CN208930053U - 一种片式微波元件无损测试夹具 - Google Patents
一种片式微波元件无损测试夹具 Download PDFInfo
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Abstract
一种片式微波元件无损测试夹具，包括有底座、活动设置于底座上的载物台及压块，载物台上设置有用于放置待测件的定位凹槽，载物台夹置于压块与底座之间，压块与底座上分别设置有射频连接器，且射频连接器向内侧延伸形成有用于连接待测件射频端口的连接端。本实用新型通过将待测件设置于载物台上，并通过底座及压块将其夹紧固定，同时设置射频连接器并引出连接端与待测件射频端口直接连接，可实现片式微波元件的无损测试；且结构简单，安装、使用简便，成本低廉，可靠性高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种元器件测试装置，特别是一种片式微波元件无损测试夹具。
背景技术
目前，片式微波元件，如两端口片式微波元件，正面有两个射频输入输出端口，背面为接地端。现有技术中，类似此种封装的产品，一般采用探针台或者焊接到电路板后连入矢量网络分析仪进行电参数测试。但是，采用探针台进行电参数测试，设备成本较高；采用低成本的焊接方式无法实现无损测试。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是克服现有技术的缺点，提供一种可实现片式微波元件的无损测试，且结构简单，安装、使用简便，成本低廉，可靠性高的片式微波元件无损测试夹具。
本实用新型采用如下技术方案：
一种片式微波元件无损测试夹具，包括有底座、活动设置于底座上的载物台及压块，载物台上设置有用于放置待测件的定位凹槽，载物台夹置于压块与底座之间，压块与底座上分别设置有射频连接器，且射频连接器向内侧延伸形成有用于连接待测件射频端口的连接端。
进一步地，所述底座上固定设置有定位块，所述载物台与压块上分别开设有与定位块相配合的定位卡口，载物台与压块通过定位卡口与定位块配合定位安装于底座上。
进一步地，所述载物台及压块通过紧固件固定连接于底座上。
进一步地，所述紧固件为螺钉，所述底座、载物台及压块上分别相对应开设有用于安装螺钉的螺孔。
进一步地，所述射频连接器内导体部分凸出于绝缘子表面形成连接端。
进一步地，所述连接端在待测件安装后可与待测件两侧射频端口紧密接触并电性连接。
进一步地，所述射频连接器设置于底座侧板及压块外侧，连接端凸出于底座侧板及压块内侧设置。
进一步地，所述底座包括底板和侧板，所述定位块设置于底板上，载物台及压块通过定位卡块定位安装于底板上，且载物台夹设于压块与侧板之间。
进一步地，所述底座、载物台及压块均采用金属材料制成。
由上述对本实用新型的描述可知，与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
通过将待测件设置于载物台上，并通过底座及压块将其夹紧固定，同时设置射频连接器并引出连接端与待测件射频端口直接连接，可实现片式微波元件的无损测试；载物台尺寸可根据实际需要进行替换，使用更灵活，适用性广，且结构简单，安装、使用简便，成本低廉，可靠性高。
附图说明
图1是本实用新型具体实施方式的待测片式微波元件的俯视结构示意图；
图2是本实用新型具体实施方式的整体安装结构立体图；
图3是图2中A处的放大图；
图4是本实用新型具体实施方式部分安装结构立体图；
图5是本实用新型具体实施方式的底座的立体结构示意图；
图6是本实用新型具体实施方式的载物台的立体结构示意图；
图7是本实用新型具体实施方式的压块的立体结构示意图；
图8是本实用新型具体实施方式的部分结构剖视图。
图中：1.底座，10.底板，11.侧板，2.载物台，20.定位凹槽，3.压块，4.定位块，5.定位卡口，6.螺钉，7.螺孔，8.射频连接器，9.连接端。
具体实施方式
以下通过具体实施方式对本实用新型作进一步的描述。
参照图1至图8，本实用新型的一种片式微波元件无损测试夹具，包括有底座 1、活动设置于底座1上的载物台2及压块3，底座1包括底板10和侧板11，载物台2上设置有用于放置待测件的定位凹槽20，载物台2夹置于压块3与底座1的侧板11之间。
底座1的底板10上固定设置有定位块4，载物台2与压块3上分别开设有与定位块4相配合的定位卡口5，载物台2与压块3通过定位卡口5与定位块4配合定位安装于底座4上。底座4、载物台5及压块3上分别相对应开设有用于安装螺钉6的螺孔7，载物台2及压块3通过螺钉6固定连接于底座1上。
压块3与底座1的侧板11上分别设置有射频连接器8，射频连接器8内导体部分凸出于绝缘子表面形成用于连接待测件射频端口的连接端9。射频连接器8设置于底座1侧板11及压块3外侧，连接端9凸出于底座1侧板11及压块3内侧设置。连接端9在待测件安装后可与待测件两侧射频端口紧密接触并电性连接。
底座1、载物台2及压块3均采用采用黄铜，表面镀金，损耗小。
参照图1至图8，本实用新型可实现两端口背面接地片式微波元件的无损测试，使用时，将待测件放入载物台2上的定位凹槽20中，然后将载物台2及压块3通过定位块4与定位卡口5配合定位安装于底座1上，微调载物台2及压块3位置，使待测件的射频端口与夹具的连接端9良好接触后，通过螺钉6将载物台2及压块 3固定到底座1上，即完成夹具的安装，可开始进行待测件的电参数测试。
本实用新型可应用于片式元件的产品微波测试方面，能够以低廉成本实现产品无损微波测试，同时，支持更换载物台2，方便实现不同尺寸产品微波测试，提高测试灵活性。
上述仅为本实用新型的一个具体实施方式，但本实用新型的设计构思并不局限于此，凡利用此构思对本实用新型进行非实质性的改动，均应属于侵犯本实用新型保护范围的行为。
Claims (9)
1.一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：包括有底座、活动设置于底座上的载物台及压块，载物台上设置有用于放置待测件的定位凹槽，载物台夹置于压块与底座之间，压块与底座上分别设置有射频连接器，且射频连接器向内侧延伸形成有用于连接待测件射频端口的连接端。
2.如权利要求1所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述底座上固定设置有定位块，所述载物台与压块上分别开设有与定位块相配合的定位卡口，载物台与压块通过定位卡口与定位块配合定位安装于底座上。
3.如权利要求1所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述载物台及压块通过紧固件固定连接于底座上。
4.如权利要求3所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述紧固件为螺钉，所述底座、载物台及压块上分别相对应开设有用于安装螺钉的螺孔。
5.如权利要求1所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述射频连接器内导体部分凸出于绝缘子表面形成连接端。
6.如权利要求1或5所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述连接端在待测件安装后可与待测件两侧射频端口紧密接触并电性连接。
7.如权利要求1或5所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述射频连接器设置于底座侧板及压块外侧，连接端凸出于底座侧板及压块内侧设置。
8.如权利要求2所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述底座包括底板和侧板，所述定位块设置于底板上，载物台及压块通过定位卡块定位安装于底板上，且载物台夹设于压块与侧板之间。
9.如权利要求1至5任一所述的一种片式微波元件无损测试夹具，其特征在于：所述底座、载物台及压块均采用金属材料制成。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201821304975.3U CN208930053U (zh) | 2018-08-14 | 2018-08-14 | 一种片式微波元件无损测试夹具 |
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Publications (1)
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN208930053U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111624365A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-09-04 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 一种微带薄膜隔离器测试夹具 |
| CN111929476A (zh) * | 2020-08-20 | 2020-11-13 | 青岛大学 | 可重复利用的通用射频器件测试夹具 |
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2018
- 2018-08-14 CN CN201821304975.3U patent/CN208930053U/zh active Active
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