CN209764978U - 一种idc排线测试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种IDC排线测试工装，包括基板，在所述基板上设有至少两个接线端子数量不同的IDC连接器，在所述基板上还设有测试模块，所述测试模块分别与每个IDC连接器串联连接并在每个IDC连接器上连接排线后形成闭合回路，所述每个IDC连接器之间为并联连接。该实用新型，可快速测试各类IDC连接器的各种PIN脚，极大程度上提高工作效率和产品品质。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及测试工装领域，尤其涉及一种IDC排线测试工装。
【背景技术】
随着自动化设备行业日趋成熟，我们对设备的要求也越来越高，对产品的性能有更高的要求，而且对产品的性能也做了相应规范。
现有的IDC连接器种类和脚位多，压接后使用万用表逐个脚位的去测量，需要两个人配合测量，工作效率低下，且在测量过程中，测试比较麻烦，如果两个测量工作人员配合不当，造成测量不准确的可能性大，测试慢严重影响工作效率和产品品质。
【实用新型内容】
针对现有技术的不足，本实用新型提供一种IDC排线测试工装，可快速测试IDC连接器的各种PIN脚，极大程度上提高工作效率和产品品质。
本实用新型所采用的技术方案为：
一种IDC排线测试工装，包括基板，在所述基板上设有至少两个接线端子数量不同的IDC连接器，在所述基板上还设有测试模块，所述测试模块分别与每个IDC连接器串联连接并在每个IDC连接器上连接排线后形成闭合回路，所述每个IDC连接器之间为并联连接。
作为优选，所述测试模块包括电源、第一连接端、第二连接端、第三连接端、第四连接端、第五连接端、电阻R1、第一发光二极管和第二发光二极管，所述第一连接端与电源的正极连接，所述电阻R1的一端与电源的负极连接，所述第二连接端与第一发光二极管的负极连接，所述第五连接端与第一发光二极管的正极连接，所述电阻R1的另一端连接在第二连接端与第一发光二极管的负极之间，所述第三连接端与第二发光二极管的正极连接，所述第四连接端与第二发光二极管的负极连接；
所述第一连接端、第二连接端、第三连接端、第四连接端和第五连接端分别与IDC连接器相对应的引脚连接。
作为优选，在电源的正极与第一连接端之间还设有贴片保险丝。
作为优选，在基板上间隔设置有多个铜柱安装孔。
作为优选，所述基板的厚度大于等于2mm，且小于等于4mm。
本实用新型的有益效果在于：
1有效防止漏测试和错误测试，提高测试精准度；
2方便作业人员测试，提高工作效率；
3测试模块中的电阻R1有效防止测试过程中电路短路；
4本实用新型的基板设置在一定的厚度范围内，提升IDC连接器拔插强度。
【附图说明】
图1为本实用新型一种IDC排线测试工装的主视结构示意图；
图2为测试模块与部分IDC连接器的电路结构示意图。
附图标号说明：基板1；铜柱安装孔11；IDC连接器2；测试模块3；电源31；第一连接端32；第二连接端33；第三连接端34；第四连接端35；第五连接端36；第一发光二极管37；第二发光二极管38；贴片保险丝39。
【具体实施方式】
为使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
如图1所示，本实用新型一种IDC排线测试工装，包括基板1，在所述基板1上设有至少两个接线端子数量不同的IDC连接器2，在所述基板1上还设有测试模块3，所述测试模块3分别与每个IDC连接器2串联连接并在每个IDC连接器2上连接排线后形成闭合回路，所述每个IDC连接器2之间为并联连接。测试时，作业人员只需要将被排线插在IDC连接器2上即可，基板1上一次性可插接多个不同种类的IDC连接器2，适用性强，方便作业人员测试，提高工作效率。
如图2所示，所述测试模块3包括电源31、第一连接端32、第二连接端33、第三连接端34、第四连接端35、第五连接端36、电阻R1、第一发光二极管37和第二发光二极管38，所述第一连接端32与电源31的正极连接，所述电阻R1的一端与电源31的负极连接，所述第二连接端33与第一发光二极管37的负极连接，所述第五连接端36与第一发光二极管37的正极连接，所述电阻R1的另一端连接在第二连接端33与第一发光二极管37的负极之间，所述第三连接端34与第二发光二极管38的正极连接，所述第四连接端35与第二发光二极管38的负极连接。
所述第一连接端32、第二连接端33、第三连接端34、第四连接端35和第五连接端36分别与IDC连接器2相对应的引脚连接，参照图2，如测试模块3中的001与IDC连接器2上的001连接，测试模块3中的002与IDC连接器2上的002连接，如此类推，在此不一一赘述。在IDC连接器2上连接排线并通电后，如果所述第一发光二极管37和第二发光二极管38同时点亮，则电路导通；如果只有一个发光二极管点亮，则电路为短路或者断路；如果第一发光二极管37和第二发光二极管38同时不亮，则电路为断路或者压反。有效防止漏测试和错误测试，提高测试精准度，从而减少产品品质异常。
如图2所示，在电源31的正极与第一连接端32之间还设有贴片保险丝39。起到保护测试模块3的作用。
如图1所示，在基板1上间隔设置有多个铜柱安装孔11。所述铜柱安装孔11方便作业人员安装。
本实用新型中，所述基板1的厚度大于等于2mm，且小于等于4mm。所述基板1的厚度控制在这个范围内，提升IDC连接器2的拔插强度。
该实用新型，可快速测试各类IDC连接器的各种PIN脚，极大程度上提高工作效率和产品品质。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (5)
1.一种IDC排线测试工装，其特征在于：包括基板(1)，在所述基板(1)上设有至少两个接线端子数量不同的IDC连接器(2)，在所述基板(1)上还设有测试模块(3)，所述测试模块(3)分别与每个IDC连接器(2)串联连接并在每个IDC连接器(2)上连接排线后形成闭合回路，所述每个IDC连接器(2)之间为并联连接。
2.根据权利要求1所述的一种IDC排线测试工装，其特征在于：所述测试模块(3)包括电源(31)、第一连接端(32)、第二连接端(33)、第三连接端(34)、第四连接端(35)、第五连接端(36)、电阻R1、第一发光二极管(37)和第二发光二极管(38)，所述第一连接端(32)与电源(31)的正极连接，所述电阻R1的一端与电源(31)的负极连接，所述第二连接端(33)与第一发光二极管(37)的负极连接，所述第五连接端(36)与第一发光二极管(37)的正极连接，所述电阻R1的另一端连接在第二连接端(33)与第一发光二极管(37)的负极之间，所述第三连接端(34)与第二发光二极管(38)的正极连接，所述第四连接端(35)与第二发光二极管(38)的负极连接；
所述第一连接端(32)、第二连接端(33)、第三连接端(34)、第四连接端(35)和第五连接端(36)分别与IDC连接器(2)相对应的引脚连接。
3.根据权利要求2所述的一种IDC排线测试工装，其特征在于：在电源(31)的正极与第一连接端(32)之间还设有贴片保险丝(39)。
4.根据权利要求1所述的一种IDC排线测试工装，其特征在于：在基板(1)上间隔设置有多个铜柱安装孔(11)。
5.根据权利要求1所述的一种IDC排线测试工装，其特征在于：所述基板(1)的厚度大于等于2mm，且小于等于4mm。
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2019
- 2019-02-28 CN CN201920253902.4U patent/CN209764978U/zh active Active
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