CN209342120U - 一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置 - Google Patents

一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置 Download PDF

Info

Publication number
CN209342120U
CN209342120U CN201920298431.9U CN201920298431U CN209342120U CN 209342120 U CN209342120 U CN 209342120U CN 201920298431 U CN201920298431 U CN 201920298431U CN 209342120 U CN209342120 U CN 209342120U
Authority
CN
China
Prior art keywords
wafer
probe
gear
scanning device
table base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201920298431.9U
Other languages
English (en)
Inventor
梅华斌
刘春�
张智
闵海英
张敏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Institute of Technology
Original Assignee
Wuxi Institute of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Institute of Technology filed Critical Wuxi Institute of Technology
Priority to CN201920298431.9U priority Critical patent/CN209342120U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN209342120U publication Critical patent/CN209342120U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,解决了实际操作中为应对不同纵深及尺寸的需求,可能需要更换晶圆扫描装置或者更改装置的部分结构,从而影响到生产进度,增加了投入成本的问题,其包括工作台底座,所述工作台底座的一侧通过螺栓固定有定位板,定位板的一侧对称滑动安装有探头安装座,探头安装座上安装有探头,工作台底座的顶部中心处焊接固定有齿轮条,工作台底座的顶部对应两侧焊接固定有直线导轨。本实用新型结构新颖,构思巧妙,使用方便,在两个探头相对位置确定的情况下,延长探头的扫描纵深,同时也可以调节探头间距,使其可以根据晶圆的直径进行探头间距的快速调节,满足不同工况的需要,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性。

Description

一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置
技术领域
本实用新型涉及半导体晶圆检测技术领域,具体为一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置。
背景技术
晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆,晶圆扫描装置是使用光纤传感器进行晶圆扫描的装置,按照其光纤扫描方式分类主要分为对射型和反射型两类。但是实际操作中为应对不同纵深及尺寸的需求,可能需要更换晶圆扫描装置或者更改装置的部分结构,从而影响到生产进度,增加了投入成本。因此,设计一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置是很有必要的。
实用新型内容
针对上述情况,为克服现有技术的缺陷,本实用新型提供一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,有效的解决了实际操作中为应对不同纵深及尺寸的需求,可能需要更换晶圆扫描装置或者更改装置的部分结构,从而影响到生产进度,增加了投入成本的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:本实用新型包括工作台底座,所述工作台底座的一侧通过螺栓固定有定位板,定位板的一侧对称滑动安装有探头安装座,探头安装座上安装有探头,工作台底座的顶部中心处焊接固定有齿轮条,工作台底座的顶部对应两侧焊接固定有直线导轨,直线导轨上滑动连接有方形滑块,方形滑块的顶部一侧焊接固定有固定板,且两个固定板之间转动连接有转轴,固定板的一侧通过螺栓固定有减速器,且减速器的输出端与转轴的一端连接,减速器的输入端与伺服电机的输出端连接,转轴的中心处套接固定有第一齿轮,且第一齿轮与齿轮条啮合连接,转轴远离减速器的一端套接固定有电磁抱闸,固定板的顶部通过螺栓固定有负载工作台,且负载工作台的一侧通过导线与控制板连接,控制板电性连接探头、伺服电机和电磁抱闸。
优选的,所述探头安装座包括旋钮、齿轮槽、滑槽、L型滑块和第二齿轮,滑槽开设在定位板的一侧中心处,滑槽的底部内壁中心处开设有齿轮槽,齿轮槽内部啮合连接有第二齿轮,滑槽的内部滑动连接有L型滑块,L型滑块的顶部中心处通过螺栓固定有探头,旋钮穿过L型滑块的顶部一侧焊接固定在第二齿轮的中心处。
优选的,所述滑槽的一侧嵌入安装有刻度条。
优选的,所述负载工作台的顶部四个拐角处对称开设有螺栓孔。
优选的,所述探头的外侧罩有防护罩,且防护罩为一种钢化玻璃材料构件。
本实用新型结构新颖,构思巧妙,使用方便,在两个探头相对位置确定的情况下,延长探头的扫描纵深,同时也可以调节探头间距,使其可以根据晶圆的直径进行探头间距的快速调节,满足不同工况的需要,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1是本实用新型整体三维结构示意图;
图2是本实用新型伺服电机驱动结构示意图;
图3是本实用新型探头安装座平面结构示意图;
图4为本实用新型第二齿轮结构示意图;
图中标号:1、工作台底座;2、定位板;3、探头安装座;4、探头;5、齿轮条;6、直线导轨;7、伺服电机;8、减速器;9、电磁抱闸;10、负载工作台;11、固定板;12、第一齿轮;13、方形滑块;14、控制板;15、转轴;16、旋钮;17、齿轮槽;18、滑槽;19、刻度条;20、L型滑块;21、第二齿轮。
具体实施方式
下面结合附图1-4对本实用新型的具体实施方式做进一步详细说明。
实施例一,由图1和图2给出,本实用新型包括工作台底座1,工作台底座1的一侧通过螺栓固定有定位板2,定位板2的一侧对称滑动安装有探头安装座3,探头安装座3上安装有探头4,工作台底座1的顶部中心处焊接固定有齿轮条5,工作台底座1的顶部对应两侧焊接固定有直线导轨6,直线导轨6上滑动连接有方形滑块13,方形滑块13的顶部一侧焊接固定有固定板11,且两个固定板11之间转动连接有转轴15,固定板11的一侧通过螺栓固定有减速器8,且减速器8的输出端与转轴15的一端连接,减速器8的输入端与伺服电机7的输出端连接,转轴15的中心处套接固定有第一齿轮12,且第一齿轮12与齿轮条5啮合连接,转轴15远离减速器8的一端套接固定有电磁抱闸9,固定板11的顶部通过螺栓固定有负载工作台10,且负载工作台10的一侧通过导线与控制板14连接,便于实现智能控制,有效的提升使用的方便性,控制板14电性连接探头4、伺服电机7和电磁抱闸9,通过操控控制板14使伺服电机7工作,带动减速器8工作,从而带动转轴15旋转,进而带动第一齿轮12旋转,使第一齿轮12在齿轮条5上运动,继而带动工作台底座1运动,最终带动探头4运动,在两个探头4相对位置确定的情况下,延长探头4的扫描纵深,满足不同工况的需要,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性,同时,探头4可以伸缩的特性也可以减小晶圆扫描装置的占地面积,节省空间,通过设置的电磁抱闸9,可以有效的保证探头4扫描时,在外界影响下转轴15的稳定性,防止转轴15自转,造成测量精确度不高,有效的提升使用的方便性。
实施例二,在实施例一的基础上,由图1、图3和图4给出,探头安装座3包括旋钮16、齿轮槽17、滑槽18、L型滑块20和第二齿轮21,滑槽18开设在定位板2的一侧中心处,滑槽18的底部内壁中心处开设有齿轮槽17,齿轮槽17内部啮合连接有第二齿轮21,滑槽18的内部滑动连接有L型滑块20,L型滑块20的顶部中心处通过螺栓固定有探头4,旋钮16穿过L型滑块20的顶部一侧焊接固定在第二齿轮21的中心处,通过旋转旋钮16,从而使第二齿轮21在齿轮槽17的内部运动,继而带动L型滑块20在滑槽18的内部运动,同时与刻度条19相配合,便于精确的调节探头4的位置,使其可以根据晶圆的直径进行探头4间距的快速调节,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性,有效的提升了使用的方便性。
实施例三,在实施例二的基础上,由图3给出,滑槽18的一侧嵌入安装有刻度条19,提升调节的精度。
实施例四,在实施例一的基础上,由图1给出,负载工作台10的顶部四个拐角处对称开设有螺栓孔,便于固定。
实施例五,在实施例一的基础上,探头4的外侧罩有防护罩,且防护罩为一种钢化玻璃材料构件,防止探头4损坏。
本实用新型使用时,通过操控控制板14使伺服电机7工作,带动减速器8工作,从而带动转轴15旋转,进而带动第一齿轮12旋转,使第一齿轮12在齿轮条5上运动,继而带动工作台底座1运动,最终带动探头4运动,在两个探头4相对位置确定的情况下,延长探头4的扫描纵深,满足不同工况的需要,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性,同时,探头4可以伸缩的特性也可以减小晶圆扫描装置的占地面积,节省空间,通过设置的电磁抱闸9,可以有效的保证探头4扫描时,在外界影响下转轴15的稳定性,防止转轴15自转,造成测量精确度不高,有效的提升使用的方便性,通过旋转旋钮16,从而使第二齿轮21在齿轮槽17的内部运动,继而带动L型滑块20在滑槽18的内部运动,同时与刻度条19相配合,便于精确的调节探头4的位置,使其可以根据晶圆的直径进行探头4间距的快速调节,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性,有效的提升了使用的方便性。
本实用新型结构新颖,构思巧妙,使用方便,在两个探头相对位置确定的情况下,延长探头的扫描纵深,同时也可以调节探头间距,使其可以根据晶圆的直径进行探头间距的快速调节,满足不同工况的需要,增强晶圆扫描装置的兼容性和适应性。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,包括工作台底座(1),其特征在于,所述工作台底座(1)的一侧通过螺栓固定有定位板(2),定位板(2)的一侧对称滑动安装有探头安装座(3),探头安装座(3)上安装有探头(4),工作台底座(1)的顶部中心处焊接固定有齿轮条(5),工作台底座(1)的顶部对应两侧焊接固定有直线导轨(6),直线导轨(6)上滑动连接有方形滑块(13),方形滑块(13)的顶部一侧焊接固定有固定板(11),且两个固定板(11)之间转动连接有转轴(15),固定板(11)的一侧通过螺栓固定有减速器(8),且减速器(8)的输出端与转轴(15)的一端连接,减速器(8)的输入端与伺服电机(7)的输出端连接,转轴(15)的中心处套接固定有第一齿轮(12),且第一齿轮(12)与齿轮条(5)啮合连接,转轴(15)远离减速器(8)的一端套接固定有电磁抱闸(9),固定板(11)的顶部通过螺栓固定有负载工作台(10),且负载工作台(10)的一侧通过导线与控制板(14)连接,控制板(14)电性连接探头(4)、伺服电机(7)和电磁抱闸(9)。
2.根据权利要求1所述的一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,其特征在于,所述探头安装座(3)包括旋钮(16)、齿轮槽(17)、滑槽(18)、L型滑块(20)和第二齿轮(21),滑槽(18)开设在定位板(2)的一侧中心处,滑槽(18)的底部内壁中心处开设有齿轮槽(17),齿轮槽(17)内部啮合连接有第二齿轮(21),滑槽(18)的内部滑动连接有L型滑块(20),L型滑块(20)的顶部中心处通过螺栓固定有探头(4),旋钮(16)穿过L型滑块(20)的顶部一侧焊接固定在第二齿轮(21)的中心处。
3.根据权利要求2所述的一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,其特征在于,所述滑槽(18)的一侧嵌入安装有刻度条(19)。
4.根据权利要求1所述的一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,其特征在于,所述负载工作台(10)的顶部四个拐角处对称开设有螺栓孔。
5.根据权利要求1所述的一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置,其特征在于,所述探头(4)的外侧罩有防护罩,且防护罩为一种钢化玻璃材料构件。
CN201920298431.9U 2019-03-08 2019-03-08 一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置 Active CN209342120U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201920298431.9U CN209342120U (zh) 2019-03-08 2019-03-08 一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201920298431.9U CN209342120U (zh) 2019-03-08 2019-03-08 一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN209342120U true CN209342120U (zh) 2019-09-03

Family

ID=67762884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201920298431.9U Active CN209342120U (zh) 2019-03-08 2019-03-08 一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN209342120U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116313945A (zh) * 2023-05-24 2023-06-23 北京锐洁机器人科技有限公司 一种多尺寸兼容晶圆扫描装置及晶圆扫描方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116313945A (zh) * 2023-05-24 2023-06-23 北京锐洁机器人科技有限公司 一种多尺寸兼容晶圆扫描装置及晶圆扫描方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106908014B (zh) 一种3d曲面玻璃用的五轴测量装置
CN108458872A (zh) 一种谐波齿轮传动柔轮变形特性测试系统及方法
CN107150261B (zh) 轴类零件轮廓测量仪及其应用
CN209445970U (zh) 刀具尺寸测量装置
CN104515493A (zh) 一种自动化径向跳动测量装置
CN209342120U (zh) 一种晶圆参数测量的晶圆扫描装置
CN107378438A (zh) 镜头模组组装机
CN110160453A (zh) 一种轴承内外圈沟道测量机及其测量方法
CN208847129U (zh) 一种飞轮检测设备
CN109916622A (zh) 一种rv减速机试验台及其连接工装
CN111175674B (zh) 一种高精度磁场测量设备
CN101319876B (zh) 六轴测试台
CN109708606B (zh) 一种基于运动参数表征的复合凸轮加工精度检测装置和方法
CN203534749U (zh) 精密管件双向插拔力自动检测机
CN210719021U (zh) 一种可多维度移动的点激光器测量装置
CN209559160U (zh) 一种旋转式五轴探针量测机
CN109489530B (zh) 一种送具座的平行度自动检测仪
CN207976126U (zh) 一种用于检测精密工件的高度仪
CN208012539U (zh) 一种精密回转体零件直径自动测量仪
CN207556498U (zh) 一种联动的汽车轮毂三维坐标检测仪
CN221650597U (zh) 一种校准电导率仪的计量装置
CN220062864U (zh) 一种钣金件快速测量治具
CN220708363U (zh) 一种应用于回转体表面轮廓的非接触式粗糙度测量仪
CN219757252U (zh) 一种汽车油泥模型定位台架
CN212390977U (zh) 一种轴承宽度检测仪

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant