CN209802632U - Tft-lcd温度特性测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种TFT‑LCD温度特性测试装置，属于液晶显示测试技术领域，用于研究高低温对TFT‑LCD显示性能的影响，具体包括高低温控制箱，其箱体内部的温度控制范围为‑40℃‑90℃；所述箱体内具有操作台，所述操作台的上表面安装有光纤筒支架、XY电动平移台、温度传感器和视场约束筒。本实用新型通过使用宽温XY电动平移台和高精度信号采集系统组成测试系统，将待测TFT显示器件和测试系统一同放入高低温控制箱中进行高低温环境显示特性测试，有效的达到了模拟恶劣环境下的显示效果，探究高低温环境下器件显示性能，便于明晰器件高低温情况下显示不足之处。
Description
技术领域
本实用新型涉及液晶显示测试技术领域，具体涉及一种TFT-LCD温度特性测试装置。
背景技术
TFT-LCD是薄膜晶体管型液晶显示屏，相比较于普通的黑白LCD或贴有有色滤光膜的LCD而言，TFT-LCD可以称作为“真彩”。TFT-LCD以其亮度好、对比度高、层次感强、颜色鲜艳的特性，成为目前主流显示器件，应用于各种场景，例如手机显示屏、计算机显示器、电视机显示屏、实验板显示屏等。
由于TFT-LCD用处日益广泛，使用环境也多种多样。然而，在温度过低时，TFT-LCD会出现结晶现象；在温度过高时，TFT-LCD会变成各向同性；即使在液晶态温度范围内，温度变化也会引起液晶材料物性参数的变化而影响其显示特性，因此需要研究温度对TFT-LCD显示性能的影响，以便提高TFT-LCD的性能。
目前用于研究温度对TFT-LCD显示性能影响，可查询到只有常温测试，且多为单独测试闪烁或单独测试响应，未综合至一体。目前对于TFT-LCD 的高低温测试设备还未见报道。
发明内容
为了解决现有技术中存在的问题，本实用新型提供了一种TFT-LCD温度特性测试装置。
本实用新型解决技术问题所采用的技术方案如下：
TFT-LCD温度特性测试装置，包括高低温控制箱，其箱体内部的温度控制范围为-40℃-90℃；所述箱体内具有操作台，所述操作台的上表面安装有光纤筒支架、XY电动平移台、温度传感器和视场约束筒；
所述光纤筒支架用于支撑光纤和视场约束筒，光纤的一端安装在光纤筒支架上并与视场约束筒相连，光纤的另一端与箱体外部的信号系统相连；
所述XY电动平移台包括一条X轴轨道、两条Y轴轨道和样品台，所述X轴轨道滑动于两条Y轴轨道之上，光纤筒支架滑动在X轴轨道上，待测试样品置于样品台上，样品台通过驱动排线与箱体外部的信号系统相连， XY电动平移台通过运动控制线束与箱体外部的运动控制系统相连，所述 XY电动平移台的温度适应范围为-40℃-90℃；
所述温度传感器通过温度传感器线束与箱体外部的信号系统相连；所述信号系统使用A/D转换精度为16位、采样率为1K-500Kbs的光电倍增管。
优选地，所述高低温控制箱的侧壁形成有过线孔，所述光纤、驱动排线和温度传感器线束穿过过线孔与信号系统相连接，所述运动控制线束穿过过线孔与运动控制系统相连接。
优选地，所述温度传感器安装在待测试样品的一侧。
优选地，所述驱动排线使用HDMI接口驱动待测试样品。
优选地，所述高低温控制箱的前侧设有显示屏和温度调节按钮。
优选地，所述高低温控制箱的侧面开设散热孔。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
本实用新型的TFT-LCD温度特性测试装置，通过使用宽温XY电动平移台和高精度信号采集系统组成测试系统，将待测TFT显示器件和测试系统一同放入高低温控制箱中进行高低温环境显示特性测试，有效的达到了模拟恶劣环境下的显示效果，探究高低温环境下器件显示性能，便于明晰器件高低温情况下显示不足之处。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的TFT-LCD温度特性测试装置的结构示意图。
附图标记说明：
1、高低温控制箱；2、操作台；3、光纤筒支架；4、XY电动平移台； 5、温度传感器；6、视场约束筒；7、光纤；8、待测试样品；9、驱动排线； 10、运动控制线束；11、运动控制系统；12、信号系统；13、过线孔；14、温度调节按钮；15、散热孔；16、显示屏。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步详细说明。
如图1所示的一种TFT-LCD温度特性测试装置，包括高低温控制箱1，其箱体内部的温度控制范围为-40℃-90℃。制冷系统采用全封闭风冷单级压缩制冷方式；循环系统采用耐温低噪音空调型电机，多叶式离心风轮；外箱材质采用优质碳素钢板，磷化静电喷塑处理/SUS304不锈钢雾面线条发纹处理；内箱材质采用SUS304不锈钢优质镜面光板；保温材质采用聚胺脂硬质发泡、超细玻璃纤维绵。
所述箱体内具有操作台2，所述操作台2的上表面安装有光纤筒支架3、 XY电动平移台4、温度传感器5和视场约束筒6。
所述光纤筒支架3用于支撑光纤7和视场约束筒6，光纤7的一端安装在光纤筒支架3上并与视场约束筒6相连，视场约束筒6垂直设置于待测试样品8的上方，具体可设置为内径15mm，长度120mm，连接于光纤筒之下，通过上下调节控制视场角，可以有效限制光信号采集区域，避免采集无效信号，光纤的另一端与箱体外部的信号系统12相连。
所述XY电动平移台4包括一条X轴轨道、两条Y轴轨道和样品台，所述X轴轨道滑动于两条Y轴轨道之上，光纤筒支架3滑动在X轴轨道上，待测试样品8置于样品台上，样品台通过驱动排线9与箱体外部的信号系统12相连，XY电动平移台4通过运动控制线束10与箱体外部的运动控制系统11相连，所述XY电动平移台4的温度适应范围为-40℃-90℃，高低温电机采购自成都金士力，型号：KH5776D，耐受温度-40℃～+90℃。导轨采购自德国易格斯有限公司，型号为ZSX-063001,耐受温度-40℃～+90℃。样品台为自制平台，将导轨安装在平移台底部上，将光纤筒支架3安装在平移台上方，实现XY轴两方向电动控制移动，带动探测光纤移动。该平移台控制精度高，耐腐蚀性好，可以满足用户对不同温度下，不同测试区域选择测试的需求。
所述温度传感器5通过温度传感器线束与箱体外部的信号系统12相连。具体可采用英国WEST1/10B级PT100温度传感器。
所述信号系统12使用A/D转换精度为16位、采样率为1K-500Kbs的光电倍增管，具体为日本滨松光电倍增管，测试更加精准，速度更快，针对快速响应器件有良好测试效果。
作为优选的实施例，所述高低温控制箱1的侧壁形成有过线孔13，所述光纤7、驱动排线9和温度传感器线束穿过过线孔13与信号系统12相连接，所述运动控制线束10穿过过线孔13与运动控制系统11相连接。
作为优选的实施例，所述温度传感器5安装在待测试样品8的一侧。
作为优选的实施例，所述驱动排线9使用HDMI接口驱动待测试样品，方便与用户接口对接，更加方便各种不同规格器件测试，减少因接口不同不便于驱动的问题。
作为优选的实施例，所述高低温控制箱1的前侧设有显示屏16和温度调节按钮14。
作为优选的实施例，所述高低温控制箱1的侧面开设散热孔15，保证箱体内加热装置和制冷装置的快速散热，提高使用寿命。
本实用新型的TFT-LCD温度特性测试装置的工作过程为：
光纤筒支架、视场约束筒和XY电动平移台安装固定为一体，可放置在高低温控制箱外做常温实验。当需要测试器件高低温性能时，将其整体放入高低温控制箱内，通过高低温箱设置加热或制冷温度，除高低温控制箱本身温度监测外，在XY平移台近样品侧安装有温度传感器，精确样品附近温度，保证温度准确性，在信号系统前面板的温度显示表上显示值达到控制温度时，即可测试。
测试时，将待测试样品放置在样品台上，接好驱动排线，固定在XY 电动平移台面板中间区域，将电动平移台整体放入高低温控制箱中，将光纤装入光纤筒支架，安装视场约束筒后，将光纤、驱动排线和温度传感器线束穿过过线孔与信号系统连接，将运动控制线束穿过过线孔与运动控制系统连接，通过高低温控制箱设置温度，待控制箱显示温度稳定后，观察在信号系统前面板上的温度表显示温度，此温度为样品区域温度检测，通过测试软件测试样品的显示特性。此装置可测试TFT-LCD的响应时间、伽马值、闪烁值、亮度均匀性等。
尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用。它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域。对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改。因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
Claims (6)
1.TFT-LCD温度特性测试装置，其特征在于，包括高低温控制箱，其箱体内部的温度控制范围为-40℃-90℃；所述箱体内具有操作台，所述操作台的上表面安装有光纤筒支架、XY电动平移台、温度传感器和视场约束筒；
所述光纤筒支架用于支撑光纤和视场约束筒，光纤的一端安装在光纤筒支架上并与视场约束筒相连，光纤的另一端与箱体外部的信号系统相连；
所述XY电动平移台包括一条X轴轨道、两条Y轴轨道和样品台，所述X轴轨道滑动于两条Y轴轨道之上，光纤筒支架滑动在X轴轨道上，待测试样品置于样品台上，样品台通过驱动排线与箱体外部的信号系统相连，XY电动平移台通过运动控制线束与箱体外部的运动控制系统相连，所述XY电动平移台的温度适应范围为-40℃-90℃；
所述温度传感器通过温度传感器线束与箱体外部的信号系统相连；所述信号系统使用A/D转换精度为16位、采样率为1K-500Kbs的光电倍增管。
2.根据权利要求1所述的TFT-LCD温度特性测试装置，其特征在于，所述高低温控制箱的侧壁形成有过线孔，所述光纤、驱动排线和温度传感器线束穿过过线孔与信号系统相连接，所述运动控制线束穿过过线孔与运动控制系统相连接。
3.根据权利要求1所述的TFT-LCD温度特性测试装置，其特征在于，所述温度传感器安装在待测试样品的一侧。
4.根据权利要求1所述的TFT-LCD温度特性测试装置，其特征在于，所述驱动排线使用HDMI接口驱动待测试样品。
5.根据权利要求1所述的TFT-LCD温度特性测试装置，其特征在于，所述高低温控制箱的前侧设有显示屏和温度调节按钮。
6.根据权利要求1所述的TFT-LCD温度特性测试装置，其特征在于，所述高低温控制箱的侧面开设散热孔。
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| CN111929248A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-11-13 | 重庆渝微电子技术研究院有限公司 | 半导体冷热台 |
| CN114047646A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-02-15 | 常熟理工学院 | 一种lcd的低温检测装置 |
| CN115855455A (zh) * | 2023-02-27 | 2023-03-28 | 泽景(西安)汽车电子有限责任公司 | 显示器屏幕温度的确定方法、装置及存储介质 |
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2019
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