CN209471179U - 一种晶片电阻检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种晶片电阻检测装置，包括装置主体、螺纹杆、电机、底板、顶盖、检测平台、盒盖机构和缓冲机构，在所述底板上方的装置主体内部设置有缓冲机构、升降板和检测平台,缓冲机构固定在检测平台下方的底板的顶端面，在所述缓冲机构上方设置有水平的升降板,升降板两端分别通过螺纹套、滑套连接有螺纹杆、滑杆，在所述升降板顶端面通过竖直的支杆安装有检测平台,检测平台的顶端两侧固定有竖直的顶杆，顶杆上方的装置主体顶端铰接有两组顶盖，两组所述顶盖活动端相对设置，在顶盖与装置主体间安装有盒盖机构。该晶片电阻检测装置，具有结构设计合理、使用方便等优点，可以普遍推广使用。
Description
技术领域
本实用新型属于晶片检测技术领域，具体涉及一种晶片电阻检测装置。
背景技术
随着电子市场发展迅速，电子被动元件如晶片电阻已发展成高品质、微型化，在晶片出厂之前都要进行电阻率检测。
目前的晶片电阻检测装置在进行检测时，通常将晶片暴露在外，未考虑到空气湿度、温度、空气杂质对电阻率的影响，这使得外界因素极易影响检测结果，因此检测结果具有一定的局限性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种晶片电阻检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种晶片电阻检测装置，包括装置主体、螺纹杆、电机、底板、顶盖、检测平台、盒盖机构和缓冲机构，所述底板水平固定在装置主体的底端，在所述底板上方的装置主体内部设置有缓冲机构、升降板和检测平台,缓冲机构固定在检测平台下方的底板的顶端面，在所述缓冲机构上方设置有水平的升降板,升降板两端分别通过螺纹套、滑套连接有螺纹杆、滑杆，在所述升降板顶端面通过竖直的支杆安装有检测平台,检测平台的顶端两侧固定有竖直的顶杆，顶杆上方的装置主体顶端铰接有两组顶盖，两组所述顶盖活动端相对设置，在顶盖与装置主体间安装有盒盖机构，在所述装置主体的一侧壁上还安装有真空泵。
优选的，所述盒盖机构包括第一外管、第一弹簧和第一伸缩内杆，所述第一外管一端向内开设有伸缩槽的为弧形管，所述第一伸缩内杆一端滑动插接在第一外管内部，且处于所述第一外管内部的第一伸缩内杆上套设有第一弹簧,第一外管封闭的一端与装置主体顶端内侧壁固定连接，第一伸缩内杆处于所述第一外管外部的一端与顶盖的底端面固定连接。
优选的，在两组所述顶盖相对外端与装置主体铰接处下方设置有限位挡块,限位挡块固定在装置主体上，且两组第一伸缩内杆相对一端间距大于两组所述顶杆的间距。
优选的，所述缓冲机构包括第二弹簧、第二伸缩内杆和第二外管，所述第二外管顶端开口并滑动插接有竖直的第二伸缩内杆,第二外管的底端固定焊接在底板的顶端面上，第二伸缩内杆处于第二外管内部一端抵接有第二外管内部设置的第二弹簧。
优选的，所述螺纹套和滑套分别固定焊接在升降板的两侧，且螺纹套套置在竖直的螺纹杆上，滑套套置在竖直的滑杆上，螺纹杆的两端均通过轴承与装置主体转动连接，底端固定连接底板下方的电机的机轴。
本实用新型的技术效果和优点：该晶片电阻检测装置，通过电机及螺纹杆的设计，能够通过电机带动螺纹杆旋转使得螺纹杆上的螺纹套升降，进而使得上方固定安装有检测平台的与螺纹套固定连接的升降板升降，实现检测平台在装置主体上的进出，便于晶片的取放，通过在装置主体内部进行检测，提高了检测数据的准确性，避免了外界因素的干扰，同时顶盖与装置主体间通过盒盖机构连接，使得检测平台进入装置主体内部时，顶盖能够通过盒盖机构中弹簧的拉力自动扣合，并利用限位挡块进行位置限定，通过缓冲机构的设计，能够在检测平台下降进入装置主体内部时抵接检测平台底端面，进行缓冲，减弱震动，有效保护晶片，该晶片电阻检测装置，具有结构设计合理、使用方便等优点，可以普遍推广使用。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的盒盖机构结构示意图；
图3为本实用新型的缓冲机构结构示意图。
图中：1装置主体、2螺纹杆、3螺纹套、4电机、5盒盖机构、6限位挡块、7顶杆、8检测平台、9顶盖、10底板、11缓冲机构、12支杆、13升降板、14滑杆、15真空泵、16滑套、17第一外管、18第一弹簧、19第一伸缩内杆、20第二弹簧、21第二伸缩内杆、22第二外管。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供了如图1-3所示的一种晶片电阻检测装置，包括装置主体1、螺纹杆2、电机4、底板10、顶盖9、检测平台8、盒盖机构5和缓冲机构11，所述底板10水平固定在装置主体1的底端，在所述底板10上方的装置主体1内部设置有缓冲机构11、升降板13和检测平台8,缓冲机构11固定在检测平台8下方的底板10的顶端面，在所述缓冲机构11上方设置有水平的升降板13,升降板13两端分别通过螺纹套3、滑套16连接有螺纹杆2、滑杆14，在所述升降板13顶端面通过竖直的支杆12安装有检测平台8,检测平台8的顶端两侧固定有竖直的顶杆7，顶杆7上方的装置主体1顶端铰接有两组顶盖9，两组所述顶盖9活动端相对设置，在顶盖9与装置主体1间安装有盒盖机构5，在所述装置主体1的一侧壁上还安装有真空泵15，真空泵15将装置主体1内部抽至接近真空，能够提高检测数据的准确性。
具体的，所述盒盖机构5包括第一外管17、第一弹簧18和第一伸缩内杆19，所述第一外管17一端向内开设有伸缩槽的为弧形管，所述第一伸缩内杆19一端滑动插接在第一外管17内部，且处于所述第一外管17内部的第一伸缩内杆19上套设有第一弹簧18,第一外管17封闭的一端与装置主体1顶端内侧壁固定连接，第一伸缩内杆19处于所述第一外管17外部的一端与顶盖9的底端面固定连接，利用盒盖机构5能够自动关闭顶盖9，使用较为方便。
具体的，在两组所述顶盖9相对外端与装置主体1铰接处下方设置有限位挡块6,限位挡块6固定在装置主体1上，且两组第一伸缩内杆19相对一端间距大于两组所述顶杆7的间距，不影响检测平台8及顶杆7的进出。
具体的，所述缓冲机构11包括第二弹簧20、第二伸缩内杆21和第二外管22，所述第二外管22顶端开口并滑动插接有竖直的第二伸缩内杆21,第二外管22的底端固定焊接在底板10的顶端面上，第二伸缩内杆21处于第二外管22内部一端抵接有第二外管22内部设置的第二弹簧20，缓冲机构11在与下降的检测平台8接触时，能够有效进行减震缓冲，保护晶片。
具体的，所述螺纹套3和滑套16分别固定焊接在升降板13的两侧，且螺纹套3套置在竖直的螺纹杆2上，滑套16套置在竖直的滑杆14上，螺纹杆2的两端均通过轴承与装置主体1转动连接，底端固定连接底板10下方的电机4的机轴，通过电机4旋转间接带动升降板13进行升降。
具体的，该晶片电阻检测装置，在使用时，通过电机4旋转带动装置主体1内部的螺纹杆2旋转，进而使得螺纹套3带动升降板13在装置主体1内部升降，使检测平台8顶部的顶杆7顶开顶盖9，检测平台8升至装置主体1外，待检测晶片放置在检测平台8上，电机4反转，将检测平台8降至装置主体1内部，随后利用盒盖机构5可使得顶盖9自动扣合，在检测平台8降至底部时与缓冲机构11接触，缓冲机构11进行减震缓冲，有效保护晶片，该晶片电阻检测装置，具有结构设计合理、使用方便等优点，可以普遍推广使用。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种晶片电阻检测装置，包括装置主体(1)、螺纹杆(2)、电机(4)、底板(10)、顶盖(9)、检测平台(8)、盒盖机构(5)和缓冲机构(11)，其特征在于：所述底板(10)水平固定在装置主体(1)的底端，在所述底板(10)上方的装置主体(1)内部设置有缓冲机构(11)、升降板(13)和检测平台(8),缓冲机构(11)固定在检测平台(8)下方的底板(10)的顶端面，在所述缓冲机构(11)上方设置有水平的升降板(13),升降板(13)两端分别通过螺纹套(3)、滑套(16)连接有螺纹杆(2)、滑杆(14)，在所述升降板(13)顶端面通过竖直的支杆(12)安装有检测平台(8),检测平台(8)的顶端两侧固定有竖直的顶杆(7)，顶杆(7)上方的装置主体(1)顶端铰接有两组顶盖(9)，两组所述顶盖(9)活动端相对设置，在顶盖(9)与装置主体(1)间安装有盒盖机构(5)，在所述装置主体(1)的一侧壁上还安装有真空泵(15)。
2.根据权利要求1所述的一种晶片电阻检测装置，其特征在于：所述盒盖机构(5)包括第一外管(17)、第一弹簧(18)和第一伸缩内杆(19)，所述第一外管(17)一端向内开设有伸缩槽的为弧形管，所述第一伸缩内杆(19)一端滑动插接在第一外管(17)内部，且处于所述第一外管(17)内部的第一伸缩内杆(19)上套设有第一弹簧(18),第一外管(17)封闭的一端与装置主体(1)顶端内侧壁固定连接，第一伸缩内杆(19)处于所述第一外管(17)外部的一端与顶盖(9)的底端面固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种晶片电阻检测装置，其特征在于：在两组所述顶盖(9)相对外端与装置主体(1)铰接处下方设置有限位挡块(6),限位挡块(6)固定在装置主体(1)上，且两组第一伸缩内杆(19)相对一端间距大于两组所述顶杆(7)的间距。
4.根据权利要求1所述的一种晶片电阻检测装置，其特征在于：所述缓冲机构(11)包括第二弹簧(20)、第二伸缩内杆(21)和第二外管(22)，所述第二外管(22)顶端开口并滑动插接有竖直的第二伸缩内杆(21),第二外管(22)的底端固定焊接在底板(10)的顶端面上，第二伸缩内杆(21)处于第二外管(22)内部一端抵接有第二外管(22)内部设置的第二弹簧(20)。
5.根据权利要求1所述的一种晶片电阻检测装置，其特征在于：所述螺纹套(3)和滑套(16)分别固定焊接在升降板(13)的两侧，且螺纹套(3)套置在竖直的螺纹杆(2)上，滑套(16)套置在竖直的滑杆(14)上，螺纹杆(2)的两端均通过轴承与装置主体(1)转动连接，底端固定连接底板(10)下方的电机(4)的机轴。
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| CN201822219657.3U CN209471179U (zh) | 2018-12-27 | 2018-12-27 | 一种晶片电阻检测装置 |
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| CN (1) | CN209471179U (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112007701A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-12-01 | 菏泽学院 | 一种建筑材料检测实验室用放置架 |
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