CN210119532U - 用于电子加工检验用的检验设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供用于电子加工检验用的检验设备,包括底座、下滑轨和斜连杆;所述底座的顶部滑动连接有两组所述下检测块;所述底座左右两侧顶部均铰链接有两组所述连杆;所述摆动块中部滑动连接有两组所述上检测块;所述底座左后方铰链接有一组所述手柄;所述手柄的中部通过一组所述斜连杆与最左后方一组所述连杆铰链接;所述连杆和所述上检测块均与检测仪器相连接。该装置可以同时将电子元器件的两个针脚同时压紧,减少操作,避免逐个针脚固定的情况,提供生产效率,同时在使用中可以方便的调节两组上下检测块的距离,可以适合不同长度的针脚元器件进行测量,适用性更强,调节简单方便,提高生产效率。
Description
技术领域
本实用新型属于电子加工技术领域,更具体地说,特别涉及用于电子加工检验用的检验设备。
背景技术
在电子产品的加工过程中需要检测电子产品的性能,现在的电子检测装置一般是将电子产品的两个针脚分别用检测仪器的两个测量夹头夹紧进行检测。
现有的电子加工检验在使用时需要将针脚逐个通过检测仪器的两个测量夹头夹紧,操作过程复杂,检验效率较低。
于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供用于电子加工检验用的检验设备,以期达到更具有更加实用价值性的目的。
实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型提供用于电子加工检验用的检验设备,以解决现有的电子加工检验在使用时需要将针脚逐个通过检测仪器的两个测量夹头夹紧,操作过程复杂,检验效率较低的问题。
本实用新型用于电子加工检验用的检验设备的目的与功效,由以下具体技术手段所达成:
用于电子加工检验用的检验设备,包括底座、下滑轨、丝杠、下检测块、连杆、摆动块、上滑轨、上检测块、手柄和斜连杆;所述底座的顶部滑动连接有两组所述下检测块;所述底座左右两侧顶部均铰链接有两组所述连杆;四组所述连杆的顶部共同铰链接有一组所述摆动块;所述摆动块中部滑动连接有两组所述上检测块;所述每组所述下检测块的顶部均铰链接有两组所述连杆;同一组所述下检测块上的两组所述连杆顶部铰链接在一组所述上检测块上;所述底座左后方铰链接有一组所述手柄;所述手柄的中部通过一组所述斜连杆与最左后方一组所述连杆铰链接;所述连杆和所述上检测块均与检测仪器相连接。
进一步的,所述底座的上部设置有两组所述下滑轨,所述下检测块通过所述下滑轨与所述底座滑动连接。
进一步的,所述丝杠为双头丝杠,所述丝杠左右两侧螺距相同、旋向相反,所述丝杠与所述下检测块构成丝杠螺母传动副。
进一步的,所述摆动块的中部设置有两组所述上滑轨,所述上检测块通过所述上滑轨与所述摆动块滑动连接。
进一步的,所有所述连杆均为平行安装,所述连杆、所述摆动块、所述底座共同构成双摇杆机构。
进一步的,所述下检测块、所述连杆、所述上检测块共同构成双摇杆机构。
进一步的,所述连杆、所述底座、所述手柄和所述斜连杆共同构成曲柄摇杆机构。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
该装置通过采用双摇杆机构实现两组上检测块同步往下摆动将电子元器件夹紧,完成对电子元器件的检测,在夹紧的过程中可以保持上检测块水平状态,实现对元器件进行良好的夹紧效果,操作简单,通过一次操作实现同时将两个针脚均夹紧,提高劳动效率;通过采用双头结构的丝杠,通过丝杠螺母传动副实现两组下检测块的同时反向滑动,调节两组下检测块之间的距离,以适应不同长度的电子元器件的检测要求看,具有良好的适应性;该装置可以同时将电子元器件的两个针脚同时压紧,减少操作,避免逐个针脚固定的情况,提供生产效率,同时在使用中可以方便的调节两组上下检测块的距离,可以适合不同长度的针脚元器件进行测量,适用性更强,调节简单方便,提高生产效率。
附图说明
图1是本实用新型的轴侧结构示意图。
图2是本实用新型的摆动块安装轴侧结构示意图。
图3是本实用新型的曲柄摇杆机构轴侧结构示意图。
图4是本实用新型的上检测块和下检测块连接轴侧结构示意图。
图5是本实用新型的底座轴侧结构示意图。
图6是本实用新型的摆动块轴侧结构示意图。
图中,部件名称与附图编号的对应关系为:
1、底座;101、下滑轨;102、丝杠;2、下检测块;3、连杆;4、摆动块; 401、上滑轨;5、上检测块;6、手柄;7、斜连杆。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型,但不能用来限制本实用新型的范围。
如附图1至附图6所示:
本实用新型提供用于电子加工检验用的检验设备,包括底座1、下滑轨101、丝杠102、下检测块2、连杆3、摆动块4、上滑轨401、上检测块5、手柄6和斜连杆7;所述底座1的顶部滑动连接有两组所述下检测块2;所述底座1左右两侧顶部均铰链接有两组所述连杆3;四组所述连杆3的顶部共同铰链接有一组所述摆动块4;所述摆动块4中部滑动连接有两组所述上检测块5;所述每组所述下检测块2的顶部均铰链接有两组所述连杆3;同一组所述下检测块2上的两组所述连杆3顶部铰链接在一组所述上检测块5上;所述底座1左后方铰链接有一组所述手柄6;所述手柄6的中部通过一组所述斜连杆7与最左后方一组所述连杆3铰链接;所述连杆3和所述上检测块5均与检测仪器相连接。
其中,所述底座1的上部设置有两组所述下滑轨101,所述下检测块2通过所述下滑轨101与所述底座1滑动连接,改变两组所述下检测块2之间的距离。
其中,所述丝杠102为双头丝杠,所述丝杠102左右两侧螺距相同、旋向相反,所述丝杠102与所述下检测块2构成丝杠螺母传动副,在使用时,转动所述丝杠102带动两组所述下检测块2同时反向滑动。
其中,所述摆动块4的中部设置有两组所述上滑轨401,所述上检测块5通过所述上滑轨401与所述摆动块4滑动连接,改变两组所述上检测块5之间的距离。
其中,所有所述连杆3均为平行安装,所述连杆3、所述摆动块4、所述底座1共同构成双摇杆机构,所述连杆3在摆动时通过双摇杆机构实现将所述摆动块4上下摆动的同时保持水平状态。
其中,所述下检测块2、所述连杆3、所述上检测块5共同构成双摇杆机构,保持所述上检测块5与所述摆动块4同步摆动。
其中,所述连杆3、所述底座1、所述手柄6和所述斜连杆7共同构成曲柄摇杆机构,通过曲柄摇杆机构将所述手柄6的小角度摆动转化为所述连杆3的大角度摆动,方便操作。
本实施例的具体使用方式与作用:
在使用的时候,将需要检测的电子元器件的针脚放置在下检测块2上,操作手柄6,通过由连杆3、底座1、手柄6和斜连杆7共同构成的曲柄摇杆机构作用下带动连杆3摆动,连杆3通过双摇杆机构带动摆动块4往下摆动,同时带动上检测块5往下摆动将电子元器件针脚夹住,对电子元器件的电性参数进行测量;当需要测量的电子产品长度改变时,通过旋转丝杠102,丝杠102通过丝杠螺母副带动两组下检测块2反向滑动,同时通过两组连杆3带动两组上检测块5反向滑动实现改变测量宽度的目的。
本实用新型的实施例是为了示例和描述起见而给出的,而并不是无遗漏的或者将本实用新型限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本实用新型的原理和实际应用,并且使本领域的普通技术人员能够理解本实用新型从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
Claims (7)
1.用于电子加工检验用的检验设备,包括底座(1)、下滑轨(101)、丝杠(102)、下检测块(2)、连杆(3)、摆动块(4)、上滑轨(401)、上检测块(5)、手柄(6)和斜连杆(7);
其特征在于:所述底座(1)的顶部滑动连接有两组所述下检测块(2);所述底座(1)左右两侧顶部均铰链接有两组所述连杆(3);四组所述连杆(3)的顶部共同铰链接有一组所述摆动块(4);所述摆动块(4)中部滑动连接有两组所述上检测块(5);所述每组所述下检测块(2)的顶部均铰链接有两组所述连杆(3);同一组所述下检测块(2)上的两组所述连杆(3)顶部铰链接在一组所述上检测块(5)上;所述底座(1)左后方铰链接有一组所述手柄(6);所述手柄(6)的中部通过一组所述斜连杆(7)与最左后方一组所述连杆(3)铰链接;所述连杆(3)和所述上检测块(5)均与检测仪器相连接。
2.如权利要求1所述用于电子加工检验用的检验设备,其特征在于:所述底座(1)的上部设置有两组所述下滑轨(101),所述下检测块(2)通过所述下滑轨(101)与所述底座(1)滑动连接。
3.如权利要求1所述用于电子加工检验用的检验设备,其特征在于:所述丝杠(102)为双头丝杠,所述丝杠(102)左右两侧螺距相同、旋向相反,所述丝杠(102)与所述下检测块(2)构成丝杠螺母传动副。
4.如权利要求1所述用于电子加工检验用的检验设备,其特征在于:所述摆动块(4)的中部设置有两组所述上滑轨(401),所述上检测块(5)通过所述上滑轨(401)与所述摆动块(4)滑动连接。
5.如权利要求1所述用于电子加工检验用的检验设备,其特征在于:所有所述连杆(3)均为平行安装,所述连杆(3)、所述摆动块(4)、所述底座(1)共同构成双摇杆机构。
6.如权利要求1所述用于电子加工检验用的检验设备,其特征在于:所述下检测块(2)、所述连杆(3)、所述上检测块(5)共同构成双摇杆机构。
7.如权利要求1所述用于电子加工检验用的检验设备,其特征在于:所述连杆(3)、所述底座(1)、所述手柄(6)和所述斜连杆(7)共同构成曲柄摇杆机构。
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