CN209606573U - 一种带限位结构的芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板的下端的芯片测试探针，所述芯片测试探针的上端侧壁与顶板的下端侧壁固定连接，所述顶板的下方设有底板，所述顶板与底板之间通过支撑板固定连接，所述芯片测试探针的下方设有测试板，所述测试板的上端侧壁上设有放置槽，所述底板上设有升降机构，所述测试板上设有限位机构。本实用新型具有限位机构，可调节控制芯片的位置，使得芯片测试探针可探到芯片中不同的测试点，结构简单，操作简便，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。
背景技术
芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，集成电路芯片的测试分类包括：晶圆测试、芯片测试和封装测试，芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。
现有的芯片测试装置不具备限位机构，且测试板的高度一般是固定的，从而不方便调节控制芯片的位置，不便于对芯片进行测试，为此我们提出了一种带限位结构的芯片测试装置，用来解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置，其具有限位机构，可调节控制芯片的位置，使得芯片测试探针可探到芯片中不同的测试点，结构简单，操作简便，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板的下端的芯片测试探针，所述芯片测试探针的上端侧壁与顶板的下端侧壁固定连接，所述顶板的下方设有底板，所述顶板与底板之间通过支撑板固定连接，所述芯片测试探针的下方设有测试板，所述测试板的上端侧壁上设有放置槽，所述底板上设有升降机构，所述测试板上设有限位机构。
优选地，所述升降机构包括设置在底板的上端侧壁上的装置槽，所述装置槽的内壁上固定连接有电动推杆，所述电动推杆的输出端与测试板的下端侧壁固定连接。
优选地，所述测试板靠近支撑板一端的侧壁上固定连接有T形滑块，所述支撑板的侧壁上设有与T形滑块位置相对应的T形滑槽，所述T形滑块与T形滑槽的内壁滑动连接，所述测试板的侧壁与支撑板的侧壁滑动连接。
优选地，所述限位机构包括设置在测试板的两侧侧壁上的螺纹杆，两个所述螺纹杆均贯穿测试板的侧壁并与其螺纹连接，所两个所述螺纹杆位于放置槽内的一端均转动连接有限位板。
优选地，所述限位板的侧壁与放置槽的内壁滑动连接且相抵，所述限位板远离螺纹杆的一端固定连接有橡胶垫片。
优选地，两个所述螺纹杆远离放置槽的一端均固定连接有旋钮。
本实用新型具有以下有益效果：
1、通过设置限位机构，通过手动旋转旋钮，旋钮可带动螺纹杆转动，因螺纹杆与测试板螺纹连接，所以螺纹杆可在测试板上左右移动，从而带动限位板在放置槽内左右移动，从而带动待测试的芯片在放置槽内左右移动，从而使得芯片测试探针可探到待测试的芯片中其他的测试点，结构简单，操作简便，橡胶垫片具有弹性，可避免在对芯片进行限位调节时损坏芯片；
2、通过设置升降机构，将待测试的芯片放置与测试板上的放置槽中，此时启动电动推杆，电动推杆可带动测试板向上移动，在此过程中，T形滑块沿T形滑槽滑动，使得测试板滑动的更加平稳，当测试板与芯片测试探针的间距适合测试时，停止电动推杆，芯片测试探针便可对待测试的芯片进行检测，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置的结构示意图；
图2为图1中A处结构放大图；
图3为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置的侧视结构示意图。
图中：1芯片测试探针、2顶板、3底板、4支撑板、5测试板、6放置槽、7装置槽、8电动推杆、9 T形滑块、10 T形滑槽、11螺纹杆、12限位板、13橡胶垫片、14旋钮。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
参照图1-3，一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板2的下端的芯片测试探针1，芯片测试探针1的上端侧壁与顶板2的下端侧壁固定连接，顶板2的下方设有底板3，顶板2与底板3之间通过支撑板4固定连接，芯片测试探针1的下方设有测试板5，测试板5的上端侧壁上设有放置槽6，芯片测试探针1为现有技术，芯片测试探针1可探到待测试的芯片中事先确定的测试点，芯片测试探针1上可以通过直流电流和交流信号，可以对待测试的芯片进行各种电气参数测试，使用时，将待测试的芯片放置与测试板5上的放置槽6中。
其中，底板3上设有升降机构，升降机构包括设置在底板3的上端侧壁上的装置槽7，装置槽7的内壁上固定连接有电动推杆8，电动推杆8的输出端与测试板5的下端侧壁固定连接，测试板5靠近支撑板4一端的侧壁上固定连接有T形滑块9，支撑板4的侧壁上设有与T形滑块9位置相对应的T形滑槽10，T形滑块9与T形滑槽10的内壁滑动连接，测试板5的侧壁与支撑板4的侧壁滑动连接，启动电动推杆8，电动推杆8可带动测试板5向上移动，在此过程中，T形滑块9沿T形滑槽10滑动，使得测试板5滑动的更加平稳，当测试板5与芯片测试探针1的间距适合测试时，停止电动推杆8，芯片测试探针1便可对待测试的芯片进行检测。
其中，测试板5上设有限位机构，限位机构包括设置在测试板5的两侧侧壁上的螺纹杆11，两个螺纹杆11均贯穿测试板5的侧壁并与其螺纹连接，两个螺纹杆11位于放置槽6内的一端均转动连接有限位板12，限位板12的侧壁与放置槽6的内壁滑动连接且相抵，限位板12远离螺纹杆11的一端固定连接有橡胶垫片13，橡胶垫片13具有弹性，可避免在对芯片进行限位调节时损坏芯片，两个螺纹杆11远离放置槽6的一端均固定连接有旋钮14，可通过手动旋转旋钮14，旋钮14可带动螺纹杆11转动，因螺纹杆11与测试板5螺纹连接，所以螺纹杆11可在测试板5上左右移动，从而带动限位板12在放置槽6内左右移动，从而带动待测试的芯片在放置槽6内左右移动，从而使得芯片测试探针1可探到待测试的芯片中其他的测试点，结构简单，操作简便。
本实用新型中，使用时，将待测试的芯片放置与测试板5上的放置槽6中，此时启动电动推杆8，电动推杆8可带动测试板5向上移动，在此过程中，T形滑块9沿T形滑槽10滑动，使得测试板5滑动的更加平稳，当测试板5与芯片测试探针1的间距适合测试时，停止电动推杆8，芯片测试探针1便可对待测试的芯片进行检测，芯片测试探针1为现有技术，芯片测试探针1可探到待测试的芯片中事先确定的测试点，芯片测试探针1上可以通过直流电流和交流信号，可以对待测试的芯片进行各种电气参数测试，可通过手动旋转旋钮14，旋钮14可带动螺纹杆11转动，因螺纹杆11与测试板5螺纹连接，所以螺纹杆11可在测试板5上左右移动，从而带动限位板12在放置槽6内左右移动，从而带动待测试的芯片在放置槽6内左右移动，从而使得芯片测试探针1可探到待测试的芯片中其他的测试点，结构简单，操作简便，橡胶垫片13具有弹性，可避免在对芯片进行限位调节时损坏芯片。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板（2）的下端的芯片测试探针（1），其特征在于，所述芯片测试探针（1）的上端侧壁与顶板（2）的下端侧壁固定连接，所述顶板（2）的下方设有底板（3），所述顶板（2）与底板（3）之间通过支撑板（4）固定连接，所述芯片测试探针（1）的下方设有测试板（5），所述测试板（5）的上端侧壁上设有放置槽（6），所述底板（3）上设有升降机构，所述测试板（5）上设有限位机构。
2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述升降机构包括设置在底板（3）的上端侧壁上的装置槽（7），所述装置槽（7）的内壁上固定连接有电动推杆（8），所述电动推杆（8）的输出端与测试板（5）的下端侧壁固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述测试板（5）靠近支撑板（4）一端的侧壁上固定连接有T形滑块（9），所述支撑板（4）的侧壁上设有与T形滑块（9）位置相对应的T形滑槽（10），所述T形滑块（9）与T形滑槽（10）的内壁滑动连接，所述测试板（5）的侧壁与支撑板（4）的侧壁滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述限位机构包括设置在测试板（5）的两侧侧壁上的螺纹杆（11），两个所述螺纹杆（11）均贯穿测试板（5）的侧壁并与其螺纹连接，所两个所述螺纹杆（11）位于放置槽（6）内的一端均转动连接有限位板（12）。
5.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述限位板（12）的侧壁与放置槽（6）的内壁滑动连接且相抵，所述限位板（12）远离螺纹杆（11）的一端固定连接有橡胶垫片（13）。
6.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，两个所述螺纹杆（11）远离放置槽（6）的一端均固定连接有旋钮（14）。
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| CN110824341A (zh) * | 2019-11-14 | 2020-02-21 | 杭州易正科技有限公司 | 一种升降限位的sop封装测试治具 |
| CN113484734A (zh) * | 2021-07-28 | 2021-10-08 | 王雪莲 | 一种数字集成电路测试系统 |
| CN113702805A (zh) * | 2021-07-28 | 2021-11-26 | 王雪莲 | 一种集成电路芯片内部电路节点测试装置 |
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