CN203433008U - 一种高电流测试探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高电流测试探针,包括探针、管体和弹簧,其特点是所述探针由针杆和探头组成;所述针杆一端设有折弯结构;所述探头一端设有与折弯结构互补的配合结构;所述探针由弹簧套装在两端设有翻边的管体内,其针杆一端伸出管体,针杆由折弯结构与探头的配合结构啮合成探针顶压弹簧;推压针杆使探头与管体内壁贴紧接触,测试电流由针杆导入通过探头经管体流出,以减少电流在弹簧上流通。本实用新型与现有技术相比具有测试电流高,使用寿命长,最大允许通过的电流可达30A,尤其适合印刷电路板的高电流检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子电路测试技术领域,具体地说是一种用于检测电路板的高电流测试探针。
背景技术
目前,印刷电路板的检测一般都采用探针,检测时通常在印刷电路板的线路上设置测试点,通过自动化测试设备以尖头形式的探针直接接触位于以锡膏形成球状凸起结构的测试点,量取电阻值、电容值或电感值等相关的电性参数,以判断印刷电路板上的各组件的电性参数是否合乎质量标准。
现有技术的探针由管体、弹簧和探头组成,弹簧装设在管体内,探头的一端置于管体内并抵压在弹簧上,另一端通过该弹簧的顶压而伸出于管体外部。当探针测试印刷电路板的焊锡点和零件脚时,探针被压下通过探头与管体内壁和弹簧的接触,电流会从探头流向管体和弹簧实现电性连接。如果遇到需要测试高电流(通常电流大于5A以上),探针在高电流测试过程中温度急剧升高,容易烧坏弹簧,从而影响电信号的正常传递和探针的使用寿命。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有技术的不足而提供的一种高电流测试探针,采用探头与针杆组合件,当探头在推压下发生滑移而增加探针与管体内壁的接触面积,使得更大的电流通过管体,以减少弹簧的电流通过,大大延长了探针的使用寿命。
实现本实用新型目的的具体技术方案是:一种高电流测试探针,包括探针、管体和弹簧,其特点是所述探针由针杆和探头组成;所述针杆一端设有折弯结构;所述探头一端设有与折弯结构互补的配合结构;所述探针由弹簧套装在两端设有翻边的管体内,其针杆一端伸出管体,针杆由折弯结构与探头的配合结构啮合成探针顶压弹簧;推压针杆使探头与管体内壁贴紧接触,测试电流由针杆导入通过探头经管体流出,以减少电流在弹簧上流通。
本实用新型与现有技术相比具有测试电流高,使用寿命长,最大允许通过的电流可达30A,尤其适合印刷电路板的高电流检测,进一步降低生产成本,提高产品质量和经济效益。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图
图2为针杆结构示意图
图3为探头结构示意图。
具体实施方式
参阅附图1,本实用新型由探针1、管体2和弹簧3组成;所述探针1由针杆4和探头5组成;所述探针1由弹簧3套装在两端设有翻边8的管体2内,其针杆4一端伸出管体2,针杆4由折弯结构6与探头5的配合结构7啮合成探针1顶压弹簧3。
参阅附图2,所述针杆4一端设有折弯结构6。
参阅附图3,所述探头5一端设有与折弯结构6互补的配合结构7。
本实用新型是这样使用的:在印刷电路板的测试过程中,推压针杆4使得针杆4的折弯结构6与探头5的配合结构7发生微量滑动, 使探头5与管体2内壁贴紧接触。此时,测试的电流由针杆4导入通过探头5经管体2流出,减少了电流在弹簧3上流通,从而允许更大的测试电流从管体2通过,极大的减少了流入弹簧3的电流,延长了使用寿命,提高了检测质量。
以上只是对本实用新型作进一步的说明,并非用以限制本专利,凡为本实用新型等效实施,均应包含于本专利的权利要求范围之内。
Claims (1)
1.一种高电流测试探针,包括探针(1)、管体(2)和弹簧(3),其特征在于所述探针(1)由针杆(4)和探头(5)组成;所述针杆(4)一端设有折弯结构(6);所述探头(5)一端设有与折弯结构(6)互补的配合结构(7);所述探针(1)由弹簧(3)套装在两端设有翻边(8)的管体(2)内,其针杆(4)一端伸出管体(2),针杆(4)由折弯结构(6)与探头(5)的配合结构(7)啮合成探针(1)顶压弹簧(3);推压针杆(4)使探头(5)与管体(2)内壁贴紧接触,测试电流由针杆(4)导入通过探头(5)经管体(2)流出,以减少电流在弹簧(3)上流通。
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CN201320566008.5U CN203433008U (zh) | 2013-09-11 | 2013-09-11 | 一种高电流测试探针 |
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CN (1) | CN203433008U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN104820118A (zh) * | 2015-04-08 | 2015-08-05 | 江苏金帆电源科技有限公司 | 电池检测探针 |
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2013
- 2013-09-11 CN CN201320566008.5U patent/CN203433008U/zh not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
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GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20140212 Termination date: 20160911 |
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