CN208568865U - 一种降低外导体接触电阻的射频测试头 - Google Patents

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彭书谦
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Abstract

本实用新型公开了一种降低外导体接触电阻的射频测试头,包括法兰底座和与该法兰底座相连接的外壳,其特征在于:在所述外壳内设有第一绝缘子;在所述第一绝缘子内设有一尾插;所述第一绝缘子内设有一与所述尾插相对安装的针管;所述针管设于接触头内,所述接触头穿过所述法兰底座与所述外壳相接,在所述接触头和法兰底座相接处设有绝缘垫;在所述接触头的外周套设有弹簧;所述针管的管腔内设有第一弹簧和与该第一弹簧相接触的针轴;所述针轴穿过所述接触头的前端并外露一部分;在所述针轴与接触头内部之间设有第二绝缘子。本实用新型提升了信号测试的直通率,提高了使用寿命;便于操作,提高工作效率。

Description

一种降低外导体接触电阻的射频测试头
技术领域
本实用新型涉及一种测试头,尤其涉及一种降低外导体接触电阻的射频测试头。
背景技术
目前移动通讯终端信号测试中,使用的射频测试头外导体都是弹性结构,该结构的外导体接触电阻较大,通常在使用过程中因接触电阻较大会降低信号测试直通率。
实用新型内容
本实用新型的目的是解决现有技术中的问题,提供一种降低外导体接触电阻的射频测试头。
本实用新型的技术方案是一种降低外导体接触电阻的射频测试头,包括法兰底座和与该法兰底座相连接的外壳,其特征在于:在所述外壳内设有第一绝缘子;在所述第一绝缘子内设有一尾插;所述第一绝缘子内设有一与所述尾插相对安装的针管;所述针管设于接触头内,所述接触头穿过所述法兰底座与所述外壳相接,在所述接触头和法兰底座相接处设有绝缘垫;在所述接触头的外周套设有弹簧;所述针管的管腔内设有第一弹簧和与该第一弹簧相接触的针轴;所述针轴穿过所述接触头的前端并外露一部分;在所述针轴与接触头内部之间设有第二绝缘子。
优选地,所述接触头包括一体成型的头端、中端和尾端,所述弹簧套设于所述尾端的外周。
优选地,所述针轴的尾端与所述第一弹簧相接触,所述针轴的头端穿过外露于所述针管并伸入至接触头内。
优选地,所述针轴的尾端为一斜角,该斜角为72°。
优选地,所述弹簧、第二弹簧均为曲形弹簧。
本实用新型在法兰与外导体之间安装弹簧,当射频测试头受力工作时依靠法兰和绝缘垫的移动使其在使用过程中产生弹性;该结构有效的降低了整个射频测试头外导体的接触电阻,提升了信号测试的直通率,提高了使用寿命;便于操作,提高工作效率。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的主视图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、技术特征、实用新型目的与技术效果易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本实用新型。
如图1至图2所示,为本实用新型的一种降低外导体接触电阻的射频测试头,包括法兰底座1和与该法兰底座1相接的外壳2,通过法兰底座1将本测试头固定于特定的设备上,进行测试。
在所述外壳2内设有第一绝缘子3,在所述第一绝缘子3内设有一尾插4;所述第一绝缘子3内设有一与所述尾插4相对安装的针管5;所述针管5的管腔内设有第一弹簧51和与该第一弹簧51相接触的针轴52。
本实施例中的所述针管5设于一接触头6内,所述接触头6穿过所述法兰底座1与所述外壳2相接,在所述接触头6和法兰底座1相接处设有绝缘垫7。
本实施例中的所述针管5的左端为封闭端,所述针管5的右端设有一供针轴52伸出的敞口或收铆口;在所述针管5的管腔内设有第一弹簧51用于复位针轴52的初始位置,所述针轴52的尾端与所述第一弹簧51相接触,所述针轴52的头端穿过所述敞口或收铆口外露于所述针管5;通过第一弹簧51和针轴52的接触以最大限度增加接触的可靠性,减小了探针内部的接触电阻。
本实用新型中的所述针轴52的尾端为一斜角,该斜角为72°。在探针针轴52下压的过程中,针轴52的尾端面坡斜边与第一弹簧51接触受力后向针管5内孔壁移位并与其形稳定接触,有效改善了传统结构接触电阻大、接触不稳定的问题。
本实用新型将针轴尾端与弹簧的接触面改为72度坡斜边,减小探针内部接触电阻,以最大限度增加接触的可靠性,减小了探针内部的接触电阻,从而提升了产品测试直通率。
在所述接触头6的外周套设有弹簧8;所述针轴52穿过所述接触头6的前端并外露一部分;在所述针轴52与接触头6内部之间设有第二绝缘子61。本实施例的所述接触头6包括一体成型的头端、中端和尾端,所述弹簧8套设于所述尾端的外周。
在法兰底座1与接触头6之间安装弹簧8,当射频测试头受力工作时依靠法兰底座1和绝缘垫7的移动使其在使用过程中产生弹性;该结构有效的降低了整个射频测试头外导体的接触电阻,提升了信号测试的直通率。
综上所述仅为本实用新型较佳的实施例,并非用来限定本实用新型的实施范围。即凡依本实用新型申请专利范围的内容所作的等效变化及修饰,皆应属于本实用新型的技术范畴。

Claims (5)

1.一种降低外导体接触电阻的射频测试头,包括法兰底座和与该法兰底座相连接的外壳,其特征在于:在所述外壳内设有第一绝缘子;在所述第一绝缘子内设有一尾插;所述第一绝缘子内设有一与所述尾插相对安装的针管;所述针管设于接触头内,所述接触头穿过所述法兰底座与所述外壳相接,在所述接触头和法兰底座相接处设有绝缘垫;在所述接触头的外周套设有弹簧;所述针管的管腔内设有第一弹簧和与该第一弹簧相接触的针轴;所述针轴穿过所述接触头的前端并外露一部分;在所述针轴与接触头内部之间设有第二绝缘子。
2.根据权利要求1所述的降低外导体接触电阻的射频测试头,其特征在于:所述接触头包括一体成型的头端、中端和尾端,所述弹簧套设于所述尾端的外周。
3.根据权利要求1所述的降低外导体接触电阻的射频测试头,其特征在于:所述针轴的尾端与所述第一弹簧相接触,所述针轴的头端穿过外露于所述针管并伸入至接触头内。
4.根据权利要求1或3所述的降低外导体接触电阻的射频测试头,其特征在于:所述针轴的尾端为一斜角,该斜角为72°。
5.根据权利要求1所述的降低外导体接触电阻的射频测试头,其特征在于:所述弹簧、第二弹簧均为曲形弹簧。
CN201821221649.6U 2018-04-17 2018-07-31 一种降低外导体接触电阻的射频测试头 Active CN208568865U (zh)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114137312A (zh) * 2020-11-02 2022-03-04 国网冀北电力有限公司检修分公司 一种回路电阻测试组件
CN114389082A (zh) * 2020-10-19 2022-04-22 北京振兴计量测试研究所 同轴探针连接器

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