的一侧支架进行进一步的检测。

结合图7，本实施例中的第二检测组件包括第二定位套14和第二检测销15，所述第二定位套15设置在定位板的检测孔内与定位板之间间隙配合，第二检测销15设置在第二定位套14内，第二检测销15与第二定位套14之间间隙配合。如图8，检测时将第二定位套插设到检测孔中，然后将第二检测销插设到第二定位套中，通过第二检测销对位于第二定位空间内的一侧支架进行检测。

优选地，如图7，在第二检测销15端部设置有检测头16，所述检测头16一端沿其周向均布设置有四个检测缺口17。检测头上设置的四个检测缺口分别与支架端部设置的待检测结构相配合，用于对位于第二定位空间内的一侧支架进行检测。

如图4，在检测台1上位于第一定位空间内一端端面上对称设置有第一让位槽18和第二让位槽19；在检测台上位于定位基准平面设置有多个让位孔20。通过设置与支架上相应结构相配合的第一让位槽、第二让位槽及让位孔，在方便支架在定位基准平面进行定位的同时，对支架在检测台上进行进一步的限位，保证支架在检测时定位的准确性，同时还可对支架上的相应结构进行辅助检测。

本实用新型的说明书和附图被认为是说明性的而非限制性的，在本实用新型基础上，本领域技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中一些技术特征做出一些替换和变形，均在本实用新型的保护范围内。

Claims (7)

1.复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：包括检具本体、第一检测组件和第二检测组件，所述检具本体包括检测台、定位环和定位板，所述定位环和定位板分别设置在检测台的两端，定位环、定位板和检测台上均设置有水平底面，且三者的底面位于同一平面内，所述检测台上设置有定位基准平面，检测台位于定位环一端设置有第一定位空间，检测台位于定位板一端设置有第二定位空间，检测台中部设置有第三定位空间，所述第一定位空间、第二定位空间和第三定位空间将支架在检测台上沿检测台纵向方向上进行定位，所述定位板上设置有检测孔，所述第一检测组件与定位环之间相互配合，用于对位于定位环一侧的支架进行检测，第二检测组件与定位板上的检测孔之间相互配合，用于对位于定位板一侧的支架进行检测。

2.根据权利要求1所述的复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：所述第一检测组件包括第一定位套和第一检测销，所述第一定位套与定位环之间间隙配合设置在定位环内，第一检测销设置在第一定位套内，第一检测销与第一定位套之间间隙配合。

3.根据权利要求2所述的复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：所述第一检测销上设置有检测端面，所述检测端面上设置有沿检测端面径向方向设置的间隙检测槽，间隙检测槽内插设有间隙检测杆。

4.根据权利要求1所述的复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：所述第二检测组件包括第二定位套和第二检测销，所述第二定位套设置在定位板的检测孔内与定位板之间间隙配合，第二检测销设置在第二定位套内，第二检测销与第二定位套之间间隙配合。

5.根据权利要求4所述的复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：所述第二检测销端部设置有检测头，所述检测头一端沿其周向均布设置有四个检测缺口。

6.根据权利要求1所述的复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：所述检测台上位于第一定位空间内一端端面上对称设置有第一让位槽和第二让位槽。

7.根据权利要求1所述的复杂型面支架铸造成型质量检具，其特征在于：所述检测台上位于定位基准平面设置有多个让位孔。

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