CN201397347Y - 一种电阻测试针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电阻测试针，包括测试针头(2)，所述的电阻测试针设测试针套(1)，所述的测试针头(2)装入所述的测试针套(1)内，所述的测试针头(2)的测试头部从所述的测试针套(1)的测试端的孔中伸出。采用上述技术方案的有益效果是：通过改变弹簧的直径或圈数能调节测试针的压力大小，一般压力控制在3kg；通过改变测试针头大小，可改善与被测产品物体的接触面；通过上述调整结构，使锂电池盖帽的电阻测试针与被测件既能保持充分接触，又不会压力过大；使得测试时的压力稳定，解决了测试针头在测量毫欧级电阻时，避免出现因接触不良而造成同一电阻能读出多种不同结果的错误。

Description

一种电阻测试针

技术领域

本实用新型属于电池的技术领域，涉及其制造工艺装备，更具体地说，本实用新型涉及一种锂电池组合盖帽的进行电阻测试用的电阻测试针。

背景技术

锂电池盖帽的电阻测试是每个电池生产厂家重要生产环节。电阻测试的数据是否准确，直接影响电池盖帽在通过额定电流时能正常，即通过工作电流并且不呈高阻，在电池盖帽通过异常电流时能否迅速、及时呈高阻，切断大电流。

由于电池盖帽内阻低，对测试针的要求是：一、接触被测量件时要求接触电阻小；二、要有适当的压力。如果压力不够，可能出现接触电阻大；压力过大，则产品易被压变形而损坏。

现有技术中，测试针头在测量毫欧级电阻时，容易出现的接触不良而造成同一电阻能读出多种测试结果的错误。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型所要解决的问题是提供一种电阻测试针，其目的是使锂电池盖帽的电阻测试针与被测件既能保持充分接触，又不会使压力过大。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

本实用新型所提供的这种电阻测试针，包括测试针头，所述的电阻测试针设测试针套，所述的测试针头装入所述的测试针套内，所述的测试针头的测试头部从所述的测试针套的测试端的孔中伸出。

为使本实用新型更加完善，还进一步提出了以下更为详尽和具体的技术方案，以获得最佳的实用效果，更好地实现发明目的，并提高本实用新型的新颖性和创造性：

所述的测试针头的尾端部从所述的测试针套的测试端的相反一端伸出，所述的测试针头的尾端部设有限位卡，所述的限位卡卡在测试针头的尾端的圆环槽中；在所述的测试针套的端部与所述的限位卡之间，设弹簧。

所述的测试针套为铜材。

所述的限位卡为开口垫圈的结构。

本实用新型采用上述技术方案的有益效果是：通过改变弹簧的直径或圈数能调节测试针的压力大小，一般压力控制在3kg；通过改变测试针头大小，可改善与被测产品物体的接触面；通过上述调整结构，使锂电池盖帽的电阻测试针与被测件既能保持充分接触，又不会压力过大；使得测试时的压力稳定，解决了测试针头在测量毫欧级电阻时，避免出现因接触不良而造成同一电阻能读出多种不同结果的错误。

附图说明

下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中的限位卡的结构示意图。

图中标记为：

1、测试针套，2、测试针头，3、弹簧，4、限位卡。

具体实施方式

下面对照附图，通过对实施例的描述，对本实用新型的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理、制造工艺及操作使用方法等，作进一步详细的说明，以帮助本领域的技术人员对本实用新型的发明构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解。

如图1、图2所表达的本实用新型的结构，是一种电阻测试针，包括测试针头2。

为了解决在本说明书背景技术部分所述的目前公知技术存在的问题并克服其缺陷，实现使锂电池盖帽的电阻测试针与被测件既能保持充分接触，又不会压力过大的发明目的，本实用新型采取的技术方案为：

如图1所示，本实用新型所提供的这种电阻测试针设测试针套1，所述的测试针头2装入所述的测试针套1内，所述的测试针头2的测试头部从所述的测试针套1的测试端的孔中伸出。

本发明通过改变测试针的结构，从而达到锂电池盖帽测试针既有一定压力，又充分与被测量体接触。

以下是本实用新型的具体实施示例，供本领域的技术人员在实施本实用新型时参考和选用：

实施例一：

如图1所示，本实用新型所述的测试针头2的尾端部从所述的测试针套1的测试端的相反一端伸出，所述的测试针头2的尾端部设有限位卡4，所述的限位卡4卡在测试针头2的尾端的圆环槽中；在所述的测试针套1的端部与所述的限位卡4之间，设弹簧3。

该弹簧3为螺旋压缩弹簧，通过改变弹簧3的直径或圈数，能调节测试针的压力大小，一般压力控制在3kg。通过改变测试针头2大小，可改善与被测产品物体的接触面。

实施例二：

本实用新型所述的测试针套1为铜材。铜质的测试针套1既有一定的机械强度，满足测试针头2的接触压力的要求，同时加工制造方便，不易发生材质变化。

实施例三：

如图2所示，本实用新型所述的限位卡4为开口垫圈的结构。开口垫圈的结构使其在测试针头2上的安装更为方便。

通过上述调整，解决了测试针头2在测量毫欧级电阻时，容易出现接触不良而造成同一电阻能读出多种结果的错测误测量问题。

上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述，显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1、一种电阻测试针，包括测试针头(2)，其特征在于：所述的电阻测试针设测试针套(1)，所述的测试针头(2)装入所述的测试针套(1)内，所述的测试针头(2)的测试头部从所述的测试针套(1)的测试端的孔中伸出。

2、按照权利要求1所述的电阻测试针，其特征在于：所述的测试针头(2)的尾端部从所述的测试针套(1)的测试端的相反一端伸出，所述的测试针头(2)的尾端部设有限位卡(4)，所述的限位卡(4)卡在测试针头(2)的尾端的圆环槽中；在所述的测试针套(1)的端部与所述的限位卡(4)之间，设弹簧(3)。

3、按照权利要求1或2所述的电阻测试针，其特征在于：所述的测试针套(1)为铜材。

4、按照权利要求2所述的电阻测试针，其特征在于：所述的限位卡(4)为开口垫圈的结构。

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