CN208568866U - 一种超低接触电阻测试探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种超低接触电阻测试探针，其特征在于：包括一针管，所述针管的左端为封闭端，所述针管的右端设有一供针轴伸出的敞口或收铆口；在所述针管的管腔内设有一弹簧，所述针轴的尾端与所述弹簧相接触，所述针轴的头端穿过所述敞口外露于所述针管；在所述管腔的底部与所述针轴尾端之间焊接有一柔性导线。本实用新型将一根柔性导线的一端焊接在针管的底部，另一端焊接在针轴尾端，以最大限度增加接触的可靠性，减小了探针内部的接触电阻，从而提升了产品测试直通率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种探针，尤其涉及一种超低接触电阻测试探针。
背景技术
测试探针广泛应用于电子产品研发及生产测试的电气信号连接，测试探针的结构通常由针轴、针管和弹簧三部份组成，使用时，针轴向下压缩弹簧，针轴尾端通过弹簧和针管内孔底部接触来传导电信号；受此结构影响探针的接触电阻通常比较大且稳定性和可靠性较差，使得产品的测试直通率及稳定性较低。
实用新型内容
本实用新型的目的是解决现有技术中的问题，提供一种超低接触电阻测试探针。
本实用新型的技术方案是：一种超低接触电阻测试探针，其特征在于：包括一针管，所述针管的左端为封闭端，所述针管的右端设有一供针轴伸出的敞口或收铆口；在所述针管的管腔内设有一弹簧，所述针轴的尾端与所述弹簧相接触，所述针轴的头端穿过所述敞口或收铆口外露于所述针管；在所述管腔的底部与所述针轴尾端之间焊接有一柔性导线。
优选地，所述针管的左端设有一连接凸起。
优选地，所述弹簧为曲形弹簧。
优选地，所述针轴的尾端外径小于所述管腔内径。
优选地，所述柔性导线为直径0.1mm～0.3mm的镀银柔性导线。
本实用新型将一根柔性导线的一端焊接在针管的底部，另一端焊接在针轴尾端，以最大限度增加接触的可靠性，减小了探针内部的接触电阻，从而提升了产品测试直通率。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、技术特征、实用新型目的与技术效果易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。
如图1所示，为本实用新型的一种超低接触电阻测试探针，其特征在于：包括一针管1，所述针管1的左端10为封闭端，所述针管的右端11设有一供针轴2的头端20伸出的敞口或收铆口12；所述针管1的左端11设有一连接凸起13，该针管1的中间为内中空的管腔14。
本实施例在所述针管1的管腔内14设有一弹簧3，所述弹簧3为曲形弹簧。所述针轴2的尾端21与所述弹簧3相接触，所述针轴2的尾端21外径小于所述管腔14的内径，以便于该针轴2的尾端21置入所述管腔14内，使其在弹簧3的弹力作用下做往复移动。
所述针轴2的头端20穿过所述敞口或收铆口12外露于所述针管1，用于产品的测试；在所述管腔14的底部15处与所述针轴2的尾端21之间焊接有一柔性导线4，两端均有焊接点40。
本实施例中的所述柔性导线为直径0.1mm～0.3mm的镀银柔性导线，该柔性导线4可降低针轴2与针管1之间的接触电阻，通过该柔性导线4可最大限度的增加针管内部接触的可靠性，减小了探针内部的接触电阻。
本实用新型将一根柔性导线的一端焊接在针管的底部，另一端焊接在针轴尾端，以最大限度增加接触的可靠性，减小了探针内部的接触电阻，从而提升了产品测试直通率。
综上所述仅为本实用新型较佳的实施例，并非用来限定本实用新型的实施范围。即凡依本实用新型申请专利范围的内容所作的等效变化及修饰，皆应属于本实用新型的技术范畴。
Claims (5)
1.一种超低接触电阻测试探针，其特征在于：包括一针管，所述针管的左端为封闭端，所述针管的右端设有一供针轴伸出的敞口或收铆口；在所述针管的管腔内设有一弹簧，所述针轴的尾端与所述弹簧相接触，所述针轴的头端穿过所述敞口或收铆口外露于所述针管；在所述管腔的底部与所述针轴尾端之间焊接有一柔性导线。
2.根据权利要求1所述的超低接触电阻测试探针，其特征在于：所述针管的左端设有一连接凸起。
3.根据权利要求1所述的超低接触电阻测试探针，其特征在于：所述弹簧为曲形弹簧。
4.根据权利要求1所述的超低接触电阻测试探针，其特征在于：所述针轴的尾端外径小于所述管腔内径。
5.根据权利要求1所述的超低接触电阻测试探针，其特征在于：所述柔性导线为直径0.1mm～0.3mm的镀银柔性导线。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2018205443423 | 2018-04-17 | ||
| CN201820544342 | 2018-04-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN208568866U true CN208568866U (zh) | 2019-03-01 |
Family
ID=65448992
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201821221868.4U Active CN208568866U (zh) | 2018-04-17 | 2018-07-31 | 一种超低接触电阻测试探针 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN208568866U (zh) |
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2018
- 2018-07-31 CN CN201821221868.4U patent/CN208568866U/zh active Active
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
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