CN207123544U - 用于传输线天线的测试连接装置及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于传输线天线的测试连接装置、测试装置，该测试转接装置包括：短路导电体，被设置为用于连接传输线天线的同轴接头的外导体与内导体，以短路连接同轴接头；以及转接装置，包括第一连接件、第二连接件、及用于连接测试仪的至少一个连接接口，每一连接接口的正极端子与第一连接件电连接，每一连接接口的负极端子与第二连接件电连接；第一连接件被设置为用于与所选择的位于传输线天线的传输信号线上的第一测试点电连接，第二连接件被设置为用于与所选择的位于传输线天线的地层上的第二测试点电连接。通过本实用新型测试连接装置，将无需再进行在同轴接头上插拔同轴转接头的操作，进而能够避免对同轴接头造成损伤。

Description

用于传输线天线的测试连接装置及测试装置

技术领域

本实用新型涉及传输线天线测试领域，更具体地，本实用新型涉及一种用于传输线天线的测试连接装置、及一种用于传输线天线的测试装置。

背景技术

近年来，无线通信技术发展迅速，尤其是智能手机、可穿戴手环、手表、眼镜等可穿戴设备的应用，天线和传输信号线更多地集成在一起形成传输线天线。同时，可穿戴设备的应用环境使得传输线天线会在多处或多个纬度折弯，因此，需要对传输线天线进行测试，以确定传输线天线在经过各种折弯后是否被损坏。

传输线天线的传统测试方法中必须要使用同轴转接头，具体为：在传输线天线的同轴接头处连接相应的同轴转接头，以通过同轴转接头连接测试仪，如网络分析仪，的测试信号输出接口，以通过测试仪向传输线天线输出测试信号来测试传输线天线的参数，进而根据测试得到的参数确定传输线天线是否被损坏。

这种测试方式存在的缺陷包括：1)同轴接头处连接相应的同轴转接头，测试一次需插拔两次，同轴转接头容易磨损，而且传输线天线较薄，容易拉伤同轴接头；2)同轴接头处连接相应的同轴转接头，会影响传输线天线的测试速度，使得测试速度降低一半。

由此可见，以上缺陷均是由于在同轴接头上连接同轴转接头进行测试仪与传输线天线之间的连接导致的，因此，非常有必要提出一种新的连接方案，以至少解决同轴接头在测试中可能会被拉伤的问题。

实用新型内容

本实用新型实施例的一个目的是提供一种对传输线天线进行测试连接的新的技术方案。

根据本实用新型的第一方面，提供了一种用于传输线天线的测试连接装置，所述传输线天线包括同轴接头、传输信号线、天线和地层，所述同轴接头的外导体与所述地层电连接，所述同轴接头的内导体与所述传输信号线的第一端连接，所述传输信号线的第二端与所述天线电连接，所述测试转接装置包括：

短路导电体，被设置为用于连接所述外导体与所述内导体，以通过所述短路导电体短路连接所述同轴接头；以及，

转接装置，包括第一连接件、第二连接件、及用于连接测试仪的至少一个连接接口，每一所述连接接口的正极端子与所述第一连接件电连接，每一所述连接接口的负极端子与所述第二连接件电连接；所述第一连接件被设置为用于与所选择的位于所述传输信号线上的第一测试点电连接，所述第二连接件被设置为用于与所选择的位于所述地层上的第二测试点电连接。

可选的是，所述测试连接装置还包括定位装置，所述定位装置包括：

底座；

第一支架和第二支架，二者在直线方向上相对设置在所述底座上，所述短路导电体设置在所述第二支架的、面向所述第一支架的端面上；以及，

驱动机构，所述驱动机构被设置为用于驱动所述第二支架沿所述直线方向朝向所述第一支架运动，以通过所述第一支架与所述第二支架夹持所述同轴接头、并同时通过所述短路导电体短路连接所述同轴接头。

可选的是，所述定位装置还包括导向滑轨，所述导向滑轨设置在所述底座上，所述第二支架与所述导向滑轨配合连接，以使所述第二支架在所述驱动机构驱动的情况下沿所述直线方向滑动。

可选的是，所述短路导电体包括导电胶或者导电泡棉。

可选的是，所述短路导电体具有朝向所述第一支架凸起的形状。

可选的是，所述第一连接件为用于与所述第一测试点电接触连接的探针，所述第二连接件为用于与所述第二测试点电接触连接的探针。

可选的是，所述转接装置包括至少两个所述连接接口，且至少两个所述连接接口中具有至少两种不同的接口结构。

可选的是，所述转接装置包括至少两个所述连接接口，其中，至少部分所述连接接口的正极端子与第一连接件之间串联连接控制开关。

根据本实用新型的第二方面，还提供了一种用于传输线天线的测试装置，其包括：

根据本实用新型第一方面的测试连接装置；以及，

测试仪，所述测试仪的测试信号输出接口与转接装置的对应连接接口连接，以使所述测试信号输出接口的正极端子与所述对应连接接口的正极端子电连接、及使所述测试信号输出接口的负极端子与所述对应连接接口的负极端子电连接。

可选的是，所述测试装置包括两台所述测试仪，分别为阻抗分析仪和网络分析仪；

所述转接装置具有两个连接接口，所述两个连接接口分别与两台所述测试仪的测试信号输出接口对应适配。

本实用新型的一个有益效果在于，本实用新型通过短路导电体短路连接同轴接头，可将同轴接头与测试仪之间的测试连接位置转移至传输信号线、地层与测试仪之间，这一方面使得测试时无需再进行在同轴接头上插拔同轴转接头的操作，进而避免同轴接头被拉伤、及提高测试速度，另一方面使得测试人员能够根据传输信号线的弯折情况选择合适的第一测试点和第二测试点，以通过更加精确地判断传输线天线经弯折导致的受损情况。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本实用新型的实施例，并且连同其说明一起用于解释本实用新型的原理。

图1是根据本实用新型实施例的用于传输线天线的测试连接装置的结构示意图；

图2是根据本实用新型实施例的传输线天线的结构示意图；

图3是图2中传输线天线的另一视角的结构示意图；

图4是根据本实用新型实施例的测试连接装置的定位装置的结构示意图；

图5是根据本实用新型另一实施例的用于传输线天线的测试连接装置的结构示意图；

图6是根据本实用新型实施例的测试装置的结构示意图；

图7是根据本实用新型实施例的测试方法的流程示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本实用新型的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

本实用新型实施例为了解决现有测试结构，即在同轴接头上连接同轴转接头进行测试仪与传输线天线之间的连接，存在同轴接头易被拉伤、测试速度慢等问题，提供了一种测试连接装置，以不再必须使用同轴转接头便可完成传输线天线的测试。

<传输线天线>

根据图1至图3所示，传输线天线100包括同轴接头120、传输信号线110、天线160和地层130。

同轴接头120包括内导体121和外导体122，二者绝缘、且同轴设置。

同轴接头120的外导体122与地层130电连接。

同轴接头120的内导体121与传输信号线110的第一端连接，传输信号线110的第二端与天线160电连接。

在图2和图3所示的实施例中，地层130可以进一步包括第一地层131和第二地层132，二者之间设置有介质140。

第一地层131与第二地层132通过穿过介质140的过孔150电连接在一起，形成地层130。

在图2和图3所示的实施例中，同轴接头120设置在第一地层131上，其外导体122直接与第一地层131电连接。

<测试连接装置>

图1是根据本实用新型实施例的测试连接装置的结构示意图。

根据图1所示，在该实施例中，测试连接装置200包括短路导电体210和转接装置220。

短路导电体210被设置为用于连接同轴接头120的外导体122与内导体121，以通过短路导电体210短路连接同轴接头120。

短路导电体210例如可以包括导电胶或者导电泡棉等。

转接装置220包括第一连接件221、第二连接件222、及用于连接测试仪的至少一个连接接口223。

连接接口223的数量可以根据测试时所使用的测试仪的数量、及每一测试仪的测试信号输出接口的接口结构类型确定。

本实用新型实施例的转接装置220可以包括至少两个连接接口223，且至少两个连接接口223中具有至少两种不同的接口结构，以可以通过转接装置220连接具有不同接口结构的测试仪，提高测试连接装置200对于具有不同接口结构的测试仪的兼容性。

在本实施例中，转接装置220包括两个连接接口223，分别为连接接口223a和连接接口223b。

连接接口223a例如与测试传输线天线100中使用的网络分析仪的测试信号输出接口相适配。

连接接口223b例如与测试传输线天线100中使用的阻抗分析仪的测试信号输出接口相适配。

例如，网络分析仪的测试信号输出接口为同轴接口，则连接接口223a为与之相适配的同轴接口，二者互为公头、母头。

又例如，阻抗分析仪的测试信号输出接口为两针插座，则连接接口223b为与之相适配的两针插头。

每一连接接口223的正极端子均与第一连接件221电连接，每一连接接口223的负极端子均与第二连接件222电连接。

以上第一连接件221被设置为用于与所选择的位于传输信号线110上的第一测试点110a电连接。

在从传输信号线110的第一端至传输信号线110的第二端的延伸方向上，可以选择传输信号线110的、位于最后一个弯折区的后方的位置作为该第一测试点110a。在此，设定在从传输信号线110的第一端至传输信号线110的第二端的延伸方向上，第二端位于第一端的后方。这样，可以保证传输信号线110的所有弯折区均位于测试回路中，有利于提高测试结果的准确性。

进一步的，第一测试点110a为传输信号线110的与天线160连接的第二端，即第一测试点110a在上述延伸方向上位于传输信号线110的最末端。

以上第二连接件222被设置为用于与所选择的位于地层130上的第二测试点130a电连接。

在从传输信号线110的第一端至传输信号线110的第二端的延伸方向上，可以选择地层130的、位于最后一个弯折区的前方的位置作为第二测试点130a。

第一连接件221例如为用于与第一测试点110a电接触连接的探针。

第二连接件222例如为用于与第二测试点130a电接触连接的探针。

以上探针可以进一步为具有施压结构的探针，以通过施压结构增加第一连接件221和/或第二连接件222与对应测试点之间的电接触程度，提高电接触的可靠性。

以上施压结构例如是弹簧结构、氮气缸结构等。

例如，以上探针是pogo pin连接器。

第一连接件221通过一端与每一连接接口223的正极端子连接，以在测试时，使得第一连接件221通过另一端与第一测试点110a电接触。

第二连接件222通过一端与每一连接接口223的负极端子连接，以在测试时，使得第二连接件222通过另一端与第二测试点130a电接触。

根据本实用新型实施例的转接装置220，还可以包括电路板用于设置转接装置220的连接接口223、及用于将第一连接件221和第二连接件222与连接接口223的对应端子连接的连接导线等，而转接装置220的第一连接件221和第二连接件222可以从电路板上向外引出，以便于连接对应的测试点。

根据本实用新型实施例的测试连接装置200，通过短路导电体210短路连接同轴接头120，可将同轴接头120与测试仪之间的测试连接位置转移至传输信号线110、地层130与测试仪之间，这一方面使得测试时无需再进行在同轴接头120上插拔同轴转接头的操作，进而避免同轴接头120被拉伤，同时提高测试速度，另一方面使得测试人员可以根据传输信号线110的弯折情况选择合适的第一测试点110a和第二测试点130a，以根据测试仪的测试结果更加可靠地判断传输线天线100经弯折导致的受损情况。

为了便于在测试时进行同轴接头120的短路连接操作，本实用新型实施例的测试连接装置200还可以包括定位装置260。

图4是根据本实用新型一种实施例的定位装置的结构示意图。

根据图4所示，定位装置260可以包括底座261、第一支架262、第二支架263和驱动机构264。

第一支架262和第二支架263在直线方向上相对设置在底座261上。

上述短路导电体210设置在第二支架的263、面向第一支架262的端面263-1上。

驱动机构264被设置为用于驱动第二支架263沿该直线方向朝向第一支架262运动，以通过第一支架262与第二支架263夹持同轴接头120、并同时通过短路导电体210短路连接同轴接头120。

进一步的，上述驱动机构264可以设置在第二支架263的另一个端面上，以便确定第二支架263沿直线方向移动。

进一步的，上述驱动机构264还可以带动第二支架263向远离第一支架262的方向运动，以使第二支架263由测试位移动至起始位。

根据图4中的定位装置260，在进行测试时：可先将传输线天线100的具有同轴接头120的部分贴附在第一支架262的面向第二支架263的端面262-1上，并使得同轴接头120面向第二支架263；再启动驱动机构264带动第二支架263朝向第一支架262运动，直至运动至设定的测试位；在测试完成后，启动驱动机构264带动第二支架263远离第一支架262运动，直至复位至起始位，等待进行下一次测试。

第二支架263在设定的测试位时，可将传输线天线100的设置同轴接头120的部分夹持在第二支架263的端面263-1与第一支架262的端面262-1之间，并使得第二支架263上的短路导电体210接触同轴接头120的内导体121与外导体122，以将同轴接头120短路。

进一步地，以上短路导电体210可以具有朝向第一支架262凸起的形状，以使短路导电体210的至少一部分能够嵌入同轴接头120的内导体121与外导体122之间，实现可靠地短路连接。

例如，短路导电体210在平行于第二支架263的移动方向的平面上的截面中的截面形状为U形、或蘑菇头形状等其他形状。

该短路导电体210可以为具有一定弹性的弹性导电体，以避免在夹持传输线天线100的同轴接头120时对其造成损伤。

进一步的，以上驱动机构264可以包括气缸，以通过气缸驱动第二支架263在上述起始位与测试位之间运动。

在一个例子中，气缸可以包括缸筒、端盖、活塞、活塞杆和密封件等常规的部件，气缸的缸筒安装在底座261上，第二支架263连接到气缸的活塞杆，以在活塞杆的带动下在起始位与测试位之间运动。

或者，以上驱动机构264可以包括电机和丝杠螺母传动副，电机通过丝杠螺母传动副将旋转运动转换为直线运动，进而带动第二支架263在起始位与测试位之间运动。

需要说明的是，驱动机构264还可以是其他结构，本实用新型对此不做限制。

进一步地，该定位装置260还可以包括导向滑轨265，该导向滑轨265设置在底座261上，第二支架263与导向滑轨265配合连接，以使第二支架263在驱动机构264驱动的情况下沿设定的直线方向滑动，以提高第二支架263沿该直线方向运动的方向准确度。

例如，该导向滑轨265是横截面为“工”字型的滑轨，第二支架263通过适配的滑块与导向滑轨265滑动配合连接。

又例如，该导向滑轨265是方形、圆柱形的导向杆，第二支架263通过设置适配的导向孔与导向滑轨265滑动配合连接。

图5是根据本实用新型另一实施例的测试连接装置的结构示意图。

图5所示实施例与图1所示实施例的主要区别在于，测试连接装置200的转接装置220还包括控制开关225，以可以通过控制开关225选择进行当前测试的测试仪。

具体地，转接装置220包括至少两个连接接口223，其中，至少部分连接接口223的正极端子与第一连接件221之间串联连接控制开关225。

在本实施例中，转接装置220包括两个连接接口223，分别为连接接口223a和连接接口223b，其中，连接接口223a的正极端子与第一连接件221之间串联控制开关225。

根据本实用新型该实施例的测试连接装置，可以通过转接装置220的至少两个连接接口223同时连接至少两个测试仪，并且，不仅可以通过测试仪的上电开关、测试启动开关等选择进行当前测试的测试仪，还可以结合控制开关225选择进行当前测试的测试仪。

<测试装置>

图6是根据本实用新型实施例的测试装置的结构示意图。

根据图6所示，该实施例的测试装置包括图1或者图5中的测试连接装置200，还包括测试仪。

测试仪的测试信号输出接口与测试连接装置200的转接装置220的对应连接接口223连接，以使测试信号输出接口的正极端子与对应连接接口223的正极端子电连接、及使测试信号输出接口的负极端子与对应连接接口223的负极端子电连接。

在图6所示实施例中，测试装置包括两台测试仪，分别为第一测试仪310和第二测试仪320。

第一测试仪310的测试信号输出接口与连接接口223a适配连接，第二测试仪320的测试信号输出接口与连接接口223b适配连接。

以上第一测试仪310例如为网络分析仪。

该网络分析仪可以用于测量传输线天线100的回波损耗。

以上第二测试仪320例如为阻抗分析仪。

该阻抗分析仪可以用于测试传输线天线100的阻抗。

<测试方法>

图7是根据本实用新型实施例测试装置的测试方法的流程示意图。

根据图7所示，该测试方法可以包括如下步骤：

步骤S710，选择位于传输信号线110上的第一测试点110a、及位于地层130上的第二测试点130a。

在该步骤S710中，可以在从传输信号线110的第一端至传输信号线110的第二端的延伸方向上，选择传输信号线110的、位于最后一个弯折区的后方的位置作为该第一测试点110a。这样，可以保证传输信号线110的所有弯折区均位于测试回路中，有利于提高测试结果的准确性。

在该步骤S710中，可以在从传输信号线110的第一端至传输信号线110的第二端的延伸方向上，选择地层130的、位于最后一个弯折区的前方的位置作为第二测试点130a。

在图2和图3所示的实施例中，可以选择第一测试点110a为传输信号线110的与天线160连接的第二端。

在图2和图3所示的实施例中，第一地层131延伸至传输信号线110的最后一个弯折区的前方终止，因此，可以选择第二测试点130a为第一地层131的邻近最后一个弯折区的末端位置。

步骤S720，通过测试装置的短路导电体210连接外导体122与内导体121，以将传输线天线100的同轴接头120短路。

对于测试连接装置200包括例如图4所示定位装置的实施例，该步骤S720可以进一步包括：

步骤S721，先将传输线天线100的具有同轴接头120的部分贴附在第一支架262的面向第二支架263的端面262-1上，并使得同轴接头120面向第二支架263。

步骤S722，启动驱动机构264带动第二支架263朝向第一支架262运动，直至运动至设定的测试位。

该测试位为使得传输线天线100的设置同轴接头120的部分能够被夹持在第二支架263的端面263-1与第一支架262的端面262-1之间，并使得第二支架263上的短路导电体210能够接触同轴接头120的内导体121与外导体122、以将同轴接头120短路的位置。

步骤S730，通过转接装置220的第一连接件221与所选择的第一测试点110a电连接。

其中，该电连接可以是通过探针结构的第一连接件221进行的接触式电连接。

步骤S740，通过转接装置220的第二连接件222与所选择的第二测试点130a电连接。

其中，该电连接可以是通过探针结构的第二连接件222进行的接触式电连接。

步骤S750，将测试仪的测试信号输出接口与转接装置220的对应连接接口连接，并开启测试装置的测试仪，以使测试仪通过自身的测试信号输出接口输出测试信号对传输线天线100进行相应的测试。

例如，根据本实用新型实施例的测试装置包括两台测试仪，一个是阻抗分析仪，另一个是网络分析仪，两台测试仪的测试信号输出接口各自与对应的连接接口适配连接。

在该步骤S750中，可以分时启动阻抗分析仪和网络分析仪。

该分时启动可以通过：分时连接两台测试仪与对应的连接接口223实现；或者，分时闭合两台测试仪的上电开关实现；或者，分时闭合两台测试仪的测试启动开关实现；或者，分时闭合和断开图5所示实施例中的控制开关225实现。

当启动阻抗分析仪时，阻抗分析仪可以通过测试回路中的阻抗值大小来判断传输线天线100是否有断线或同轴接头虚焊。

当启动网络分析仪时，网络分析仪可以通过测试回波损耗判断天线160是否存在阻抗问题或频率偏离等。

由此可见，根据本实用新型实施例的测试装置的测试方法中，将不再需要通过同轴转接头连接同轴接头120与测试仪来完成相应的测试，而是将测试仪与传输线天线100的连接点转移至选择的第一测试点110a和第二测试点130a上，这样，在测试时将无需进行在同轴接头120上插拔同轴转接头的操作，因此能够避免对传输线天线100以及其他产品的二次损伤，而且还能够消除连接同轴转接头对测试速度的不利影响，提高测试速度。

以上已经描述了本实用新型的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。本实用新型的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种用于传输线天线的测试连接装置，所述传输线天线包括同轴接头、传输信号线、天线和地层，所述同轴接头的外导体与所述地层电连接，所述同轴接头的内导体与所述传输信号线的第一端连接，所述传输信号线的第二端与所述天线电连接，其特征在于，所述测试转接装置包括：

短路导电体，被设置为用于连接所述外导体与所述内导体，以通过所述短路导电体短路连接所述同轴接头；以及，

转接装置，包括第一连接件、第二连接件、及用于连接测试仪的至少一个连接接口，每一所述连接接口的正极端子与所述第一连接件电连接，每一所述连接接口的负极端子与所述第二连接件电连接；所述第一连接件被设置为用于与所选择的位于所述传输信号线上的第一测试点电连接，所述第二连接件被设置为用于与所选择的位于所述地层上的第二测试点电连接。

2.根据权利要求1所述的测试连接装置，其特征在于，所述测试连接装置还包括定位装置，所述定位装置包括：

底座；

第一支架和第二支架，二者在直线方向上相对设置在所述底座上，所述短路导电体设置在所述第二支架的、面向所述第一支架的端面上；以及，

驱动机构，所述驱动机构被设置为用于驱动所述第二支架沿所述直线方向朝向所述第一支架运动，以通过所述第一支架与所述第二支架夹持所述同轴接头、并同时通过所述短路导电体短路连接所述同轴接头。

3.根据权利要求2所述的测试连接装置，其特征在于，所述定位装置还包括导向滑轨，所述导向滑轨设置在所述底座上，所述第二支架与所述导向滑轨配合连接，以使所述第二支架在所述驱动机构驱动的情况下沿所述直线方向滑动。

4.根据权利要求2所述的测试连接装置，其特征在于，所述短路导电体具有朝向所述第一支架凸起的形状。

5.根据权利要求1所述的测试连接装置，其特征在于，所述短路导电体包括导电胶或者导电泡棉。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试连接装置，其特征在于，所述第一连接件为用于与所述第一测试点电接触连接的探针，所述第二连接件为用于与所述第二测试点电接触连接的探针。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的测试连接装置，其特征在于，所述转接装置包括至少两个所述连接接口，且至少两个所述连接接口中具有至少两种不同的接口结构。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的测试连接装置，其特征在于，所述转接装置包括至少两个所述连接接口，其中，至少部分所述连接接口的正极端子与第一连接件之间串联连接控制开关。

9.一种用于传输线天线的测试装置，其特征在于，包括：

根据权利要求1至8中任一项所述的测试连接装置；以及，

测试仪，所述测试仪的测试信号输出接口与转接装置的对应连接接口连接，以使所述测试信号输出接口的正极端子与所述对应连接接口的正极端子电连接、及使所述测试信号输出接口的负极端子与所述对应连接接口的负极端子电连接。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括两台所述测试仪，分别为阻抗分析仪和网络分析仪；

所述转接装置具有两个连接接口，所述两个连接接口分别与两台所述测试仪的测试信号输出接口对应适配。